JPH0554740B2 - - Google Patents
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- JPH0554740B2 JPH0554740B2 JP28413385A JP28413385A JPH0554740B2 JP H0554740 B2 JPH0554740 B2 JP H0554740B2 JP 28413385 A JP28413385 A JP 28413385A JP 28413385 A JP28413385 A JP 28413385A JP H0554740 B2 JPH0554740 B2 JP H0554740B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- measurement
- delay time
- oscilloscope
- period
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
- G01R31/11—Locating faults in cables, transmission lines, or networks using pulse reflection methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ケーブル遅延時間測定方法であつて、オシロス
コープと、パルス発生器と、周波数カウンタとを
用い、パルス信号とその反射波の立ち上がりとを
一致させるようパルス信号の周期を調整し、その
周期よりケーブルの遅延時間を求める方法で、操
作簡易で正確に測定することができる。
コープと、パルス発生器と、周波数カウンタとを
用い、パルス信号とその反射波の立ち上がりとを
一致させるようパルス信号の周期を調整し、その
周期よりケーブルの遅延時間を求める方法で、操
作簡易で正確に測定することができる。
本発明はケーブルの遅延時間を測定する方法に
関するものである。
関するものである。
情報処理システムの処理の高速化され、特に中
央処理装置（CPU）は高密度の半導体集積素子
で構成され、このような素子間の信号は微弱であ
つて、雑音の混入を防止するためにその接続線に
は同軸ケーブルが使用される。
央処理装置（CPU）は高密度の半導体集積素子
で構成され、このような素子間の信号は微弱であ
つて、雑音の混入を防止するためにその接続線に
は同軸ケーブルが使用される。
さらに、接続線ケーブルの信号伝送に要する遅
延時間が各種信号の処理の時間関係、あるいは、
信号仕組の関係に大きさ影響をもたらし、同じケ
ーブル長でも、その遅延時間は等しくないため
に、それぞれのケーブルの遅延時間測定が不可欠
である。
延時間が各種信号の処理の時間関係、あるいは、
信号仕組の関係に大きさ影響をもたらし、同じケ
ーブル長でも、その遅延時間は等しくないため
に、それぞれのケーブルの遅延時間測定が不可欠
である。
従つて、接続線ケーブル作成に際して操作が簡
易で、しかも正確な測定ができる方法が要望され
ている。
易で、しかも正確な測定ができる方法が要望され
ている。
従来のケーブル遅延時間測定方法の１つは、パ
ルス発生器に被測定ケーブルの一端を接続し、通
常サンプリングスコープ（以下、オシロスコープ
と称する）のプローブをそのケーブルの両端に接
続して、オシロスコープの画面における両プロー
ブのパルス波形の時間差を直接読み取る。
ルス発生器に被測定ケーブルの一端を接続し、通
常サンプリングスコープ（以下、オシロスコープ
と称する）のプローブをそのケーブルの両端に接
続して、オシロスコープの画面における両プロー
ブのパルス波形の時間差を直接読み取る。
他の方法は、パルス発生器に被測定ケーブルの
一端を接続し、その他端を無接続開放状態にお
き、パルス発生器側にプローブをおいて、オシロ
スコープ画面上で、パルス信号の送信波形とケー
ブル端からの反射波形との時間差を読み取り、そ
の時間の1/2をケーブル遅延時間とする方法であ
る。
一端を接続し、その他端を無接続開放状態にお
き、パルス発生器側にプローブをおいて、オシロ
スコープ画面上で、パルス信号の送信波形とケー
ブル端からの反射波形との時間差を読み取り、そ
の時間の1/2をケーブル遅延時間とする方法であ
る。
これら従来の方法は、いずれもオシロスコープ
の画面における２つの波形を画面上に刻まれた目
盛りを読み取る必要があり、その読み取り誤差が
大きく、特に遅延時間が大きくなると測定レンジ
を替えることが必要となるので、更に誤差が増大
することになる。
の画面における２つの波形を画面上に刻まれた目
盛りを読み取る必要があり、その読み取り誤差が
大きく、特に遅延時間が大きくなると測定レンジ
を替えることが必要となるので、更に誤差が増大
することになる。
また、上記第１の方法では、被測定ケーブルは
その特性インピーダンスで終端して測定する必要
があり、測定の度に被測定ケーブルに特性インピ
ーダンス素子を着脱するのが煩わしい。
その特性インピーダンスで終端して測定する必要
があり、測定の度に被測定ケーブルに特性インピ
ーダンス素子を着脱するのが煩わしい。
本発明は、このような点に鑑みて創作されたも
のであつて、オシロスコープ画面上の送信、反射
両波形が一致するようパルス発生器のパルス信号
の周期を変化させて測定するゼロ点測定方法を利
用したケーブル遅延時間測定方法を提供すること
を目的としている。
のであつて、オシロスコープ画面上の送信、反射
両波形が一致するようパルス発生器のパルス信号
の周期を変化させて測定するゼロ点測定方法を利
用したケーブル遅延時間測定方法を提供すること
を目的としている。
第１図は本発明のケーブル遅延時間測定方法の
測定回路の原理構成図である。
測定回路の原理構成図である。
第２図は被測定ケーブルを接続しない状態の波
形説明図、 第３図は被測定ケーブルが接続された状態の波
形説明図である。
形説明図、 第３図は被測定ケーブルが接続された状態の波
形説明図である。
１はオシロスコープ、２はパルス発生器、３は
遅延素子、４は補助ケーブル、５は被測定ケーブ
ル、１１はオシロスコープのＡチヤネルプロー
ブ、１２はＢチヤネルプローブで、パルス発生器
２の出力端子に補助ケーブル４が接続され、その
補助ケーブル４にパルス発生器２側からオシロス
コープのＡチヤネルプローブ１１、Ｂチヤネルプ
ローブ１２が接続され、補助ケーブル４の他端の
コネクタ４１に被測定ケーブル５が接続される。
遅延素子、４は補助ケーブル、５は被測定ケーブ
ル、１１はオシロスコープのＡチヤネルプロー
ブ、１２はＢチヤネルプローブで、パルス発生器
２の出力端子に補助ケーブル４が接続され、その
補助ケーブル４にパルス発生器２側からオシロス
コープのＡチヤネルプローブ１１、Ｂチヤネルプ
ローブ１２が接続され、補助ケーブル４の他端の
コネクタ４１に被測定ケーブル５が接続される。
そして遅延素子３はオシロスコープ１とそのＡ
チヤネルプローブ１１の間に挿入される。
チヤネルプローブ１１の間に挿入される。
先ず、被測定ケーブルを測定用コネクタ４１に
接続しないで、測定回路の設定を行う。
接続しないで、測定回路の設定を行う。
第２図はオシロスコープ１の画面上の波形説明
図で、図において、ａはＡチヤネルプローブ１１
から得られた波形、ｂはＢチヤネルプローブ１２
から得られた波形である。
図で、図において、ａはＡチヤネルプローブ１１
から得られた波形、ｂはＢチヤネルプローブ１２
から得られた波形である。
いずれの波形もパルス発生器２のパルス信号波
形に被測定ケーブル５の開放端で反射した反射波
が重畳して凸型波形となつている。
形に被測定ケーブル５の開放端で反射した反射波
が重畳して凸型波形となつている。
この連続した波形のＡチヤネル波形の信号波形
の立ち上がりイとＢチヤネル波形の反射波形の立
ち上がりロが一致するように、パルス発生器２の
周期T1を変化させ、その一致した時の値T1を得
る。
の立ち上がりイとＢチヤネル波形の反射波形の立
ち上がりロが一致するように、パルス発生器２の
周期T1を変化させ、その一致した時の値T1を得
る。
次に、被測定ケーブル５を測定用コネクタ４１
に接続して、同様に波形のイとロのパルス信号の
立ち上がりが一致した時のパルス発生器２の周期
T2を得る（第３図）。
に接続して、同様に波形のイとロのパルス信号の
立ち上がりが一致した時のパルス発生器２の周期
T2を得る（第３図）。
得られた周期T1，T2から次式によつて被測定
ケーブルの遅延時間ｌを求める。
ケーブルの遅延時間ｌを求める。
ｌ＝（T2−T1）／２
〔作用〕
遅延素子３が挿入されていることによつて、オ
シロスコープ１からＡチヤネルプローブ１１に送
られるサンプリングパルスが遅延されるので、表
示される波形は相対的に時間D1だけ進んだ状態
で表示され、Ａチヤネルプローブ１１とＢチヤネ
ルプローブ１２間の補助ケーブル４による遅延時
間D2とし、Ｂチヤネルプローブ１２と測定用コ
ネクタ４１間の遅延時間をl0とする。
シロスコープ１からＡチヤネルプローブ１１に送
られるサンプリングパルスが遅延されるので、表
示される波形は相対的に時間D1だけ進んだ状態
で表示され、Ａチヤネルプローブ１１とＢチヤネ
ルプローブ１２間の補助ケーブル４による遅延時
間D2とし、Ｂチヤネルプローブ１２と測定用コ
ネクタ４１間の遅延時間をl0とする。
従つて、第２図の波形図の時間軸を同一にした
とすると、画面上の実際のＡチヤネルの波形は、
Ｂチヤネルの波形から１波形分進んだようにオシ
ロスコープ画面上で見え、実際の波形の一致点
は、ハとロである。
とすると、画面上の実際のＡチヤネルの波形は、
Ｂチヤネルの波形から１波形分進んだようにオシ
ロスコープ画面上で見え、実際の波形の一致点
は、ハとロである。
そして周期T1は、
T1＝D1＋D2＋2l0
である。
同様に、被測定ケーブル５を接続して測定した
場合の波形図では、被測定ケーブル遅延時間ｌと
すると、測定時の周期T2は、 T2＝D1＋D2＋2l0＋2l である。
場合の波形図では、被測定ケーブル遅延時間ｌと
すると、測定時の周期T2は、 T2＝D1＋D2＋2l0＋2l である。
従つて、上記したように被測定ケーブル５の遅
延時間ｌは、 ｌ＝（T2−T1）／２ で求められる。
延時間ｌは、 ｌ＝（T2−T1）／２ で求められる。
第４図は本発明のケーブル遅延時間測定方法の
一実施例の測定回路構成図を示す。
一実施例の測定回路構成図を示す。
なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示
す。
す。
パルス発生器２の周期の調整は、オシロスコー
プ１の周波数調整ユニツト１３で行われ、その周
期は周波数カウンタ６で測定される。（周期＝
１／周波数である）。
プ１の周波数調整ユニツト１３で行われ、その周
期は周波数カウンタ６で測定される。（周期＝
１／周波数である）。
周波数調整ユニツト１３はオシロスコープ画面
上の２つの波形を一致させる機能、即ち、パルス
発生器２の周期を自動的に調整する機能を有して
いる。
上の２つの波形を一致させる機能、即ち、パルス
発生器２の周期を自動的に調整する機能を有して
いる。
７は測定用直流レベルの電圧を供給する電源
で、８は同軸リレーで校正時にオシロスコープ１
のＡ，Ｂチヤネルの測定直流レベルの切り換えて
波形の位置設定と、測定時にパルス発生器２と補
助ケーブル４の接続を行う。
で、８は同軸リレーで校正時にオシロスコープ１
のＡ，Ｂチヤネルの測定直流レベルの切り換えて
波形の位置設定と、測定時にパルス発生器２と補
助ケーブル４の接続を行う。
９は測定回路の測定、校正の状態設定スイツチ
で、１０は測定回路を制御し、測定データを収集
するマイクロコンピユータ装置である。
で、１０は測定回路を制御し、測定データを収集
するマイクロコンピユータ装置である。
遅延素子３はＡチヤネルプローブのサンプリン
グ信号を遅延させるもので、測定遅延時間のほぼ
２倍の遅延を生じるように、例えば、２倍長の被
測定ケーブルを接続する。
グ信号を遅延させるもので、測定遅延時間のほぼ
２倍の遅延を生じるように、例えば、２倍長の被
測定ケーブルを接続する。
この挿入によつて、Ａチヤネルの波形が進んだ
ように見える。
ように見える。
第５図の実施例のフローチヤートに示すよう
に、被測定ケーブル５を接続しないで、設定スイ
ツチ９を「校正」にして同軸スイツチを切り換え
てＡ，Ｂチヤネルの輝線位置を設定する。
に、被測定ケーブル５を接続しないで、設定スイ
ツチ９を「校正」にして同軸スイツチを切り換え
てＡ，Ｂチヤネルの輝線位置を設定する。
即ち、第６図のように両波形の関係位置を設定
する。
する。
設定スイツチ９を「測定」に切り換え、同軸ス
イツチ８を「Ａ」にして、測定状態にすると、周
波数調整ユニツト１３が画面中央で両波形が交差
するようパルス発生器２の周期を自動的に調整す
る。
イツチ８を「Ａ」にして、測定状態にすると、周
波数調整ユニツト１３が画面中央で両波形が交差
するようパルス発生器２の周期を自動的に調整す
る。
その時の周波数カウンタ６の周期T2がマイク
ロコンピユータ装置１０で読み取られ、例えばフ
レキシブルデイスクに格納される。
ロコンピユータ装置１０で読み取られ、例えばフ
レキシブルデイスクに格納される。
次に、被装置ケーブル５を測定用コネクタ４１
に接続して同様な手順でその時の周波数カウンタ
６の周期T1が読み取られ、マイクロコンピユー
タ装置１０のフレキシブルデイスクに格納され
る。
に接続して同様な手順でその時の周波数カウンタ
６の周期T1が読み取られ、マイクロコンピユー
タ装置１０のフレキシブルデイスクに格納され
る。
両周期T1，T2が測定されると、マイクロコン
ピユータ装置１０は上記した計算式に基づいて計
算を行い、被測定ケーブルの遅延時間ｌをフレキ
シブルデイスクにに格納するとともに、関連デー
タをデイスプレイに表示する。
ピユータ装置１０は上記した計算式に基づいて計
算を行い、被測定ケーブルの遅延時間ｌをフレキ
シブルデイスクにに格納するとともに、関連デー
タをデイスプレイに表示する。
本発明の測定におけるオシロスコープ画面の２
つの波形の交点調整は第６図に示すように、Ａ、
Ｂ両波形の交点を中央位置に合わせればよく、従
つて画面尺度を大きくして精度を高めることがで
きる。
つの波形の交点調整は第６図に示すように、Ａ、
Ｂ両波形の交点を中央位置に合わせればよく、従
つて画面尺度を大きくして精度を高めることがで
きる。
以上述べてきたように、本発明によれば、被測
定ケーブルの遅延時間を高精度で、且つ簡単な操
作で測定でき、実用的には極めて有用である。
定ケーブルの遅延時間を高精度で、且つ簡単な操
作で測定でき、実用的には極めて有用である。
第１図は本発明の測定回路の原理構成図、第２
図は被測定ケーブルを接続しない状態の波形説明
図、第３図は被測定ケーブルを接続した状態の波
形説明図、第４図は実施例の測定回路構成図、第
５図は実施例のフローチヤート、第６図はオシロ
スコープ画面図である。 図において、１はオシロスコープ（サンプリン
グスコープ）、２はパルス発生器、３は遅延素子、
４は補助ケーブル、５は被測定ケーブル、１１は
Ａチヤネルプローブ、１２はＢチヤネルプローブ
である。
図は被測定ケーブルを接続しない状態の波形説明
図、第３図は被測定ケーブルを接続した状態の波
形説明図、第４図は実施例の測定回路構成図、第
５図は実施例のフローチヤート、第６図はオシロ
スコープ画面図である。 図において、１はオシロスコープ（サンプリン
グスコープ）、２はパルス発生器、３は遅延素子、
４は補助ケーブル、５は被測定ケーブル、１１は
Ａチヤネルプローブ、１２はＢチヤネルプローブ
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ パルス発信器２に接続された補助ケーブル４
の２個所にサンプリングオシロスコープ１の２個
のプローブ１１，１２を接続し、 該補助ケーブル４の他端に被測定ケーブル５の
一端を接続し、 前記プローブ１１，１２の１つと前記サンプリ
ングオシロスコープ１間にサンプリング信号を遅
延させる遅延素子３を接続してなる測定回路を用
い、 被測定ケーブル５の非接続状態で、前記パルス
発信器２のパルス信号の立ち上がりと、該パルス
信号の反射波信号の立ち上がりとが一致するよう
にした前記パルス信号の周期T1と、 前記被測定ケーブル５の接続状態で、前記両信
号の立ち上がりが一致するようにした前記パルス
信号の周期T2とを測定し、 （T2−T1）／２の計算を行うことによつて前
記被測定ケーブル５の遅延時間を得ることを特徴
とするケーブル遅延時間測定方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60284133A JPS62142281A (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ケ−ブル遅延時間測定方法 |
| US06/941,369 US4814689A (en) | 1985-12-16 | 1986-12-15 | Method of measuring a cable delay time |
| DE8686309791T DE3682045D1 (de) | 1985-12-16 | 1986-12-16 | Verfahren zur messung der zeitverzoegerung eines kabels. |
| ES86309791T ES2025063B3 (es) | 1985-12-16 | 1986-12-16 | Metodo para medir un cable de retardo |
| EP86309791A EP0229505B1 (en) | 1985-12-16 | 1986-12-16 | A method of measuring a cable delay time |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60284133A JPS62142281A (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ケ−ブル遅延時間測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62142281A JPS62142281A (ja) | 1987-06-25 |
| JPH0554740B2 true JPH0554740B2 (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=17674592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60284133A Granted JPS62142281A (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ケ−ブル遅延時間測定方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4814689A (ja) |
| EP (1) | EP0229505B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62142281A (ja) |
| DE (1) | DE3682045D1 (ja) |
| ES (1) | ES2025063B3 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4734637A (en) * | 1986-04-16 | 1988-03-29 | Teradyne, Inc. | Apparatus for measuring the length of an electrical line |
| ES2035916T3 (es) * | 1988-04-05 | 1993-05-01 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Metodo y aparato de medicion que utilizan reflectometria de dominio temperal. |
| US5159275A (en) * | 1989-12-06 | 1992-10-27 | Hitachi Denshi Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for detecting cable length |
| US5245291A (en) * | 1989-12-06 | 1993-09-14 | Hitachi Denshi Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for detecting cable length |
| US5162743A (en) * | 1990-11-09 | 1992-11-10 | Cray Research, Inc. | Method and apparatus for optimizing the electrical length of a signal flow path |
| US5321632A (en) * | 1991-02-26 | 1994-06-14 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for measuring the length of a transmission line in accordance with a reflected waveform |
| US5471145A (en) * | 1994-04-07 | 1995-11-28 | Texas Instruments Incorporated | Calibrating transition dependent timing errors in automatic test equipment using a precise pulse width generator |
| JP3410269B2 (ja) * | 1995-12-21 | 2003-05-26 | 株式会社アドバンテスト | 遅延時間測定方法 |
| US7239971B2 (en) * | 2004-04-16 | 2007-07-03 | Formfactor, Inc. | Method and apparatus for calibrating communications channels |
| DE102008056232A1 (de) | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Messer Austria Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Sauerstoffanreicherung von Gießwasser |
| US11693046B2 (en) * | 2017-07-20 | 2023-07-04 | Tektronix, Inc. | Monitoring waveforms from waveform generator at device under test |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1560518A (ja) * | 1968-01-24 | 1969-03-21 | ||
| US3911358A (en) * | 1969-05-21 | 1975-10-07 | German Mikhailovich Shalyt | Method of and device for determining the distance to a fault in a wire or cable line |
| US3796948A (en) * | 1972-07-25 | 1974-03-12 | Westinghouse Electric Corp | Standing wave detector |
| CH565468A5 (ja) * | 1973-01-31 | 1975-08-15 | Bbc Brown Boveri & Cie | |
| DE2404223C3 (de) * | 1974-01-30 | 1979-03-22 | Kabel- Und Metallwerke Gutehoffnungshuette Ag, 3000 Hannover | Verfahren zur Messung der elektrischen Ladung von Teilentladungen und zur Ortung von Fehlerstellen in der Isolierung von isolierten Leitern |
| CA1044760A (en) * | 1974-10-09 | 1978-12-19 | Lim C. Hwa | Methods and equipment for testing reflection points of transmission lines |
| SU635439A2 (ru) * | 1977-03-18 | 1978-11-30 | Kaminskij Anatolij Iosifovich | Устройство дл определени рассто ни до места повреждени кабел |
| EP0074806A1 (en) * | 1981-09-10 | 1983-03-23 | Patented Devices (Proprietary) Limited | Cable testing |
| US4598575A (en) * | 1985-01-24 | 1986-07-08 | Tektronix, Inc. | Timer calibration method and apparatus |
| US4734637A (en) * | 1986-04-16 | 1988-03-29 | Teradyne, Inc. | Apparatus for measuring the length of an electrical line |
-
1985
- 1985-12-16 JP JP60284133A patent/JPS62142281A/ja active Granted
-
1986
- 1986-12-15 US US06/941,369 patent/US4814689A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-12-16 ES ES86309791T patent/ES2025063B3/es not_active Expired - Lifetime
- 1986-12-16 DE DE8686309791T patent/DE3682045D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-12-16 EP EP86309791A patent/EP0229505B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62142281A (ja) | 1987-06-25 |
| ES2025063B3 (es) | 1992-03-16 |
| EP0229505B1 (en) | 1991-10-16 |
| DE3682045D1 (de) | 1991-11-21 |
| US4814689A (en) | 1989-03-21 |
| EP0229505A1 (en) | 1987-07-22 |
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| JPH0554740B2 (ja) | ||
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