JPH0554332B2 - - Google Patents

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JPH0554332B2
JPH0554332B2 JP60103499A JP10349985A JPH0554332B2 JP H0554332 B2 JPH0554332 B2 JP H0554332B2 JP 60103499 A JP60103499 A JP 60103499A JP 10349985 A JP10349985 A JP 10349985A JP H0554332 B2 JPH0554332 B2 JP H0554332B2
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JP
Japan
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eye
light
examined
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JP60103499A
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JPS61259642A (ja
Inventor
Yoshinori Oana
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、測定ターゲツト像を眼底に投影する
とともに、この測定ターゲツト像の合焦状態を光
電的に検出して被検眼の眼屈折力を測定するため
の他覚眼屈折力測定装置に関するものである。
(従来技術) 従来、他覚屈折力測定装置としては、測定ター
ゲツトからの光束を2光束に分割して被検眼眼底
に投影し、その投影された測定ターゲツト像が合
焦状態にない場合には所定方向にスプリツトした
測定ターゲツト像を形成するように構成し、この
スプリツト量を光電的に検出して眼屈折力を測定
するようにした装置が知られている。
また、他の従来装置としては、被検眼眼底上の
測定ターゲツト像の非合焦量を適宜手段により検
出して眼屈折力を測定するように構成した装置も
知られている。
(従来技術の問題点) この種の装置においては、光電的な検出精度の
向上を図るためには、基本的には光電変換部上の
測定ターゲツト像を投影するための受光系の倍率
を高くする必要がある。
しかしながら、単に倍率を高めることは、光寺
変換部上の測定ターゲツト像の単位面積当りの明
るさが低下し、検出信号のS/N比を悪化させる
という欠点がある。
かかる欠点を是正するためには、測定ターゲツ
ト像の光源として高輝度な光源を用いるように
し、眼底上での測定ターゲツト像の明るさを増加
させる必要が生じる。しかしながら、高輝度光源
に代えることは単に構成上の変更によるコスト的
代償に止まらず、被検眼に入射する光量が増大し
て、被検眼に悪影響を及ぼすおそれがあるという
問題点があつた。
(問題点を解決するための手段) 本件発明は、上記問題点を解決することを目的
としてなされたものであり、被検眼眼底に測定タ
ーゲツト像を投影する投影系と、この測定ターゲ
ツト像を光電変換部上に形成する受光系とを有
し、これら系の少なくとも一方の光路内にアナモ
フイツク光学系を配置する構成としたものであ
る。
被検眼に投影する光量を変えることなく、か
つ、S/N比を改善して測定精度の向上を図れる
ようにしたものである。
(作 用) 被検眼眼底上に投影された一対の平行なスリツ
ト状ターゲツト像は、アナモフイツク光学系の介
在により、スリツトの長手方向にのみ圧縮されて
光電変換部である撮像管上に形成されるようにな
り、光源輝度をそのまま維持しつつ測定ターゲツ
ト像の明るさを増してS/N比の改善を図ること
ができる。
(実施例) 以下、本発明に係る他覚眼屈折力測定装置の実
施例を図面に基づいて説明する。
第1図において、1はターゲツト像投影系であ
り、このターゲツト像投影系1は不可視光を測定
する指標板に照射することにより形成された測定
ターゲツト像を被検眼2の眼底に投影する機能を
有し、3は受光光学系であり、この受光光学系3
は測定ターゲツト像投影系1によつて投影された
測定ターゲツト像の被検眼2の眼底における反射
像を撮像装置4の撮像面4aに結像する機能を有
し、5は注視目標投影系であり、この注視目標投
影系5は、他覚測定を行なう場合に注視目標を被
検眼2に投影する機能を有している。
ターゲツト像投影系1は、光源、例えばLED
(Light emitting diode)6を有し、この光源6
は、被検眼2の縮瞳を防止するために、不可視光
であるところの赤外光を発する。この光源6から
の赤外光はコンデンサレンズ7を介して測定指標
板8に照射され、測定指標板8は光軸x方向に移
動可能である。この測定指標板8は、第2図に示
すように4つのスリツト(間隔lが同じで平行な
上下2組のスリツト)を有する薄板8aとこの薄
板8aに接し、スリツトを通過した光がスリツト
の長手方向と直角な方向に光束を偏角させる4つ
の偏角プリズム8b〜8eとから構成されてい
る。測定指標板8に照射された不可視光からなる
2組の平行な測定ターゲツト光は、コリメータレ
ンズ38を介して反射プリズム9を通過する。
そして、この反射プリズム9を通過した測定タ
ーゲツト光は、アナモフイツク光学系39及びリ
レーレンズ11により一度測定ターゲツト像を形
成する。このアナモフイツク光学系39は、第3
図に示すように、焦点距離f1なる正の円柱レンズ
391と焦点距離f2なる正の円柱レンズ392とを
(f1+f2)の間隔をもつて配置され、夫々の円柱
レンズ391,392の円柱軸は測定指標板8のス
リツトの長手方向と平行に設定されている。この
構成により、スリツトの長手方向と直角な平面内
では、点P1に配置された測定指標板8からの測
定ターゲツト光はコリメータレンズ38により平
行光束にされ、そのままリレーレンズ11により
点P2に集光される。
それに対し、スリツトの長手方向と平行な平面
内では、コリメータレンズ38により平行光束に
された測定ターゲツト光は円柱レンズ391によ
りいつたん集光された後、円柱レンズ392によ
り再度平行光束にされ、リレーレンズ11により
点P2に集光される。そのため、点P2に形成され
る測定ターゲツト像のスリツトの長手方向の倍率
は、スリツトの長手方向と直角な方向の倍率に対
してf1/f2(<1)倍になり、点P2にはスリツト
の長手方向だけ圧縮された測定ターゲツト像が形
成されることになる。
第4図は、他のアナモフイツク光学系39′の
構成例を示すものであり、焦点距離−f1′(f1′>
0)なる負の円柱レンズ391′と焦点距離f2′なる
正の円柱レンズ392′を(f2′−f1′)の間隔をもつ
て配置している。この場合も前述と同様に点P2
にはスリツトの長手方向のみ圧縮された測定ター
ゲツト像が形成される。
さらに、アナモフイツク光学系39を通過した
測定ターゲツト光は反射プリズム10、リレーレ
ンズ11、反射プリズム12、二つの半月状開口
部を有する半月絞り13、スリツト状の孔14a
を有するスリツトプリズム14、イメージローテ
ータ15、対物レンズ16、ビームスプリツタ1
7をそれぞれ通過して被検眼2の瞳孔を通つてそ
の眼底に投影される。なお、半月絞り13は被検
眼2の瞳と共役な位置に配置されている。イメー
ジローテータ15は被検眼2の眼底に投影される
測定ターゲツト像を被検眼2の所定経線方向に回
転させるために、光軸yのまわりに回転可能に配
置されており、イメージローテータ15の回転角
度θ/2に対して被検眼眼底に投影される測定タ
ーゲツト像は角度にしてθ度回転するようになつ
ている。ビームスプリツタ17は赤外光を透過
し、可視光を反射する特性を有している。
受光光学系3において、被検眼2の眼底におい
て反射された測定ターゲツト像は、ビームスプリ
ツタ17、対物レンズ16、イメージローテータ
15、スリツトプリズム14のスリツト状の孔1
4a、円形の開口部18aを有する開口絞り1
8、リレーレンズ19、反射プリズム20,2
1、黒点板22、移動レンズ23、反射ミラー2
4、結像レンズ25を介して撮像面4aに結像さ
れる。なお、開口絞り18は、被検眼2の瞳と共
役な位置に配置され、開口部18aは被検眼2の
瞳孔を通過する光だけを通す。黒点板22は対物
レンズ16により反射された測定に有害な光を除
去する。移動レンズ23は黒点板22と共に測定
指標板8と一体で光軸Zに沿つて移動可能となつ
ている。この測定指標板8と撮像面4aとは常に
共役な位置関係に保持されている。
撮像面4aに結像する測定ターゲツト像は、イ
メージローテータ15を再び通過して来るため
に、被検眼2の眼底に投影した測定ターゲツト像
と逆方向に同角度回転する。従つてこの撮像面4
aに結像した測定ターゲツト像は、イメージロー
テータ15の回転角度にかかわらず、測定指標板
8によつて形成された測定ターゲツト像のスリツ
トの向きが同じで常に一定方向に保持される。一
方、光電変換部としての撮像装置4は、撮像面4
aに結像した測定ターゲツト像に応じて映像信号
を出力する。この映像信号により表示装置26
は、撮像面4aに結像したスリツト測定ターゲツ
ト像(被検眼2の眼底で反射された像)を表示す
る。
これらターゲツト像投影系1と受光光学系3に
おいて、測定指標板8が移動し、測定ターゲツト
像が被検眼2の眼底上に合焦すると、移動レンズ
23の移動でその合焦状態が撮像面4aに結像さ
れる。
注視目標投影系5において、可視光を発する光
源27からの光は、色補正フイルタ28、コンデ
ンサレンズ29により注視目標板30に照射され
る。この注視目標板30上には、注視目標が形成
されている。光源27からの光の照射で注視目標
板30によつて形成された注視目標像は、コリメ
ータレンズ31、移動レンズ32、反射ミラー3
3,34、リレーレンズ35、反射ミラー36、
対物レンズ37、反射ミラー38、ビームスプリ
ツタ17を介して被検眼2の眼底に投影される。
なお、移動レンズ32は、光軸に沿つて移動可能
であり、他覚測定の場合には被検眼2の屈折度数
に応じて被検者に雲霧視させる位置に設定され、
被検眼2の調節力を除去し、正確な他覚測定を可
能にする。
このように構成されているので、撮像装置4か
らの映像信号に基づき測定ターゲツト像の上下2
組のスリツト間隔Q1,Q2が等しくなるまで測定
指標板8並びに黒点板22及び移動レンズ23
を、それぞれ光軸X,Yに沿つて移動させる。そ
して、この測定指標板8の移動量から被検眼2の
屈折力を測定するものとなつている。
この場合、測定ターゲツト像はアナモフイツク
光学系39を通過する前の状態(第5図参照)と
後の状態(第6図参照)とを比べると、スプリツ
ト量(間隔Q1,Q2)は変化しないが、長手方向
の長さが前者よりも後者の方が短いものとなる
(すなわちn1>n2)。
なお、上記実施例においてはアナモフイツク光
学系39をターゲツト投影系1中に配置する構成
としたが、測定ターゲツト像は最終的には被検眼
に投影されたものが撮像装置4上に形成され、こ
の撮像装置4の映像信号により合焦状態を検出す
るものであり、アナモフイツク光学系39を受光
光学系3中に、例えば反射ミラー24と結像レン
ズ25との間に配置する構成としてもよい。この
場合には、被検眼眼底に投影される測定ターゲツ
ト像の明るさは何ら変更せずに、撮像装置4上の
測定ターゲツト像の明るさを増大させることがで
きる。
(発明の効果) 以上のようにこの発明によれば、測定ターゲツ
ト像の投影系または受光系の少なくとも一方にア
ナモフイツク光学系を配置する構成としたので、
測定ターゲツトを例えば上下一対のスリツトで形
成された場合、被検眼眼底上の測定ターゲツト像
はスリツトの長手方向が圧縮されるようになつ
て、光源の輝度を考えることなく像の明るさを増
加させることができ、しかもスリツトの長手方向
に直交する方向は像の変倍に何らの作用もしない
ので、簡単な構成の付加によりS/N比を改善し
て測定精度の向上を容易に実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る他覚眼屈折力測定装置の
一実施例を示す光学系配置図、第2図は第1図に
示す指標板を拡大して示す斜視図、第3図及び第
4図は第1図に示すアナモフイツク光学系の概略
斜視図、第5図はアナモフイツク光学系通過前の
測定ターゲツト像を説明する平面図、第6図はア
ナモフイツク光学系通過後の測定ターゲツト像を
説明する平面図である。 1…測定ターゲツト像投影系、2…被検眼、3
…受光光学系(受光系)、4…撮像装置(光電変
換部)、39,39′…アナモフイツク光学系。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検眼眼底に測定ターゲツト像を投影するた
    めの投影系と、前記測定ターゲツト像からの反射
    光を受け光電変換部上に該測定ターゲツト像を形
    成するための受光系とを有する眼屈折力測定装置
    において、前記投影系または受光系の少なくとも
    一方の系の光路内にアナモフイツク光学系を配置
    したことを特徴とする他覚眼屈折力測定装置。 2 測定ターゲツト像は、スリツト状に縦長に形
    成された像であり、アナモフイツク光学系は、該
    測定ターゲツト像の長手方向を圧縮して光電変換
    部上に形成するように構成したことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の他覚眼屈折力測定装
    置。 3 アナモフイツク光学系は、円柱レンズを含む
    ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の他
    覚眼屈折力測定装置。
JP60103499A 1985-05-15 1985-05-15 他覚眼屈折力測定装置 Granted JPS61259642A (ja)

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JP60103499A JPS61259642A (ja) 1985-05-15 1985-05-15 他覚眼屈折力測定装置

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JPS61259642A JPS61259642A (ja) 1986-11-17
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5666234A (en) * 1979-11-02 1981-06-04 Canon Kk Measuring apparatus
JPS56161031A (en) * 1980-05-15 1981-12-11 Canon Kk Eye refraction meter

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JPS61259642A (ja) 1986-11-17

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