JPH055228B2 - - Google Patents
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- JPH055228B2 JPH055228B2 JP59065335A JP6533584A JPH055228B2 JP H055228 B2 JPH055228 B2 JP H055228B2 JP 59065335 A JP59065335 A JP 59065335A JP 6533584 A JP6533584 A JP 6533584A JP H055228 B2 JPH055228 B2 JP H055228B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- photoconductor
- charge
- region
- transfer
- Prior art date
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は画像読み取りやTVカメラに利用され
る一次元もしくは二次元配列の固体撮像装置に関
するものである。
る一次元もしくは二次元配列の固体撮像装置に関
するものである。
従来例の構成とその問題点
従来、固体撮像装置の役目としては画像認識、
光学情報の読み取り等、人間の目の役割を果たす
ものである。しかるに人間の目と比べて相違点は
認識情報の精度に差があり、これは通常言われて
いる解像度に関するものである。ここで現在の解
像度の高いものとしてTVカメラに用いられる固
体撮像装置を例にとると、ホトダイオードを光検
知部とし、電荷転送機能としてCCD(電荷結合素
子)やX−Yマトリツクスに配置されたMOSス
イツチを利用した構成の固体撮像装置がある。こ
れらは1つのホトダイオードを1絵素とすると、
約5mm×6mmの平面内にたとえば約400×600で20
万絵素の配置されたものである。この解像度に対
応する絵素数は主にCCDなどの電荷転送機能領
域の高密度化技術に制限され、高解像度化を阻害
する要因となつている。
光学情報の読み取り等、人間の目の役割を果たす
ものである。しかるに人間の目と比べて相違点は
認識情報の精度に差があり、これは通常言われて
いる解像度に関するものである。ここで現在の解
像度の高いものとしてTVカメラに用いられる固
体撮像装置を例にとると、ホトダイオードを光検
知部とし、電荷転送機能としてCCD(電荷結合素
子)やX−Yマトリツクスに配置されたMOSス
イツチを利用した構成の固体撮像装置がある。こ
れらは1つのホトダイオードを1絵素とすると、
約5mm×6mmの平面内にたとえば約400×600で20
万絵素の配置されたものである。この解像度に対
応する絵素数は主にCCDなどの電荷転送機能領
域の高密度化技術に制限され、高解像度化を阻害
する要因となつている。
発明の目的
本発明は、上記のような欠点を補うべく提案さ
れたもので、複数個の光電変換領域(上述の絵素
に対応する)を1つの蓄積領域に読み込み、その
信号を電荷転送機能領域で転送することにより、
絵素数を増加せしめて高解像度な固体撮像装置を
提供するものである。
れたもので、複数個の光電変換領域(上述の絵素
に対応する)を1つの蓄積領域に読み込み、その
信号を電荷転送機能領域で転送することにより、
絵素数を増加せしめて高解像度な固体撮像装置を
提供するものである。
発明の構成
本発明は、光電変換を行なう第1、第2の変換
領域と、前記第1、第2の光電変換による発生電
荷を蓄積する1つの蓄積領域と、前記1つの蓄積
領域の蓄積電荷を読み込む1つの読み込み部と、
一次元もしくは二次元に電荷転送機能を有する転
送領域と、前記1つの蓄積領域に電気的に接続さ
れた第1電極と、この第1電極をおおうように形
成された光導電体と、この光導電体上に形成され
た前記第1電極と対向する第2電極と、前記光導
電体とは絶縁層を介し前記第2電極と電気的に絶
縁しかつおのおのも電気的に独立して分解された
第3および第4電極とを有し、前記第1、第2の
変換領域がそれぞれ前記第3、第4の電極下の前
記光導電体に形成され、前記第1、第2の変換領
域の蓄積電荷を交互に前記第1の電極を通じて前
記1つの蓄積領域、読み込み部、転送領域に移す
るものであつて、絵素数を増加させるとともに、
全体的に高密度化を可能とし、高解像度な固体撮
像装置を提供するものである。
領域と、前記第1、第2の光電変換による発生電
荷を蓄積する1つの蓄積領域と、前記1つの蓄積
領域の蓄積電荷を読み込む1つの読み込み部と、
一次元もしくは二次元に電荷転送機能を有する転
送領域と、前記1つの蓄積領域に電気的に接続さ
れた第1電極と、この第1電極をおおうように形
成された光導電体と、この光導電体上に形成され
た前記第1電極と対向する第2電極と、前記光導
電体とは絶縁層を介し前記第2電極と電気的に絶
縁しかつおのおのも電気的に独立して分解された
第3および第4電極とを有し、前記第1、第2の
変換領域がそれぞれ前記第3、第4の電極下の前
記光導電体に形成され、前記第1、第2の変換領
域の蓄積電荷を交互に前記第1の電極を通じて前
記1つの蓄積領域、読み込み部、転送領域に移す
るものであつて、絵素数を増加させるとともに、
全体的に高密度化を可能とし、高解像度な固体撮
像装置を提供するものである。
実施例の説明
以下、本発明を実施例に基いて図面とともに説
明する。
明する。
第1図は本発明による固体撮像装置の一単位の
断面構造を示したものである。第1図は電荷蓄積
部がダイオードで電荷転送部が表面チヤンネル
CCDの場合である。以下は、この構成に基づき
説明するが電荷転送部は埋込みチヤンネルCCD
でもよく、MOS構成のX−Yマトリツクスでも
よい。
断面構造を示したものである。第1図は電荷蓄積
部がダイオードで電荷転送部が表面チヤンネル
CCDの場合である。以下は、この構成に基づき
説明するが電荷転送部は埋込みチヤンネルCCD
でもよく、MOS構成のX−Yマトリツクスでも
よい。
まず、P型半導体基板10にN+型領域11を
形成しダイオードを設ける。12は電荷転送のた
めのゲート電極でこれにより半導体基板10中に
空乏層13が形成される。14はダイオード11
に蓄積された電荷を転送部13に読み込むための
第1ゲート電極であり、15は絶縁体層である。
16はダイオード11と電気的に結合し、かつ各
絵素毎に分離している第1電極である。17は光
導電体である。18は第2電極で第1電極16に
対応しており、電界を印加することで電荷を第1
電極16に集める動きをする。19a,19bは
第3電極で光導電体17及び第2電極18とは絶
縁層20を介している。19a,19bは各々1
絵素の面積を分割するように電気的に絶縁されて
おり、第2電極18とは平面的に重なりを持つのが
望ましい。また、第3電極19a,19bは2つ
に限定されるものではない。さらに複数個の絵素
の電極19a,19bに電圧を印加できるように
バスライン21a,21bで電気的に結合されて
いる。22は入射である。
形成しダイオードを設ける。12は電荷転送のた
めのゲート電極でこれにより半導体基板10中に
空乏層13が形成される。14はダイオード11
に蓄積された電荷を転送部13に読み込むための
第1ゲート電極であり、15は絶縁体層である。
16はダイオード11と電気的に結合し、かつ各
絵素毎に分離している第1電極である。17は光
導電体である。18は第2電極で第1電極16に
対応しており、電界を印加することで電荷を第1
電極16に集める動きをする。19a,19bは
第3電極で光導電体17及び第2電極18とは絶
縁層20を介している。19a,19bは各々1
絵素の面積を分割するように電気的に絶縁されて
おり、第2電極18とは平面的に重なりを持つのが
望ましい。また、第3電極19a,19bは2つ
に限定されるものではない。さらに複数個の絵素
の電極19a,19bに電圧を印加できるように
バスライン21a,21bで電気的に結合されて
いる。22は入射である。
第2図に、第1図に示した単位絵素の電荷蓄積
および読み込みと電荷転送領域を平面的に構成し
たものを示した。同一の数字はそれぞれ第1図に
対応している。23,23′は転送ゲート電極で、
印加パルスはゲート電極12と23,23′にお
いて180°位相が異なる。また24,24´は転
送方向を決めるためのn-領域である。
および読み込みと電荷転送領域を平面的に構成し
たものを示した。同一の数字はそれぞれ第1図に
対応している。23,23′は転送ゲート電極で、
印加パルスはゲート電極12と23,23′にお
いて180°位相が異なる。また24,24´は転
送方向を決めるためのn-領域である。
第3図に光導電体に形成した電極の数絵素分を
示した。第1電極16に対する第2電極18およ
び第3電極19aとパスライン21a,21bの
平面的構成を示した。第4図a〜fに本発明の固
体撮像装置を駆動するためのパルス波形の一例を
示した。第4図aは第1ゲート電極14に印加す
るパルスを、第4図bは転送ゲート電極12に印
加するパルスを、第4図bは転送ゲート電極2
3,23′に印加するパルスを、第4図dは第2
電極18に印加するパルスを、第4図e,fはそ
れぞれ第3電極19a,19bに印加するパルス
を示した。
示した。第1電極16に対する第2電極18およ
び第3電極19aとパスライン21a,21bの
平面的構成を示した。第4図a〜fに本発明の固
体撮像装置を駆動するためのパルス波形の一例を
示した。第4図aは第1ゲート電極14に印加す
るパルスを、第4図bは転送ゲート電極12に印
加するパルスを、第4図bは転送ゲート電極2
3,23′に印加するパルスを、第4図dは第2
電極18に印加するパルスを、第4図e,fはそ
れぞれ第3電極19a,19bに印加するパルス
を示した。
第1図から第4図までを用いて、本発明の固体
撮像装置の駆動の説明をする。第4図におけるt0
時間では光導電体17に第3電極19aを通じて
電圧Vaccが印加されており、入射光22で発生し
た電荷(本実施例では電子)が保持されている。
撮像装置の駆動の説明をする。第4図におけるt0
時間では光導電体17に第3電極19aを通じて
電圧Vaccが印加されており、入射光22で発生し
た電荷(本実施例では電子)が保持されている。
このとき、第3電極19bには電圧が印加され
ておらず電荷発生は押さえられている(以下で無
感度期間という。)。t1時間で第1電極16と第2
電極18との間に強い電界を印加し、さらに第3
電極19aを負電圧Vdrを印加することで第3電
極19aに保持されていた電荷は電極16を通じ
てダイオード11に流れ込む。t2時間で読み込み
第1ゲート電極14に第4図aに示す読み込みパ
ルスVchが印加され、ダイオード11に蓄積され
た電荷は第4図b,cに示されるようにゲート電
極12にパルスV〓rが印加されるのでそれ下のポ
テンシヤル13に移される。この電荷は電位の低
いn-領域24に流れ込む。さらにゲート電極23
にパルスが印加されるため、電荷はn-領域24か
らゲート電極23の下のポテンシヤルに移り、ひ
きつづきn-領域24′に流れ込む。このように読み
出された電荷は次々転送され出力される。(第4
図b,cでのt3時間である。) またt2時間と同時刻には第4図eのように第3
電極19aに電圧は印下されておらず、第3電極
19a直下の光導電体11は無感度期間となる。
逆に第4図fに示すように第3電極19bには電
圧Vaccが印加され、第3電極19b直下の光導電
体17に入射光22で発生した電荷が保持され始
める。次いで第4図に示すt4〜t6時間で上述のt1
〜t3と同様に第3電極19b直下にある電荷が転
送され出力される。
ておらず電荷発生は押さえられている(以下で無
感度期間という。)。t1時間で第1電極16と第2
電極18との間に強い電界を印加し、さらに第3
電極19aを負電圧Vdrを印加することで第3電
極19aに保持されていた電荷は電極16を通じ
てダイオード11に流れ込む。t2時間で読み込み
第1ゲート電極14に第4図aに示す読み込みパ
ルスVchが印加され、ダイオード11に蓄積され
た電荷は第4図b,cに示されるようにゲート電
極12にパルスV〓rが印加されるのでそれ下のポ
テンシヤル13に移される。この電荷は電位の低
いn-領域24に流れ込む。さらにゲート電極23
にパルスが印加されるため、電荷はn-領域24か
らゲート電極23の下のポテンシヤルに移り、ひ
きつづきn-領域24′に流れ込む。このように読み
出された電荷は次々転送され出力される。(第4
図b,cでのt3時間である。) またt2時間と同時刻には第4図eのように第3
電極19aに電圧は印下されておらず、第3電極
19a直下の光導電体11は無感度期間となる。
逆に第4図fに示すように第3電極19bには電
圧Vaccが印加され、第3電極19b直下の光導電
体17に入射光22で発生した電荷が保持され始
める。次いで第4図に示すt4〜t6時間で上述のt1
〜t3と同様に第3電極19b直下にある電荷が転
送され出力される。
本実施例では2つの光導変換領域の動作につい
て述べたが3つ以上であつても同様の操作をくり
返すことでよい。
て述べたが3つ以上であつても同様の操作をくり
返すことでよい。
このような固体撮像装置は以下のようにして作
られる。まず、P型Si基板10にn+型領域11を拡
散法により形成する。次に絶縁酸化した半導体基
板10上にポリSiにより転送ゲート電極12を形
成し、絶縁分離をした後、ポリSiにより第1ゲー
ト電極14を形成する。さらに絶縁体層15とし
て低融点ガラス(例えばリンシリケートガラス)
を形成、1100℃に昇温メルトフローを行ない表面
の段差緩和を行なう。次にn+拡散層11に位置
するようにコンタクトホールを設けた後、ポリSi
でホールを埋め、MoあるいはTa等により第1電
極16を形成し、各単位絵素に分離する。その上
にプラズマGVD法またはスパツタ蒸着法により
光導電体層17として水素化アモルフアスSiを
0.5〜2μm形成する。
られる。まず、P型Si基板10にn+型領域11を拡
散法により形成する。次に絶縁酸化した半導体基
板10上にポリSiにより転送ゲート電極12を形
成し、絶縁分離をした後、ポリSiにより第1ゲー
ト電極14を形成する。さらに絶縁体層15とし
て低融点ガラス(例えばリンシリケートガラス)
を形成、1100℃に昇温メルトフローを行ない表面
の段差緩和を行なう。次にn+拡散層11に位置
するようにコンタクトホールを設けた後、ポリSi
でホールを埋め、MoあるいはTa等により第1電
極16を形成し、各単位絵素に分離する。その上
にプラズマGVD法またはスパツタ蒸着法により
光導電体層17として水素化アモルフアスSiを
0.5〜2μm形成する。
次に同じくプラズマCVD法かスパツタ蒸着法
にて絶縁層20としてSi3N4またはSiO2を約0.1μ
m形成し、第3電極19a,19bとして透明電
極SnO2あるいは(In2O3)1-x(SnO2)zを0.05〜
0.2μmスパツタ蒸着法により形成し、エツチング
でパターン化する。さらにスパツタ蒸着法で
Si3N4またはSiO2を約0.1μm絶縁層20として形
成し、第2電極18とバスライン21a,21b
のためのコンタクトホールを設け、第2電極18
としてAlまたはAu等の金属を形成してパターン
化する。バスライン21a,21bは第2電極1
8と同様の金属かまたは透明電極で形成し、パタ
ーン化することで本発明の固体撮像装置が得られ
る。
にて絶縁層20としてSi3N4またはSiO2を約0.1μ
m形成し、第3電極19a,19bとして透明電
極SnO2あるいは(In2O3)1-x(SnO2)zを0.05〜
0.2μmスパツタ蒸着法により形成し、エツチング
でパターン化する。さらにスパツタ蒸着法で
Si3N4またはSiO2を約0.1μm絶縁層20として形
成し、第2電極18とバスライン21a,21b
のためのコンタクトホールを設け、第2電極18
としてAlまたはAu等の金属を形成してパターン
化する。バスライン21a,21bは第2電極1
8と同様の金属かまたは透明電極で形成し、パタ
ーン化することで本発明の固体撮像装置が得られ
る。
以上述べてきたように電荷蓄積および転送領域
を高密度化することなく、1つの電荷蓄積領域に
複数個の光電変換領域を設けることが本発明の特
徴である。第5図a〜dに本発明の原理をバンド
図で示した。まず電極3a側の電荷を電極1の蓄
積領域に運び、次いで電極3b側の電荷を同じく
電極1の蓄積領域に運ぶ。
を高密度化することなく、1つの電荷蓄積領域に
複数個の光電変換領域を設けることが本発明の特
徴である。第5図a〜dに本発明の原理をバンド
図で示した。まず電極3a側の電荷を電極1の蓄
積領域に運び、次いで電極3b側の電荷を同じく
電極1の蓄積領域に運ぶ。
現在、TVカメラに用いられる固体撮像装置は
1/2インチサイズの小型化へと進んでいる。この
単位絵素のサイズとしては水平約17μm、垂直約
10μmである。この大きさの単位絵素の中にイン
タライン転送型CCDのように、ダイオード領域、
読み込み領域および転送領域が設けられている。
ここで(解像度=絵素数)と言えるが、解像度を
向上させるために絵素数(約20万絵素)を2倍も
しくは4倍にすることは現在の集積回路技術では
不可能である。
1/2インチサイズの小型化へと進んでいる。この
単位絵素のサイズとしては水平約17μm、垂直約
10μmである。この大きさの単位絵素の中にイン
タライン転送型CCDのように、ダイオード領域、
読み込み領域および転送領域が設けられている。
ここで(解像度=絵素数)と言えるが、解像度を
向上させるために絵素数(約20万絵素)を2倍も
しくは4倍にすることは現在の集積回路技術では
不可能である。
発明の効果
本発明は上記のような問題を解決したもので1
つの蓄積領域に2個の光電変換領域を設け、さら
に1つの蓄積領域に対し1個の読み込み部、転送
領域を設けることで過大な高密度化を要求するこ
となく、高解像度化を行なうことができるため、
その産業上の意義はきわめて大きいものである。
つの蓄積領域に2個の光電変換領域を設け、さら
に1つの蓄積領域に対し1個の読み込み部、転送
領域を設けることで過大な高密度化を要求するこ
となく、高解像度化を行なうことができるため、
その産業上の意義はきわめて大きいものである。
なお実施例では二次元配列の固体撮像装置につ
いて述べたがこれは集積度が一次元より高いため
で一次元配列においても本発明は非常に有効であ
る。
いて述べたがこれは集積度が一次元より高いため
で一次元配列においても本発明は非常に有効であ
る。
第1図は本発明実施例を示す一単位の断面構造
図、第2図は本発明の実施例の要部平面図、第3
図は第2電極および第3電極の配置例を示す図、
第4図は同実施例の駆動パルス波形図、第5図は
本発明の原理を示すバンド図である。 10……半導体基板、11……電荷蓄積部、1
2,14……ゲート電極、13……電荷転送部、
15,20……絶縁層、16……第1電極、17
……光導電体、18……第2電極、19……第3
電極、21……バスライン、22……入射光。
図、第2図は本発明の実施例の要部平面図、第3
図は第2電極および第3電極の配置例を示す図、
第4図は同実施例の駆動パルス波形図、第5図は
本発明の原理を示すバンド図である。 10……半導体基板、11……電荷蓄積部、1
2,14……ゲート電極、13……電荷転送部、
15,20……絶縁層、16……第1電極、17
……光導電体、18……第2電極、19……第3
電極、21……バスライン、22……入射光。
Claims (1)
- 1 光電変換を行なう第1、第2の変換領域と、
前記第1、第2の光電変換による発生電荷を蓄積
する1つの蓄積領域と、前記1つの蓄積領域の蓄
積電荷を読み込む1つの読み込み部と、一次元も
しくは二次元に電荷転送機能を有する転送領域
と、前記1つの蓄積領域に電気的に接続された第
1電極と、この第1電極をおおうように形成され
た光導電体と、この光導電体上に形成された前記
第1電極と対向する第2電極と、前記光導電体と
は絶縁層を介し前記第2電極と電気的に絶縁しか
つおのおのも電気的に独立して分割された第3お
よび第4電極とを有し、前記第1、第2の変換領
域がそれぞれ前記第3、第4の電極下の前記光導
電体に形成され、前記第1、第2の変換領域の蓄
積電荷を交互に前記第1の電極を通じて前記1つ
の蓄積領域、読み込み部、転送領域に移すことを
特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065335A JPS60208179A (ja) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065335A JPS60208179A (ja) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60208179A JPS60208179A (ja) | 1985-10-19 |
| JPH055228B2 true JPH055228B2 (ja) | 1993-01-21 |
Family
ID=13283948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59065335A Granted JPS60208179A (ja) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60208179A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3138314A1 (de) * | 1981-09-25 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor hoher packungsdichte mit fotoleiterschicht |
-
1984
- 1984-04-02 JP JP59065335A patent/JPS60208179A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60208179A (ja) | 1985-10-19 |
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