JPH05501006A - 測定装置の校正 - Google Patents
測定装置の校正Info
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- JPH05501006A JPH05501006A JP2514460A JP51446090A JPH05501006A JP H05501006 A JPH05501006 A JP H05501006A JP 2514460 A JP2514460 A JP 2514460A JP 51446090 A JP51446090 A JP 51446090A JP H05501006 A JPH05501006 A JP H05501006A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
測定装置の校正
皮丘立1 ゛
本発明は、測定装置の校正に関し、特に、2つの相対的に可動の物体間の空間的
関係(位置関係)を決定する(見定める)ための測定装置の校正に関する。その
ような装置の一例は、座標測定機即ちCMMである。座標測定機は、工作物を正
確に測定するために、又は工作物と他の機械との位置関係を制御するために該測
定機と工作物との間の位置関係を決定するのに使用される。
1籠11
工作物に対して何らかの作業を実施する場合、例えば工作物を製造又は測定した
り、あるいは工作物の品質又は特定の目的に対する適合性を評価する場合、機械
に対して工作物を、あるいは、工作物に対して機械をいろいろな異なる直線上位
置又は角度位置に位置ぎめすることか必要なことがある6通常、工作物に対して
そのいろいろな部位で実施される作業は、創造される又は測定されるすべての寸
法が工作物全体のための共通の座標系に関連するように正確に関連づけされなけ
ればならない。座標系としては、直交座標、円柱座標、球座標等の、任意の数の
軸線を有する座標系を用いることができる。
例えば、三次元の工作物を測定する場合、その工作物の多数の異なる直交面にア
クセスするか、あるいは、測定機の軸線にたしているいろな角度でアクセスする
ことが必要とされる場合が多い。そのようなアクセスを行う1つの慣用の方法は
、工作物を担持するための、垂直回転軸線を有する回転テーブルを用いる方法で
ある。その場合精度を高める1つの方法は、正確な、従って高価な回転テーブル
を使用し、回転テーブルを機械の軸線に極めて正確に整列させることである。あ
るいは別法として、いかなる不整列又は角度分割誤差をも、使用する回転テーブ
ルのあらゆる回転角度位置において校正することである。大抵の回転テーブルに
はコーニング(回転)誤差があるので、精密な整列よりもむしろ多重校正の方が
好ましい方法であり、回転テーブルの極度の精密さの必要性を回避するが、それ
でもなお、非常に優れた位置反復精度を必要とするので、やはり回転テーブルは
高価なものになる。
非常に大きな工作物を対象とする場合、回転テーブルの所要の角度精度及び、又
は反復精度を得るのが特に困難である。なぜなら、直線精度が同じである場合、
角度精度を半径の増大に比例して良くしなければならないからである。又、非常
に大きな工作物の場合、回転テーブルは、実用不可能な程に高価なものとなり、
実際的でない場合がある。
本出願人の別のPCT出願であるPCT/GB90101617 (公開番号W
091106396)に、2つの相対的に可動の物体間の空間的関係を決定する
ための装置が開示されている。この装置は、2つの相対的に可動の物体の少くと
も一方を他方に対して複数の測定位置のうちの選択された1つの位置へ移動させ
るための移動手段と、該各位置において該一方の物体を6点運動学的位置ぎめに
より位置ぎめするための位置ぎめ手段とから成っている。
例えば、CMM (座標測定機)は、工作物を載せる回転テーブルを備えている
0回転テーブルは、幾つかの測定位置へ回転させることができ、それらの測定位
置から工作物のそれぞれ異なる側面を測定することができる。
それらの各測定位置又は部位において、パレット即ち回転テーブルは、6点運動
学的位置ぎめにより位置ぎめされる。
上記PCT/GB90101617に記載された技術は、上記各測定位置に対す
る工作物の正確な位置を測定することを可能にするが、その装置自体を校正する
という点で問題がある。本発明は、その問題の解決に向けられたものである。
l豆皇り
従って、本発明は、2つの相対的に可動の物体の少くとも一方を他方に対して複
数の測定位置のうちの選択された1つの位置へ移動させるための移動手段と、該
各位置において該一方の可動物体を6点運動学的位置ぎめにより位置ぎめするた
めの位置ぎめ手段とを有する、2つの相対的に可動の物体間の空間的関係を決定
するための測定装置を校正するのに使用するための校正装置であって、前記一方
の可動物体上に固定的に位置ぎめ自在の固定可能な部材を有し、該一方の可動物
体が前記測定位置の少くとも2つの位置のどの位置をとったときでも、該すべて
の又は幾つかの測定位置間の空間的関係を決定することができるように、該固定
可能な部材の位置が、ある特定の固定位置に対して測定可能とされていることを
特徴とする校正装置を提供する。
前記固定可能な部材の位置は、前記一方の可動物体が前記測定位置のうちのどの
位置におかれたときでも、同じ固定点に対して測定可能であることが好ましい、
該固定可能な部材は、前記一方の可動物体に対して複数の位置の間で移動させる
ことができ、該各位置に固定的に位置ぎめすることかできる構成とすることがで
きる。又、固定可能な部材は、6点運動学的位置ぎめ手段によって前記一方の可
動物体上に固定的に位置ぎめすることができる構成とすることができる。
この校正装置は、前記固定位置又は前記各固定位置と前記固定可能な部材との間
の空間的関係を決定するための第2測定装置を備えたものとすることができる。
前記第2測定装置は、前記一方の可動物体がある特定の1つの測定位置におかれ
たとき、前記固定位置又は前記各固定位置と前記固定可能な部材との間にビーム
を投射することによって測定を実施するようになされていることが好ましい、こ
のビームは、レーザービームであってよい、第2測定装置は、レーザー追跡器と
、該追跡器から投射されたビームを受容するための逆反射器とから成るものとし
てもよく、あるいは、前記固定位置間で移動自在のビーム投射器又はビーム受容
器から成り、前記固定可能な部材は、前記固定位置間で移動自在のビーム受容器
又はビーム投射器から成るものとしてもよい。
本発明の校正装置は、前記ビーム投射器又はビーム受容器を前記各固定位置に6
点運動学的位置ぎめにより位置ぎめするための6点運動学的位置ぎめ手段を備え
たものとすることができる。
校正すべき前記測定装置は、前記固定位置と前記固定可能な部材との間で測定を
行うことができるものであってよい、該固定可能な部材は、各測定点と前記固定
位置との間で行われる測定によって前記一方の可動物体と該固定位置の空間的関
係を決定するのに十分な複数の測定点を画定する校正用火工品であってよい、こ
の校正用火工品は、例えば、4つの測定点を画定するものであってよい、より具
体的には、この人工島は、各頂点に測定点を画定する四面体とすることができる
。
本発明の校正装置は、前記一方の可動物体に担持されており、少くとも1つの水
平軸線を中心とする該一方の可動物体の回転角度位置を測定するための水準測定
器を含むものとすることができる。又、前記第2測定装置は、垂直軸線を中心と
する前記一方の可動物体の回転角度位置を測定するための手段を含むものとする
ことができる。
本発明は、又、固定位置と、少くとも1つの固定可能な部材によって画定される
可動物体上の複数の点との間の空間的関係を決定するための測定装置を校正する
のに使用するための校正装置であって、前記可動物体上の前記複数の点は、隣接
する各対の測定位置において、該可動物体が該対の測定位置のどちらか一方にお
かれたとき前記固定位置に対する空間的関係を決定することができる少くとも1
つの点が存在するように定められており、それによって、前記各測定位置をそれ
に近接する測定位置に関して校正することができるようになされていることを特
徴とする校正装置と提供する。
以下に、添付図を参照して本発明の装置の実施例を脱糖1図は、飛行機の機体を
測定するのに使用するための本発明の装置の概略平面図である。
第2図は、運動学的部位を設定する態様を示す概略図である。
第3図は、CMMの回転テーブルとして使用するための、本発明の別の実施例の
パレットの概略透視図である第4図は、更に別の実施例の、第3図と同様の図で
ある。
東JL辺
第1図を参照すると、CMM (座標測定機)10と例えば飛行機の機体12の
ような工作物との間の空間的関係(位置関係)を決定する(見定める)CMMI
O即ち測定装置を校正するのに用いるための本発明の校正装置が示されている0
機体12のサイズが大きいことに鑑みて、CMMIOと機体12との間の相対移
動は、CMMを可動パレット14上に設置することによって可能にされる。パレ
ット14は、複数の測定位置16へ移動することができる。第1図には、4つの
測定位置16が示されている0通常、一時点に1つの測定位置だけがパレット1
4によって占められるが、説明の便宜上、4つの測定位置16のどの位置にもパ
レット14が示されている。実用に当っては、測定位置16は、4つよりかなり
多くすることもできる。
パレット14は、各測定位置16において6点運動学的位置ぎめにより位置ぎめ
される。その態様は、上記PCT/GB9010 l 617G::説明されテ
ィる。
本発明の校正装置は、更に、測定位置16におかれたパレット14の複数の固定
位置18に対する空間的関係(位置関係)校正の目的で決定するための、後述す
る第2測定装置を備えている。
本発明の校正装置は、固定位置18とパレット14の間にレーザービームを投射
することによって作動する。
そのための好ましい構成は、レーザー追跡器20を用いてレーザービームを投射
し、逆反射器22を用いてレーザービームをレーザー追跡器20へ戻す構成であ
る。この目的に適したレーザー追跡器(単に「追跡器」とも称する)及び逆反射
器(単に「レトロ」とも称する)は周知である。追跡器2oは、固定位置18の
うちの1つの固定位置に配置することができ、レトロ22は、ベレット14上に
設置する。ただし、追跡器2oとレトロ22の設置位置を逆にしてもよい。
追跡器20は、各固定位置18に1台づつ恒久的に設置してもよく、あるいは、
単一の追跡器20を用意し、必要に応じて各固定位置18へ移動させるようにし
てもよい。追跡器20は、固定位置18において6点運動学的位置ぎめにより位
置ぎめされる。同様に、単一のレトロ22をパレット14に恒久的に固定しても
よいが、3台以上のレトロ22をパレット14に設置するのが好ましい、あるい
は、単一のレトロ22を設け、そのレトロ22をパレット14上の3つ以上の点
の間で移動させ、パレット上の該各点でレトロ22を6点運動学的位置ぎめによ
り位置ぎめするための手段を設けることもできる上述した運動学的位置ぎめは、
第2図に概略的に示された装置によって行うことができる。真の運動学的位置ぎ
めを得るには、2つの部品間、例えば球体と平坦面との間での点接触を必要とす
る0図示の例では、平坦面30が支持脚34の球状先端32上に支持される。支
持脚34自体は、ヒンジ部分38を介して固定部材36に結合されている。
平坦面30は、物体40上に形成されている。この物体40は、例えばパレット
14であってよい。物体40即ちパレット14に6つの平坦面3oを形成し、そ
れぞれ対応する位置に6つの支持脚34を設ける。このパレット14を6点運動
学的位置ぎめにより位置ぎめするには、6つの平坦面30をそれぞれ対応する球
状体32上に載せ、クランプ機構(図示せず)によってパレット14を支持脚3
4に対して締めつける。そうすることにより、1つ又はそれ以上の球状体32の
、平坦面30に対する僅かな相対移動が生じ、それに伴って支持脚34がヒンジ
部分38上で僅かに横方向に移動する。この構成は、上記PCT/GB9010
1617に詳細に説明されているように、正確に反復可能な締めつけ力を加える
ことにより、正確な運動学的位置ぎめを反復して得ることができる。上記PCT
/GB90101617には、運動学的位置ぎめを達成するなめの構成のいろい
ろな変型例が記載されている。
第1図に示された装置は、以下の態様で校正のために使用することができる。ま
ず、可動パレット14上の3つの点24の間の離間間隔を例えばレーザーインタ
ーフェロメトリー(干渉計使用法)によって正確に測定する次に、3つの点24
の1つに逆反射器22を設置した可動パレット14を測定位置16のうちの選択
された1つに位置づけし、レーザー追跡器20を固定位置18のうちの1つに位
置づけする。追跡器20から逆反射器22ヘレーザービームを投射し、追跡器2
oと逆反射器22の間にレーザービームを設定する。次いで、そのレーザービー
ムな遮断しないようにして逆反射器22を他の2つの点24へ順次に移動し、最
初の点24に対する他の2つの点24の空間的関係(位置関係)を決定する。
次いで、やはりレーザービームな遮断しないようにして追跡器20を別の固定位
置18へ移し、同様に逆反射器22を3つの点24へ順次に移動することによっ
て3点測定(3つの点24間の空間的関係の測定)を行う、最後に、追跡器20
を第3の固定位置18へ移し、同様にして3点測定を行う。この全作業手順を他
の3つの測定位置16においても実施する。
このようにして、パレット14がどの測定位置16におかれたときも、3つのす
べての固定位置18が3つのすべての点24から視ることができる位置にあれば
、多数の測定を行うことができる。しかし、実際上は、特に機体のような大きな
工作物を対象とする場合、上記の図べての測定を行うことができることは少ない
が、可能な限りのすべての測定を行うことが好ましい、そして、それらのすべて
の測定がいずれも同じデータに基づくものであることを保証するために、すべて
の測定を、一旦設定したレーザービームを遮断することな〈実施しなければなら
ない。
ここに述べたような例では、可動パレット14の各測定位置16において少くと
も6つの測定を行うことができるように、少くとも3つの固定位置18を設け、
少くとも3つの点24を設けることが必要である0例えば、各点24について異
なる固定位置18から2つの測定を行うことができるようにする。各測定位置1
6において少くとも6つの測定を行うという最低限の要件を充足する他の組合せ
も可能であるが、いずれにしても、各点24について少くとも1つの測定を行う
ことができなければならない。最低限より多数の測定を行うことができる場合は
、その測定結果は、この測定法の精度を高めるのに使用することができる冗長デ
ータを提供する。多くの実際の測定例において、特に固定位置18又は点24の
数が多い場合は、高度の冗長性が得られることが予測され、精度の高い測定結果
が得られる。
一旦上記のような測定結果が得られたならば、測定装置10は、構成されたもの
とみなすことができる。なぜなら、パレット14は、計算された位置へ該パレッ
トのための上述した運動学的位置ぎめにより高度の反復性をもって戻すことがで
きるからである。
このようにして測定装置10が校正されたならば、工作物12(第1図の例では
機体)の測定を開始することができる。先に述べたように、パレット14は、測
定位置16の1つに運動学的に位置ぎめされ、その位置から工作物12のすべて
のアクセス可能な部分を測定する。
次いで、ベレット14を別の測定位置16へ移動し、その位置から工作物12の
別の側面のアクセス可能な部分を測定する。その工作物の必要な側面を測定する
のに必要とされる数の測定位置16を設定することができる。
各測定位置16から測定される側面は1、工作物全体の正確な測定を一定した座
標系で行うことができるようにするために、上記校正により互いに関連づけるこ
とができる。
この技法は、上述したように逆反射器22をパレット14の周りに移動させるの
で、パレット14に固定された3つの位置の配置によって決定される既知の形状
及び寸法の観念上の物体を描いていく。上述した構成の変型例として、特に回転
テーブルを備えたCMMに適用するのに適する変型例として、校正のために回転
テーブル14に四面体50の形とした例示された有形の人工島(第3図)を固定
することができる。その場合、測定装置の校正は、(固定点から測定作業を行う
”)CMMで四面体50の少くとも3つの点から測定することによフて進められ
る。次いで、テーブル14を別の第2の位置へ回転させて(運動学的位置ぎめに
より位置ぎめさせ)、やはり3つの点52から更に3つの測定を行い、テーブル
14の第1の位置に対する第2の位置の空間的関係(位置関係)を決定する。こ
の操作を多数のテーブル位置について繰り返し実施することができる。
もちろん、どのテーブル位置においても可能ならば4つの測定を行うべきである
が、CMMは、どのテーブル位置においても上記点52の3つより多くの点にア
クセスすることを可能にするような設計にはなっていないことが多い。四面体5
oの形状・寸法は、直線的測定のみに基づいて有形の人工島を正確に描くことが
できるように定められており、従って、たとえ各テーブル位置においてテーブル
14の四面体50上の測定点°52が変更されるとしても、各テーブル位置にお
いて行われる測定は、互いに関連づけることができる。
第4図は、特に回転テーブルを備えたCMMに適用するのに適する更に別の変型
例を示す。この実施例では、回転テーブル(パレット)14にCMMによって位
置を測定することができる1個の球体60を設置する。更に、2つの互いに垂直
な水平軸線に対するパレット14の傾きを測定することができるように、2つの
互いに垂直をなす水準測定器62をパレット14に固定する。この構成では、2
つのテーブル位置の間に直線関係を設定するのにただ1個の球体60で十分であ
り、水準測定器62は、角度座標のうちの2つを測定することを可能にする。第
3の角度座標は、オートコリメーター、角度オプションを装備したレーザーイン
ターフェロメトリー又は他のそれに類する装置を用いる慣用の技法によって測定
することができる。
以上、本発明を実施例に関連して説明したが、本発明は、ここに例示した実施例
の構造及び形態に限定されるものではな(、本発明の精神及び範囲から逸脱する
ことなく、いろいろな実施形態が可能であり、いろいろな変更及び改変を加える
ことができることを理解されたい。
特に、運動学的位置ぎめを行うための装置、及び、固定位置とパレットとの間の
空間的関係を決定するための装置は、作動要件に応じて変更することができる。
固定位置及び測定位置の配置は、工作物の形状及びサイズに応じて選定すること
ができる。
国際調査報告
−−N−1−帽ゆ−1−−11s p(+↑/L’:n On1MC1Q国際調
査報告
Claims (18)
- 1.2つの相対的に可動の物体の少くとも一方を他方に対して複数の測定位置の うちの選択された1つの位置へ移動させるための移動手段と、該各位置において 該一方の可動物体を6点運動学的位置ぎめにより位置ぎめするための6点運動学 的位置ぎめ手段とを有する、2つの相対的に可動の物体間の空間的関係を決定す るための測定装置を校正するのに使用するための校正装置であって、 前記一方の可動物体上に固定的に位置ぎめ自在の固定可能な部材を有し、該一方 の可動物体が前記測定位置の少くとも2つの位置のどの位置をとったときでも該 すべての又は幾つかの測定位置間の空間的関係を決定することができるように、 該固定可能な部材の位置が、ある特定の固定位置に対して測定可能とされている ことを特徴とする校正装置。
- 2.前記一方の可動物体が前記測定位置のうちのとの位置におかれたときでも、 前記固定可能な部材の位置が、同じ固定点に対して測定可能とされていることを 特徴とする請求の範囲第1項に記載の校正装置。
- 3.前記固定可能な部材は、前記一方の可動物体に対して複数の位置の間で移動 させることができ、該各位置に固定的に位置ぎめすることができることを特徴と する請求の範囲第1項又は2項に記載の校正装置。
- 4.前記固定可能な部材は、6点運動学的位置ぎめ手段によって前記一方の可動 物体上に固定的に位置ぎめすることができることを特徴とする請求の範囲第1〜 3項のいずれかに記載の校正装置。
- 5.前記固定位置又は前記各回定位置と前記固定可能な部材との間の空間的関係 を決定するための第2測定装置を備えていることを特徴とする請求の範囲第1〜 4項のいずれかに記載の校正装置。
- 6.前記第2測定装置は、前記一方の可動物体がある特定の1つの測定位置にお かれたとき、前記固定位置又は前記各固定位置と前記固定可能な部材との間にビ ームを投射することによって測定を実施するようになされていることを特徴とす る請求の範囲第5項に記載の校正装置。
- 7.前記ビームは、レーザービームであることを特徴とする請求の範囲第6項に 記載の校正装置。
- 8.前記第2測定装置は、レーザー追跡器と、該追跡器から投射されたビームを 受容するための逆反射器から成ることを特徴とする請求の範囲第5項に記載の校 正装置。
- 9.前記第2測定装置は、前記固定位置間で移動自在のビーム投射器又はビーム 受容器から成り、前記固定可能な部材は、前記固定位置間で移動自在のビーム受 容器又はビーム投射器から成ることを特徴とする請求の範囲第5項に記載の校正 装置。
- 10.前記ビーム投射器又はビーム受容器を前記各固定位置に6点運動学的位置 ぎめにより位置ぎめするための6点運動学的位置ぎめ手段を含むことを特徴とす る請求の範囲第1〜9項のいずれかに記載の校正装置。
- 11.校正すべき前記測定装置は、前記固定位置と前記固定可能な部材との間で 測定を行うことができるものであることを特徴とする請求の範囲第1〜10項の いずれかに記載の校正装置。
- 12.前記固定可能な部材は、各測定点と前記固定位置との間で行われる測定に よって前記一方の可動物体と該固定位置の空間的関係を決定するのに十分な複数 の測定点を画定する校正用人工品であることを特徴とする特許請求の範囲第11 項に記載の校正装置。
- 13.前記人工品は、4つの測定点を画定するものであることを特徴とする特許 請求の範囲第12項に記載の校正装置。
- 14.前記人工品は、各頂点に測定点を画定する四面体であることを特徴とする 特許請求の範囲第13項に記載の校正装置。
- 15.少くとも1つの水平軸線を中心とする前記一方の可動物体の回転角度位置 を測定するための水準測定器が、該一方の可動物体に取付けられていることを特 徴とする請求の範囲第1〜14項のいずれかに記載の校正装置。
- 16.前記第2測定装置は、垂直軸線を中心とする前記一方の可動物体の回転角 度位置を測定するための手段を含むことを特徴とする請求の範囲第15項に記載 の校正装置。
- 17.固定位置と、少くとも1つの固定可能な部材によって画定される可動物体 上の複数の点との間の空間的関係を決定するための測定装置を校正するのに使用 するための校正装置であって、 前記可動物体上の前記複数の点は、隣接する各対の測定位置において、該可動物 体が該対の測定位置のとちらか一方におかれたとき前記固定位置に対する空間的 関係を決定することができる少くとも1つの点が存在するように定められており 、それによって、前記各測定位置をそれに近接する測定位置に関して校正するこ とができるようになされていることを特徴とする校正装置。
- 18.添付図を参照してここに説明された、測定装置を校正するのに使用するた めの校正装置。
Applications Claiming Priority (2)
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