JPH055485Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、試料籾米に混入している不稔粒を
自動的に検出し得る不稔粒検出装置に関する。

［従来の技術］ 従来、籾米の品種改良を行う過程において、改
良された新品種の稔実歩合を確認する分析作業が
必要であつた。この分析作業の一つに、採取した
１穂当りの籾米を試料籾米とし、その充実粒と不
稔粒とを１粒毎に選別して、それらの比率を確認
する作業がある。

［考案が解決しようとする課題］ ところで、前述のような分析作業は、ある程度
の専門知識、経験等を必要とすること、また目視
に頼る作業であること等から、作業をより効率化
する点で限界があつた。

［考案の目的］ そこでこの考案の目的は、上記不都合を除去す
るために、試料籾米に混入している不稔粒を自動
的に検出するようにし、従来人手に頼つていた上
記作業を単純化するとともに専門知識、経験等を
有する者でなくても効率的に作業できる不稔粒検
出装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ この目的を達成するためにこの考案は、モータ
により回転可能に軸支した一対のロール電極と、
該ロール電極を互いに接近離間する方向に弾力支
持する軸支持機構と、前記ロール電極間に試料籾
米を一粒毎に供給する試料供給機構と、該ロール
電極間にて試料籾米を圧砕したときのロール電極
の離間方向の移動量（Δd）を検出する移動量検
出回路と、該移動量検出回路が検出した移動量
（Δd）が所定値（SL）以下のときに圧砕した試
料籾米を不稔粒として判定する不稔粒検出手段と
を設けたことを特徴とする。

［作用］ 上記の如く構成したことにより、試料供給機構
は試料籾米を一粒毎にモータにより回転可能に軸
支した一対のロール電極間に供給する。ロール電
極は軸支持機構により互いに接近離間する方向に
弾力支持されているので、粒径の異なる充実粒と
不稔粒とが供給されたとき、ロール電極は離間方
向にそれぞれ大、小の移動量（Δd）でもつて移
動することになる。この移動量（Δd）の変化を
移動量検出回路で検出することにより不稔粒検出
手段は、その移動量（Δd）が所定値（SL）以下
のときに圧砕した試料籾米を不稔粒として自動的
に判定する。

［実施例］ 以下、図面に基づいてこの考案の実施例を詳細
に説明する。

第１図〜第８図はこの考案の一実施例を示すも
のである。図において、１は箱状の筐体を有する
不稔粒検出装置（以下、装置と云う）であり、そ
の前面１ａにはスイツチ群を配設した操作パネル
２と、プリンタ３とを設ける。操作パネル２には
測定した水分値を表示する表示部４と、測定スイ
ツチ（SW）等の各種指令スイツチを配置したキ
ーボード５と、電源スイツチ６等を配設する。

また、前記装置１の上面１ｂには、試料籾米を
投入するホツパ（図示せず）を設け、このホツパ
に投入した試料籾米を一対のロール電極７，８間
に一粒づつ供給する試料供給機構９を設けるとと
もに、装置１の内部に、試料供給機構９やロール
電極７，８等を回転駆動するためのギヤ式のモー
タ１０を設ける。

前記ロール電極７，８は、一対の支持フレーム
１１，１２間に軸受等を介して回動可能に支持さ
れ、ロール電極７の一端部には小径のプーリ１３
を、またロール電極８の一端部には大径のプーリ
１４をそれぞれ固着する。そして、プーリ１３，
１４及び試料供給機構９を駆動するためのプーリ
１５と、モータ１０の回転軸に固定したプーリ１
６間にベルト１８を巻回し、モータ１０の回動に
よりロール電極７，８および試料供給機構９が回
動するように構成する。

前記ロール電極７は、ローレツト加工等により
その周面に目の粗い平目状の溝７ａを形成すると
ともに、調整機構１９によつてロール電極８との
間隔ｄを調整できるようになつている。この調整
機構１９は、ロール電極７の一対の軸受（図示せ
ず）にそれぞれ固定したローラメタル２１，２１
と、このローラメタル２１，２１に両端を固定し
た調整プレート２２と、一対の支持プレート１
１，１２間に固定した調整固定板２３と、この調
整固定板２３と前記調整プレート２２間に介在す
るボルト２４およびこのボルト２４を前記調整固
定板２３と調整プレート２２にそれぞれ固定する
ナツト２５，２６等から構成されている。そし
て、ナツト２６を回転させることにより調整プレ
ート２２が第３図矢印Ａ方向に移動し、ロール電
極７，８間の間隔〓を最適状態に設定し得る。な
お、２７，２８はロール電極７のＡ方向の移動を
規制するストツパで、ロール電極７の移動可能な
範囲はストツパ２７のアジヤストボルト２９によ
り設定する。一方、前記ロール電極８は、ローレ
ツト加工等によりその周面に複数の平行溝からな
る目の細かい平目状の溝８ａを形成するととも
に、軸支持機構３０，３０によつて移動自在に構
成される。この軸支持機構３０，３０は、ロール
電極８の一対の軸受（図示せず）にそれぞれ固定
した一対の受け部材３１，３１と、支持フレーム
１１，１２に固定したメタルフレーム３２，３２
と、このメタルフレーム３２，３２と前記受け部
３１，３１間に介在する圧縮コイルバネ３３，３
３等から構成される。このため、ロール電極８
は、圧砕する試料籾米の粒径の変化に応じて第３
図Ｂ方向に移動量（Δd）でもつて移動する。な
お、３４，３４は圧縮コイルバネ３３，３３のバ
ネ力を調整するアジヤストボルトである。３５は
ロール電極８のＢ方向の移動量（Δd）を検出す
るために受け部材３１，３１と支持プレート１
１，１２との間に設置したポテンシヨンメータで
あり、３５−１は受け部材３１，３１に接続した
検出ロツドである。

次に、第５図に示すものは装置１の測定制御回
路であり、前記一対のロール電極７，８により試
料籾米の電気抵抗値を検出して電圧に変換する抵
抗／電圧変換回路４０と、前記ポテンシヨンメー
タ３５，３５が検出した移動量（Δd）に比例し
た電圧（ΔdV）を出力する移動量検出回路４１
と、前記抵抗／電圧変換回路４０及び移動量検出
回路４１からの出力電圧（ΔdV）をそれぞれ入
力して、その最高値を一時ホールドする電圧ホー
ルド回路４２，４２と、ホールドしたアナログ量
としての電圧をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換回路４３と、前記抵抗／電圧変換回路４０から
の出力電圧を測定値（Ｍ）として、又移動量検出
回路４１からの出力電圧（ΔdV）を電極８の移
動量（Δd）としてそれぞれ入力・記憶する制御
回路４４と、入力・記憶した測定値（Ｍ）を試料
籾米の一粒の水分値として表示する前記表示部４
と、前記プリンタ３を制御する印字制御回路４５
とからなる。制御回路４４は、例えば各種「制御
プログラム」を記憶したROMと、入力した各種
データ等を一時記憶するRAMと、各種演算を実
行するマイクロコンピーター（CPU）等から構
成される。

次に、この考案の作用について説明する。

まず、第６図に示すものは制御回路４４の
ROMに予め記憶されている「不稔粒検出プログ
ラム」であり、電源スイツチ６をONすることに
よりプログラムがスタート（S100）する。作業
者は、測定すべき試料籾米を、装置１のホツパか
ら投入（S110）した後、測定SW５をON（S120）
するとモータ１０が駆動（S130）され、試料供
給機構９、ロール電極７，８が回動する。そし
て、試料籾米は、試料供給機構９により一粒づつ
ロール電極７，８間に投入され圧砕される。この
とき、制御回路４４は、電極７，８間に発生する
電気抵抗値の変化を抵抗／電圧変換回路４０、電
圧ホールド回路４２を介して常時入力し、測定値
（Ｍ）が所定値（Mo）以上か否かを判定（S140）
する。この判定は、制御回路４４がロール電極
７，８間に試料籾米の一粒が圧砕されたか検知す
るためのものである。

次に、制御回路４４は前記（S140）にて、NO
の場合には（S140）を継続し、YESの場合には、
試料籾米の一粒が圧砕されたことになるので測定
粒数カウンタCTをカウントアツプ（＋１）する
（S150）と同時に、そのとき入力した電極８の移
動量（Δd）、及び測定値（Ｍ）をRAMの所定エ
リアに順次、記憶（S160）する。

次に、制御回路４４は入力した前記移動量
（Δd）が、所定値（SL）以下（後述）か否かを
判定（S170）する。そして、YESの場合のみ、
前記（S140）にて圧砕した試料籾米の一粒を不
稔粒として判定し、不稔粒カウンタCFをカウン
トアツプ（＋１）（S180）する。一方、前記
（S170）にてNOの場合には、圧砕した試料籾米
の一粒は充実粒として判定（S190）する。

即ち、第７図イに示すように、充実粒を圧砕し
たときには、粒径が大きいので電極８のＢ方向の
移動量（Δd）はある程度、大きくなる。これに
対して、第７図ロに示すように不稔粒を圧砕した
ときには、粒径が小さいので電極７のＢ方向の移
動量（Δd）は小さくなる。即ち、第７図ハに示
すように、充実粒、不稔粒を圧砕したときの移動
量検出回路４１からの出力電圧（ΔdV）はそれ
ぞれａ，ｂのようになる。よつて、予め実験等に
より不稔粒を識別できる上限の移動量（Δd）を
求め、この値を所定値（SL）とすれば、移動量
（Δd）が所定値（SL）以下の場合には不稔粒と
して判定できることになる。

次に、制御回路４４は測定粒数カウンタCTの
値が設置値になつたか否かを判定（S200）し、
NOの場合には前記（S140）にジヤンプする。
YESの場合には、不稔粒の混入割合（Ｈ）＝CF／
CTを演算（S210）する。次に、測定粒数CTを
表示部４に表示するとともに、プリンタ３にて印
字する。第８図に印字例を示す。

なお、この考案は上記実施例に何ら限定され
ず、種々の応用改変が可能である。即ち、試料籾
米を圧砕する電極７，８は試料籾米の電気抵抗
値、即ち水分値を測定するために導電性の金属電
極としたが、水分値を測定せず不稔粒のみ判定す
るだけであれば非導電性の部材により電極を構成
してもよい。この場合には、抵抗／電圧変換回路
４０が不要になる。また、電極材料として金属以
外の導電性部材、例えば導電ゴム等を使用すれ
ば、試料籾米を圧砕、損傷することなく不稔粒を
検出でき、使用した試料籾米を育種の種として再
利用できる利点がある。また、第６図の（S140）
にて、試料籾米の一粒が圧砕されたか否かを判定
するために測定値（Ｍ）が所定値（Mo）以上か
否かを判定したが、電極７，８間に試料籾米が投
入されたことを検出するセンサー（例えば、光電
スイツチ）等を設けるようにしてもよい。また、
（S200）にて測定粒数が設置値になつたか否かを
判定したが、ホツパに投入した試料籾米がなくな
つたことをセンサーで検知したときに（S210）
を実行するようにしてもよい。また、ホツパに投
入した試料籾米がなくなつたことをセンサーで検
知するのにかえて、（S140）にて所定時間、測定
値（Ｍ）が入力されないことを判定したときに
（S210）を実行するようにしてもよい。

［考案の効果］ 以上詳細に説明したように、この考案によれ
ば、モータにより回転可能に軸支した一対のロー
ル電極と、該ロール電極を互いに接近離間する方
向に弾力支持する軸支持機構と、前記ロール電極
間に試料籾米を一粒毎に供給する試料供給機構
と、該ロール電極間にて試料籾米を圧砕したとき
のロール電極の離間方向の移動量（Δd）を検出
する移動量検出回路と、該移動量検出回路が検出
した移動量が所定値（SL）以下のときに圧砕し
た試料籾米を不稔粒として判定する不稔粒検出手
段とを設けたので、試料供給機構は試料籾米を一
粒毎にモータにより回転可能に軸支した一対のロ
ール電極間に供給し、ロール電極は軸支持機構に
より互いに接近離間する方向に弾力支持されてい
るので、粒径の異なる充実粒と不稔粒とが供給さ
れたとき、ロール電極はＢ方向にそれぞれ大、小
の移動量（Δd）でもつて移動する。この移動量
（Δd）の変化を移動量検出回路で検出することに
より不稔粒検出手段は、その移動量（Δd）が所
定値（SL）以下のときに圧砕した試料籾米を不
稔粒として自動的に判定することができる。即
ち、作業者は試料籾米を装置に投入するだけで、
専門知識、経験等を有する者でなくても効率的に
不稔粒を検出することができる不稔粒検出装置を
実現できる等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第８図はこの考案の一実施例を示し、
第１図は不稔粒検出装置の正面図、第２図は不稔
粒検出装置の概略断面図、第３図はロール電極部
の拡大概略平面図、第４図はロール電極の拡大部
分側面図、第５図は測定制御回路を示すブロツク
図、第６図は「不稔粒検出プログラム」の動作を
示すフロチヤート、第７図のイは充実粒、ロは不
稔粒の粒径と電極８の移動量（Δd）と、の関係、
ハは試料籾米が両電極間で圧砕される際の経過時
間（Ｔ）と移動量検出回路４１の出力電圧
（ΔdV）との関係を示すグラフ図、第８図はプリ
ンタ３の印字例である。 ７、８……ロール電極、９……試料供給機構、
３０，３０……軸支持機構、３５……ポテンシヨ
ンメータ、４１……移動量検出回路、４４……制
御回路。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. モータにより回転可能に軸支した一対のロール
   電極と、該ロール電極を互いに接近離間する方向
   に弾力支持する軸支持機構と、前記ロール電極間
   に試料籾米を一粒毎に供給する試料供給機構と、
   該ロール電極間にて試料籾米を圧砕したときのロ
   ール電極の離間方向の移動量（Δd）を検出する
   移動量検出回路と、該移動量検出回路が検出した
   移動量（Δd）が所定値（SL）以下のときに圧砕
   した試料籾米を不稔粒として判定する不稔粒検出
   手段とを設けたことを特徴とする不稔粒検出装
   置。