JPH055784A - 金属検出装置 - Google Patents
金属検出装置Info
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- JPH055784A JPH055784A JP27686691A JP27686691A JPH055784A JP H055784 A JPH055784 A JP H055784A JP 27686691 A JP27686691 A JP 27686691A JP 27686691 A JP27686691 A JP 27686691A JP H055784 A JPH055784 A JP H055784A
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- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 金属検出装置の位相調整を安定かつ微細に行
なう。 【構成】 基準信号発生器21からの周波数2fの基準
パルス信号は第1の分周器50によって1/2に分周さ
れ、送信コイル24は、周波数fの交番磁界を発生させ
る。この周波数fに共振している受信コイル26、27
に誘起される電圧の差動出力は、検波回路40に入力さ
れる。一方、基準パルス信号を受けた発生回路34は、
周波数2fの三角波信号をコンパレータ33へ出力す
る。コンパレータ33は、位相データDpに対応した電
圧Vpと三角波との比較出力を第2の分周器51へ出力
する。第2の分周器51は、コンパレータ33から出力
される周波数2fの比較出力を1/2に分周して、位相
データに対応する位相を持つ周波数fのパルス信号を、
デューティ比1対1で検波回路40へ出力する。検波回
路40は、差動出力信号をこのパルス信号によって同期
検波する。
なう。 【構成】 基準信号発生器21からの周波数2fの基準
パルス信号は第1の分周器50によって1/2に分周さ
れ、送信コイル24は、周波数fの交番磁界を発生させ
る。この周波数fに共振している受信コイル26、27
に誘起される電圧の差動出力は、検波回路40に入力さ
れる。一方、基準パルス信号を受けた発生回路34は、
周波数2fの三角波信号をコンパレータ33へ出力す
る。コンパレータ33は、位相データDpに対応した電
圧Vpと三角波との比較出力を第2の分周器51へ出力
する。第2の分周器51は、コンパレータ33から出力
される周波数2fの比較出力を1/2に分周して、位相
データに対応する位相を持つ周波数fのパルス信号を、
デューティ比1対1で検波回路40へ出力する。検波回
路40は、差動出力信号をこのパルス信号によって同期
検波する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、交番磁界内を通過する
物品による磁束変化を検出することにより、物品に含ま
れる金属の有無を判別する金属検出装置に関する。
物品による磁束変化を検出することにより、物品に含ま
れる金属の有無を判別する金属検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】物品内に混入された金属を非接触に検出
するために、交番磁界内に物品を通過させて、その磁界
変化により金属の有無を判別する金属検出装置が従来よ
りあった。
するために、交番磁界内に物品を通過させて、その磁界
変化により金属の有無を判別する金属検出装置が従来よ
りあった。
【0003】図9は、従来の金属検出装置の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【0004】この金属検出装置は、励磁回路1からの交
流信号によって交番磁界を発生する送信コイル2と、送
信コイル2からの磁束を等量ずつ受ける位置に配置され
た2つの受信コイル3,4とを有している。
流信号によって交番磁界を発生する送信コイル2と、送
信コイル2からの磁束を等量ずつ受ける位置に配置され
た2つの受信コイル3,4とを有している。
【0005】受信コイル3,4は、バランス抵抗VRを
介して差動接続されており、受信コイル3,4に誘起さ
れる信号の差動出力信号は、検波回路5によって同期検
波される。
介して差動接続されており、受信コイル3,4に誘起さ
れる信号の差動出力信号は、検波回路5によって同期検
波される。
【0006】検波回路5の出力は、LPF(低域通過フ
ィルタ)6によって励磁周波数を含む高周波成分が除去
され、判定回路7に入力される。
ィルタ)6によって励磁周波数を含む高周波成分が除去
され、判定回路7に入力される。
【0007】判定回路7は、送信コイル2と受信コイル
3,4の間と物品Wが通過する物品際のLPF6の出力
を、所定の基準電圧と比較して、物品W内の金属の有無
を判定する。
3,4の間と物品Wが通過する物品際のLPF6の出力
を、所定の基準電圧と比較して、物品W内の金属の有無
を判定する。
【0008】位相可変回路8は、磁界に与える物品自信
(包装材を含む)の影響が最小となるように、差動出力
信号の位相を可変するための回路であり、受信コイル
3,4と固定コンデンサC0 とによって励磁回路1の励
磁周波数にほぼ近い共振特性をもたせ、位相データ信号
に応じてオンオフするスイッチS1 〜Sn によってコン
デンサC1 〜Cn を接続して、差動出力信号の位相を可
変させる。
(包装材を含む)の影響が最小となるように、差動出力
信号の位相を可変するための回路であり、受信コイル
3,4と固定コンデンサC0 とによって励磁回路1の励
磁周波数にほぼ近い共振特性をもたせ、位相データ信号
に応じてオンオフするスイッチS1 〜Sn によってコン
デンサC1 〜Cn を接続して、差動出力信号の位相を可
変させる。
【0009】この位相可変回路8は、検査する物品の種
類に応じて予め調整され、この調整により物品に含まれ
ている金属の有無を、物品自信の影響が最も少ない状態
で判定することができる。
類に応じて予め調整され、この調整により物品に含まれ
ている金属の有無を、物品自信の影響が最も少ない状態
で判定することができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ように、差動出力信号の位相を可変する従来の勤続検出
装置では、位相調整を受信同調周波数の可変によって行
っているため、その調整量に応じて受信感度が変化して
しまうという問題があった。
ように、差動出力信号の位相を可変する従来の勤続検出
装置では、位相調整を受信同調周波数の可変によって行
っているため、その調整量に応じて受信感度が変化して
しまうという問題があった。
【0011】また、前記のようにコンデンサによる切換
調整では、最小可変容量に限界があり、最適値に調整で
きないという問題がある。
調整では、最小可変容量に限界があり、最適値に調整で
きないという問題がある。
【0012】このため、励磁回路の出力信号を正弦波に
変換して、可変抵抗と可変コンデンサによる積分回路に
通して、その位相を可変できるようにし、この信号をさ
らに矩形波に戻して検波回路に出力するアナログ式の位
相可変回路もあったが、抵抗やコンデンサの切換え制御
が複雑で、これらのアナログ素子の温度変化やバラツキ
の影響を大きく受けるという問題があった。
変換して、可変抵抗と可変コンデンサによる積分回路に
通して、その位相を可変できるようにし、この信号をさ
らに矩形波に戻して検波回路に出力するアナログ式の位
相可変回路もあったが、抵抗やコンデンサの切換え制御
が複雑で、これらのアナログ素子の温度変化やバラツキ
の影響を大きく受けるという問題があった。
【0013】本発明は、これらの課題を解決した金属検
出装置を提供することを目的としている。
出装置を提供することを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、第1の発明の金属検出装置は、所定周波数の交流信
号によって交番磁界を発生する磁界発生手段と、前記交
番磁界内を通過する物品による磁束変化に対応した検出
信号を出力する磁束変化検出手段と、前記磁界発生手段
の交流信号と同一の繰り返し周波数で振幅が周期変化す
る信号を出力する信号発生回路と、前記信号発生回路か
らの出力信号を所定の直流電圧と比較するコンパレータ
と、前記所定の直流電圧または前記信号発生回路からの
出力信号のバイアス電圧を、位相データに応じて可変す
る電圧可変手段と、前記コンパレータの出力パルスに同
期し、該出力パルスと同一周波数のデューティ比1対1
の矩形波信号を出力するタイマ回路と、前記磁束変化検
出手段からの検出信号を、前記タイマ回路からの矩形波
信号によって同期検波する検波回路と、前記検波回路か
らの検波出力に基づいて、前記物品に含まれる金属の有
無を判定する判定手段とを備えている。
め、第1の発明の金属検出装置は、所定周波数の交流信
号によって交番磁界を発生する磁界発生手段と、前記交
番磁界内を通過する物品による磁束変化に対応した検出
信号を出力する磁束変化検出手段と、前記磁界発生手段
の交流信号と同一の繰り返し周波数で振幅が周期変化す
る信号を出力する信号発生回路と、前記信号発生回路か
らの出力信号を所定の直流電圧と比較するコンパレータ
と、前記所定の直流電圧または前記信号発生回路からの
出力信号のバイアス電圧を、位相データに応じて可変す
る電圧可変手段と、前記コンパレータの出力パルスに同
期し、該出力パルスと同一周波数のデューティ比1対1
の矩形波信号を出力するタイマ回路と、前記磁束変化検
出手段からの検出信号を、前記タイマ回路からの矩形波
信号によって同期検波する検波回路と、前記検波回路か
らの検波出力に基づいて、前記物品に含まれる金属の有
無を判定する判定手段とを備えている。
【0015】また、第2の発明の金属検出装置は、所定
周波数の基準信号を2N(Nは整数)分周した周波数の
交流信号によって交番磁界を発生する磁界発生手段と、
前記交番磁界内を通過する物品による磁束変化に対応し
た検出信号を出力する磁束変化検出手段と、前記基準信
号と同一の繰り返し周波数で振幅が周期変化する信号を
出力する信号発生回路と、前記信号発生回路からの出力
信号を所定の直流電圧と比較するコンパレータと、前記
所定の直流電圧または信号発生回路からの出力信号のバ
イアス電圧を、位相データに応じて可変する電圧可変手
段と、前記コンパレータの出力パルスを2N分周して、
デューティ比1対1の矩形波信号を出力する分周器と、
前記磁束変化検出手段からの検出信号を、前記分周器か
らの矩形波信号によって同期検波する検波回路と、前記
検波回路からの検波出力に基づいて、前記物品に含まれ
る金属の有無を判定する判定手段とを備えている。
周波数の基準信号を2N(Nは整数)分周した周波数の
交流信号によって交番磁界を発生する磁界発生手段と、
前記交番磁界内を通過する物品による磁束変化に対応し
た検出信号を出力する磁束変化検出手段と、前記基準信
号と同一の繰り返し周波数で振幅が周期変化する信号を
出力する信号発生回路と、前記信号発生回路からの出力
信号を所定の直流電圧と比較するコンパレータと、前記
所定の直流電圧または信号発生回路からの出力信号のバ
イアス電圧を、位相データに応じて可変する電圧可変手
段と、前記コンパレータの出力パルスを2N分周して、
デューティ比1対1の矩形波信号を出力する分周器と、
前記磁束変化検出手段からの検出信号を、前記分周器か
らの矩形波信号によって同期検波する検波回路と、前記
検波回路からの検波出力に基づいて、前記物品に含まれ
る金属の有無を判定する判定手段とを備えている。
【0016】また、第3の発明の金属検出装置は、所定
周波数の交流信号によって交番磁界を発生する磁界発生
手段と、前記交番磁界内を通過する物品による磁束変化
に対応した検出信号を出力する磁束変化検出手段と、任
意の位相データに対応した時間データを設定する時間デ
ータ設定手段と、前記磁界発生手段の交流信号と同一周
波のパルス信号を受け、該パルス信号の一方のレベルへ
の状態遷移時点から、前記時間データ設定手段の時間デ
ータ分遅れた第一のタイミングに、出力パルスのレベル
を一方のレベルにセットするセット手段と、前記第1の
タイミングから前記パルス信号半周期分の時間だけ遅れ
た第2のタイミングに、前記セットされた出力パルスの
レベルを他方のレベルにリセットするリセット手段と、
前記セット手段およびリセット手段によってセット、リ
セットされる前記出力パルスによって、前記磁束変化検
出手段からの検出信号を同期検波する検波回路と、前記
検波回路からの検波出力に基づいて、前記物品に含まれ
る金属の有無を判定する判定手段とを備えている。
周波数の交流信号によって交番磁界を発生する磁界発生
手段と、前記交番磁界内を通過する物品による磁束変化
に対応した検出信号を出力する磁束変化検出手段と、任
意の位相データに対応した時間データを設定する時間デ
ータ設定手段と、前記磁界発生手段の交流信号と同一周
波のパルス信号を受け、該パルス信号の一方のレベルへ
の状態遷移時点から、前記時間データ設定手段の時間デ
ータ分遅れた第一のタイミングに、出力パルスのレベル
を一方のレベルにセットするセット手段と、前記第1の
タイミングから前記パルス信号半周期分の時間だけ遅れ
た第2のタイミングに、前記セットされた出力パルスの
レベルを他方のレベルにリセットするリセット手段と、
前記セット手段およびリセット手段によってセット、リ
セットされる前記出力パルスによって、前記磁束変化検
出手段からの検出信号を同期検波する検波回路と、前記
検波回路からの検波出力に基づいて、前記物品に含まれ
る金属の有無を判定する判定手段とを備えている。
【0017】
【作用】第1の発明の金属検出装置では、位相データを
変えると、これに応じてコンパレータへの直流電圧また
は信号発生回路のバイアス電圧が変化し、コンパレータ
の比較出力の位相が変化する。このため、位相データに
対応した位相の矩形波信号が、タイマ回路から検波回路
に出力されて、磁束変化検出手段からの検出信号が同期
検波される。
変えると、これに応じてコンパレータへの直流電圧また
は信号発生回路のバイアス電圧が変化し、コンパレータ
の比較出力の位相が変化する。このため、位相データに
対応した位相の矩形波信号が、タイマ回路から検波回路
に出力されて、磁束変化検出手段からの検出信号が同期
検波される。
【0018】また、第2の発明の金属検出装置では、基
準信号を2N分周した周波数の交流信号によって交番磁
界が発生され、基準信号と同一の繰返し周波数で振幅が
周期変化する信号が、信号発生回路からコンパレータに
出力される。
準信号を2N分周した周波数の交流信号によって交番磁
界が発生され、基準信号と同一の繰返し周波数で振幅が
周期変化する信号が、信号発生回路からコンパレータに
出力される。
【0019】位相データが変わると、コンパレータへの
直流電圧または信号発生回路の出力信号のバイアス電圧
が変化し、コンパレータの比較出力の位相が変化する。
このため、位相データに対応した位相を有し、2N分周
されたデューティ比1対1の矩形波信号が分周器から検
波回路へ出力され、磁束変化検出手段からの検出信号が
同期検波される。
直流電圧または信号発生回路の出力信号のバイアス電圧
が変化し、コンパレータの比較出力の位相が変化する。
このため、位相データに対応した位相を有し、2N分周
されたデューティ比1対1の矩形波信号が分周器から検
波回路へ出力され、磁束変化検出手段からの検出信号が
同期検波される。
【0020】また、第3の発明の金属検出装置では,磁
界発生手段の交流信号と同一周波数のパルス信号を受け
てから時間データ分遅れた第1のタイミングに一方のレ
ベルにセットされ、それよりパルス信号の半周期分遅れ
た第2のタイミングにリセットされる出力パルスが、検
波回路に出力され、磁束変化検出手段からの検出信号が
同期検波される。
界発生手段の交流信号と同一周波数のパルス信号を受け
てから時間データ分遅れた第1のタイミングに一方のレ
ベルにセットされ、それよりパルス信号の半周期分遅れ
た第2のタイミングにリセットされる出力パルスが、検
波回路に出力され、磁束変化検出手段からの検出信号が
同期検波される。
【0021】
【第1の実施例】以下、図面に基づいて本発明の第1の
実施例を説明する。
実施例を説明する。
【0022】図1は、第1の実施例の金属検出装置の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【0023】図1において磁界発生部20は、基準信号
発生器21から出力される所定周波数fの基準パルス信
号を、フィルタ回路22に通して正弦波信号に変換して
励振回路23へ入力し、励振回路23によって送信コイ
ル24を励磁する。
発生器21から出力される所定周波数fの基準パルス信
号を、フィルタ回路22に通して正弦波信号に変換して
励振回路23へ入力し、励振回路23によって送信コイ
ル24を励磁する。
【0024】磁束変化検出部25は、送信コイル24か
ら発生する磁束を等量ずつ受ける位置に並んで配置され
た受信コイル26、27と、受信コイル26,27に誘
起される信号を、差動増幅する差動増幅器28とによっ
て構成され、2つの受信コイル26,27は、コンデン
サC0 によって、基準パルス信号の周波数fに同調して
いる。
ら発生する磁束を等量ずつ受ける位置に並んで配置され
た受信コイル26、27と、受信コイル26,27に誘
起される信号を、差動増幅する差動増幅器28とによっ
て構成され、2つの受信コイル26,27は、コンデン
サC0 によって、基準パルス信号の周波数fに同調して
いる。
【0025】一方、この基準パルス信号は、基準パルス
信号と同一周波数の矩形波信号を任意の位相で出力する
ための位相可変回路30へ入力されている。
信号と同一周波数の矩形波信号を任意の位相で出力する
ための位相可変回路30へ入力されている。
【0026】位相可変回路30は、位相データ設定手段
31と、位相データ設定手段31に設定された位相デー
タDpに対応する直流電圧Vpを出力するD/A変換器
32と、D/A変換器32の出力を一方の入力端子に入
力されたコンパレータ33と、基準パルス信号に同期し
た周波数fの三角波信号をコンパレータ33の他方の入
力端子へ出力する三角波信号発生回路34と、コンパレ
ータ33の出力によって起動されるタイマ回路38によ
って構成されている。
31と、位相データ設定手段31に設定された位相デー
タDpに対応する直流電圧Vpを出力するD/A変換器
32と、D/A変換器32の出力を一方の入力端子に入
力されたコンパレータ33と、基準パルス信号に同期し
た周波数fの三角波信号をコンパレータ33の他方の入
力端子へ出力する三角波信号発生回路34と、コンパレ
ータ33の出力によって起動されるタイマ回路38によ
って構成されている。
【0027】この実施例の信号発生回路を形成する三角
波発生回路34は、例えば、図2に示すように、第1の
定電流源35と第2の定電流源36とを、基準パルス信
号のレベル反転に同期して切換わるスイッチ37を介し
てコンデンサCに交互に接続させて、コンデンサCに対
する充電と放電を繰り返し行ない、コンデンサCの端子
電圧を対称な三角波状に変化させている。
波発生回路34は、例えば、図2に示すように、第1の
定電流源35と第2の定電流源36とを、基準パルス信
号のレベル反転に同期して切換わるスイッチ37を介し
てコンデンサCに交互に接続させて、コンデンサCに対
する充電と放電を繰り返し行ない、コンデンサCの端子
電圧を対称な三角波状に変化させている。
【0028】また、タイマ回路38は、コンパレータ3
3の出力の立上りから基準パルス信号の半周期分に等し
いパルス幅(デューティ比1対1)の矩形波信号を出力
するように予め設定されており、例えば、モノマルチ回
路あるいはプリセット型のカウンタで構成されている。
3の出力の立上りから基準パルス信号の半周期分に等し
いパルス幅(デューティ比1対1)の矩形波信号を出力
するように予め設定されており、例えば、モノマルチ回
路あるいはプリセット型のカウンタで構成されている。
【0029】タイマ回路38からの矩形波信号は、検波
回路40に入力されている。検波回路40は、磁束変化
検出部25からの差動出力信号を、タイマ回路38から
の矩形波信号で同期検波し、その検波出力をLPF41
へ出力する。
回路40に入力されている。検波回路40は、磁束変化
検出部25からの差動出力信号を、タイマ回路38から
の矩形波信号で同期検波し、その検波出力をLPF41
へ出力する。
【0030】LPF41は、検波出力に含まれる低周波
成分のみを通過させて、判定回路42へ出力する。
成分のみを通過させて、判定回路42へ出力する。
【0031】判定回路42は、LPF41からの出力信
号と、予め設定されたレベルとを比較して、送信コイル
24と受信コイル26、27の間を通過する物品に金属
が混入しているか否かを判定する。
号と、予め設定されたレベルとを比較して、送信コイル
24と受信コイル26、27の間を通過する物品に金属
が混入しているか否かを判定する。
【0032】この判定回路42の判定結果は、図示しな
い選別装置等に送られ、金属の混入した不良物品と良品
との選別に利用される。
い選別装置等に送られ、金属の混入した不良物品と良品
との選別に利用される。
【0033】次に、この金属検出装置の動作を説明す
る。
る。
【0034】例えば、図3に示すように、鉄金属Fの混
入している物品Wが、交番磁界内に進入すると、一方の
受信コイル26側へ磁束が集中するため、差動出力が生
じる。
入している物品Wが、交番磁界内に進入すると、一方の
受信コイル26側へ磁束が集中するため、差動出力が生
じる。
【0035】一方、図4の(a)に示す基準パルス信号
に対して、位相可変回路30の三角波発生回路34から
は、同図の(b)に示す三角波信号が出力されるた
め、、コンパレータ33の出力は、同図の(c)に示す
ように、この三角波信号が位相データDpに対応した直
流電圧Vpより大きい期間ハイ(H)レベルとなる。
に対して、位相可変回路30の三角波発生回路34から
は、同図の(b)に示す三角波信号が出力されるた
め、、コンパレータ33の出力は、同図の(c)に示す
ように、この三角波信号が位相データDpに対応した直
流電圧Vpより大きい期間ハイ(H)レベルとなる。
【0036】このため、タイマ回路38からは、同図の
(d)に示すように、コンパレータ出力の立上りに同期
して立上り、基準パルス信号の半周期分の期間ハイ
(H)レベルとなるデューティ比1対1の矩形波信号が
出力されることになる。
(d)に示すように、コンパレータ出力の立上りに同期
して立上り、基準パルス信号の半周期分の期間ハイ
(H)レベルとなるデューティ比1対1の矩形波信号が
出力されることになる。
【0037】したがって、タイマ回路38からの矩形波
信号の位相は、基準パルス信号より常にTだけ遅れた位
相となり、直流電圧Vpを変えれば(位相データDpを
可変すれば)、その位相遅れも比例して変化する。
信号の位相は、基準パルス信号より常にTだけ遅れた位
相となり、直流電圧Vpを変えれば(位相データDpを
可変すれば)、その位相遅れも比例して変化する。
【0038】これに対し、差動出力信号の位相は、基準
パルスに対して一定であるため、位相データDpを可変
すれば、差動出力信号に対する矩形波信号の位相が相対
可変されたことになる。
パルスに対して一定であるため、位相データDpを可変
すれば、差動出力信号に対する矩形波信号の位相が相対
可変されたことになる。
【0039】したがって、予め、物品W自信による磁束
への影響が最も少なくなる位相データDpを設定してお
けば、検波回路40の混入金属に対する検出感度が高く
なる。
への影響が最も少なくなる位相データDpを設定してお
けば、検波回路40の混入金属に対する検出感度が高く
なる。
【0040】このようにして、最適な位相で同期検波さ
れた出力は、LPF41を介して判定回路42へ送られ
る。
れた出力は、LPF41を介して判定回路42へ送られ
る。
【0041】判定回路42では、図5に示すように、混
入されている鉄金属Fの移動にともなって変化する検波
信号と、所定の判定規準値Hとが比較され、金属の混入
が検出される。
入されている鉄金属Fの移動にともなって変化する検波
信号と、所定の判定規準値Hとが比較され、金属の混入
が検出される。
【0042】
【第2の実施例】前記実施例では、規準パルス信号と同
一周波数fでデューティ比1:1の矩形波を出力するよ
うに、タイマ回路38を予め調整等によって設定してい
たが、この調整を不要にした例を、第2の実施例として
以下に説明する。
一周波数fでデューティ比1:1の矩形波を出力するよ
うに、タイマ回路38を予め調整等によって設定してい
たが、この調整を不要にした例を、第2の実施例として
以下に説明する。
【0043】図6は、第2の実施例の金属検出装置の構
成を示している。なお、第1の実施例と同一のものにつ
いては同一符号を付して説明を省略する。
成を示している。なお、第1の実施例と同一のものにつ
いては同一符号を付して説明を省略する。
【0044】この金属検出装置では、基準信号発生器2
1から、周波数2fの基準パルス信号を出力させ、この
基準パルス信号を第1の分周器50によって1/2に分
周してフィルタ回路22へ出力する。
1から、周波数2fの基準パルス信号を出力させ、この
基準パルス信号を第1の分周器50によって1/2に分
周してフィルタ回路22へ出力する。
【0045】この周波数2fの基準信号は、位相可変回
路30の三角波発生回路34入力され、また、コンパレ
ータ33の出力は、第2の分周器51を介して1/2に
分周されて、検波回路40へ供給される。
路30の三角波発生回路34入力され、また、コンパレ
ータ33の出力は、第2の分周器51を介して1/2に
分周されて、検波回路40へ供給される。
【0046】このように構成された金属検出装置では、
前記第1の実施例と同様に、送信コイル24は周波数f
の交流信号によって励磁され、受信コイル26、27の
差動出力は、検波回路40に入力される。
前記第1の実施例と同様に、送信コイル24は周波数f
の交流信号によって励磁され、受信コイル26、27の
差動出力は、検波回路40に入力される。
【0047】一方、三角波発生回路34は、図7の
(a)に示す周波数2fの基準パルス信号を受け、この
信号に同期した周波数fの三角波信号を、同図の(b)
に示すように出力する。
(a)に示す周波数2fの基準パルス信号を受け、この
信号に同期した周波数fの三角波信号を、同図の(b)
に示すように出力する。
【0048】この三角波信号は、コンパレータ33にお
いてD/A変換器32からの直流電圧Vpと比較され、
コンパレータ33から、同図の(c)に示すパルス信号
が出力される。
いてD/A変換器32からの直流電圧Vpと比較され、
コンパレータ33から、同図の(c)に示すパルス信号
が出力される。
【0049】第2の分周器51は、同図の(d)に示す
ように、コンパレータ33の出力パルスの立上がり毎に
レベルが反転する周波数fの矩形波信号をデューティ比
1対1で分周出力する。
ように、コンパレータ33の出力パルスの立上がり毎に
レベルが反転する周波数fの矩形波信号をデューティ比
1対1で分周出力する。
【0050】この矩形波信号の位相は、位相データDp
に対応した直流電圧Vpの変化に追従して可変される。
に対応した直流電圧Vpの変化に追従して可変される。
【0051】一方、第1の分周器50の分周信号の位相
は一定であるため、第2の分周器51からの矩形波信号
の位相は、差動出力信号の位相に対して相対的に可変さ
れることになる。
は一定であるため、第2の分周器51からの矩形波信号
の位相は、差動出力信号の位相に対して相対的に可変さ
れることになる。
【0052】したがって、前記第1の実施例と同様に、
物品による磁界への影響が最も小さくなるように位相デ
ータDpを設定すれば、高い検出感度で混入金属を検出
することができる。
物品による磁界への影響が最も小さくなるように位相デ
ータDpを設定すれば、高い検出感度で混入金属を検出
することができる。
【0053】また、この第2の実施例では、基準パルス
信号の周波数を任意に可変した場合でも、第2の分周器
51からは、常に送信コイル24の励磁している交流信
号の周波数と等しい周波数でデューティ比1対1の矩形
波信号が得られる。
信号の周波数を任意に可変した場合でも、第2の分周器
51からは、常に送信コイル24の励磁している交流信
号の周波数と等しい周波数でデューティ比1対1の矩形
波信号が得られる。
【0054】このため、前記第1の実施例のタイマ回路
38のように時定数の調整やプリセット値の設定等をし
なくて済み、より安定で調整箇所の少ない金属検出装置
を実現できる。
38のように時定数の調整やプリセット値の設定等をし
なくて済み、より安定で調整箇所の少ない金属検出装置
を実現できる。
【0055】なお、この実施例では、第1、第2の分周
器50、51の分周比が2の場合について説明したが、
分周器の一般的な回路構成を考慮すると、その分周比が
偶数、即ち2N(Nは整数)であれば、分周器の最後段
に2分周器を設けることによってデューティ比1対1の
矩形波を出力できる。
器50、51の分周比が2の場合について説明したが、
分周器の一般的な回路構成を考慮すると、その分周比が
偶数、即ち2N(Nは整数)であれば、分周器の最後段
に2分周器を設けることによってデューティ比1対1の
矩形波を出力できる。
【0056】なお、前記第1、第2の実施例では、位相
データに対応した直流電圧と、三角波信号との比較出力
をタイマ回路あるいは分周器に入力していたが、図8に
示すような処理手順を繰返し実行するCPUによって、
位相可変回路を構成するようにしてもよい。
データに対応した直流電圧と、三角波信号との比較出力
をタイマ回路あるいは分周器に入力していたが、図8に
示すような処理手順を繰返し実行するCPUによって、
位相可変回路を構成するようにしてもよい。
【0057】即ち、基準パルスの立上がタイミングが検
知されたら、タイマをスタートさせ、予め位相データに
対応した設定された時間データDtが経過したタイミン
グ(第1のタイミング)に出力パルスをハイ(H)レベ
ルにセットし、タイマをスタートさせる。
知されたら、タイマをスタートさせ、予め位相データに
対応した設定された時間データDtが経過したタイミン
グ(第1のタイミング)に出力パルスをハイ(H)レベ
ルにセットし、タイマをスタートさせる。
【0058】そして、このタイマ時間が基準パルスの半
周期分T0 に達したタイミング(第2のタイミング)に
出力パルスのリセットを行う。
周期分T0 に達したタイミング(第2のタイミング)に
出力パルスのリセットを行う。
【0059】この処理を行うことにより、デューティ比
1:1の矩形波信号を検波回路40に出力することがで
き、時間データDtを可変すれば、差動出力信号に対す
る矩形波信号(出力パルス)の位相を微細に可変でき
る。
1:1の矩形波信号を検波回路40に出力することがで
き、時間データDtを可変すれば、差動出力信号に対す
る矩形波信号(出力パルス)の位相を微細に可変でき
る。
【0060】また、このタイマ時間T0 を、基準パルス
信号の周波数に追従して可変設定できるようにしておけ
ば、前記第2の実施例と同様に無調整化が可能となる。
信号の周波数に追従して可変設定できるようにしておけ
ば、前記第2の実施例と同様に無調整化が可能となる。
【0061】また、前記第1、第2の実施例では、三角
波信号に対する直流電圧の可変によって、矩形波の位相
を可変するようにしていたが、これは本発明を限定する
ものではなく、入力されるパルス信号に同期して振幅が
周期変化する信号であればよく、非対称な三角波(のこ
ぎり波)や正弦波でもよい。また、コンパレータに対す
る直流電圧を固定して、三角波信号のバイアス電圧を位
相データに応じて可変するようにしてもよい。
波信号に対する直流電圧の可変によって、矩形波の位相
を可変するようにしていたが、これは本発明を限定する
ものではなく、入力されるパルス信号に同期して振幅が
周期変化する信号であればよく、非対称な三角波(のこ
ぎり波)や正弦波でもよい。また、コンパレータに対す
る直流電圧を固定して、三角波信号のバイアス電圧を位
相データに応じて可変するようにしてもよい。
【0062】なお、前記各実施例では、交番磁界を発生
する送信コイル24に対向する位置に2つの受信コイル
26、27を配置し、その間に物品を通過させるように
していたが、これは、本発明を限定するものでなく、例
えば、送信コイルをはさむ位置に2つの受信コイルを同
軸状に並べ、物品を各コイルの中を通過させるようにし
てもよく、また、大径の送信コイルの内側に小径の受信
コイルを並べるように配置してもよい。
する送信コイル24に対向する位置に2つの受信コイル
26、27を配置し、その間に物品を通過させるように
していたが、これは、本発明を限定するものでなく、例
えば、送信コイルをはさむ位置に2つの受信コイルを同
軸状に並べ、物品を各コイルの中を通過させるようにし
てもよく、また、大径の送信コイルの内側に小径の受信
コイルを並べるように配置してもよい。
【0063】さらに、磁束変化を検出するためのセンサ
として、受信コイルの代りに磁気センサ(ホール素子
等)を用いてもよい。
として、受信コイルの代りに磁気センサ(ホール素子
等)を用いてもよい。
【0064】また、前記実施例では、三角波信号を定電
流源による充放電によって発生させていたが、抵抗とコ
ンデンサによる積分回路に基準パルスで直接充放電を行
うようにしてもよい。
流源による充放電によって発生させていたが、抵抗とコ
ンデンサによる積分回路に基準パルスで直接充放電を行
うようにしてもよい。
【0065】
【発明の効果】第1の発明の金属検出装置は、前記説明
のように、交番磁界を発生させる交流信号と同一の繰返
し周波数で振幅が周期変化する信号と、位相データに対
応した直流電圧とをコンパレータによって比較し、その
比較出力に同期したデューティ比1対1の矩形波信号を
タイマ回路から検波回路へ出力して、磁束変化検出手段
からの検出信号を同期検波するように構成されている。
のように、交番磁界を発生させる交流信号と同一の繰返
し周波数で振幅が周期変化する信号と、位相データに対
応した直流電圧とをコンパレータによって比較し、その
比較出力に同期したデューティ比1対1の矩形波信号を
タイマ回路から検波回路へ出力して、磁束変化検出手段
からの検出信号を同期検波するように構成されている。
【0066】また、第3の発明の金属検出装置は、交番
磁界を発生させる交流信号と同一周波数のパルス信号の
立上り(立下がり)から、位相データに対応した時間デ
ータ分遅れた第1のタイミングに、出力パルスを一方の
レベルにセットし、さらにパルス信号の半周期分遅れた
第2のタイミングに、出力パルスを他方のレベルへリセ
ットして得られるデューティ比1対1の矩形波信号によ
って、検出信号を同期検波している。
磁界を発生させる交流信号と同一周波数のパルス信号の
立上り(立下がり)から、位相データに対応した時間デ
ータ分遅れた第1のタイミングに、出力パルスを一方の
レベルにセットし、さらにパルス信号の半周期分遅れた
第2のタイミングに、出力パルスを他方のレベルへリセ
ットして得られるデューティ比1対1の矩形波信号によ
って、検出信号を同期検波している。
【0067】このため、位相データを可変することで、
検出信号に対する矩形波信号の相対位相を、格段に細か
い精度で任意に可変設定でき、高感度で安定した金属検
出を行うことができる。
検出信号に対する矩形波信号の相対位相を、格段に細か
い精度で任意に可変設定でき、高感度で安定した金属検
出を行うことができる。
【0068】また、第2の発明の金属検出装置は、基準
信号を2N分周した周波数の交流信号によって交番磁界
を発生させ、基準信号と同一の繰返し周波数で振幅が周
期変化する信号と位相データに応じた直流電圧とをコン
パレータによって比較し、その比較出力を分周器によっ
て2N分周して検波回路へ出力するように構成されてい
る。
信号を2N分周した周波数の交流信号によって交番磁界
を発生させ、基準信号と同一の繰返し周波数で振幅が周
期変化する信号と位相データに応じた直流電圧とをコン
パレータによって比較し、その比較出力を分周器によっ
て2N分周して検波回路へ出力するように構成されてい
る。
【0069】このため、前記効果に加えて、基準信号の
周波数の変化に無調整で追従する安定な矩形波信号を常
に検波回路へ出力できるという格別の効果がある。
周波数の変化に無調整で追従する安定な矩形波信号を常
に検波回路へ出力できるという格別の効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例の構成を示すブロック図
である。
である。
【図2】第1の実施例の要部の回路例を示す図である。
【図3】第1の実施例の動作を説明するための概略図で
ある。
ある。
【図4】第1の実施例の要部の動作を説明するためのタ
イミング図である。
イミング図である。
【図5】第1の実施例の要部の動作を説明するためのタ
イミング図である。
イミング図である。
【図6】本発明の第2の実施例の構成を示すブロック図
である。
である。
【図7】第2の実施例の要部の動作を説明するためのタ
イミング図である。
イミング図である。
【図8】本発明の他の実施例の処理手順を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図9】従来装置の構成を示すブロック図である。
20 磁界発生部 25 磁束変化検出部 30 位相可変回路 31 位相データ設定手段 32 D/A変換器 33 コンパレータ 34 三角波発生回路 38 タイマ回路 40 検波回路 42 判定回路 50 第1の分周器 51 第2の分周器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】所定周波数の交流信号によって交番磁界を
発生する磁界発生手段と、前記交番磁界内を通過する物
品による磁束変化に対応した検出信号を出力する磁束変
化検出手段と、前記磁界発生手段の交流信号と同一の繰
り返し周波数で振幅が周期変化する信号を出力する信号
発生回路と、前記信号発生回路からの出力信号を所定の
直流電圧と比較するコンパレータと、前記所定の直流電
圧または前記信号発生回路からの出力信号のバイアス電
圧を、位相データに応じて可変する電圧可変手段と、前
記コンパレータの出力パルスに同期し、該出力パルスと
同一周波数のデューティ比1対1の矩形波信号を出力す
るタイマ回路と、前記磁束変化検出手段からの検出信号
を、前記タイマ回路からの矩形波信号によって同期検波
する検波回路と、前記検波回路からの検波出力に基づい
て、前記物品に含まれる金属の有無を判定する判定手段
とを備えた金属検出装置。 【請求項2】所定周波数の基準信号を2N(Nは整数)
分周した周波数の交流信号によって交番磁界を発生する
磁界発生手段と、前記交番磁界内を通過する物品による
磁束変化に対応した検出信号を出力する磁束変化検出手
段と、前記基準信号と同一の繰り返し周波数で振幅が周
期変化する信号を出力する信号発生回路と、前記信号発
生回路からの出力信号を所定の直流電圧と比較するコン
パレータと、前記所定の直流電圧または信号発生回路か
らの出力信号のバイアス電圧を、位相データに応じて可
変する電圧可変手段と、前記コンパレータの出力パルス
を2N分周して、デューティ比1対1の矩形波信号を出
力する分周器と、前記磁束変化検出手段からの検出信号
を、前記分周器からの矩形波信号によって同期検波する
検波回路と、前記検波回路からの検波出力に基づいて、
前記物品に含まれる金属の有無を判定する判定手段とを
備えた金属検出装置。 【請求項3】所定周波数の交流信号によって交番磁界を
発生する磁界発生手段と、前記交番磁界内を通過する物
品による磁束変化に対応した検出信号を出力する磁束変
化検出手段と、任意の位相データに対応した時間データ
を設定する時間データ設定手段と、前記磁界発生手段の
交流信号と同一周波のパルス信号を受け、該パルス信号
の一方のレベルへの状態遷移時点から、前記時間データ
設定手段の時間データ分遅れた第一のタイミングに、出
力パルスのレベルを一方のレベルにセットするセット手
段と、前記第1のタイミングから前記パルス信号半周期
分の時間だけ遅れた第2のタイミングに、前記セットさ
れた出力パルスのレベルを他方のレベルにリセットする
リセット手段と、前記セット手段およびリセット手段に
よってセット、リセットされる前記出力パルスによっ
て、前記磁束変化検出手段からの検出信号を同期検波す
る検波回路と、前記検波回路からの検波出力に基づい
て、前記物品に含まれる金属の有無を判定する判定手段
とを備えた金属検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27686691A JPH055784A (ja) | 1990-11-30 | 1991-09-27 | 金属検出装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-339238 | 1990-11-30 | ||
| JP33923890 | 1990-11-30 | ||
| JP27686691A JPH055784A (ja) | 1990-11-30 | 1991-09-27 | 金属検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH055784A true JPH055784A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=26552143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27686691A Pending JPH055784A (ja) | 1990-11-30 | 1991-09-27 | 金属検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH055784A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100355575B1 (ko) * | 1999-08-12 | 2002-10-12 | 복 순 김 | 게이트형 금속탐지기 |
| WO2004023642A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-18 | Niigata Seimitsu Co., Ltd. | 受信機およびその調整システム、方法 |
| EP1714612A2 (en) | 2005-04-19 | 2006-10-25 | Hitachi, Ltd. | Movement analysis display apparatus and movement analyzing method |
| US7202661B2 (en) | 2003-09-23 | 2007-04-10 | Qinetiq Limited | Apparatus and method for establishing the positions of metal objects in an input stream |
| US7455648B2 (en) | 2003-09-22 | 2008-11-25 | Hitachi, Ltd. | Living body inspection apparatus |
| JP2012083345A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Mettler-Toledo Safeline Ltd | 金属検出システム作動方法及び金属検出システム |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP27686691A patent/JPH055784A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100355575B1 (ko) * | 1999-08-12 | 2002-10-12 | 복 순 김 | 게이트형 금속탐지기 |
| WO2004023642A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-18 | Niigata Seimitsu Co., Ltd. | 受信機およびその調整システム、方法 |
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| US7892189B2 (en) | 2005-04-19 | 2011-02-22 | Hitachi, Ltd. | Movement analysis display apparatus and movement analyzing method |
| JP2012083345A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Mettler-Toledo Safeline Ltd | 金属検出システム作動方法及び金属検出システム |
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