JPH055587A - 円筒形加熱装置および半導体製造方法 - Google Patents

円筒形加熱装置および半導体製造方法

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JPH055587A
JPH055587A JP15491391A JP15491391A JPH055587A JP H055587 A JPH055587 A JP H055587A JP 15491391 A JP15491391 A JP 15491391A JP 15491391 A JP15491391 A JP 15491391A JP H055587 A JPH055587 A JP H055587A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat insulating
furnace
reaction tube
heating furnace
cylindrical heating
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP15491391A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Watabe
将弘 渡部
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 円筒形加熱装置および半導体製造方法に関
し、加熱炉内の均一温度領域を広げて、特に半導体製造
において、製品の品質、信頼性および生産性を向上させ
ることを目的とする。 【構成】 円筒形加熱炉1の両端に反応管2を支持する
自己封止性断熱性部材3有し、この断熱部材3が、加熱
炉1の軸と一致する軸を有する複数個の円弧形断熱材4
であって、相互に接する端面および反応管に接する円弧
面に弾性断熱層4′を付し、かつ加熱炉1の両端に設置
したハウジング5に沿って加熱炉1の半径方向に移動す
るための駆動部を有するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は円筒形加熱装置、特に半
導体製造に有用な加熱装置の熱封止に関する。近年、半
導体装置の高集積化に伴ない、各パラメータの精密な制
御が要求されるようになった。特に化学気相成長および
不純物拡散工程において、反応管内を所定の温度に、し
かも均一に保持することが製品の品質および信頼性の向
上に必要である。それには、両端部における加熱装置と
反応管との熱封止を良好にして、炉の中央部と両端部と
の温度差を少なくし、均一な加熱領域をできるだけ長く
しなければならない。
【0002】
【従来の技術】反応管を挿入して加熱する従来の円筒形
加熱炉は、炉の端部における反応管との隙間に石英ウー
ルなどを詰めて外気の流入および炉熱の放出を防いでい
た。しかし、この方法では、反応管の脱着に手間がかか
り、反応管内に不均一な温度分布を発生するので半導体
製品の品質にばらつきを与え、また反応管内の均熱長が
制限されるので、生産性向上の阻害要因となっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、反応管の着
脱を容易にし、かつ円筒形加熱炉の端部の熱封止を良好
にし、これによって反応管内の均一な温度領域を広げて
製造される半導体の品質および生産性を向上することを
目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題は、円筒形加熱
炉1の両端に反応管2を支持する自己封止型断熱性部材
3を有し、この断熱性部材3が、加熱炉1の軸と一致す
る軸を有する複数個の円弧形断熱材4であって、相互に
接する端面および反応管に接する円弧面に弾性断熱層
4′を付し、かつ加熱炉1の両端に設置したガイド5に
沿って加熱炉1の半径方向に移動するための駆動部7,
8;9を有することを特徴とする円筒形加熱装置によっ
て解決することができる。
【0005】
【作用】図1に概略断面図で示す本発明の実施態様の円
筒形加熱装置1は、端部を封止する円弧形断熱材4が駆
動部の形状記憶合金バネ9によって、加熱炉の半径方向
に移動することができる。従って加熱中に、炉内の温度
を均一にすることができるばかりでなく、反応管の着脱
を容易に行うことができる。特に、半導体製造工程にお
いては、気相成長温度および不純物拡散の温度と常温と
の間で作用する形状記憶合金が開発されれば有利に使用
できるが、当面は、シリンダ7およびピストン8によっ
て断熱材4を駆動すればよい。
【0006】
【実施例】実施例1 反応炉1は、ハウジング10で囲まれた側壁耐火材11上に
ヒータ12を有し、炉の端部は図2および3に示すよう
に、断熱性部材3を有する。ハウジング10の両端部にガ
イド5があり、ガイド5に挟まれて自己封止型断熱性部
材3が駆動部である形状記憶合金バネ9で支持されてい
る。
【0007】断熱性部材3は4個の円弧形断熱材4であ
って、相互に接する端面および反応管に接する円弧面に
弾性断熱層4′を有し、高温になれば封止を気密にする
ことができ、常温においては反応管との間隔を広げて着
脱を容易にする。
【0008】実施例2 図4および5に示すように、炉の端部に設けた断熱性部
材3が、シリンダ7およびピストン8によって駆動され
ることの他は、例1の装置と同様である。この装置は図
示しない導管から加圧流体をシリンダ7に導入して、ピ
ストン8を駆動し、断熱性部材3を反応炉1の軸に向け
て半径方向に移動することができる。なおガイド5に
は、断熱性詰め物6を入れて、断熱性を確保することが
有利である。
【0009】実施例3 図6に示す一体構造型反応炉の代りに、図7に示す分割
構造型に代えたことの他は、例2の装置と同様な円筒形
加熱装置を使用して、半導体基板に化学気相成長膜を形
成した。
【0010】常法によって、反応管内にウエハを配列
し、反応ガスとして、 SiH4 200ml/min および N2O
1.5l/min を流し、炉の温度を 500℃に保持して、Si
O2膜を形成した。得られた膜は、どのウエハについても
均質であり、また最終製品の品質および信頼性が高く、
しかも均熱長を拡大出来る為1回の成膜枚数を従来より
多くすることができた。
【0011】
【発明の効果】本発明によれば、円筒形加熱装置内の均
一温度範囲領域を広げ、かつ反応管の着脱を容易に行う
ことができ、半導体製造に利用すれば、製品の品質、信
頼性を確保し、作業の簡略化および生産性を向上するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施様態の円筒形加熱装置の概略断面
図である。
【図2】図1の装置の端部の詳細断面図である。
【図3】図1の装置の端部の切欠け側面図である。
【図4】本発明の他の実施態様の円筒形加熱装置の端部
の詳細断面図である。
【図5】図4の装置の端部の切欠け側面図である。
【図6】一体構造型円筒形反応炉の端部切欠け斜視図で
ある。
【図7】分割構造型円筒形反応炉の端部切欠け斜視図で
ある。
【符号の説明】
1…円筒形加熱炉 2…反応管 3…自己封止型断熱性部材 4…円弧形断熱材 4′…弾性断熱層 5…ハウジング 6…断熱性詰め物兼ガイド 7…シリンダ 8…ピストン 9…形状記憶合金バネ 10…加熱炉外筒 11…側壁耐火材 12…ヒータ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 円筒形加熱炉(1)の両端に反応管
    (2)を支持する自己封止型断熱性部材(3)を有し、
    この断熱性部材(3)が、加熱炉(1)の軸と一致する
    軸を有する複数個の円弧形断熱材(4)であって、相互
    に接する端面および反応管に接する円弧面に弾性断熱層
    (4′)を付し、かつ加熱炉(1)の両端に設置したガ
    イド(5)に沿って加熱炉(1)の半径方向に移動する
    ための駆動部(7,8;9)を有することを特徴とする
    円筒形加熱装置。 【請求項2】 駆動部が形状記憶合金バネ(9)である
    請求項1記載の装置。 【請求項3】 駆動部がシリンダ(7)およびピストン
    (8)である請求項1記載の装置。 【請求項4】 請求項3に記載の円筒形加熱装置を使用
    して、ウエハの加熱処理を行うことを特徴とする半導体
    製造方法。
JP15491391A 1991-06-26 1991-06-26 円筒形加熱装置および半導体製造方法 Withdrawn JPH055587A (ja)

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JPH055587A true JPH055587A (ja) 1993-01-14

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