JPH0557654B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はデイスク検査装置のレーザパワー測定
装置に係り、特にCD（コンパクトデイスク）等の
光学的情報信号記録円盤（以下、デイスクとい
う）の物理的特性及び再生信号特性の検査を行な
うデイスク検査装置のピツクアツプから出射され
るレーザのパワーを測定するレーザパワー測定装
置に関する。

（従来の技術） 一般に、CD等のデイスクの製造過程において、
デイスク表面に形成されるピツトの形状が正確で
なくなつたり、あるいは樹脂の光学特性が変化し
たり、デイスク自体が偏心あるいは偏位（そり）
してしまうことがある。そして、このようなデイ
スクの物理的な欠陥は再生不良の原因となる。

この為、従来からデイスクの表面にピツトの列
として記録された各種信号を、ピツクアツプにて
再生することにより得られる再生信号（PCM信
号）に基づいて、このデイスクの物理的な特性及
び再生信号特性を検査し、デイスクの良否を判定
する各種のデイスク検査装置がある。その中で、
本出願人は先に上記のようなデイスクの物理的な
特性及び再生信号特性の検査を効率的に短時間で
行ない得るデイスク検査装置を提案し、昭和61年
９月５日付で特許出願した（特願昭61−209333
号；発明の名称「デイスク検査装置」）。

また、上記したようなデイスク検査装置におい
て、デイスクに記録された各種信号を再生するた
めのピツクアツプに設けられたレーザダイオード
から出射されるレーザのパワーを測定する際に
は、レーザパワーメータに接続されたセンサヘツ
ド部（受光部）を、デイスク検査装置のピツクア
ツプの対物レンズに対向するように手動で配置し
てレーザパワーの測定を行なつていた。その為
に、センサヘツド部にピツクアツプから出射され
るレーザビームが正確に入射するようにピツクア
ツプとセンサヘツド部との相互位置を合わせて、
かつそれらの間隔も一定の距離になるようにする
必要がある。

（発明が解決しようとする問題点） ところが、上記したようにレーザのパワーを測
定する際の操作を手動により行なつて、センサヘ
ツド部及びピツクアツプが正しい位置に配置され
るようにすることは非常に困難であり、測定の正
確さは不十分であるという問題点がある。

また、その他に、デイスク検査装置内にレーザ
パワー測定のための特別の測定位置を設けて、レ
ーザパワー測定の際にはその測定位置でピツクア
ツプのレーザパワーを測定するようにしたものも
あるが、これは通常のデイスク再生のためにピツ
クアツプを移動させる範囲外へもピツクアツプを
移動させるための移送機構（フイード）の可動範
囲が必要になり、その為にデイスク検査装置内に
余分なスペースが必要になるという問題点があ
る。

そこで、本発明は上記した従来の技術の問題点
を解決して、通常のデイスク再生のためにピツク
アツプを移動させる範囲内でピツクアツプから出
射されるレーザのパワーを測定するための位置出
しが正確、かつ容易にできるようにしたデイスク
検査装置のレーザパワー測定装置を提供すること
を目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本発明は上記の目的を達成するために、デイス
クの表面にピツトの列として記録された各種信号
を、再生ピツクアツプにて再生することにより得
られる再生信号に基づいてこのデイスクの物理的
特性及び再生信号特性を検査するデイスク検査装
置における前記ピツクアツプから出射されるレー
ザのパワーを測定するデイスク検査装置のレーザ
パワー測定装置であつて、前記ピツクアツプをデ
イスクの半径方向に移送する移送手段と、前記ピ
ツクアツプの半径方向位置を計測する位置スケー
ルと、通常のデイスク再生のための前記ピツクア
ツプの可動範囲内でこのピツクアツプと対向する
ように取付けられ、かつ前記ピツクアツプから出
射されるレーザを受光する受光部と、前記位置ス
ケールで測定されたピツクアツプ位置データによ
り前記ピツクアツプが受光部と一定の距離で対向
するよう前記移送手段の移送動作を制御する移送
制御手段と、前記受光部で受光したレーザのパワ
ーを測定するレーザパワー測定部とよりなるデイ
スク検査装置のレーザパワー測定装置を提供する
ものである。

（作用） 上記した構成のデイスク検査装置のレーザパワ
ー測定装置においては、ピツクアツプの半径方向
位置を計測し、測定したピツクアツプ位置データ
によりピツクアツプを受光部と一定の距離で対向
するよう移送する。そして、レーザパワー測定部
は受光部で受光したレーザのパワーを測定する。

（実施例） 本発明になるデイスク検査装置のレーザパワー
測定装置の一実施例について、以下に図面と共に
説明する。

第１図は本発明になるデイスク検査装置のレー
ザパワー測定装置の一実施例を示すブロツク系統
図である。

同図において、デイスク１はローデイングテー
ブル（図示せず）に載置された状態でデイスク検
査装置内に取込まれる。このデイスク検査装置
は、前記したようにデイスクの表面にピツトの列
として記録された各種信号を、ピツクアツプにて
再生することにより得られる再生信号（PCM信
号）に基づいて、このデイスクの物理的な特性及
び再生信号特性を検査し、デイスクの良否を判定
するものである。そして、デイスク１は軸２を中
心に矢印方向に回動するクランプアーム３によつ
て圧着力が加えられて、メインモータ４のシヤフ
ト５の先端に取付けられたデイスククランプテー
ブル６上にクランプされる。

クランプアーム３は、ピツクアツプ７を含む光
学系部８がデイスク１の半径方向に移動する方向
に伸びており、更に、このクランプアーム３はデ
イスク１が無い状態（すなわち、デイスク１がデ
イスク検査装置内に取込まれない状態）で、かつ
クランプ位置に降りている場合には、水平、すな
わち、ピツクアツプの移動方向と平行になるよう
配設される（図示の実線位置の状態）。また、こ
のクランプアーム３の一部には図に示すようにレ
ーザパワーメータ９に接続されたセンサヘツド部
（受光部）１０が取付けられている。

レーザパワーメータ９は、センサヘツド部１０
で受光したレーザのパワー（光強度）を測定し、
それをデジタルデータで表示するものである。

また、ピツクアツプ７を含む光学系部８は、フ
イードモータ１１で駆動され、ラツク１２及びピ
ニオン１３により構成される移送機構によりデイ
スク１の半径方向に移動されるようになつてい
る。更に、このピツクアツプ７の半径方向の位置
を計測するためにポジシヨンスケール（リニアス
ケール）１４が取付けられている。

このポジシヨンスケール１４は、光学系部７の
移動（位置）が伝達され、発光部、受光部、スリ
ツト（いずれも図示せず）からなる構成のもので
あり、2μｍの位置精度でパルス列が位置データ
として出力される。更に、初期位置を知るために
原点信号検出部が組込まれており、デイスク１の
最内周に近い部分をピツクアツプ７が通過するこ
とによつて、この時のピツクアツプ７の位置デー
タが原点パルスとして出力される。そして、この
原点パルスがカウンタ１５に供給されることによ
つて、カウンタ１５がクリア（リセツト）され、
更に、ピツクアツプ７の位置に応じてパルス列が
カウンタ１５に供給されることによつて、ピツク
アツプ７の原点位置からの相対位置が計数され、
その計数データ（カウント値）が出力される。

このカウンタ１５の出力計数データは、ROM
（Read Only Memory）によつて構成されるア
ドレス演算部１６にアドレスデータとして供給さ
れる。アドレス演算部１６を構成するROMには
予めカウンタ１５からの出力計数データ（これが
アドレスデータとなる）に対応したデータ（位置
データ）がメモリされている。そして、このアド
レス演算部１６は、供給されるアドレスデータに
対応するROM内のデータ（位置データ）を出力
し、これがＤ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器
１７でデジタルデータからアナログデータに変換
され、更に、切換スイツチ１８を介してフイード
モータ１１にその駆動用の電圧（制御電圧）とし
て供給される。

切換スイツチ１８は、通常のデイスク再生状態
でピツクアツプ７を通常移送する時に通常再生時
制御電圧発生部１９から供給されるフイードモー
タ１１の駆動用の制御電圧とレーザパワー測定時
にＤ／Ａ変換器１７から供給されるフイードモー
タ１１の駆動用の制御電圧とを切換えるものであ
る。

第２図はピツクアツプ７のデイスク半径方向位
置とフイードモータ１１に供給される制御電圧と
の関係を示す図である。

同図に示すように、ピツクアツプ７のレーザパ
ワーを測定するためのレーザパワーメータ９のセ
ンサヘツド部１０の位置がデイスク１の半径ｒ＝
27mmの位置であるとすると、それより内周側（ｒ
＜27mm）にピツクアツプ７がある場合には、ピツ
クアツプ７を含む光学系部８を外周方向に移送さ
せるような正（＋）の制御電圧が出力され、一
方、それより外周側（ｒ＞27mm）にピツクアツプ
７がある場合には、ピツクアツプ７を含む光学系
部８を内周方向に移送させるような負（−）の制
御電圧が出力されるようになつている。

なお、半径ｒ＝27mmの近傍で制御電圧の極性変
化があるとハンチングを生じるため、これがレー
ザパワー測定の誤差とならない程度、例えば±
50μｍの不感帯領域が設けられている。

また、レーザパワーメータ９のセンサヘツド部
１０の取付け位置誤差を補償するために、アドレ
ス演算部（ROM）１６に供給されるアドレスデ
ータにプリセツトアドレス発生部２０からこれと
加算又は減算されるプリセツトアドレスデータを
供給して、アドレスが増減できるようにしてい
る。

以上の構成のデイスク検査装置のレーザパワー
測定装置において、デイスク検査装置に具備され
たレーザパワー測定モードスイツチ（図示せず）
をオンにしてレーザパワー測定モードにすると、
デイスクが無い状態（すなわち、デイスク１がデ
イスク検査装置内に取込まれない状態）でクラン
プアーム３が水平になり、ピツクアツプ７に設け
られたレーザダイオード（図示せず）が点灯し、
レーザビームが出射される。

そして、同時に、切換スイツチ１８が第１図に
示す側に切換えられることによつて、フイードモ
ータ１１の駆動用の制御電圧がアドレス演算部１
６から出力されるデータ（位置データ）に対応し
た制御電圧に切換わつて、この制御電圧に応じて
フイードモータ１１が駆動され、ラツク１２及び
ピニオン１３により構成される移送機構により、
ピツクアツプ７が所定の位置に自動的に移送され
る。そして更に、レーザパワーメータ９に接続さ
れたセンタヘツド部１０で受光したレーザのパワ
ー（光強度）は、レーザパワーメータ９によつて
デジタルデータで表示されて測定され、デイスク
の検査に必要なレーザパワーの点検が行なわれ
る。

以上のように、本発明実施例は、レーザパワー
メータ９のセンタヘツド部１０を、デイスク１の
無い状態で、水平、すなわちピツクアツプ７の移
動方向と平行になるよう配設されるクランプアー
ム３に取付けると共に、デイスク１の半径方向の
位置出しはポジシヨンスケール（リニアスケー
ル）１４からの位置データをアドレス演算部１
６、Ｄ／Ａ変換器１７で変換した制御電圧により
フイードモータ１１の駆動を制御することによつ
て行なうものである。

従つて、クランプアーム３上にレーザパワーメ
ータ９のセンタヘツド部１０を取付けることによ
り、ピツクアツプ７に設けられたレーダダイオー
ドから読取りレンズを通して出射されるレーザの
出射パワーを対向性良く、一定の距離で常に同一
条件で測定できるようになる。

また、ポジシヨンスケール（リニアスケール）
１４を用いて2μｍ程度の高精度の間隔でデイス
ク１の半径位置を測定しており、更に、ポジシヨ
ンスケール１４の原点位置からのカウント量（計
数データ）をアドレス演算部１６を構成する
ROM内のデータで変換すると共に、レーザパワ
ーの測定に不都合を発生しない程度の不感帯領域
を設けることにより、フイードモータ１１によつ
てピツクアツプ７をハンチングさせることなく、
短時間に所定の位置に正確に移動させることがで
きるようになる。

更にまた、ピツクアツプから出射されるレーザ
パワーを測定するために、通常のデイスク再生に
不必要な追加構成部分がなく、余分なスペースが
必要になることもない。

なお、上記した実施例では、ピツクアツプ７に
設けられたレーザダイオードから出射されるレー
ザのパワーを測定することについて説明したが、
このレーザダイオードに限らず、その他のレーザ
素子やレーザ管から出射されるレーザのパワーの
測定にも適用できることは勿論である。

（発明の効果） 以上の如く、本発明になるデイスク検査装置の
レーザパワー測定装置によれば、通常のデイスク
再生のためにピツクアツプを移動させる範囲内で
ピツクアツプから出射されるレーザのパワーを測
定するための位置出しが正確、かつ容易にでき、
更に、ピツクアツプから出射されるレーザパワー
の測定のために余分なスペースが必要になること
もないといつた特長を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になるデイスク検査装置のレー
ザパワー測定装置の一実施例を示すブロツク系統
図、第２図はピツクアツプ７のデイスク半径方向
位置とフイードモータ１１に供給される制御電圧
との関係を示す図である。 １……デイスク、２……軸、３……クランプア
ーム、４……メインモータ、５……シヤフト、６
……デイスククランプテーブル、７……ピツクア
ツプ、８……光学系部、９……レーザパワーメー
タ、１０……センサヘツド部、１１……フイード
モータ、１２……ラツク、１３……ピニオン、１
４……ポジシヨンスケール、１５……カウンタ、
１６……アドレス演算部、１７……Ｄ／Ａ変換
器、１８……切換スイツチ、１９……通常再生時
制御電圧発生部、２０……プリセツトアドレス発
生部。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ デイスクの表面にピツトの列として記録され
   た各種信号を、再生ピツクアツプにて再生するこ
   とにより得られる再生信号に基づいてこのデイス
   クの物理的特性及び再生信号特性を検査するデイ
   スク検査装置における前記ピツクアツプから出射
   されるレーザのパワーを測定するデイスク検査装
   置のレーザパワー測定装置であつて、 前記ピツクアツプをデイスクの半径方向に移送
   する移送手段と、 前記ピツクアツプの半径方向位置を計測する位
   置スケールと、 通常のデイスク再生のための前記ピツクアツプ
   の可動範囲内でこのピツクアツプと対向するよう
   に取付けられ、かつ前記ピツクアツプから出射さ
   れるレーザを受光する受光部と、 前記位置スケールで測定されたピツクアツプ位
   置データにより前記ピツクアツプが受光部と一定
   の距離で対向するよう前記移送手段の移送動作を
   制御する移送制御手段と、 前記受光部で受光したレーザのパワーを測定す
   るレーザパワー測定部とよりなるデイスク検査装
   置のレーザパワー測定装置。 ２ 受光部は、通常のデイスク再生状態でデイス
   クをクランプすると共に、デイスクの無い状態で
   ピツクアツプの移動方向と平行になるよう配設さ
   れるクランプアームに取付けられるものである特
   許請求の範囲第１項記載のデイスク検査装置のレ
   ーザパワー測定装置。