JPH055835A - 電子スチルカメラの測距装置 - Google Patents
電子スチルカメラの測距装置Info
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- JPH055835A JPH055835A JP3181942A JP18194291A JPH055835A JP H055835 A JPH055835 A JP H055835A JP 3181942 A JP3181942 A JP 3181942A JP 18194291 A JP18194291 A JP 18194291A JP H055835 A JPH055835 A JP H055835A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被写体の形状や反射率に影響されないで、信
頼性のある測距データを求める。 【構成】 投光部５から投光され、被写体２４で反射さ
れたスポット光はレンズ１１を介してＣＣＤ２５に入射
し、スポット光の成分電荷を蓄積する。この成分電荷を
含んだ電気信号はアンプ３５，映像信号処理回路３６を
介して、パターン検出回路３８に送られる。パターン検
出回路３８は成分電荷の分布から受光パターンを検出
し、これに対応したデータを補正回路３９に送る。補正
回路３９は受光パターンが投光パターンと対応していな
い場合には、前記データを投光パターンに対応するよう
に補正し、これを演算部４０に送る。演算部４０は補正
後のデータから重心を求め、この重心の位置から測距デ
ータを算出する。
頼性のある測距データを求める。 【構成】 投光部５から投光され、被写体２４で反射さ
れたスポット光はレンズ１１を介してＣＣＤ２５に入射
し、スポット光の成分電荷を蓄積する。この成分電荷を
含んだ電気信号はアンプ３５，映像信号処理回路３６を
介して、パターン検出回路３８に送られる。パターン検
出回路３８は成分電荷の分布から受光パターンを検出
し、これに対応したデータを補正回路３９に送る。補正
回路３９は受光パターンが投光パターンと対応していな
い場合には、前記データを投光パターンに対応するよう
に補正し、これを演算部４０に送る。演算部４０は補正
後のデータから重心を求め、この重心の位置から測距デ
ータを算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は投光式の電子スチルカメ
ラの測距装置に関するものである。
ラの測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ピントの合った撮像を行なえるように、
投光部から測距光を投光し、被写体で反射された測距光
を撮像レンズを介して、被写体像を電気信号に変換する
固体撮像素子例えばＣＣＤに受光させ、この受光位置か
ら被写体距離に対応する測距データを算出する測距装置
を内蔵した電子スチルカメラが特願平２−２３８００１
号の明細書に記載されている。前記測距装置では測距光
をスポット状にして投光しているから、ＣＣＤに受光さ
れる受光パターンはスポット像となる。スポット像の重
心はスポット光の中心と一致するから、前記電子スチル
カメラでは重心を求めて前記入射位置を特定している。
投光部から測距光を投光し、被写体で反射された測距光
を撮像レンズを介して、被写体像を電気信号に変換する
固体撮像素子例えばＣＣＤに受光させ、この受光位置か
ら被写体距離に対応する測距データを算出する測距装置
を内蔵した電子スチルカメラが特願平２−２３８００１
号の明細書に記載されている。前記測距装置では測距光
をスポット状にして投光しているから、ＣＣＤに受光さ
れる受光パターンはスポット像となる。スポット像の重
心はスポット光の中心と一致するから、前記電子スチル
カメラでは重心を求めて前記入射位置を特定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記ス
ポット光を図４に示すように主要被写体２に投光する
と、受光パターンはスポット像ではなくて、図５に斜線
で示す部分円３となる。このため、上述した電子スチル
カメラで求める入射位置は部分円３の重心Ｇ1 となり、
この重心Ｇ1 はスポット像の重心Ｇ0 から基線長Ｈ方向
にずれているので、正確な測距データが得られないとい
う問題が生じる。本発明は正確な測距データが得られる
電子スチルカメラの測距装置を提供することを目的とす
る。
ポット光を図４に示すように主要被写体２に投光する
と、受光パターンはスポット像ではなくて、図５に斜線
で示す部分円３となる。このため、上述した電子スチル
カメラで求める入射位置は部分円３の重心Ｇ1 となり、
この重心Ｇ1 はスポット像の重心Ｇ0 から基線長Ｈ方向
にずれているので、正確な測距データが得られないとい
う問題が生じる。本発明は正確な測距データが得られる
電子スチルカメラの測距装置を提供することを目的とす
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の測距装置では投光手段から投光され、被
写体で反射された測距光を撮像レンズを介して受光する
とともに、撮像レンズで結像された被写体像を電気信号
に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測距光の
成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光パター
ンを検出するパターン検出回路と、受光パターンを前記
投光パターンに対応するように補正して、その重心を検
出する検出手段と、前記重心の位置から被写体距離に対
応した測距データを演算する演算部とを設けている。ま
た請求項２の測距装置は、投光手段から投光され、被写
体で反射された測距光を撮像レンズを介して受光すると
ともに、前記撮像レンズで結像された被写体像を電気信
号に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測距光
の成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光パタ
ーンを検出するパターン検出回路と、受光パターンが測
距光の投光パターンに対応していないときには、受光パ
ターンを前記投光パターンに対応するように補正する補
正回路と、補正後の受光パターンから、その重心を検出
する検出回路と、前記重心の位置から被写体距離に対応
した測距データを演算する演算部とを設け、前記受光パ
ターンの輪郭が前記投光パターンの輪郭に全く対応して
いないときには、受光パターンの重心から測距データを
求めている。
に、請求項１の測距装置では投光手段から投光され、被
写体で反射された測距光を撮像レンズを介して受光する
とともに、撮像レンズで結像された被写体像を電気信号
に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測距光の
成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光パター
ンを検出するパターン検出回路と、受光パターンを前記
投光パターンに対応するように補正して、その重心を検
出する検出手段と、前記重心の位置から被写体距離に対
応した測距データを演算する演算部とを設けている。ま
た請求項２の測距装置は、投光手段から投光され、被写
体で反射された測距光を撮像レンズを介して受光すると
ともに、前記撮像レンズで結像された被写体像を電気信
号に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測距光
の成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光パタ
ーンを検出するパターン検出回路と、受光パターンが測
距光の投光パターンに対応していないときには、受光パ
ターンを前記投光パターンに対応するように補正する補
正回路と、補正後の受光パターンから、その重心を検出
する検出回路と、前記重心の位置から被写体距離に対応
した測距データを演算する演算部とを設け、前記受光パ
ターンの輪郭が前記投光パターンの輪郭に全く対応して
いないときには、受光パターンの重心から測距データを
求めている。
【０００５】
【実施例】図３は本発明の測距装置を内蔵した電子スチ
ルカメラを示すものであり、この電子スチルカメラ１０
の前面には、撮像用のレンズ１１，ストロボ発光部１２
及び測距光を投光する投光部１３が設けられている。上
面にはレリーズボタン１４，側面には映像信号が記録さ
れるメモリカートリッジ１５を装填する装填口１６が設
けられている。なお、符号１１ａ，１３ａはレンズ１１
の光軸，測距光の投光光軸をそれぞれ示し、また符号Ｈ
は基線長を示している。前記投光部１３はレンズ１１の
上方に配置されているから、基線長方向はこの電子スチ
ルカメラ１０の垂直方向となる。
ルカメラを示すものであり、この電子スチルカメラ１０
の前面には、撮像用のレンズ１１，ストロボ発光部１２
及び測距光を投光する投光部１３が設けられている。上
面にはレリーズボタン１４，側面には映像信号が記録さ
れるメモリカートリッジ１５を装填する装填口１６が設
けられている。なお、符号１１ａ，１３ａはレンズ１１
の光軸，測距光の投光光軸をそれぞれ示し、また符号Ｈ
は基線長を示している。前記投光部１３はレンズ１１の
上方に配置されているから、基線長方向はこの電子スチ
ルカメラ１０の垂直方向となる。
【０００６】前記レンズ１１は光軸１１ａ上にスライド
自在に設けられており、その移動は図２に示すモータ２
６により行われる。このレンズ１１の初期位置は無限遠
に設定されており、この初期位置にレンズ１１が移動さ
れた状態で、前記測距光が投光される。この初期位置か
ら距離ｆ1 後方には、被写体像を電気信号に変換する固
体撮像素子例えばＣＣＤ２５が設けられている。また、
前記投光部１３は投光レンズ２０，規制板２１及び測距
光を発する発光ダイオード２２から構成されている。規
制板２１には径Ｌ2 の開口２３が形成されており、測距
光は開口２３でスポット状に整形された後、投光レンズ
２０から被写体２４に向けて投光される。被写体２４で
反射されたスポット光はレンズ１１により径Ｌ1 のスポ
ット像として前記ＣＣＤ２５に結像される。このスポッ
ト像はＣＣＤ２５にスポット光成分の電荷を蓄積する。
なお、投光レンズ２０と規制板２１との距離をｆ2 とす
ると、Ｌ1 ，Ｌ2 との間には、次のような関係式Ｌ2 ＝
Ｌ1 ・ｆ2 ／ｆ1 が成り立つ。このため、前記スポット
像の径Ｌ2 は常に一定となる。
自在に設けられており、その移動は図２に示すモータ２
６により行われる。このレンズ１１の初期位置は無限遠
に設定されており、この初期位置にレンズ１１が移動さ
れた状態で、前記測距光が投光される。この初期位置か
ら距離ｆ1 後方には、被写体像を電気信号に変換する固
体撮像素子例えばＣＣＤ２５が設けられている。また、
前記投光部１３は投光レンズ２０，規制板２１及び測距
光を発する発光ダイオード２２から構成されている。規
制板２１には径Ｌ2 の開口２３が形成されており、測距
光は開口２３でスポット状に整形された後、投光レンズ
２０から被写体２４に向けて投光される。被写体２４で
反射されたスポット光はレンズ１１により径Ｌ1 のスポ
ット像として前記ＣＣＤ２５に結像される。このスポッ
ト像はＣＣＤ２５にスポット光成分の電荷を蓄積する。
なお、投光レンズ２０と規制板２１との距離をｆ2 とす
ると、Ｌ1 ，Ｌ2 との間には、次のような関係式Ｌ2 ＝
Ｌ1 ・ｆ2 ／ｆ1 が成り立つ。このため、前記スポット
像の径Ｌ2 は常に一定となる。
【０００７】電子スチルカメラの電気的構成を示す図１
において、被写体２４で反射されたスポット光及び被写
体２４からの光は前記レンズ１１を介して、４５度の傾
きで固定されたハーフミラー３０に入射する。このハー
フミラー３０に入射した光の半分は反射され、ペンタプ
リズム３１の下面に設けられたピントグラス３２に結像
される。このピントグラス３２上に結像された被写体像
はファインダ接眼レンズ３３を介して観察される。また
残りの光は透過し、前記ＣＣＤ２５に結像される。
において、被写体２４で反射されたスポット光及び被写
体２４からの光は前記レンズ１１を介して、４５度の傾
きで固定されたハーフミラー３０に入射する。このハー
フミラー３０に入射した光の半分は反射され、ペンタプ
リズム３１の下面に設けられたピントグラス３２に結像
される。このピントグラス３２上に結像された被写体像
はファインダ接眼レンズ３３を介して観察される。また
残りの光は透過し、前記ＣＣＤ２５に結像される。
【０００８】前記ＣＣＤ２５にはアンプ３５を介して、
電気信号を映像信号に変換する映像信号処理回路３６が
接続されている。この映像信号処理回路３６には前記メ
モリカートリッジ１５に映像信号を書き込む記録部３７
と、映像信号からスポット光成分の電荷を検出して、そ
の電荷分布から受光パターンを検出するパターン検出回
路３８が接続されている。ところで、前記スポット光が
図４に示すように主要被写体２に投光されると、ＣＣＤ
２５に結像する受光パターンは図５に斜線で示すような
部分円３となる。このパターン検出回路３８には補正回
路３９が接続されており、この補正回路３９は前記部分
円３と径Ｌ2 から図中一点鎖線で示す部分円３ａを類推
して、受光パターンを完全な円に補正する。補正回路３
９には円の重心を求め、その重心の位置から測距データ
を演算する演算部４０が接続されており、この演算部４
０は得られた測距データを電子スチルカメラ１０の制御
を行うマイコン４１に送る。
電気信号を映像信号に変換する映像信号処理回路３６が
接続されている。この映像信号処理回路３６には前記メ
モリカートリッジ１５に映像信号を書き込む記録部３７
と、映像信号からスポット光成分の電荷を検出して、そ
の電荷分布から受光パターンを検出するパターン検出回
路３８が接続されている。ところで、前記スポット光が
図４に示すように主要被写体２に投光されると、ＣＣＤ
２５に結像する受光パターンは図５に斜線で示すような
部分円３となる。このパターン検出回路３８には補正回
路３９が接続されており、この補正回路３９は前記部分
円３と径Ｌ2 から図中一点鎖線で示す部分円３ａを類推
して、受光パターンを完全な円に補正する。補正回路３
９には円の重心を求め、その重心の位置から測距データ
を演算する演算部４０が接続されており、この演算部４
０は得られた測距データを電子スチルカメラ１０の制御
を行うマイコン４１に送る。
【０００９】このマイコン４１にはレリーズボタン１４
の押圧操作により測距開始信号やレリーズ信号を出力す
る信号発生器１４ａ，前記モータ２６を駆動するレンズ
駆動制御部４３，前記ＣＣＤ２５を駆動する駆動制御部
４５及び発光ダイオード２２を点灯する投光制御部４７
とがそれぞれ接続されている。
の押圧操作により測距開始信号やレリーズ信号を出力す
る信号発生器１４ａ，前記モータ２６を駆動するレンズ
駆動制御部４３，前記ＣＣＤ２５を駆動する駆動制御部
４５及び発光ダイオード２２を点灯する投光制御部４７
とがそれぞれ接続されている。
【００１０】ここで、前記マイコン４１が行う制御につ
いて簡単に触れておく。このマイコン４１は電源がＯＮ
されると、レンズ駆動制御部４３を駆動してレンズ１１
を初期位置に移動する。また信号発生器１４ａから測距
開始信号が出力されると、マイコン４１は駆動制御部４
５を介してＣＣＤ２５を電荷蓄積駆動するとともに、投
光制御部４７を介して発光ダイオード２２を点灯する。
マイコン４１は前記測距データが入力されると、これを
レンズ駆動制御部４３に送り、レンズ１１を合焦位置に
移動する。この状態でレリーズ信号が入力されると、マ
イコン４１は駆動制御部４５のみを駆動して、ＣＣＤ２
５に録画用の撮像を行わせる。
いて簡単に触れておく。このマイコン４１は電源がＯＮ
されると、レンズ駆動制御部４３を駆動してレンズ１１
を初期位置に移動する。また信号発生器１４ａから測距
開始信号が出力されると、マイコン４１は駆動制御部４
５を介してＣＣＤ２５を電荷蓄積駆動するとともに、投
光制御部４７を介して発光ダイオード２２を点灯する。
マイコン４１は前記測距データが入力されると、これを
レンズ駆動制御部４３に送り、レンズ１１を合焦位置に
移動する。この状態でレリーズ信号が入力されると、マ
イコン４１は駆動制御部４５のみを駆動して、ＣＣＤ２
５に録画用の撮像を行わせる。
【００１１】以下、上述した実施例の作用について説明
する。前記測距開始信号が信号発生器１４ａから出力さ
れると、マイコン４１は駆動制御部４５及び投光制御部
４７を駆動する。駆動制御部４５はＣＣＤ２５を電荷蓄
積駆動し、また投光制御部４７はＣＣＤ２５の電荷蓄積
時間に対応して、発光ダイオード２２を点灯させる。
する。前記測距開始信号が信号発生器１４ａから出力さ
れると、マイコン４１は駆動制御部４５及び投光制御部
４７を駆動する。駆動制御部４５はＣＣＤ２５を電荷蓄
積駆動し、また投光制御部４７はＣＣＤ２５の電荷蓄積
時間に対応して、発光ダイオード２２を点灯させる。
【００１２】発光ダイオード２２の点灯により発光した
測距光は、規制板２１によりスポット状に整形された
後、投光レンズ２０により例えば図４に示す主要被写体
２に向けて投光される。このスポット光は斜線で示す部
分が主要被写体２に当たり、反射される。この反射され
た測距光はレンズ１１でＣＣＤ２５に部分円３として結
像され、スポット光成分の電荷を蓄積する。
測距光は、規制板２１によりスポット状に整形された
後、投光レンズ２０により例えば図４に示す主要被写体
２に向けて投光される。このスポット光は斜線で示す部
分が主要被写体２に当たり、反射される。この反射され
た測距光はレンズ１１でＣＣＤ２５に部分円３として結
像され、スポット光成分の電荷を蓄積する。
【００１３】スポット光成分の電荷を含んだ電気信号は
アンプ３５で増幅された後、映像信号処理回路３６で映
像信号に変換され、パターン検出回路３８に送られる。
このパターン検出回路３８は映像信号からスポット光成
分の電荷を抽出し、電荷分布から部分円３を検出して、
部分円３に対応したデータを補正回路３９に送る。な
お、スポット光の投光パターンがすべて主要被写体２に
当たっていても、投光パターンが反射率が大きく異なる
領域に跨がって投光された場合には、パターン検出回路
３８で検出される受光パターンは、投光パターンとの相
似性が崩れることがある。補正回路３９は前記データと
径Ｌ2 のデータから部分円３に対応する円を求め、円の
データを演算部４０に送る。演算部４０では円のデータ
から円の重心を求め、更に重心の位置から測距データを
算出してマイコン４１に送る。この測距データはマイコ
ン４１を介して、レンズ駆動制御部４３に送られる。レ
ンズ駆動制御部４３はモータ２６を駆動し、レンズ１１
を初期位置から合焦位置に移動する。
アンプ３５で増幅された後、映像信号処理回路３６で映
像信号に変換され、パターン検出回路３８に送られる。
このパターン検出回路３８は映像信号からスポット光成
分の電荷を抽出し、電荷分布から部分円３を検出して、
部分円３に対応したデータを補正回路３９に送る。な
お、スポット光の投光パターンがすべて主要被写体２に
当たっていても、投光パターンが反射率が大きく異なる
領域に跨がって投光された場合には、パターン検出回路
３８で検出される受光パターンは、投光パターンとの相
似性が崩れることがある。補正回路３９は前記データと
径Ｌ2 のデータから部分円３に対応する円を求め、円の
データを演算部４０に送る。演算部４０では円のデータ
から円の重心を求め、更に重心の位置から測距データを
算出してマイコン４１に送る。この測距データはマイコ
ン４１を介して、レンズ駆動制御部４３に送られる。レ
ンズ駆動制御部４３はモータ２６を駆動し、レンズ１１
を初期位置から合焦位置に移動する。
【００１４】この状態でレリーズボタン１４が押圧さ
れ、信号発生器１４ａからレリーズ信号が出力される
と、マイコン４１は駆動制御部４５のみを駆動して、Ｃ
ＣＤ２５に録画用の撮像を行わせる。この録画用の電気
信号はアンプ３５を介して、映像信号処理回路３６に送
られ、映像信号に変換される。この映像信号は記録部３
７でメモリカートリッジ１５に書き込まれる。なお、こ
の実施例では投光部１３からスポット状の測距光を投光
したが、その形状はスリット状であってもよい。
れ、信号発生器１４ａからレリーズ信号が出力される
と、マイコン４１は駆動制御部４５のみを駆動して、Ｃ
ＣＤ２５に録画用の撮像を行わせる。この録画用の電気
信号はアンプ３５を介して、映像信号処理回路３６に送
られ、映像信号に変換される。この映像信号は記録部３
７でメモリカートリッジ１５に書き込まれる。なお、こ
の実施例では投光部１３からスポット状の測距光を投光
したが、その形状はスリット状であってもよい。
【００１５】図６は別の測距装置を内蔵した電子スチル
カメラの電気的構成の要部を示すものである。この測距
装置では上記構成のパターン検出回路３８と演算部４０
の間には、判定回路５０，輪郭補正回路５１，検出回路
５２が介在されている。前記判定回路５０はパターン検
出回路３８に接続されており、受光パターンと投光パタ
ーンとの相関度例えば受光パターンの輪郭に円弧が含ま
れているかを判定する。この判定回路５０には輪郭補正
回路５１と検出回路５２が接続されており、相関度が高
い場合には前記受光パターンのデータは輪郭補正回路５
１に、また相関度の低い場合には受光パターンのデータ
は検出回路５２に送られる。輪郭補正回路５１は受光パ
ターンのデータと径Ｌ2 から投光パターンに対応する輪
郭補１を行う。この補正後のデータは検出回路５２に送
られる。この検出回路５２は受光パターンのデータや補
正後のデータから、それぞれの形状に対応した重心を求
める。この重心の位置データは演算部４０に送られる。
このように構成された測距装置では、主要被写体がスポ
ット光の投光領域より小さなものであっても、測距デー
タを正確に求めることができる。
カメラの電気的構成の要部を示すものである。この測距
装置では上記構成のパターン検出回路３８と演算部４０
の間には、判定回路５０，輪郭補正回路５１，検出回路
５２が介在されている。前記判定回路５０はパターン検
出回路３８に接続されており、受光パターンと投光パタ
ーンとの相関度例えば受光パターンの輪郭に円弧が含ま
れているかを判定する。この判定回路５０には輪郭補正
回路５１と検出回路５２が接続されており、相関度が高
い場合には前記受光パターンのデータは輪郭補正回路５
１に、また相関度の低い場合には受光パターンのデータ
は検出回路５２に送られる。輪郭補正回路５１は受光パ
ターンのデータと径Ｌ2 から投光パターンに対応する輪
郭補１を行う。この補正後のデータは検出回路５２に送
られる。この検出回路５２は受光パターンのデータや補
正後のデータから、それぞれの形状に対応した重心を求
める。この重心の位置データは演算部４０に送られる。
このように構成された測距装置では、主要被写体がスポ
ット光の投光領域より小さなものであっても、測距デー
タを正確に求めることができる。
【００１６】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の電
子スチルカメラの測距装置は、被写体像を電気信号に変
換する固体撮像素子と、電気信号から測距光成分の電荷
を検出して、その電荷分布から測距光の受光パターンを
検出するパターン検出回路と、受光パターンが投光パタ
ーンに対応していないときには、補正後の受光パターン
から重心を検出する検出手段と、前記重心の位置から被
写体距離に対応した測距データを演算する演算部とを設
けたので、パターン検出回路で検出された受光パターン
から主要被写体の形状や反射率の違いから生じる影響を
排除することができる。したがって、上記測距装置は正
確な測距データを得ることができる。
子スチルカメラの測距装置は、被写体像を電気信号に変
換する固体撮像素子と、電気信号から測距光成分の電荷
を検出して、その電荷分布から測距光の受光パターンを
検出するパターン検出回路と、受光パターンが投光パタ
ーンに対応していないときには、補正後の受光パターン
から重心を検出する検出手段と、前記重心の位置から被
写体距離に対応した測距データを演算する演算部とを設
けたので、パターン検出回路で検出された受光パターン
から主要被写体の形状や反射率の違いから生じる影響を
排除することができる。したがって、上記測距装置は正
確な測距データを得ることができる。
【図１】電子スチルカメラの電気的構成を示す図であ
る。
る。
【図２】投光部から投光されたスポット光が、ＣＣＤに
入射するまでの光路を示す図である。
入射するまでの光路を示す図である。
【図３】電子スチルカメラの斜視図である。
【図４】スポット光を主要被写体に投光した状態を示す
図である。
図である。
【図５】スポット光の一部が図４に示す主要被写体で反
射されてＣＣＤに入射した状態を示す図である。
射されてＣＣＤに入射した状態を示す図である。
【図６】電子スチルカメラの別の電気的構成の要部を示
す図である。
す図である。
１０ 電子スチルカメラ １１ レンズ １３ 投光部 ２２ 発光ダイオード ２４ 被写体 ２５ ＣＣＤ ３８ パターン検出回路 ３９ 補正回路 ４０ 演算部 ５１ 輪郭補正回路 ５２ 検出回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】測距光を被写体に向けて投光する投光手段
と、被写体で反射された測距光を撮像レンズを介して受
光するとともに、撮像レンズで結像された被写体像を電
気信号に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測
距光の成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光
パターンを検出するパターン検出回路と、前記受光パタ
ーンが測距光の投光パターンに対応していないときに
は、受光パターンを前記投光パターンに対応するように
補正して、その重心を検出する検出手段と、前記重心の
位置から被写体距離に対応した測距データを演算する演
算部とを設けたことを特徴とする電子スチルカメラの測
距装置。 【請求項２】測距光を被写体に向けて投光する投光手段
と、被写体で反射された測距光を撮像レンズを介して受
光するとともに、撮像レンズで結像された被写体像を電
気信号に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測
距光の成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光
パターンを検出するパターン検出回路と、受光パターン
が測距光の投光パターンに対応していないときには、受
光パターンを前記投光パターンに対応するように補正す
る補正回路と、補正後の受光パターンから、その重心を
検出する検出回路と、前記重心の位置から被写体距離に
対応した測距データを演算する演算部とを備え、前記受
光パターンの輪郭が前記投光パターンの輪郭に全く対応
していないときには、受光パターンの重心から測距デー
タを求めるようにしたことを特徴とする電子スチルカメ
ラの測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3181942A JPH055835A (ja) | 1991-06-26 | 1991-06-26 | 電子スチルカメラの測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3181942A JPH055835A (ja) | 1991-06-26 | 1991-06-26 | 電子スチルカメラの測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH055835A true JPH055835A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=16109587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3181942A Pending JPH055835A (ja) | 1991-06-26 | 1991-06-26 | 電子スチルカメラの測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH055835A (ja) |
-
1991
- 1991-06-26 JP JP3181942A patent/JPH055835A/ja active Pending
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