JPS63191979A - 伝送路パラメ−タ測定装置 - Google Patents

伝送路パラメ−タ測定装置

Info

Publication number
JPS63191979A
JPS63191979A JP62025253A JP2525387A JPS63191979A JP S63191979 A JPS63191979 A JP S63191979A JP 62025253 A JP62025253 A JP 62025253A JP 2525387 A JP2525387 A JP 2525387A JP S63191979 A JPS63191979 A JP S63191979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transmission line
signal
terminal
switch
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62025253A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2532229B2 (ja
Inventor
Ryuhei Sugie
杉江 龍平
Tomoji Arai
新井 知二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hewlett Packard Japan Inc
Original Assignee
Yokogawa Hewlett Packard Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Hewlett Packard Ltd filed Critical Yokogawa Hewlett Packard Ltd
Priority to JP62025253A priority Critical patent/JP2532229B2/ja
Publication of JPS63191979A publication Critical patent/JPS63191979A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2532229B2 publication Critical patent/JP2532229B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、測定用入力信号と反射信号をサンプリングし
、デジタル化した後信号処理を行い、伝送路パラメータ
を高精度で求めうるようにした伝送路パラメータ測定装
置に関する。
〔従来技術とその問題点〕
多数の端子を有する集積回路の試験等において1、多数
の信号を既知の位相差(時間差)でそれらの端子に入力
せしめることが非常に重要である。そのため、従来より
信号源と被測定集積回路の端子間に遅延回路を設け、そ
れらを調整することにより各端子における信号の位相を
調整している。
各端子における信号の位相の絶対値よりも、それら信号
間の位相差(遅延差)がより重要である。
まず時間領域反射率計を構成して信号源と各端子間の遅
延を測定し、それらの遅延差を最小にするように調整す
る。そのため、従来は第2図に示すような伝搬遅延時間
測定装置により遅延を求めていた。
抵抗5を介して時間間隔カウンタ10のストップ入イッ
チ6を介して伝送路67、被測定素子(集積回路)のソ
ケット端子7に伝達される。端子1にステップが印加さ
れる時刻より一定時間前に、端子2よりカウンタ10の
スタート入力端子にパルスを印加しその時刻計〇にカウ
ンタの計数を開始する。
第2図の(b)と(C1は、それぞれスイッチ6がオフ
及びオンの場合におけるストップ入力端子8における電
圧の時間変化を示したものである。
第2図の(b)では、時刻tl+近傍においてステップ
信号が立ち上り、時刻1.□近傍でスイッチ6からの反
射信号が立ち上っている。従って時間間隔1、□−t1
1はスイッチ6とサンプリング点(抵抗5とスイッチ6
への伝送路の接続点) sp間の伝搬遅延時間の2倍と
なる。
第2図の(C)では時間間隔t2□−t21が伝送路6
7の伝搬遅延時間の2倍だけ第2図のfb)の場合より
伸びている。
前述のように1.、−1゜=tZl  t。と選れてい
るので、伝送路67の伝搬遅延時間t67は次式で求ま
る。
2 も 6? =  (tZ □−t  z+)   
   (j  +z    j  z)=(t2□−t
21+(tZ1  t。))=(t1□−1,、+ (
1,、−1゜))=(t2□−to)−(t+□−to
)従って、カウンタ10の計数を時刻to(任意)に開
始し、反射信号の開始時刻t2゜及びt+zでそれぞれ
終了することによりt2□−toとt12  toが求
まり、従って、t6?が求まる。
この方法ではいろいろな欠点を生ずる。
上述の装置では高速ステップを使用するため、伝送路の
不整合による波形のなまりやリンギングを生じ、カウン
タ10のトリガレベル(第2図の(b)。
(C)におけるv、□やV2□)の設定が困難である。
即ち、波形の不要成分(リンギングやなまりなど)によ
り同一ステップ入力同一トリガレベルでもカウンタ10
の指示値が変化する。また、ステップの大きさを変えた
ときはトリガレベルをどこに設定するかを決めるために
トリガ可能範囲を詳細にしらべであるレベル(例えばト
リガ可能範囲の中点)を選択する。この作業は非常にわ
ずられしく数分を要することもある。
また、ソケット端子のストレー容量の違いによる波形な
まりの補正などは不可能である。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、伝送路のステップ応答波形をサンプリ
ングした後デジタル化してメモリし、それを信号処理し
て上述の欠点を解消することである。
〔発明の概要〕
本発明の一実施例においては、伝送路に入力されたステ
ップ信号とその反射信号は、+←−←テ←サンプリング
されデジタル化された後信号処理される。サンプリング
された波形(デジタルデータ)は信号波形を時間軸拡大
により表示したものとなる。
デジタルデータを処理することによりリンギングの影響
を消去して、ステップ波形の開始時刻をステップ高さの
相対位置から決定している。反射波の開始時刻も反射信
号と入力ステップ信号との相対関係から定められる。
さらに、信号の立ち上り波形から、端子容量の推定と伝
搬遅延時間測定に対するその影響の補正をおこなってい
る。
〔発明の実施例〕
第1図は本発明の一実施例の伝送路パラメータ測定装置
のブロック図と観測される信号波形図を示す。第1図の
(alにおいて第2図の(alにおけると同一の機能性
能を有する部分には同一の参照番号を付しである。第1
図の(alにおいて、第2図の(a)と異る部分につい
て以下に説明する。
サンプラ11は抵抗5から入力した信号をサンプリング
しデジタイザ12に入力する。デジタル化された信号波
形データはメモリ13に一定期間連続的に蓄積される。
計算/制御部14は、メモリ13にある信号波形データ
から後述するように伝送路パラメータを計算する。計算
/制御部14はまた、サンプラ11.デジタイザ12.
メモ1月3およびその他の周辺装置を制御して周知のデ
ータ収集と計算をおこなわせる。なお、端子2から入力
されたパルスは、サンプラIIのサンプリング操作の同
期をとるとともに、その他の装置の同期をとっている。
本発明の一実施例では、端子1に入力されるステップ信
号はくり返し周波数10MH2の短形波であり、時間分
解能Lopsでメモ1月3に蓄積される波形データは1
0,000点であるが、これはこの発明を限定するもの
ではない。
なお、第1図の(alではサンプリング点spとスイッ
チ6の間に伝送路46が挿入されているが、測定される
べきソケット端子71.〜,75とサンプリング点sp
までの伝送路に共通に入るので、遅延時間の差分を調整
する用途では無視される。スイッチ6は計算/制御部1
4の指令により、ソケット端子71、〜,75をスイン
チロに結ぶ伝送路671.〜,675を順次切り換えて
伝搬遅延時間を求める。
第1図の(blは、伝送路671.〜,675の−っを
測定しているときのサンプラ入力波形(およびメモリさ
れた波形データ)を示している。
メモリに蓄積された波形データから伝送路パラメータを
求める計算方法についてつぎに述べる。
(イ)伝搬遅延時間の測定 1、 ステップ信号の立ち上り前の10点の波形データ
から、平均電圧としてV。を求め信号波形の基底値とす
る。
2、 ステップ信号の立ち上り部のリンギングにおける
最初の極大・極小点の電圧V、、、Vbを3、電圧V0
とv3の間の足止で分割する電圧v + (例えばv、
=χV3 +(1−χ)V、;0くχく=1)を選び、
信号の立ち上りにステップ印加後はじめて■1を切る時
刻1.を最大値V、を求める。
5、VtとV3を足止で分ける電圧v2を求め、波形が
はじめて反射信号でV2を切る時刻1Zを求める。(例
えばVz”YVt”(13’)V3;O<y<=1) 6、t2−t、からサンプリング点spと選択されたソ
ケット端子間の往復の伝搬遅延時間が求められる。
(ロ)ソケット端子の負荷容量の効果 第1図の(C)は反射信号の立ち上りをより緩慢に誇張
して表わしである。図においてRで示した部分は約20
0データ点を含む程度であり、次の式によって波形が近
似される。信号波形は時間tの関数V(t)であり、 V(t)=Vt(12exp((t  ts)/RC)
))。
ここで、■、は入力ステップ電圧振幅、 V (t)は
反射信号波形、Cは伝送路の遠端負荷容量、Rは伝送路
の特性インピーダンス(抵抗50Ω)。
t、は定数である。
上式から、 j2n ((I  V(t)/Vt)/2) = j 
s/(RC)−t /(RC)。
ここで、各データ点を時刻h=(i=L2.・・・n)
とし、又各h、に対する一1n ((1−v(hi)/
V t)/ 2 ’]をy、とし、t S/CRC>を
kとし、W=1/RCとおくと、 Yt=−に+whz となる。但しり、の原点は適当に選んでよい。
最小自乗法によって、Wを推定すると となる。このWからC=1/(WR)としてCが求まる
。
(ハ) 伝搬遅延時間測定の精密化 伝搬遅延時間測定において、前記容量Cがソケット端子
における波形のなまりにどの程度影響しているかがわか
っているときは補正により測定精度を高めることもでき
る。
伝搬遅延時間tcとして表ねきれるが、t %  zt
 % + t 62 である。
従って、Cによる影響(CR)がもともとの波形の立ち
時間の数倍であれば、伝搬遅延時間を定めるt2をt2
− (CR)として精度向上が可能となる。
なお、ソケット端子に負荷されたインピーダンスが容量
で/ないときも同じような考え方を適用できる。インダ
クタンス負荷におけるインダクタンスや不整合抵抗終端
なども、そのインダクタンス値と抵抗値が求められ、同
様に伝搬遅延時間の補正にも用いられる。
〔発明の効果〕
本発明の一実施例について前述したことから、本発明の
実施により、伝送線路の伝搬遅延時間の測定や負荷され
る端子インピーダンスの測定が容易に、自動的におこな
える。また、測定される負荷端子容量により伝搬時間の
精密化も行えるので、実用に供して有益である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の伝送パラメータ測定装置の
ブロック図と観測される信号波形図。第2図は従来例の
伝搬遅延時間測定装置のブロック図と観測される波形図
。 1ニステップ信号入力端子;2:パルス入力端子;3:
入力高速バッファ;4,5:抵抗;6:スイツチ;46
.47.671.〜,675:伝送路;7.71゜〜、
75:ソケソト端子;8ニストップ入力端子;9:スト
ンブ入力端子;10:時間間隔カウンタ;11:サンブ
ラ;12:デジタイザ;13:メモリ;14:計算/制
御部;sp:サンプリング点。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、測定用入力ステップ信号とその反射信号をサンプリ
    ングしてデジタル化した後前記信号の少なくとも3点か
    ら前記信号の伝送路パラメータを決定するようにした伝
    送路パラメータ測定装置。 2、前記伝送路パラメータが伝送路の伝搬遅延時間であ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の伝送路
    パラメータ測定装置。 3、前記伝搬遅延時間が、伝送路遠端負荷容量の影響を
    補正したものであることを特徴とする特許請求の範囲第
    2項記載の伝送路パラメータ測定装置。
JP62025253A 1987-02-05 1987-02-05 伝送路パラメ−タ測定装置 Expired - Fee Related JP2532229B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62025253A JP2532229B2 (ja) 1987-02-05 1987-02-05 伝送路パラメ−タ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62025253A JP2532229B2 (ja) 1987-02-05 1987-02-05 伝送路パラメ−タ測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63191979A true JPS63191979A (ja) 1988-08-09
JP2532229B2 JP2532229B2 (ja) 1996-09-11

Family

ID=12160837

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62025253A Expired - Fee Related JP2532229B2 (ja) 1987-02-05 1987-02-05 伝送路パラメ−タ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2532229B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6468672A (en) * 1987-09-09 1989-03-14 Hitachi Electr Eng Skew correction system
WO2004074857A1 (ja) * 2003-02-24 2004-09-02 Fujitsu Limited ケーブルアセンブリの電気特性測定装置、ケーブルアセンブリの電気特性測定プログラムおよびケーブルアセンブリの電気特性測定方法
JP2008199380A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Mitsubishi Electric Corp 波形信号解析装置
JP2015091087A (ja) * 2013-11-07 2015-05-11 三菱電機株式会社 パッケージ内部電圧波形測定装置、内部電圧波形演算装置、パッケージ内部電圧波形測定システム、内部電圧波形演算方法および内部電圧波形演算プログラム
JP2015118045A (ja) * 2013-12-19 2015-06-25 三菱電機株式会社 プリント基板検査装置
CN113625162A (zh) * 2021-08-20 2021-11-09 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 直流配网开关特性测试系统及方法
CN115349092A (zh) * 2020-04-03 2022-11-15 三菱电机株式会社 传输路径长度检测装置和网络通信装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6468672A (en) * 1987-09-09 1989-03-14 Hitachi Electr Eng Skew correction system
WO2004074857A1 (ja) * 2003-02-24 2004-09-02 Fujitsu Limited ケーブルアセンブリの電気特性測定装置、ケーブルアセンブリの電気特性測定プログラムおよびケーブルアセンブリの電気特性測定方法
US7005862B2 (en) 2003-02-24 2006-02-28 Fujitsu Limited Method and apparatus for measuring electric characteristics of cable assembly, and computer product
JP2008199380A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Mitsubishi Electric Corp 波形信号解析装置
JP2015091087A (ja) * 2013-11-07 2015-05-11 三菱電機株式会社 パッケージ内部電圧波形測定装置、内部電圧波形演算装置、パッケージ内部電圧波形測定システム、内部電圧波形演算方法および内部電圧波形演算プログラム
JP2015118045A (ja) * 2013-12-19 2015-06-25 三菱電機株式会社 プリント基板検査装置
CN115349092A (zh) * 2020-04-03 2022-11-15 三菱电机株式会社 传输路径长度检测装置和网络通信装置
CN113625162A (zh) * 2021-08-20 2021-11-09 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 直流配网开关特性测试系统及方法
CN113625162B (zh) * 2021-08-20 2024-04-05 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 直流配网开关特性测试系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2532229B2 (ja) 1996-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4255284B2 (ja) 差動動作のためのシングル・エンド・チャネルの較正
JPH07181204A (ja) ロジック信号表示方法
CN112444768B (zh) 自校准去扭斜设备
CN109581062B (zh) 用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统
WO2005026759A1 (ja) キャリブレーション用比較回路
EP0736773A2 (en) Transmission line length measurement method and apparatus
US4362394A (en) Time interval measurement arrangement
US6784819B2 (en) Measuring skew between digitizer channels using fourier transform
EP0740234B1 (en) Delta-T measurement circuit
JPS63193068A (ja) 自動ピーク振幅測定方法
JP2583833Y2 (ja) パルス測定装置
JP2532229B2 (ja) 伝送路パラメ−タ測定装置
US6998834B2 (en) Real-time time drift adjustment for a TDR step stimulus
CN112557883B (zh) 一种脉冲信号参数测试系统
JPH0666665B2 (ja) 傾斜信号校正方法及びデジタル・タイム・ベース回路
JPS6394170A (ja) セトリング特性測定方法
US5194818A (en) Risetime and falltime test system and method
US4242637A (en) Apparatus for detecting signal precedence
US3475683A (en) Method and apparatus for measuring signal to noise ratio
JPH06103293B2 (ja) 超音波測定装置のa/d変換処理方式
JP3167541B2 (ja) サンプリング・ゲート回路
JPH0454198B2 (ja)
JPH0664158B2 (ja) 自動時間間隔測定方法
JPH03287081A (ja) ディジタル信号解析装置
JPS62199127A (ja) ケ−ブルデイレ−測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees