JPH0559577B2 - - Google Patents

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JPH0559577B2
JPH0559577B2 JP61198001A JP19800186A JPH0559577B2 JP H0559577 B2 JPH0559577 B2 JP H0559577B2 JP 61198001 A JP61198001 A JP 61198001A JP 19800186 A JP19800186 A JP 19800186A JP H0559577 B2 JPH0559577 B2 JP H0559577B2
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JP
Japan
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slit
charged particle
particle beam
drawn
lens
Prior art date
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JP61198001A
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JPS6263425A (ja
Inventor
Masahiko Washimi
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、電子ビーム露光、イオンビーム注入
等に適合する荷電粒子ビーム描画装置に関する。
(従来技術) 例えば電子ビーム露光方式は、一筆書き方式と
一括露光方式とに大別される。この2つの方式の
うち後者の方が描画速度において優れているが、
原図パターン即ち被露光物体に結像されるべきパ
ターン形状を有するマスクを必要とする。このパ
ターンは通常かなり複雑であり、マスク製作の困
難さ、取り換えの困難さ、周囲を取り囲まれた図
形を用いることができない等の種々の問題があ
る。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記問題点に対処されてなされたもの
で、一括露光方式における広い面積を一度に照射
できるという特徴をいかした荷電粒子ビーム描画
装置を提供するものである。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 次に本発明の基本的な概念を第1図を参照して
説明する。この第1図で荷電粒子ビーム発生手段
としての、例えば電子ビーム光源、所謂、電子銃
11から電子ビーム11aが引き出される。この
ビーム11aは例えばブランキング電極(図示せ
ず)でオン・オフ制御される。このブランキング
用電極で制御され、後段のブランキング用スリツ
トを通過した電子ビーム11aは第1のスリツト
12a及び第2のスリツト12bを介して電子レ
ンズ13により被描画物体上に所定の図形のパタ
ーンとして結像される。
(作用) 本発明によれば第1のスリツトを通過した荷電
粒子ビーム束は第2のスリツトに照射されて成形
され、被描画物体上に照射される。この時、前記
第2のスリツト12bは電気的にX方向及びY方
向に移動するものである。本実施例においては第
2のスリツトを実際に動かすかわりにビームを偏
向して等価的に第1と第2のスリツトの相対関係
を変える。この第2のスリツト12bの第1のス
リツトとの相対的移動により図形をたとえば第2
図a,b,cに示す如く適宜変えることができ
る。
(発明の実施例) 次いで第3図を参照して本発明の一実施例を詳
細に説明する。
第3図で31が電子銃であり、この電子銃31
から電子ビーム31aが引き出される。このビー
ム31aは第1の電子レンズ33によりブランキ
ング電極34,34′の略中央部に焦点として、
いわゆる電子銃31のクロスオーバー像を結ぶよ
うになる。35はブランキング用スリツトであ
り、ブランキング電極34,34′に接続される
ブランキング電圧発生回路36の電圧が0[V]
の時にビーム31aを通過させ、40[V]の時に
ビーム31aをカツトオフするようになつてい
る。そしてブランキング用スリツト35を通過し
たビーム31bは発散ビームとなつているがコン
デンサレンズである第2のレンズ37によつて図
に示される平行なビームに変えられて矩形状に規
定される第1のスリツト38に照射される。この
レンズ37の作用により、電子銃31のクロス
オーバー像は第1のスリツト38位置には結ばれ
ず、電子ビームは第1のスリツト38の所定に
切りとられた孔の全域にわたり均一に照射され
る。すなわち、電子銃31のクロスオーバー像が
第1のスリツト38位置で結ばれないことで前記
第1のスリツト38面内では電子銃光源が該スリ
ツト38位置に結像された場合に生じるスポツト
ビームの如き局所的に高いエネルギービーム密度
分布とならないので均一で一様なビームが得られ
る。しかも、第1のスリツト38位置では飛散ビ
ームが平行ビームに変えられるので、発散ビーム
をそのまま用いるよりも高いビーム電流密度が得
られる。この第1のスリツト38は第1図の12
aに原理的に対応するものである。
以後は光源を第1のスリツト38の開口部と考
えて説明する。すなわち、実際の光源は電子銃3
1であるが、被描画物体にとつては第1のスリツ
ト38が前述した如く比較的高いビーム電流密度
の均一で、一様な光源(仮想光源)となる。ここ
で、注意すべきことは第1のスリツト38以下で
の第1のスリツト38を光源としたときの光束の
表わし方は仮想光源の焦点を結ぶ点で開き、普通
の光源束の表現と表わし方が逆になつている点で
ある。これは図面の簡略化を図るためである。第
1のスリツト38を仮想光源とするここでは矩形
の特殊形状とみなす正方形の像は第3のレンズ3
9によつて矩形状に規定される第2のスリツト4
0上に第1のスリツトの像の焦点を結ぶように構
成される。この場合、電子銃31のクロスオーバ
ー像は第2のスリツト40位置には結ばれず、凸
レンズの結像公式に従つて、第3のレンズ39と
第2のスリツト40の間に結ばれる。従つて、第
1のスリツト38と同様に第2のスリツト40位
置でも均一で、一様なビームを得ることができ
る。
ここで、ビーム32aは偏向電極41,41′
及び44,44′に加えられる電圧が0[V]の時
に全部が透過して、第2のスリツト40に正方形
を生成することになる。そして第2のスリツト4
0に設けられたここでは矩形の特殊形状とみなす
正方形の開口部は一辺が2.56[mm]のものである。
またビーム32aは偏向電極41,41′と44,
44′によつてx方向とy方向にそれぞれ0.1[V]
につき0.01[mm]偏向するように設計されている。
そこで偏向電極41,41′間に25.6[V]の電圧
が加わつた時にビーム32aは全て切断されるこ
とになる。
例えば最終的に5[μm]×100[μm]の矩形状の
図形を得たい時には電子計算機であるミニコン5
5により第1のレジスタ42にx方向の幅情報と
して“5”が書き込まれ、第2のレジスタ45に
y方向の幅情報として“100”が書き込まれる。
するとD−Aコンバータ43の出力には25.1
[V]、D−Aコンバータ46の出力は15.6[V]
の電圧が表われるようになつている。このため、
x方向に50[μm]、y方向に1[mm]の幅を持つた
ビーム32bのみが最終的に第2のスリツト40
を通過することになる。この状態では、第3図に
より明らかなように第1のスリツト38の孔を通
過した電子ビームの第2のスリツト40位置にお
ける断面の輪郭が前記第2のスリツト孔の輪郭と
2箇所で交差することになる。この第2のスリツ
ト40を通過したビーム32bは対物レンズ47
により10:1に縮小されて、被描画物としての平
板状の被露光物体48上に仮想光源、すなわち第
1のスリツトの焦点を結ぶようになる。そして5
[μm]×100[μm]の希望する大きさの矩形状の図
形60が得られる。ここでビーム32bは、さら
に偏向電極49,49′により矩形状の形が保存
されたままでx方向に偏向される。そしてその偏
向量はミニコン55より第3のレジスタ50に与
えられた内容によつて、第3のコンバータ51に
希望する偏向電圧が取りだされる。但し、この際
注意すべきことは、第2のスリツト40において
生成される矩形状の中心位置は矩形状の形の大き
さによつて異なるため、第3のレジスタ50に入
る値はレジスタ42に入る値と関連して補正がな
されていなければならない。勿論ここでは無補正
の値を用い、第3のD−Aコンバータ51の出力
電圧に第1のコンバータ43の出力電圧を適当に
加えることにより電気回路的に補正してもかまわ
ない。また、同様に偏向電極52,52′により
矩形状の形が保存されたままでy方向に偏向され
る。この偏向量はミニコン55より第4のレジス
タ53に与えられた内容によつて第4のD−Aコ
ンバータ54に希望する偏向電圧が取り出され
る。ところで本実施例では256ステツプ角の内部
の図形を描画した後に被露光物体48をミニコン
55の制御により次のステツプ迄動かして次のフ
レームの描画を行う。このための回路およびモー
タ等の手段は図中で省略してある。また第1のス
リツト38、第2のスリツト40の発熱を極力抑
えるために付加的に水冷したり、各スリツトの直
前にやや大きいスリツトを置くような構成も可能
である。このようにして広い面積を一度に露光し
得る一括露光方式の特徴を生かしたままで原図マ
スクを電気的に作り出し、所定の電子ビーム露光
を行えるものである。
なお、上記実施例では第1のスリツト38及び
第2のスリツト40に設けた開口部の数が一つの
場合について説明したが、複数個設けても上記実
施例と同様に実施できる。また上記実施例では偏
向電極41,41′及び44,44′に加えられる
電圧が0[V]の時に正方形が得られるようにし
たが電圧が0[V]の時ビーム32aが全てカツ
トされるようにすることも可能である。さらに電
子ビームをイオンビームに置き変えることもで
き、必要部分のみに選択的にイオン注入すること
も可能である。
[発明の効果] 本発明により、高いビーム電流密度の均一で一
様なビームを光源として任意形状のビーム図形が
得られ、且つ形成される図形の明るさが変化しな
い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本的な概念を説明するため
の構成概略図、第2図a〜第2図cは第1図によ
つて描画される図形を示す模式図、第3図は本発
明による実施例を示す構成図である。 第3図で、31が電子銃、31a,31b,3
2a,32bが電子ビーム、33,37,39,
47が電子レンズ、34,34′,41,41′,
44,44′,49,49′及び52,52′が偏
向電極、35がブランキング用スリツト、38が
第1のスリツト、40が第2のスリツト、48が
被露光物体、42,45,50,53がレジス
タ、43,46,51,54がD−Aコンバー
タ、55がミニコンである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 荷電粒子ビームを生ずる荷電粒子ビーム発生
    手段と、前記荷電粒子ビームを平行ビームにせし
    めるコンデンサレンズと、このビームを所定形状
    のビーム束として通過させる第1のスリツトと、
    前記第1のスリツトと被描画物体間に配置される
    第2のスリツトと、前記第1のスリツトと第2の
    スリツトの間に設けられ、第1のスリツト像の焦
    点を前記第2のスリツト上に生成するとともに前
    記荷電粒子ビーム発生手段からのビームのクロス
    オーバーを第2のスリツトから離れた位置に結ば
    せるレンズと、前記第1のスリツトと第2のスリ
    ツト間にあつて、前記第1のスリツトを通過した
    荷電粒子ビーム束を所定の情報に応じて前記第2
    のスリツト上へ偏向して、寸法可変のビーム束を
    成形する手段と、前記第2のスリツトを通過した
    荷電粒子ビーム束を前記被描画物体上に結像させ
    る対物レンズとを備え、寸法可変の荷電粒子ビー
    ム束を被描画物体に照射して所望形状及び寸法の
    パターンを形成する荷電粒子ビーム描画装置。
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