JPS61250525A - 測光器 - Google Patents
測光器Info
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- JPS61250525A JPS61250525A JP60092666A JP9266685A JPS61250525A JP S61250525 A JPS61250525 A JP S61250525A JP 60092666 A JP60092666 A JP 60092666A JP 9266685 A JP9266685 A JP 9266685A JP S61250525 A JPS61250525 A JP S61250525A
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- Japan
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- light source
- rstd
- standard light
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
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- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0414—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or plane beam-splitters
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- G01J1/0466—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings with a sighting port
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
- G01J2001/086—Calibrating drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/22—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means
- G01J1/24—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means using electric radiation detectors
- G01J2001/242—Filter wheel, i.e. absorption filter series graduated
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被測定部からの光束を測定する測光器、さらに
詳しくは、標準光源を使用して目盛シ定めを行う測光器
に関する。
詳しくは、標準光源を使用して目盛シ定めを行う測光器
に関する。
測光器の測定精度を高めるためには、目盛り定め、すな
わち挿漁光源を使用してデータ読取りを行うこと、及び
複数の測定レンジを有する場合に各測定レンジ間の相関
を取ること、すなわち一定の入射光量についていずれの
測定レンジにおいても同一の読取υ値を得るようにする
だめの調整を正確に行うことを侠する。
わち挿漁光源を使用してデータ読取りを行うこと、及び
複数の測定レンジを有する場合に各測定レンジ間の相関
を取ること、すなわち一定の入射光量についていずれの
測定レンジにおいても同一の読取υ値を得るようにする
だめの調整を正確に行うことを侠する。
上記y4整を行う従来の側光装置としては、米国特許第
3. ff /に79g号公報に記載されたものが知ら
れている。すなわち、本装置は、受光素子と増幅器との
間に主インピーダンスを接続して光検出回路を形成し、
一方これとは別に補正対象要素の数に応じた、数の補正
用可変インピーダンスを備えている。そして、目盛り定
め、及び濃度フィルターを変えて測光し/ジを変える場
合並びに開口絞りを変えて測光領域を変える場合の相関
調整が、所定の可変インピーダンスを所定値に調整して
上記主インピーダンスに接続することによって行われる
ように構成される。
3. ff /に79g号公報に記載されたものが知ら
れている。すなわち、本装置は、受光素子と増幅器との
間に主インピーダンスを接続して光検出回路を形成し、
一方これとは別に補正対象要素の数に応じた、数の補正
用可変インピーダンスを備えている。そして、目盛り定
め、及び濃度フィルターを変えて測光し/ジを変える場
合並びに開口絞りを変えて測光領域を変える場合の相関
調整が、所定の可変インピーダンスを所定値に調整して
上記主インピーダンスに接続することによって行われる
ように構成される。
従来の上記測光器−においては、複数の補正用可変イン
ピーダンスを皐備しなければならず部品点数が多く、ま
たそれらを接続する部品及び回路を要し、製造コストが
高い問題があった。また、目盛り定め及び相関w4整の
操作が複雑であシ、特に、測光の度に標準光源を使用し
て上記調整を行って常に適正な補正用インピーダンスを
接続して、精度の高い測光を行うことは困難であった。
ピーダンスを皐備しなければならず部品点数が多く、ま
たそれらを接続する部品及び回路を要し、製造コストが
高い問題があった。また、目盛り定め及び相関w4整の
操作が複雑であシ、特に、測光の度に標準光源を使用し
て上記調整を行って常に適正な補正用インピーダンスを
接続して、精度の高い測光を行うことは困難であった。
本発明は上記従来の測光装置の問題に鑑みなされたもの
であって、目盛り定め及び相関1[を可変インピーダン
スを使用せずして行うことができる測光器を提供するこ
とを目的とする0本発明はまた、目盛り定め及び相pA
y4整が自動的に行われ、標準電球の経年変化や測光器
自体の振動等による狂いによる測定精度の低下を排除し
、測定の信頼性の低下を防ぐことができる測光器を提俳
することを目的とする0 〔発明の構成〕 本発明は上記目的を達成するため以下の構成上の特徴を
有する。すなわち、本発明は、入射光を電気信号として
検出する光検出部と、被測定部からの光束を上記光検出
部へ導く光学系と、測定者の操作によって目盛り定め制
御信号と被測定部測光制御信号とを出力する制御部と、
標準光源の理論的明るさデータDstd 及び上記検出
部による上記標準光源に係る標準光源明るさデータRs
td を記憶する記憶部と、上記検出部による被測定
部に係る被測定部明るさデータ師及び上記記憶部に記憶
されている上記明るさデータDstd 、 Rstdに
基づき 演算部とを有することによって構成される。
であって、目盛り定め及び相関1[を可変インピーダン
スを使用せずして行うことができる測光器を提供するこ
とを目的とする0本発明はまた、目盛り定め及び相pA
y4整が自動的に行われ、標準電球の経年変化や測光器
自体の振動等による狂いによる測定精度の低下を排除し
、測定の信頼性の低下を防ぐことができる測光器を提俳
することを目的とする0 〔発明の構成〕 本発明は上記目的を達成するため以下の構成上の特徴を
有する。すなわち、本発明は、入射光を電気信号として
検出する光検出部と、被測定部からの光束を上記光検出
部へ導く光学系と、測定者の操作によって目盛り定め制
御信号と被測定部測光制御信号とを出力する制御部と、
標準光源の理論的明るさデータDstd 及び上記検出
部による上記標準光源に係る標準光源明るさデータRs
td を記憶する記憶部と、上記検出部による被測定
部に係る被測定部明るさデータ師及び上記記憶部に記憶
されている上記明るさデータDstd 、 Rstdに
基づき 演算部とを有することによって構成される。
以下、本発明を輝度計に適用した実施例を図に基づいて
駅間する。第1図は該実施例のブロック図であシ、光学
系10は、測点(図示せず)の像を結像させるための対
物レンズ1と、周囲に直径の異なる複数の開口絞りを設
け、対物レンズ1の結像位置に回転可能に斜設された開
口絞シ反射板2と、異なる濃度のフィルターを同一円周
上に設けて開口絞り反射板2の後方に回転可能に配置さ
れたフィルター板8と、フィルター板4の後方に配置さ
れたリレーレンズ4とを有する。光学系lOは、さらに
、開口絞り反射板20反射光軸に配置された反射鋳5と
、反射−5の反射光軸上に配置されたリレーレンズ6及
び接眼レンズ7とを有する。
駅間する。第1図は該実施例のブロック図であシ、光学
系10は、測点(図示せず)の像を結像させるための対
物レンズ1と、周囲に直径の異なる複数の開口絞りを設
け、対物レンズ1の結像位置に回転可能に斜設された開
口絞シ反射板2と、異なる濃度のフィルターを同一円周
上に設けて開口絞り反射板2の後方に回転可能に配置さ
れたフィルター板8と、フィルター板4の後方に配置さ
れたリレーレンズ4とを有する。光学系lOは、さらに
、開口絞り反射板20反射光軸に配置された反射鋳5と
、反射−5の反射光軸上に配置されたリレーレンズ6及
び接眼レンズ7とを有する。
上記構成の光学系10において、測点像が対物レンズ1
によって開ロ絞シ反射版z上に結像する。
によって開ロ絞シ反射版z上に結像する。
開口絞り反射板2においては、設定されている開口絞り
によって測点上の測光領域が決められ、該測光領域から
発した光束のみが開口絞りを通過し、さらにフィルター
板8上の所定のフィルターを通過して、測点の測光領域
の儂が後述の受光素子22上に結像する。一方、開口絞
シ反射板2によって反射された光束は反射鋳5、リレー
レンズ6及び接眼レンズ7を介して測定者の眼に達する
。
によって測点上の測光領域が決められ、該測光領域から
発した光束のみが開口絞りを通過し、さらにフィルター
板8上の所定のフィルターを通過して、測点の測光領域
の儂が後述の受光素子22上に結像する。一方、開口絞
シ反射板2によって反射された光束は反射鋳5、リレー
レンズ6及び接眼レンズ7を介して測定者の眼に達する
。
これによシ測定者は測光領域が暗く抜けた測点像を見る
ことができる。
ことができる。
一方、電気系は、インターフェイス部60と、インター
フェイス部60に接続された光検出部20、駆動モータ
部50.エンコーダ部80と、光検出部20に接続され
た制御演算部40と、インターフェイス部60及び制御
演算部40に接続された表示器90、記憶回路70、操
作器80とから形成される。
フェイス部60に接続された光検出部20、駆動モータ
部50.エンコーダ部80と、光検出部20に接続され
た制御演算部40と、インターフェイス部60及び制御
演算部40に接続された表示器90、記憶回路70、操
作器80とから形成される。
インターフェイス部60は各入力信号をそれぞれ出力側
に適した信号に変換して出力する。光検出部20は、光
学系lOからの光束が入射してこれを光電変換する受光
素子2zと、受光素子z2の出力を制御演算部40から
出力されインタフェイス部60を介して入力される信号
に従って増幅する増幅器24とから成る0駆動モ一タ部
50はフィルター板駆動モータ52と開口絞9反射板駆
動モータ54とを有し、それぞれ操作器80から入力さ
れあるいは制御演算部40から出力されてインターフェ
イス60を介して入力される制御信号によって制御され
る。
に適した信号に変換して出力する。光検出部20は、光
学系lOからの光束が入射してこれを光電変換する受光
素子2zと、受光素子z2の出力を制御演算部40から
出力されインタフェイス部60を介して入力される信号
に従って増幅する増幅器24とから成る0駆動モ一タ部
50はフィルター板駆動モータ52と開口絞9反射板駆
動モータ54とを有し、それぞれ操作器80から入力さ
れあるいは制御演算部40から出力されてインターフェ
イス60を介して入力される制御信号によって制御され
る。
エンコーダ部80は、フィルター板8の挿入フィルター
を検出するフィルター検出エンコーダ82と、開口絞9
反射板2の設定開口絞りを検出する開ロ絞シ検出エンコ
ーダ84とを有する。
を検出するフィルター検出エンコーダ82と、開口絞9
反射板2の設定開口絞りを検出する開ロ絞シ検出エンコ
ーダ84とを有する。
制御演算部40、表示部90、不揮発性記憶素子からな
る記憶回路70及び操作器80の作動機能は以下に第一
図に示すフローチャートに基いて説明される。測定者は
、最初に、目盛り定めモードと測光モードの両方を行う
か、又は既に行われた目盛シ定めモードによって記憶さ
れている輝度データRstd 、 Dstdを使用して
測光モードのみを行うかを操作器80により命令する。
る記憶回路70及び操作器80の作動機能は以下に第一
図に示すフローチャートに基いて説明される。測定者は
、最初に、目盛り定めモードと測光モードの両方を行う
か、又は既に行われた目盛シ定めモードによって記憶さ
れている輝度データRstd 、 Dstdを使用して
測光モードのみを行うかを操作器80により命令する。
Rいて、前者の場合には、標準光源の理論的輝度データ
Dstd並びに所望の開口絞シ及びフィルターに係る選
択信号を、tた後者の場合には所望の開口絞り及びフィ
ルターに係る選択信号のみを操作器80により入力する
。
Dstd並びに所望の開口絞シ及びフィルターに係る選
択信号を、tた後者の場合には所望の開口絞り及びフィ
ルターに係る選択信号のみを操作器80により入力する
。
一方、制御演算部40はその作動が開始すると、まず、
ステラf101において目盛り定めモードが選択されて
いるか否かが判断される。目盛シ定めモードが選択され
ていると、ステップ102に進み、駆動モータ部50を
駆動させて所定の開口絞り及びフィルターを初期設定し
、同時に輝度データDstd を記憶回路70に記憶
させる。続いて、ステップ108において操作器80か
ら目盛り定め開始信号が入力されているか否かを判別し
、該信号が入力されていない場合には入力されるまで待
機する。
ステラf101において目盛り定めモードが選択されて
いるか否かが判断される。目盛シ定めモードが選択され
ていると、ステップ102に進み、駆動モータ部50を
駆動させて所定の開口絞り及びフィルターを初期設定し
、同時に輝度データDstd を記憶回路70に記憶
させる。続いて、ステップ108において操作器80か
ら目盛り定め開始信号が入力されているか否かを判別し
、該信号が入力されていない場合には入力されるまで待
機する。
目盛シ定め開始信号が入力されると、ステップ104に
おいて標準光源による標準光源簿度データRstd が
検出され、ステップ105においテ記憶回路70に輝度
データRstd が記憶される。続いて、ステップ10
6において全フィルターについての輝度データRstd
の記憶が終了されたか否かが判断され、終了されて
いなければ、ステップ109においてフィルターの切替
えがなされてステラf104に戻る。
おいて標準光源による標準光源簿度データRstd が
検出され、ステップ105においテ記憶回路70に輝度
データRstd が記憶される。続いて、ステップ10
6において全フィルターについての輝度データRstd
の記憶が終了されたか否かが判断され、終了されて
いなければ、ステップ109においてフィルターの切替
えがなされてステラf104に戻る。
全フィルターについての輝度データRstd の記憶
が終了していると、ステップ107に進んで全開口絞り
についての輝度データRstd の記憶が終了してい
るか否かが判別され、終了していないと判別されると、
ステップ108において開口絞りの切替えがなされてス
テップ104に戻る。
が終了していると、ステップ107に進んで全開口絞り
についての輝度データRstd の記憶が終了してい
るか否かが判別され、終了していないと判別されると、
ステップ108において開口絞りの切替えがなされてス
テップ104に戻る。
一方、ステップ107において全開口絞りについて輝度
データRstd の記憶が終了していると判別された
場合、及び前述のステップ101において目盛シ定めモ
ードが選択されていないと判別された場合、ステップ1
10に進んで測光モードが選択されているか否かが判別
される。そして、ステップ110において測光モードが
選択されていないと判別された場合はステップ101に
戻シ、一方測光モードが入力されているとステラf11
1に進み、先に入力されている命令信号により所望の開
口絞シ及びフィルターが設定される。
データRstd の記憶が終了していると判別された
場合、及び前述のステップ101において目盛シ定めモ
ードが選択されていないと判別された場合、ステップ1
10に進んで測光モードが選択されているか否かが判別
される。そして、ステップ110において測光モードが
選択されていないと判別された場合はステップ101に
戻シ、一方測光モードが入力されているとステラf11
1に進み、先に入力されている命令信号により所望の開
口絞シ及びフィルターが設定される。
続いて、ステラ7’l12において測光開始信号が入力
されているか否かが判断され、入力されていない場合は
入力されるまで待機する。そして、測光開始信号が入力
されると、ステラ7’118に進んで被測定惟域の輝度
データRm の検出が行われる。次に、ステラ7’l1
4において!!憶(ロ)路70が輝度データRm を記
憶し、ステップ115において輝度データDstd 、
Rstd及びRm を読出す0 スーテツf116においては続出した輝度データ0st
d 、 Rstd及びRm に基いて5td R= Rrn X − Rstd を演算し、ステップ117において求められた輝度デー
タRを表示器90により表示する。続いて、金側光モー
ドが終了したか否かが判別され、終了していなければス
テラ7’101へ戻る。
されているか否かが判断され、入力されていない場合は
入力されるまで待機する。そして、測光開始信号が入力
されると、ステラ7’118に進んで被測定惟域の輝度
データRm の検出が行われる。次に、ステラ7’l1
4において!!憶(ロ)路70が輝度データRm を記
憶し、ステップ115において輝度データDstd 、
Rstd及びRm を読出す0 スーテツf116においては続出した輝度データ0st
d 、 Rstd及びRm に基いて5td R= Rrn X − Rstd を演算し、ステップ117において求められた輝度デー
タRを表示器90により表示する。続いて、金側光モー
ドが終了したか否かが判別され、終了していなければス
テラ7’101へ戻る。
〔発明の効果〕
上述の構成を有する本発明においては、目盛シ定め及び
相関調整が、可変インピーダンスを使用せずかつ自動的
に行うことができ、容易に高精度の測光を行うことがで
きる効果を有する。また目盛シ宇め及び相関訴整が伸側
に行えることにょシこれらを測光の度に行うことも可能
になシ、樟準電球の経半変化や測光機自体の振動等によ
る狂いによる測定精変の低下を有効に防ぐことが可卵で
ある。
相関調整が、可変インピーダンスを使用せずかつ自動的
に行うことができ、容易に高精度の測光を行うことがで
きる効果を有する。また目盛シ宇め及び相関訴整が伸側
に行えることにょシこれらを測光の度に行うことも可能
になシ、樟準電球の経半変化や測光機自体の振動等によ
る狂いによる測定精変の低下を有効に防ぐことが可卵で
ある。
第1図は本発明の実施例の光学系及び電気系を示すブロ
ック図、第2図は第1図に示す実施例の作動を示すフロ
ーチャート図である。 l:対物レンズ 2:開ロ絞シ反射板 8:フィルター板 lO:光学系 80:エンコーダ部 40二制御演算部 50:駆動モータ部 60:インターフェイス部 70:記憶回路 80:操作器
ック図、第2図は第1図に示す実施例の作動を示すフロ
ーチャート図である。 l:対物レンズ 2:開ロ絞シ反射板 8:フィルター板 lO:光学系 80:エンコーダ部 40二制御演算部 50:駆動モータ部 60:インターフェイス部 70:記憶回路 80:操作器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)入射光を電気信号として検出する光検出部と、被測
定部からの光束を上記光検出部へ導く光学系と、測定者
の操作によつて目盛り定め制御信号と被測定部測光制御
信号とを出力する制御部と、標準光源の理論的明るさデ
ータDstd及び上記検出部による上記標準光源に係る
標準光源明るさデータRstdを記憶部と、上記検出部
による被測定部に係る被測定部明るさデータRm及び上
記記憶部に記憶されている上記明るさデータDstd、
Rstdに基づき R=Rm×(Dstd)/(Rstd) を演算して被測定部の明るさデータRを演算する演算部
とを有すことを特徴とする測光器。 2)特許請求の範囲第1項に記載の測光器において、上
記光検出部は複数の測定レンジを共通の検出装置で測定
するために上記電気信号を増幅する増幅率可変の増幅器
を有し、上記記憶部は各測定レンジに係る標準光源明る
さデータRetdを記憶し、上記演算部は選択された測
定レンジに係る標準光源明るさデータRstdに基づい
て演算することを特徴とする測定器。 3)特許請求の範囲第1項に記載の測光器において、上
記光学系はその通過光量を変化させるために選択的に光
路に挿入可能な濃度の異なる複数のフィルターを有し、
上記記憶部は上記各フィルターに係る標準光源明るさデ
ータRstdを記憶し、また、上記演算部は被測定部測
光時に挿入されているフィルターに対応した標準光源明
るさデータRstdに基づいて演算することを特徴とす
る測光器。 4)特許請求の範囲第1項に記載の測光器において、上
記光学系は被測定部の測定領域を変えるために選択的に
光路上の結像位置に挿入可能な複数の開口絞りを有し、
上記記憶部は上記各開口絞りに係る標準光源明るさデー
タRstdを記憶し、また、上記演算部は被測定部測光
時に挿入されている開口絞りに係る標準光源明るさデー
タRstdに基づいて演算することを特徴とする測光器
。 5)特許請求の範囲第1項に記載の測光器において、上
記記憶部は電源を供給しなくとも記憶を保存する不揮発
性メモリで構成されていることを特徴とする測光器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60092666A JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
| US06/856,579 US4737029A (en) | 1985-04-30 | 1986-04-25 | Photometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60092666A JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61250525A true JPS61250525A (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0548849B2 JPH0548849B2 (ja) | 1993-07-22 |
Family
ID=14060798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60092666A Granted JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4737029A (ja) |
| JP (1) | JPS61250525A (ja) |
Families Citing this family (11)
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|---|---|---|---|---|
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| US5340974A (en) * | 1991-12-09 | 1994-08-23 | Hughes Aircraft Company | Polychromatic source calibration by one or more spectrally filtered photodetector currents |
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| FR2745902B1 (fr) * | 1996-03-07 | 1998-05-22 | Instruments Sa | Systeme de photodetection et procede associe d'analyse d'un flux lumineux |
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| KR101332601B1 (ko) * | 2010-08-09 | 2013-11-25 | 주식회사 맥스포 | 엘이디 조명의 조도 측정방법 |
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| DE102019208760A1 (de) * | 2019-06-17 | 2020-12-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und optische Anordnung zur Ermittlung einer resultierenden Leistung einer Strahlung in einer Probenebene |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS508985U (ja) * | 1973-05-23 | 1975-01-29 | ||
| JPS5847223A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-18 | Ricoh Co Ltd | 固体センサの感度補正方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1985
- 1985-04-30 JP JP60092666A patent/JPS61250525A/ja active Granted
-
1986
- 1986-04-25 US US06/856,579 patent/US4737029A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS508985U (ja) * | 1973-05-23 | 1975-01-29 | ||
| JPS5847223A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-18 | Ricoh Co Ltd | 固体センサの感度補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0548849B2 (ja) | 1993-07-22 |
| US4737029A (en) | 1988-04-12 |
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