JPH0556574B2 - - Google Patents
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- JPH0556574B2 JPH0556574B2 JP6597085A JP6597085A JPH0556574B2 JP H0556574 B2 JPH0556574 B2 JP H0556574B2 JP 6597085 A JP6597085 A JP 6597085A JP 6597085 A JP6597085 A JP 6597085A JP H0556574 B2 JPH0556574 B2 JP H0556574B2
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- Japan
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- actuator
- disk
- dynamic characteristics
- detector
- storage device
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、情報の記録された円板状の媒体（以
下デイスクという）から情報を読み出すデイスク
装置の動特性測定装置に関する。
下デイスクという）から情報を読み出すデイスク
装置の動特性測定装置に関する。
（発明の背景）
デイスクに貯えられた情報を取り出す装置とし
て、例えばオランダのフイリツプス社の開発した
光ビデオデイスクがある。これは周波数変調され
た信号を凹凸として記録した媒体から光で検出
し、再生するものである。この光ビデオデイスク
の記録媒体であるデイスクは直径約30cmの円盤
で、その表面にはピツトと呼ばれる情報を含んだ
溝が同心円状あるいは螺旋状に並んでいる。この
ピツトは幅0.5μｍ、長さ２〜15μｍ、深さ0.15μｍ
（He−Neレーザの1/4波長）で、隣り合つたトラ
ツク間の距離は2μｍである。
て、例えばオランダのフイリツプス社の開発した
光ビデオデイスクがある。これは周波数変調され
た信号を凹凸として記録した媒体から光で検出
し、再生するものである。この光ビデオデイスク
の記録媒体であるデイスクは直径約30cmの円盤
で、その表面にはピツトと呼ばれる情報を含んだ
溝が同心円状あるいは螺旋状に並んでいる。この
ピツトは幅0.5μｍ、長さ２〜15μｍ、深さ0.15μｍ
（He−Neレーザの1/4波長）で、隣り合つたトラ
ツク間の距離は2μｍである。
このピツトの形状を解像度良く検出するために
は、光学式検出機の焦点の位置をピツトの幅方向
で0.1μｍ、深さ方向で0.5μｍ以内に保つ必要があ
る。そこで検出には自動的に焦点を結ぶためにフ
オーカスサーボ機構と、トラツクに正確に追従す
るためのトラツクサーボ機構が設けてある。
は、光学式検出機の焦点の位置をピツトの幅方向
で0.1μｍ、深さ方向で0.5μｍ以内に保つ必要があ
る。そこで検出には自動的に焦点を結ぶためにフ
オーカスサーボ機構と、トラツクに正確に追従す
るためのトラツクサーボ機構が設けてある。
また同様な再生専用デイスクとして、デイジタ
ルオーデイオデイスクがある。更に電子計算機に
記憶装置として用いるデイスクとして、トラツク
案内溝（以下プリグループという）の形成された
追記形デイスクや再録形デイスクがある。
ルオーデイオデイスクがある。更に電子計算機に
記憶装置として用いるデイスクとして、トラツク
案内溝（以下プリグループという）の形成された
追記形デイスクや再録形デイスクがある。
＜デイスク形状測定装置の必要性＞
しかしながら、実際のデイスクはデイスクの理
論的に正確な幾何学的基準（以下データムとい
う）とは異なつている。すなわち、 (a) 第６図に示す如く、デイスク面が回転にとも
ない読出し書込ヘツドに対し上下にすること
（以下振れという）。
論的に正確な幾何学的基準（以下データムとい
う）とは異なつている。すなわち、 (a) 第６図に示す如く、デイスク面が回転にとも
ない読出し書込ヘツドに対し上下にすること
（以下振れという）。
(b) 第７図に示す如く、デイスクに形成されたト
ラツク（ピツト列またはプリグルブをいう）の
幾何学的中心と、デイスクの外径（若しくは中
央に内孔を有する場合にはデイスクの内径）の
中心とが一致しないこと（以下偏心という）。
ラツク（ピツト列またはプリグルブをいう）の
幾何学的中心と、デイスクの外径（若しくは中
央に内孔を有する場合にはデイスクの内径）の
中心とが一致しないこと（以下偏心という）。
(c) デイスク面が完全に平坦ではなく、傾きを有
していること（以下反りという）。
していること（以下反りという）。
などの形態上の誤差を有している。
このため、回転しているデイスクの表面におけ
る光学式検出器の焦点位置は三次元的に数100μ
ｍの範囲で不規則に変動することになる。従つ
て、デイスクのデータムからのずれが大きくなる
と、トラツク及びフオーカスサーボ機構が追従で
きなくなるので、例えばデイジタルオーデイオデ
イスクでは第８図、第９図に示すように振れと偏
心の規格が設けられている。そこでこの規格に適
合しているデイスクであることを検査するデイス
クの形状測定装置が用いられる。
る光学式検出器の焦点位置は三次元的に数100μ
ｍの範囲で不規則に変動することになる。従つ
て、デイスクのデータムからのずれが大きくなる
と、トラツク及びフオーカスサーボ機構が追従で
きなくなるので、例えばデイジタルオーデイオデ
イスクでは第８図、第９図に示すように振れと偏
心の規格が設けられている。そこでこの規格に適
合しているデイスクであることを検査するデイス
クの形状測定装置が用いられる。
（従来の技術）
第１０図は従来のデイスクの形状測定装置の構
成図で、ここでは振れ測定の場合を示す。図にお
いて、１は透明なプラスチツク例えばポリカーボ
ネートなどで製造され、同心円状または螺旋状に
トラツクが等間隔ｄで形成されたデイスク、２は
デイスク１を回転させるモータ、３は半導体レー
ザを用いた光学式検出器、４は光ビームの焦点を
光軸（矢印Ａ方向）に移動させるサーボ回路、５
は光学式検出器３の焦点がデイスク１上にあるか
検出する検出回路で、サーボ回路４を作動させて
光ビームの焦点がデイスク１上にあるようにサー
ボ機構を構成している。
成図で、ここでは振れ測定の場合を示す。図にお
いて、１は透明なプラスチツク例えばポリカーボ
ネートなどで製造され、同心円状または螺旋状に
トラツクが等間隔ｄで形成されたデイスク、２は
デイスク１を回転させるモータ、３は半導体レー
ザを用いた光学式検出器、４は光ビームの焦点を
光軸（矢印Ａ方向）に移動させるサーボ回路、５
は光学式検出器３の焦点がデイスク１上にあるか
検出する検出回路で、サーボ回路４を作動させて
光ビームの焦点がデイスク１上にあるようにサー
ボ機構を構成している。
６は光学式検出器３の光軸方向の移動量、即ち
振れを検出する変位変換器、７はデイスク１の回
転角を測定する角度変換器、８はデイスク１の
回転角と振れをあわせて記憶する一時記憶装置
である。
振れを検出する変位変換器、７はデイスク１の回
転角を測定する角度変換器、８はデイスク１の
回転角と振れをあわせて記憶する一時記憶装置
である。
尚、偏心測定の場合は、検出回路５が光ビーム
がトラツク上にあるか否かを判断し、トラツク上
にないときはサーボ回路４の出力により光学式検
出器３をデイスク１の半径方向に移動させて、光
学式検出器３の焦点が常にトラツク上にあるよう
にサーボ機構を構成している。
がトラツク上にあるか否かを判断し、トラツク上
にないときはサーボ回路４の出力により光学式検
出器３をデイスク１の半径方向に移動させて、光
学式検出器３の焦点が常にトラツク上にあるよう
にサーボ機構を構成している。
光学式検出器３は、レーザ光を発する半導体レ
ーザ３ａと、レーザ光の光軸を定めるコリメート
レンズ３ｂと、デイスク１上に光を集光する集光
レンズ３ｃと、ハーフミラーと収束レンズとを含
んで構成されデイスク１からの反射光を利用して
フオーカス誤差信号を得る光検知機構３ｄと、こ
れらの光学形３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄを一体に支
持する筒体３ｅと、筒体３ｅを光軸及びこれに垂
直方向に移動可能に支持するスプリング３ｆと、
筒体３ｅを光軸方向に移動させるフオーカスアク
チユエータ３ｇと、筒体３ｅを光軸と垂直方向
（デイスクの半径方向）に移動させるトラツクア
クチユエータ３ｈと、これら３ｅ，３ｆ，３ｇ，
３ｈを一体に保持する筺体３ｋとにより構成され
ている。
ーザ３ａと、レーザ光の光軸を定めるコリメート
レンズ３ｂと、デイスク１上に光を集光する集光
レンズ３ｃと、ハーフミラーと収束レンズとを含
んで構成されデイスク１からの反射光を利用して
フオーカス誤差信号を得る光検知機構３ｄと、こ
れらの光学形３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄを一体に支
持する筒体３ｅと、筒体３ｅを光軸及びこれに垂
直方向に移動可能に支持するスプリング３ｆと、
筒体３ｅを光軸方向に移動させるフオーカスアク
チユエータ３ｇと、筒体３ｅを光軸と垂直方向
（デイスクの半径方向）に移動させるトラツクア
クチユエータ３ｈと、これら３ｅ，３ｆ，３ｇ，
３ｈを一体に保持する筺体３ｋとにより構成され
ている。
このように構成された装置においては、デイス
ク１を回転してデイスク１の振れを測定し、次に
デイスク１の所定の読出し回転数Ωに応じてこの
振れを空間領域の周波数から時間領域の周波数に
変換して、デイスクの規格に適合するか否かを判
断していた。
ク１を回転してデイスク１の振れを測定し、次に
デイスク１の所定の読出し回転数Ωに応じてこの
振れを空間領域の周波数から時間領域の周波数に
変換して、デイスクの規格に適合するか否かを判
断していた。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、上記の装置でデイスクの形状を
測定しようとすると次の問題点があつた。
測定しようとすると次の問題点があつた。
(a) 筒体３ｅの質量が数ｇであり、一方スプリン
グ３ｆの剛性が小さいために、この振動系の共
振周波数は数十Hzになり、アクチユエータの動
特性が悪い。
グ３ｆの剛性が小さいために、この振動系の共
振周波数は数十Hzになり、アクチユエータの動
特性が悪い。
(b) 従つて、デイスクの振れを正確に測定するた
めには、デイスクの回転数Ωを小さくしなけれ
ばならず測定に時間がかかる。
めには、デイスクの回転数Ωを小さくしなけれ
ばならず測定に時間がかかる。
(c) 一方、アクチユエータの共振周波数やゲイン
は温度とともに変動し、また経時変化も大きい
ので、長時間の測定ではデイスクの正確な振れ
を測定できなくなる。
は温度とともに変動し、また経時変化も大きい
ので、長時間の測定ではデイスクの正確な振れ
を測定できなくなる。
(d) デイスク１の振れはトラツク及びフオーカス
のサーボ系が追従できる大きさであればよいか
ら、デイスク１の振れ形状自体のほかに、デイ
スクが回転しているときの振れの動特性をあわ
せて知るほうが、より便利である。
のサーボ系が追従できる大きさであればよいか
ら、デイスク１の振れ形状自体のほかに、デイ
スクが回転しているときの振れの動特性をあわ
せて知るほうが、より便利である。
本発明は上記の問題点を解決したもので、アク
チユエータの動特性の変動の影響を受けずに、デ
イスクの動特性（デイスクの振れ及び偏心等の形
態であつて、所定の回転数Ωで回転したときに当
該アクチユエータが静的に動作する周波数（通常
は共振周波数の1/5以下）を超える周波数で動作
するような微細な振れ等をいう）を測定し、必要
に応じてアクチユエータの動特性も知ることがで
きるデイスクの動特性測定装置を実現することを
目的とする。
チユエータの動特性の変動の影響を受けずに、デ
イスクの動特性（デイスクの振れ及び偏心等の形
態であつて、所定の回転数Ωで回転したときに当
該アクチユエータが静的に動作する周波数（通常
は共振周波数の1/5以下）を超える周波数で動作
するような微細な振れ等をいう）を測定し、必要
に応じてアクチユエータの動特性も知ることがで
きるデイスクの動特性測定装置を実現することを
目的とする。
（問題点を解決するための手段）
このような目的を達成する第１の発明は、同心
円状または螺旋状に形成されたトラツクを有し回
転するデイスクと、このデイスクのデータムから
のずれを検出する検出器と、この検出器を移動さ
せるアクチユエータと、このアクチユエータを作
動させるサーボ回路とを備えた動特性測定装置に
おいて、第１の回転数（Ω1）における前記アク
チユエータの周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置と、第２の回転数（Ω2）における前記ア
クチユエータの周波数分析結果を記憶する第２の
記憶装置と、これらの記憶装置に記憶された結果
と前記アクチユエータの静的ゲインを用いてデイ
スクの動特性を演算する演算装置とを設けたこと
を特徴とするものである。
円状または螺旋状に形成されたトラツクを有し回
転するデイスクと、このデイスクのデータムから
のずれを検出する検出器と、この検出器を移動さ
せるアクチユエータと、このアクチユエータを作
動させるサーボ回路とを備えた動特性測定装置に
おいて、第１の回転数（Ω1）における前記アク
チユエータの周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置と、第２の回転数（Ω2）における前記ア
クチユエータの周波数分析結果を記憶する第２の
記憶装置と、これらの記憶装置に記憶された結果
と前記アクチユエータの静的ゲインを用いてデイ
スクの動特性を演算する演算装置とを設けたこと
を特徴とするものである。
このような目的を達成する第２の発明は、同心
円状または螺旋状に形成されたトラツクを有し回
転するデイスクと、このデイスクのデータムから
のずれを検出する検出器と、この検出器を移動さ
せるアクチユエータと、このアクチユエータを作
動させるサーボ回路とを備えた動特性測定装置に
おいて、第１の回転数（Ω1）における前記アク
チユエータの周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置と、第２の回転数（Ω2）における前記ア
クチユエータの周波数分析結果を記憶する第２の
記憶装置と、これらの記憶装置に記憶された結果
と前記アクチユエータの静的ゲインを用いてデイ
スクの動特性を演算する第１の演算装置と、この
演算装置の結果を用いて前記アクチユエータの動
特性を演算する第２の演算装置とを設けたことを
特徴とするものである。
円状または螺旋状に形成されたトラツクを有し回
転するデイスクと、このデイスクのデータムから
のずれを検出する検出器と、この検出器を移動さ
せるアクチユエータと、このアクチユエータを作
動させるサーボ回路とを備えた動特性測定装置に
おいて、第１の回転数（Ω1）における前記アク
チユエータの周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置と、第２の回転数（Ω2）における前記ア
クチユエータの周波数分析結果を記憶する第２の
記憶装置と、これらの記憶装置に記憶された結果
と前記アクチユエータの静的ゲインを用いてデイ
スクの動特性を演算する第１の演算装置と、この
演算装置の結果を用いて前記アクチユエータの動
特性を演算する第２の演算装置とを設けたことを
特徴とするものである。
（実施例）
以下図面に基づいて本発明を説明する。
第１図は第１の発明の一実施例を示す構成図で
ある。尚第１図において前記第１０図と同一作用
をするものには同一符号をつけ説明を省略する。
ある。尚第１図において前記第１０図と同一作用
をするものには同一符号をつけ説明を省略する。
９は、駆動回路４の出力信号を周波数分析する
スペクトルアナライザ、１０はデイスク１の回転
数Ωを測定するタコメータ、１１は第１の回転数
Ω1における周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置、１２は第２の回転数Ω2における周波数
分析結果を記憶する第２の記憶装置、１３は記憶
装置１１，１２の結果を用いてデイスク１の動特
性を演算する第１の演算装置（以下ALUとい
う）、１４はALU１３で演算した結果を印字又は
作画する作画装置である。
スペクトルアナライザ、１０はデイスク１の回転
数Ωを測定するタコメータ、１１は第１の回転数
Ω1における周波数分析結果を記憶する第１の記
憶装置、１２は第２の回転数Ω2における周波数
分析結果を記憶する第２の記憶装置、１３は記憶
装置１１，１２の結果を用いてデイスク１の動特
性を演算する第１の演算装置（以下ALUとい
う）、１４はALU１３で演算した結果を印字又は
作画する作画装置である。
次に第２図、第３図に基づき、第１の発明の装
置の動作を説明する。第２図のブロツク図に示す
ように、デイスクの振れの動特性をＤ（jω）、ア
クチユエータの動特性をＧ（jω）、アクチユエー
タ駆動信号（サーボ回路４の出力）をＹ（jω）で
あらわすと次式が成立する。
置の動作を説明する。第２図のブロツク図に示す
ように、デイスクの振れの動特性をＤ（jω）、ア
クチユエータの動特性をＧ（jω）、アクチユエー
タ駆動信号（サーボ回路４の出力）をＹ（jω）で
あらわすと次式が成立する。
Ｄ（jω）＝Ｇ（jω）・Ｙ（jω） (1)
一方、規格で定められているのは各角周波数ω
における絶対値であつて、位相は要件となつてい
ないから、デイスクの振れの絶対値δ（ω）、アク
チユエータの動特性の絶対値をｇ（ω）、サーボ回
路４の絶対値をｙ（ω）であらわすと、(1)式は次
のようになる。
における絶対値であつて、位相は要件となつてい
ないから、デイスクの振れの絶対値δ（ω）、アク
チユエータの動特性の絶対値をｇ（ω）、サーボ回
路４の絶対値をｙ（ω）であらわすと、(1)式は次
のようになる。
δ（ω）＝ｇ（ω）ｙ（ω） (1)′
ここに、
δ（ω）＝｜Ｄ（jω）｜
ｇ（ω）＝｜Ｇ（jω）｜
ｙ（ω）＝｜Ｙ（jω）｜
である。
次に第３図の流れ図に沿つて測定手順を述べ
る。まず回転数Ω1でデイスク１を回転させ、サ
ーボ回路４の出力をスペクトルアナライザ９で周
波数分析し、第１の記憶装置１１に記憶させる。
この結果は次式であらわされる。
る。まず回転数Ω1でデイスク１を回転させ、サ
ーボ回路４の出力をスペクトルアナライザ９で周
波数分析し、第１の記憶装置１１に記憶させる。
この結果は次式であらわされる。
δ1（ω1）＝ｇ（ω1）y1（ω1）
δ1（2ω1）＝ｇ（2ω1）y1（2ω1）
δ1（4ω1）＝ｇ（4ω1）y1（4ω1）
δ1（8ω1）＝ｇ（8ω1）y1（8ω1）
δ1（16ω1）＝ｇ（16ω1）y1（16ω1）
〓 (2)
次に作の回転数Ω1より大きな回転数Ω2（例えば
Ω2＝2Ω1）で同様に測定し、第２の記憶装置１２
に記憶させる。この場合アクチユエータの動特性
は変化しないので次式が成立する。
Ω2＝2Ω1）で同様に測定し、第２の記憶装置１２
に記憶させる。この場合アクチユエータの動特性
は変化しないので次式が成立する。
δ2（2ω1）＝ｇ（2ω1）y2（2ω1）
δ2（4ω1）＝ｇ（4ω1）y2（4ω1）
δ2（8ω1）＝ｇ（8ω1）y2（8ω1）
δ2（16ω1）＝ｇ（16ω1）y2（16ω1）
〓 (3)
また、デイスク１の振れは回転数によつて変化
しないから、次の関数が成立する。
しないから、次の関数が成立する。
δ1（ω1）＝δ2（2ω1）＝δ(1)
δ1（2ω1）＝δ2（4ω1）＝δ(2)
δ1（4ω1）＝δ2（8ω1）＝δ(4)
δ1（8ω1）＝δ2（16ω1）＝δ(8)
〓 (4)
ここにδ(1)の振れの基本周波数成分（例えば、
デイスクが毎秒30回転しているときは、振れの30
Hzの成分をいう。δ(2)は振れの２次高調波成分、
δ(4)は振れの４次高調波成分、δ(8)は振れの８次
高調波成分である。
デイスクが毎秒30回転しているときは、振れの30
Hzの成分をいう。δ(2)は振れの２次高調波成分、
δ(4)は振れの４次高調波成分、δ(8)は振れの８次
高調波成分である。
この点に着目すると、静的なアクチユエータの
ゲインｇ（０）（単位出力当りの筐体３ｅの変位量
をいう）が既知であるならば、次の式によつて等
比級数的な各角周波数αnω0（α＝Ω2／Ω1で上の例
ではα＝２、ｎは自然数、ω0はアクチユエータ
の共振角周波数よりも十分低い角周波数で上の例
ではω0＝ω1）におけるデイスク１の振れδ（ω）
は次々に求めることができる。
ゲインｇ（０）（単位出力当りの筐体３ｅの変位量
をいう）が既知であるならば、次の式によつて等
比級数的な各角周波数αnω0（α＝Ω2／Ω1で上の例
ではα＝２、ｎは自然数、ω0はアクチユエータ
の共振角周波数よりも十分低い角周波数で上の例
ではω0＝ω1）におけるデイスク１の振れδ（ω）
は次々に求めることができる。
δ（ω0）＝ｇ（０）y1（ω0） (5)
δ（αω0）
＝δ（ω0）・y1（αω0）／y2（ω0） (6)
〓
δ（αnω0）
＝δ（αn-1ω0）・y1（αnω0）／y2（αnω0） (7)
第１の演算装置ALU１は、式(5)、(6)、…、(7)
を次々に演算して、デイスクの動特性を求めてい
る。
を次々に演算して、デイスクの動特性を求めてい
る。
第４図は第２の発明の一実施例を示す構成図で
ある。尚第４図において、前記第１図、第１０図
と同一作用をするものには同一符号をつけ説明を
省略する。１５はアクチユエータの動特性を演算
する第２のALUである。１６はALU１５で演算
した結果を印字又は作画する作画装置である。
ある。尚第４図において、前記第１図、第１０図
と同一作用をするものには同一符号をつけ説明を
省略する。１５はアクチユエータの動特性を演算
する第２のALUである。１６はALU１５で演算
した結果を印字又は作画する作画装置である。
第５図は第２の発明の動作説明図である。尚第
３図と重複する部分の説明はさけ、ALU１５の
演算のみ説明する。ALU１５は式(5)、(6)、…、
(7)より求めたデイスクの振れδ（αnω0）を用い
て、アクチユエータの動特性を演算する。即ち、 ｇ（ω0）＝ｇ（０） (8) ｇ（αω0）＝δ（ω0）y2（αω0） (9) 〓 ｇ（αnω0）＝δ（αn-1ω0）／y2（αnω0） (10) 第２の演算装置ALU２は式(8)、(9)、…、(10)を
次々に演算して、アクチユエータの動特性を求め
ている。
３図と重複する部分の説明はさけ、ALU１５の
演算のみ説明する。ALU１５は式(5)、(6)、…、
(7)より求めたデイスクの振れδ（αnω0）を用い
て、アクチユエータの動特性を演算する。即ち、 ｇ（ω0）＝ｇ（０） (8) ｇ（αω0）＝δ（ω0）y2（αω0） (9) 〓 ｇ（αnω0）＝δ（αn-1ω0）／y2（αnω0） (10) 第２の演算装置ALU２は式(8)、(9)、…、(10)を
次々に演算して、アクチユエータの動特性を求め
ている。
尚、本実施例ではフオーカスサーボを用いた振
れ測定を示したが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、トラツクサーボを用いた偏心測定や
デイスク装置の機械的振動や電源変動によつて生
ずるジツタを測定するジツタサーボに適用しても
良く、要するに検出器とこれが測定できるように
制御するサーボをもつものであればよい。
れ測定を示したが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、トラツクサーボを用いた偏心測定や
デイスク装置の機械的振動や電源変動によつて生
ずるジツタを測定するジツタサーボに適用しても
良く、要するに検出器とこれが測定できるように
制御するサーボをもつものであればよい。
また第１の発明ではまずデイスクの振れを測定
しているが、第２の発明のALU１５によりアク
チユエータの動特性を測定し、次に等比級数的に
求められた動特性の測定値を用いてその中間にあ
る周波数を補間して推定した動特性G^（ω）を求
め、これからデイスクの振れを次式により求めて
もよい。
しているが、第２の発明のALU１５によりアク
チユエータの動特性を測定し、次に等比級数的に
求められた動特性の測定値を用いてその中間にあ
る周波数を補間して推定した動特性G^（ω）を求
め、これからデイスクの振れを次式により求めて
もよい。
δ（ω）＝G^（ω）y1（ω） (11)
また、上の例ではΩ1とΩ2の例だけを示したが、
Ω1とΩ3またはΩ3とΩ4などの複数の回転数を用い
て、中間にあるＧ（ω）を求めることもできる。
Ω1とΩ3またはΩ3とΩ4などの複数の回転数を用い
て、中間にあるＧ（ω）を求めることもできる。
（発明の効果）
以上述べたように本発明によれば、異なる回転
数Ω1、Ω2でデイスクの動特性を測定しているの
で、アクチユエータの動特性の影響を受けること
なくデイスクの動特性が測定でき、また必要に応
じてアクチユエータの動特性を知ることもでき
る。
数Ω1、Ω2でデイスクの動特性を測定しているの
で、アクチユエータの動特性の影響を受けること
なくデイスクの動特性が測定でき、また必要に応
じてアクチユエータの動特性を知ることもでき
る。
第１図は第１の発明の実施例を示す構成図、第
２図、第３図は第１図の装置の動作説明図、第４
図は第２図の発明の実施例を示す構成図、第５図
は第４図の装置の動作説明図、第６図〜第９図は
デイスクの動特性の説明図、第１０図は従来装置
の説明図。 １……デイスク、２……モータ、３……光学式
検出器、４……サーボ回路、５……検出回路、９
……スペクトルアナライザ、１０……タコメー
タ、１１，１２……記憶装置、１３，１５……演
算装置（ALU）。
２図、第３図は第１図の装置の動作説明図、第４
図は第２図の発明の実施例を示す構成図、第５図
は第４図の装置の動作説明図、第６図〜第９図は
デイスクの動特性の説明図、第１０図は従来装置
の説明図。 １……デイスク、２……モータ、３……光学式
検出器、４……サーボ回路、５……検出回路、９
……スペクトルアナライザ、１０……タコメー
タ、１１，１２……記憶装置、１３，１５……演
算装置（ALU）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 同心円状または螺旋状に形成されたトラツク
を有し回転するデイスクと、このデイスクのデー
タムからのずれを検出する検出器と、この検出器
を移動させるアクチユエータと、このアクチユエ
ータを作動させるサーボ回路とを備えた動特性測
定装置において、第１の回転数（Ω1）における
前記アクチユエータの周波数分析結果を記憶する
第１の記憶装置と、第２の回転数（Ω2）におけ
る前記アクチユエータの周波数分析結果を記憶す
る第２の記憶装置と、これらの記憶装置に記憶さ
れた結果と前記アクチユエータの静的ゲインを用
いてデイスクの動特性を演算する演算装置とを設
けたことを特徴とする動特性測定装置。 ２ 同心円状または螺旋状に形成されたトラツク
を有し回転するデイスクと、このデイスクのデー
タムからのずれを検出する検出器と、この検出器
を移動させるアクチユエータと、このアクチユエ
ータを作動させるサーボ回路とを備えた動特性測
定装置において、第１の回転数（Ω1）における
前記アクチユエータの周波数分析結果を記憶する
第１の記憶装置と、第２の回転数（Ω2）におけ
る前記アクチユエータの周波数分析結果を記憶す
る第２の記憶装置と、これらの記憶装置に記憶さ
れた結果と前記アクチユエータの静的ゲインを用
いてデイスクの動特性を演算する第１の演算装置
と、この演算装置の結果を用いて前記アクチユエ
ータの動特性を演算する第２の演算装置とを設け
たことを特徴とする動特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6597085A JPS61227239A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 動特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6597085A JPS61227239A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 動特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61227239A JPS61227239A (ja) | 1986-10-09 |
| JPH0556574B2 true JPH0556574B2 (ja) | 1993-08-19 |
Family
ID=13302361
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6597085A Granted JPS61227239A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 動特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61227239A (ja) |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6597085A patent/JPS61227239A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61227239A (ja) | 1986-10-09 |
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