JPH0560811A

JPH0560811A - 絶縁抵抗測定装置

Info

Publication number: JPH0560811A
Application number: JP24502391A
Authority: JP
Inventors: Motoo Hatakeyama; 司男畠山; Tomotoshi Kushiyama; 智敏串山; Toshiharu Ouchi; 俊治大内; Masatoshi Ichi; 正年位地; Chiharu Ishisaki; 千春石先; Yuji Ikuta; 優司生田
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1991-08-30
Filing date: 1991-08-30
Publication date: 1993-03-12

Abstract

(57)【要約】【目的】印加電圧の切換え回路のケースと、試料選択
用試料セレクト回路のケースを高絶縁化し、ドライビン
グガードの切換え手段を講じることにより、複数の被測
定試料から測定対象となる被測定試料を選択して、高絶
縁抵抗値の安定、かつ信頼度の高い測定を可能とする。【構成】複数の測定試料１２と、電圧供給用の定電圧
電源１と、印加電圧の切換え用スイッチ７と保護抵抗１
１を有する切換え回路２と、被測定試料の選択及びドラ
イビングガード切換えのスイッチ８，９，１０を有する
試料セレクト回路４と、測定用の絶縁抵抗計５とで構成
される絶縁抵抗測定装置において、切換え回路２と試料
セレクト回路４とを分離し、別々のケースに配置接続し
て絶縁抵抗を高める。検出信号に流れる電流の漏れ防止
効果が得られ、ドライビングガードの切換え機能によ
り、検出信号に影響する外部誘導作用及びノイズ作用等
が除去され、高絶縁抵抗の測定ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、複数の被測定試料を順
次切り換えて絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】この種の絶縁抵抗測定装置は、特公平０
２−２６４８７１号公報等に提案されているように、絶
縁抵抗測定装置本体に印加電圧用定電圧電源と、印加電
圧切り換え用の切換え回路と、試料ボックス内における
複数の被測定試料を選択するための試料セレクト回路
と、測定用絶縁抵抗計からなる構成を有し、被測定試料
の絶縁抵抗値を測定するものである。

【０００３】図３は、従来の絶縁抵抗測定装置によっ
て、被測定試料間の絶縁抵抗値を測定しているときの回
路構成を示す。

【０００４】従来の絶縁抵抗測定装置は、被測定試料へ
の印加電圧供給用の定電圧電源１と、印加電圧切断用の
スイッチ６と電圧の常時印加と測定時印加の切換えスイ
ッチ７及び保護抵抗１１を有する切換え回路２と、試料
ボックス３内の複数による被測定試料１２の選択用スイ
ッチ８を有する試料セレクト回路４と、測定用の絶縁抵
抗計５とから構成される。

【０００５】一般に定電圧電源１は、絶縁抵抗計５に内
蔵されていることが多い。また、図３に示す回路構成図
において、回路内に破線で示したスイッチ接点７と８と
は連動動作となっている。さらに、切換え回路２と試料
セレクト回路４とは、同一のケース１８内に実装配置さ
れている。

【０００６】以上のような構成において、先ず被測定試
料１２の常時印加電圧の場合、定電圧電源１からのＶｓ
出力は、切換え回路２に供給される。切換え回路２のス
イッチ６が閉状態で、スイッチ７がｂ接点側にあるとき
には保護抵抗１１を通じた回路経路となり、被測定試料
１２の一端に電圧が加わる。

【０００７】また、被測定試料１２の他端は、同軸ケー
ブルを用いた測定ケーブル１３を通じ、試料セレクト回
路４の試料切換えスイッチ８に接続される。前記スイッ
チ８は、ｂ接点側にあり、定電圧電源１のＬｏ端子に接
続されて被測定試料１２に印加電圧が加わり、電流が流
れる。

【０００８】次に、測定時の場合、切換え回路２のスイ
ッチ７と、試料セレクト回路４のスイッチ８は、ａ接点
側に接続し、定電圧電源１からのＶｓは、保護抵抗１１
をバイパスした経路となり、被測定試料１２の一端に加
わる。一方、先に述べたスイッチ８は、ａ接点側にあ
り、被測定試料１２の他端は、測定ケーブル１３を通じ
測定ケーブル１４を介して絶縁抵抗計５のＩｉｎ端子に
接続される。

【０００９】絶縁抵抗計５のＬｏ端子と定電圧電源１の
Ｌｏ端子とが接続されているので、絶縁抵抗計５を通じ
て被測定試料１２に印加電圧が加わり、電流が流れる。
この電流を絶縁抵抗計５内の電流計で検知し、オームの
法則により絶縁抵抗値を求める。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来の絶縁抵抗測定装
置は、切換え回路２の切換えスイッチ７と、試料セレク
ト回路４のスイッチ８とは、同一スイッチ内の連動した
接点で構成され、切換え回路２と試料セレクト回路４と
は同一ケース１８内で実装配置している。

【００１１】この場合、スイッチ自身の絶縁抵抗と、ケ
ース内の絶縁抵抗が問題となる。つまり被測定試料の絶
縁抵抗値より、前記スイッチとケースの絶縁抵抗が低い
時、前記スイッチとケースの絶縁抵抗の影響で漏れ電流
が生じる。それによって真値を測定することができない
という欠点がある。

【００１２】また、比較的低い絶縁抵抗測定の場合は問
題とならないが、高絶縁抵抗の場合は、被測定試料に流
れる電流が外部誘導作用及び外部ノイズ等で影響され、
被測定試料の測定値に大きなバラツキと誤差が生じる欠
点がある。よって測定値の信頼性及び安定性等が問題と
なる。

【００１３】本発明の目的は、複数の被測定試料から測
定対象となる被測定試料を選択して高絶縁抵抗値の安
定、かつ信頼度の高い測定を可能とした絶縁抵抗測定装
置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による絶縁抵抗測定装置においては、絶縁抵
抗計と、複数の被測定試料から測定対象となる被測定試
料を選択して前記絶縁抵抗計に接続する試料セレクト回
路と、測定電圧印加用の定電圧電源と、定電圧電源から
の測定電圧を被測定試料に直接印加するか、又は保護抵
抗を介して印加するかを切り換える切換え回路と、被測
定試料選択手段とを有し、複数の被測定試料を順次選択
して該被測定試料の絶縁抵抗値を求める絶縁抵抗測定装
置であって、前記切換え回路と試料セレクト回路とは、
別々の絶縁されたケース内に実装配置され、互いに絶縁
された構造手段を備え、被測定試料と試料セレクト回路
間及び試料セレクト回路と絶縁抵抗計間は、二重シール
ド同軸線を用いて接続され、被測定試料選択手段は、被
測定試料の選択時に前記二重シールド同軸線の検出信号
線と、ドライビングガード線を同時動作に切り換えるも
のである。

【００１５】

【作用】本発明の絶縁抵抗測定装置は切換え回路内のス
イッチと試料セレクト回路内のスイッチを別々のスイッ
チ構成とし、前記切換え回路と試料セレクト回路は、別
々のケース内に実装配置され、これらの回路は、互いに
絶縁されており、被測定試料と試料セレクト回路間及び
試料セレクト回路と絶縁抵抗計間を二重シールドの同軸
ケーブル線を用い、二重シールドのうち一方を絶縁抵抗
計からのドライビングガードとし、他方をシールドとし
て検出信号線とドライビングガード線を同時動作に切換
えるものである。

【００１６】本発明の絶縁抵抗測定装置によれば、電圧
供給用の切換え回路と、試料選択用の試料セレクト回路
とを分離して配置接続することにより、前記切換え回路
と前記試料セレクト回路との絶縁抵抗が高まり、検出信
号の電流漏れ防止効果が得られる。また、ドライビング
ガードの切換え機能により、検出信号に影響する外部誘
導作用及び外部ノイズ作用等が除去され、高絶縁抵抗の
測定が可能となる。

【００１７】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
詳細に説明する。図１は、本発明の絶縁抵抗測定装置の
他の実施例を示す構成図である。

【００１８】図において、本測定装置は、試料ボックス
３内の被測定試料１２への印加電圧供給用定電圧電源
１、被測定試料１２の印加電圧切断用スイッチ６と電圧
の常時印加と測定時印加の切換え用スイッチ７及びショ
ート防止用保護抵抗１１を有する切換え回路２と、被測
定試料１２の選択用スイッチ８とドライビングガード用
スイッチ９及び定電圧電源１のＬｏ端子接続用スイッチ
１０を有する試料セレクト回路４及び測定用の絶縁抵抗
計５で構成される。

【００１９】また、被測定試料１２と試料セレクト回路
４間は、測定ケーブル１３を通じ、試料セレクト回路４
のスイッチ８とスイッチ１０の一端に検出信号線１５が
共通に接続され、スイッチ９の一端には、ドライビング
ガード線１６を接続している。

【００２０】さらに試料セレクト回路４と絶縁抵抗計５
間では、前記スイッチ８とスイッチ９の他端より、検出
信号線１５とドライビングガード線１６を測定ケーブル
１４を通じて絶縁抵抗計５に接続され、スイッチ１０の
他端からは前記絶縁抵抗計５と定電圧電源１のＬｏ端子
にそれぞれ接続している。

【００２１】測定開始により、定電圧電源１に被測定試
料へ印加するための測定電圧が設定される。前記定電圧
電源１のＶｓ−Ｌｏ端子から出力される電圧は、通常時
には保護抵抗１１を介して被測定試料に対し、常に加え
続け、測定するときのみ保護抵抗１１を介さずに直接印
加する。

【００２２】先ず、通常時の場合、切換え回路２のスイ
ッチ６は、閉状態、スイッチ７は、ｂ接点側とし、保護
抵抗１１を通じ、被測定試料１２の一端に電圧を加え
る。被測定試料１２の他端側では、試料セレクト回路４
のスイッチ８とスイッチ９とは開状態、スイッチ１０
は、閉状態にし、前記スイッチ１０により被測定試料１
２の他端を定電圧電源１のＬｏ端子に接続し、被測定試
料１２に電圧を印加して電流が流れる。この場合、被測
定試料１２のマイグレーション現象により、ショート状
態が発生した際も保護抵抗１１により回路は保護され
る。

【００２３】次に測定時の場合、切換え回路２のスイッ
チ７をａ接点側にして保護抵抗１１をバイパスした経路
で被測定試料１２の一端に印加電圧を加える。前記被測
定試料１２の他端側では、スイッチ８とスイッチ９とは
閉状態とし、スイッチ１０は、開状態で絶縁抵抗計５の
Ｉｉｎ端子に測定ケーブル１４を通じて接続される。

【００２４】これによって、前記絶縁抵抗計５と定電圧
電源１とのＬｏ端子同士が接続されて前記被測定試料１
２に印加電圧が加わり、電流は、絶縁抵抗計５を通じ、
被測定試料１２に流れる。その電流を検出し、絶縁抵抗
計５で絶縁抵抗値を求める。

【００２５】また、前記ショート状態を検出する方法と
しては、上記の測定時の場合と同様の操作により、被測
定試料１２に電圧を印加し、流れる電流を絶縁抵抗計５
により測定し、所定値以上になった時に切換え回路２の
スイッチ６により閉状態とし、前記被測定試料１２への
印加電圧を停止する。

【００２６】図２は、本発明の他の実施例をブロック図
に示したものである。切換え回路２と、試料セレクト回
路４内の各スイッチをそれぞれリレー等の外部から制御
可能なスイッチで構成し、コンントローラ・システム１
７を設けて、これらのスイッチ及び定電圧電源１の出力
電圧を制御し、絶縁抵抗計５の測定値を読み込むことに
よって、複数の被測定試料１２の高絶縁抵抗を安定した
値で自動的に測定することができる。なお、図１，図２
において、定電圧電源１は、絶縁抵抗計５内に内蔵され
ていても差し支えない。

【００２７】

【発明の効果】以上説明したとおり本発明によれば、印
加電圧供給用切換え回路と、被測定試料の試料セレクト
回路の高絶縁化と、検出信号線とドライビングガード線
を同時に切換えることによって、従来の測定装置の信頼
性及び安定性の欠点が改善され、高絶縁抵抗の測定が可
能になる。また、高絶縁抵抗の自動測定も可能になると
いう効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による絶縁抵抗測定装置の回路構成図で
ある。

【図２】本発明の他の実施例を示すブロック図である。

【図３】従来の方法による絶縁抵抗測定装置の回路構成
図である。

【符号の説明】

１定電圧電源２切換え回路４試料セレクト回路５絶縁抵抗計１２被測定試料１７コントローラ・システム

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者位地正年東京都港区芝五丁目７番１号日本電気株式会社内 (72)発明者石先千春東京都港区芝五丁目７番１号日本電気株式会社内 (72)発明者生田優司東京都港区芝五丁目７番１号日本電気株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】絶縁抵抗計と、複数の被測定試料から測
定対象となる被測定試料を選択して前記絶縁抵抗計に接
続する試料セレクト回路と、測定電圧印加用の定電圧電
源と、定電圧電源からの測定電圧を被測定試料に直接印
加するか、又は保護抵抗を介して印加するかを切り換え
る切換え回路と、被測定試料選択手段とを有し、複数の
被測定試料を順次選択して該被測定試料の絶縁抵抗値を
求める絶縁抵抗測定装置であって、前記切換え回路と試料セレクト回路とは、別々の絶縁さ
れたケース内に実装配置され、互いに絶縁された構造手
段を備え、被測定試料と試料セレクト回路間及び試料セレクト回路
と絶縁抵抗計間は、二重シールド同軸線を用いて接続さ
れ、被測定試料選択手段は、被測定試料の選択時に前記二重
シールド同軸線の検出信号線と、ドライビングガード線
を同時動作に切り換えるものであることを特徴とする絶
縁抵抗測定装置。