JPH0558501B2 - - Google Patents

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JPH0558501B2
JPH0558501B2 JP61112722A JP11272286A JPH0558501B2 JP H0558501 B2 JPH0558501 B2 JP H0558501B2 JP 61112722 A JP61112722 A JP 61112722A JP 11272286 A JP11272286 A JP 11272286A JP H0558501 B2 JPH0558501 B2 JP H0558501B2
Authority
JP
Japan
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measurement
range
peak level
echo
surface echo
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP61112722A
Other languages
English (en)
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JPS62269058A (ja
Inventor
Yasushi Konomura
Kenichi Sato
Tadashi Muraoka
Takashi Shirai
Hideo Hirakawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP61112722A priority Critical patent/JPS62269058A/ja
Publication of JPS62269058A publication Critical patent/JPS62269058A/ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液槽内に浸漬させて被検体を、自動
走査して測定する超音波測定方法に関し、特に自
動測定開始時にその開始の可否を判別するのに好
適な方法である。
〔従来の技術〕
液槽内に浸漬させた被検体を自動走査して測定
する従来の超音波測定装置の1例を、第4図およ
び第5図を参照して説明する。第4図は装置の構
成を説明するブロツク図で、1は被検体、2は探
触子である。被検体1は本例の場合回転部材で、
チヤツク3で着脱自在に把持される。チヤツク3
は回転装置4に連結されており所定のピツチ角度
で回転させられる。探触子2はホルダ5に取付け
られ、たとえば第5図に示すような走査装置6に
より被検体1の測定面を矢印方向X,Y,Zの3
軸方向に走査し、走査して得られる反射波信号を
超音波測定器8に入力する。入力された信号は
A/D変換器を介してCPU9に送られる。回転
装置4および走査装置6は、CPU9に接続され
ているそれぞれの制御装置7を有しており、回転
装置4および走査装置6の動作を組合わせて制御
することにより各動作、すなわち液槽(通常水を
入れた水槽が多く使用されており以下水槽で説明
する)外における被検体1のチヤツク3への装
着、被検体1の水中への浸漬、ホルダ5に取付け
られている探触子2を浸漬された被検体1の測定
面に一定の距離に対向させて配置する移動、走査
開始、測定位置変更のための被検体1の回転、測
定終了にともなく被検体1のチヤツク3からの取
外し等一連の動作が行われる。れらの各動作は被
検体1の種類に応じた測定用のソフトプログラム
にもとづき、CPU9を介してほぼ自動的に行わ
れる。このため自動走査が開始されると、デイス
プレイに表示される測定値が極端に異常を示す以
外は、たとえ測定開始時における測定条件が不良
であつてもその不良はほとんどの場合、円周上の
全測定位置の測定が終了し、その測定結果から測
定条件の不良に起因する異常値を発見するまで確
認し得ないのが実状であつた。測定値に影響を及
ぼす測定開始時の測定条件は、水の汚れの程度、
被検体1のチヤツク3における把持状態(例えば
斜めにチヤツキングした場合など)、被検体1の
測定面の粗さなどが主なものとして挙げられる。
このうち水の汚れについては従来から作業員の目
視にもとづく判断で交換しており、その判断は個
人差が避けられず、同様に測定値におよぼす影響
についても一定でなく影響が許容限度を超す場合
もある。被検体1の把持状態は、被検体1をいつ
たんチヤツク3に把持させると通常は正しくチヤ
ツキングされるから、再確認しないのが普通であ
り、万一多少斜めにチヤツキングされている場合
でも測定は進行するので気付かないで測定開始さ
れることがほとんどである。測定面の粗さについ
てはいろいろなケースがあり、所定の粗さに加工
されていない場合、加工洩れの場合、測定面に所
定の粗さ以上の傷がある場合、ごみが付着してい
る場合などがありいずれも測定値に影響を及ぼす
が、これらの場合も前記被検体1の把持状態と同
様に測定は進行するので、測定開始時には気付か
ず測定終了後の結果から異常を発見するにとどま
つていた。また測定結果から異常値を発見しても
前記測定開始時のどの測定条件の影響かの判定は
不可能であつた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記従来の法においては、測定開始時における
測定条件がたとえ不良であつてもその不良は、測
定終了後の測定結果から異常値を発見るまで確認
し得ず、また異常値を発見してもどの測定条件の
不良によるものかの判定もできない問題があつ
た。
本発明は前記従来技術の問題点を解消するもの
であつて、被検体の自動測定開始時にその開始の
可否を判別するとともに、開始否の場合における
その原因をも容易に判別することができる超音波
測定方法を提供ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、液に浸漬した被検体の測定面を、該
測定面と前記液を介して一定の距離に対向させた
探触子により、自動走査して測定する超音波測定
方法において、基準試験片を使用し、かつ基準の
測定条件下で、測定面より反射する表面反射波の
エコーのピークレベル出現位置に、該位置を中心
に出現位置のずれを許容する一定の範囲を設定
し、該範囲と、被検体の互いに離れた複数の測定
点における表面エコーの各ピークレベルの出現位
置とを比較し、該各出現位置が前記範囲内か否か
により自動測定の開始の可否を判別するようにし
たことにより、開始可否を短時間に容易かつ実に
判別することができるとともに、開始否の場合に
おける原因を迅速に判別することができるように
した超音波測定方法である。
〔作 用〕
本発明に係わる超音波測定方法は、被検体を液
浸法により自動走査して測定る超音波測定装置を
使用し、被検体の測定に入る前にあらかじめ基準
となる試験片、たとえば被検体のうち寸法、形
状、加工精度等が図面通り正しく製作され合格し
ているものか、または特に基準試験片として製作
したものを使用し、かつ基準の測定条件たとえば
液(水等)が新しくて汚れのないこと、チヤツク
への装着不良がなく正しく測定面と探触子とが相
対していること、測定面に傷やごの付着などがな
いこと等の条件下で、測定装置のCRT上に測定
面の表面エコーを出現させ、該表面エコーのピー
クレベルを中心にビーム路程の方向およびゲイン
方向に、被検体の種類に応じたピークレベルの出
現位置のずれを許容する一定の範囲を設定してお
き、被検体の測定に入つた場合、各被検体の開始
時に被検体の互いに離れた複数(3点以上が望ま
しい)の測定点における各表面エコーのピークレ
ベルの出現位置が、前記設定範囲内にあるか否か
を比較し、範囲内の場合は測定開始可とし、範囲
外の場合は測定条件の不良原因解明のための処理
フロートにもとづき原因を解明し、不良原因が排
除されるまで測定開始を否と判別する方法で、容
易に短時間に判別することができる方法である。
〔実施例〕
本発明の実施例を第1図ないし第3図を参照し
て説明する。第1図は基準試試験片の表面エコー
のピークレベルを中心に設定したピークレベルの
出現位置のずれを許容する範囲の一例を示す図、
第2図は基準試験片の正しい表面エコーと、測定
開始条件が不良の場合の表面エコーとの対比説明
図で、第2図aは正しい表面エコーの図、第2図
bは表面エコーのピークレベルがゲイン方向に画
面で上下に(本例では下方に)変化した図、第2
図cは同じくビーム路程の方向およびゲイン方向
(画面で左右および上下方向)に変化した図を示
し、第3図は被検体の測定開始の可否を判別るた
めのフローチヤートの一例である。図において1
0はCRT15上に表示された基準試試験片の表
面エコーで、そのピークレベルの出現位置には該
位置を中心に点線で囲んだ範囲Aが設定されてい
る。範囲Aは使用する探触子や超音波測定器、被
検体の種類等に応じて予め決められ、ピークレベ
ルの出現位置のずれを許容する一定の範囲を示す
もので、図示のような矩形に限ることなく円形、
だ円形、正方形、多角形等任意の形状および大き
さに決められる。第2図aは第1図に示す表面エ
コー10と同じで、第2図bは表面エコー10を
鎖線で示し、表面エコー10よりピークレベルが
低くビーム路程の同じ表面エコー11を実線で示
す。この図の場合、表面エコー11のピークレベ
ルは鎖線で示す範囲Aの外にあり、測定条件不良
で測定開始は否と判定される。そして測定条件の
不良原因は、表面エコー11のピークレベルの出
現位置が表面エコー10と同一のビーム路程でゲ
インが低下するだけであるから、水内の水の汚れ
であることが判別される。第2図c鎖線で示す表
面エコー10に対し、ビーム路程およびゲインが
変化する実線で示す表面エコー12と点線で示す
表面エコー13が交互に出現する場合で、本図の
場合は変化量が範囲Aの内にあり測定開始は可と
判定される。しかし変化量が大きく表面エコー1
2,13ともそのピークレベルが範囲Aを外れる
場合には、被検体のチヤツキングをし直して再走
査し、ビーム路程およびゲインの変化がほぼ解消
すれば、不良原因は被検体のチヤツクへの装着不
良であることが判別され、前記変化が依然として
解消されない場合は不良原因は測定面の粗さ、
傷、ごみの付着等によるものと判別される。第3
図は被検体が回転体の場合の測定開始の可否およ
び測定条件の不良原因の判別のためのフローチヤ
ートで、本チヤートにもとづき自動的に容易にか
つ短時間に判別を行うことができる。
なお前記実施例においては、被検体が回転部材
の場合について説明したが、チヤツクを変更する
ことにより平面部材や棒状部材でもよく、また被
検体と探触子のうちいずれを移動させて走査する
ようにしてもよい。さらにCRTに表示されたエ
コーを比較して判別する例を示したが、他のアナ
ログ信号またはデジタル信号を比較するようにし
てもよいのはもちろんである。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、基準試験片によ
る表面エコーのピークレベル位置に、該位置を中
心に一定の範囲を設定し、その範囲と被検体を測
定したときの表面エコーのピークレベル位置とを
比較し、その位置が設定範囲内か否により自動測
定の開始の可否を判別するようにしたから、開始
の可否を短時間に容易かつ確実に判別することが
できるともに、開始否の場合における原因を迅速
に判別することができる実用上顕著な効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる測定方法の1例を説明
する図、第2図は第1図に示す表面エコーと測定
開始条件が不良の場合の表面エコーとの対比説明
図、第3図は第2図に対するフローチヤートの1
例を示す。第4図は従来の測定装置の構成の1例
を説明するブロツク図、第5図は第4図に示す走
査装置の1例を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 液に浸漬した被検体の測定面を、該測定面と
    前記液を介して一定の距離に対向させた探触子に
    より、自動走査して測定する超音波測定方法にお
    いて、基準試験片を使用し、かつ基準の測定条件
    下で、測定面より反射する表面反射波のエコーの
    ピークレベル出現位置に、該位置を中心に出現位
    置のずれを許容する一定の範囲を設定し、該範囲
    と、被検体の互いに離れた複数の測定点における
    表面エコーの各ピークレベルの出現位置とを比較
    し、該各出現位置が前記範囲内か否かにより自動
    測定の開始の可否を判別することを特徴とする超
    音波測定方法。
JP61112722A 1986-05-19 1986-05-19 超音波測定方法 Granted JPS62269058A (ja)

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JP61112722A JPS62269058A (ja) 1986-05-19 1986-05-19 超音波測定方法

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JPS62269058A JPS62269058A (ja) 1987-11-21
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