JPH0560814A - 信号レベル測定装置 - Google Patents

信号レベル測定装置

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JPH0560814A
JPH0560814A JP3220061A JP22006191A JPH0560814A JP H0560814 A JPH0560814 A JP H0560814A JP 3220061 A JP3220061 A JP 3220061A JP 22006191 A JP22006191 A JP 22006191A JP H0560814 A JPH0560814 A JP H0560814A
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國正 楠戸
Yoshimitsu Morikawa
喜充 森川
Takashi Sengoku
敬 仙石
Fumimasa Ono
史勝 小野
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MIYAKAWA SEISAKUSHO KK
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】波形の周期が一定で無い形式で構成する0,1
形式の複流式信号で伝達される信号の電流および電圧を
直接測定可能とする。 【構成】端末装置DE1,DE2側または局装置側に接
続された信号検出回路1と、この出力信号S1,Saの
立上がり、立下がり時に、エッジパルスEPを発生する
エッジ検出回路2と、出力信号S1のレベルを基準レベ
ルと比較する比較回路3またはアナログ値出力信号をデ
ジタル値に変換する信号レベル測定回路と、エッジパル
スEPに基づいて所定のサンプリングパルスSPを発生
する同期回路4と、サンプリングパルスSPに制御さ
れ、比較回路3の出力信号S2の比較結果を表示する回
路5または、前記信号レベル測定回路の出力レベル値を
表示する回路とから成り、エッジパルスEPに基づいて
発生するサンプリングパルスSPの制御により信号レベ
ルを検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、データ通信回線に送出
されるデータパルス信号の信号レベルの測定を行う信号
レベル測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】データ通信回線の開通、保守、現場検査
等において、データパルスの信号レベルの測定、特に複
流式信号の測定の場合では、信号を0または1に固定し
た状態で、その電流および電圧を測定して信号レベルを
推定している。また、交流電圧または正負形式の矩形波
電流を測定するデジタル方式の測定器は、既に市販され
ているが、これらは一定周期の正負形式の連続波形の測
定に限定されており、その表示値も波形によって異なっ
ている。従って、データ信号のように、波形の周期が一
定で無い形式で構成する0,1形式の複流式信号の場合
は、前記のような測定器は使用出来ない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記する信号レベルの
測定手段は平均値を測定する間接的なものであり、測定
結果も充分なものが得られないだけでなく、送信側、受
信側にそれぞれ作業者を配置しなければならないという
欠点を有していた。また、0,1形式の複流式信号につ
いては直接測定出来る測定器が無いという致命的欠点を
持っていた。
【0004】こゝにおいて、本発明は、前記する信号レ
ベルの測定手段の有する課題に鑑み、これらの測定手段
の課題を解消し、特に、複流式で伝送される信号の電流
および電圧の測定において所望の測定結果が、効率の良
い手段で得られる信号レベル測定装置を提供せんとする
ものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記課題の解決は、本発
明が次に列挙する新規な特徴的構成手段を採用すること
により達成される。即ち、本発明の第1の特徴は、デー
タ通信回線の端末装置側または局装置側に接続されて、
データパルス信号の検出を行なう信号検出回路と、この
信号検出回路の出力信号の立上がり、立下がり時に、エ
ッジパルスを発生するエッジ検出回路と、同じく前記出
力信号のレベルを基準レベルと比較する比較回路と、前
記エッジパルスに基づいて所定のサンプリングパルスを
発生する同期回路と、このサンプリングパルスに制御さ
れて、前記比較回路が出力する比較結果を表示する比較
結果表示回路とから成り、前記エッジパルスに基づいて
発生させる前記サンプリングパルスの制御によりデータ
通信回線の信号レベルを検出してなる信号レベル測定装
置である。
【0006】本発明の第2の特徴は、データ通信回線の
端末装置側または局装置側に接続されて、データパルス
信号の検出を行なう信号検出回路と、この信号検出回路
の出力信号の立上がり、立下がり時に、エッジパルスを
発生するエッジ検出回路と、同じく前記アナログ値出力
信号をデジタル値に変換するA/D変換回路を主体とす
る信号レベル測定回路と、前記エッジパルスに基づいて
所定のサンプリングパルスを発生する同期回路と、この
サンプリングパルスに制御されて、前記信号レベル測定
回路が出力する信号レベル値を表示する信号レベル表示
回路とから成り、前記エッジパルスに基づいて発生する
前記サンプリングパルスの制御によりデータ通信回線の
信号レベルを検出してなる信号レベル測定装置である。
【0007】
【作用】本発明は、前記のような手段を講じたので、エ
ッジ検出回路は、データ通信回線に伝送される信号パル
スが信号検出回路によってその立上がり、立下がりを検
出された時に、それぞれエッジパルスを発生し、同期回
路はエッジパルスに基づいてサンプリングパルスを発生
する。比較回路による場合は、前記信号検出回路に発生
する電圧を受け、これを基準レベルと比較し、その信号
レベルを例えば、[良/不良]の形式で比較結果表示回
路に出力する。
【0008】一方、信号レベル測定回路による場合は、
複流形式のアナログ値出力電圧をA/D変換回路により
デジタル値に変換し、一般的には、極性表示の付いた数
値で信号レベル表示回路に出力する。これらの表示回路
は、前記比較回路が出力する信号の比較結果を、また、
前記信号レベル測定回路が出力する信号レベル値を、前
記同期回路の発生するサンプリングパルスに制御されて
表示する。
【0009】
【実施例】
(第1実施例)以下、図面に従って本発明の第1実施例
について詳細に説明する。図1は、本実施例を示す信号
レベル測定装置の概略構成図である。図中、Aは本実施
例の信号レベル測定装置、1は信号検出回路でデータ信
号パルスの検出を行なう。1aは信号検出のための素子
で、電流値で測定を行なう場合は、小抵抗値の抵抗器で
ある。
【0010】2はエッジ検出回路で、信号検出回路1の
出力を受けてその信号S1の立上がり、立下がり時に、
信号のエッジ毎にパルスを発生する。2aはパルスの立
上がり時に、また、2bはパルスの立下がり時に、それ
ぞれエッジパルスEPを発生する微分回路である。2c
はオア回路で、微分回路2a,2bの発生するいずれの
エッジパルスEPも出力する。2dはインバータ回路
で、微分回路2bの出力パルスの位相を反転させ、オア
回路2cへの入力位相を微分回路2aと一致させる。
【0011】3は比較回路で、信号検出回路1の出力を
受けてその信号S1のレベルを基準レベルと比較した信
号S2を送出する。3aは基準電圧表示端子で、比較回
路3が信号検出回路1の出力信号S1を比較するための
各種の基準となる電圧V1,V2,V3,V4を供給す
る。3b,3c,3dおよび3eはそれぞれ比較素子
で、オア素子3f,3gおよびアンド素子3hの回路と
共に基準電圧表示端子3aから作成された基準電圧V
1,V2,V3,V4のそれぞれと、信号検出回路1の
出力電圧との比較を行なう。比較回路3の回路では、例
えば、[良/不良]の1種類の表示のみを行なっている
が、比較素子3b〜3eを増加することにより、[高/
良/低]等の複数種の表示を行なうこともできる。
【0012】4は同期回路で、エッジ検出回路2の出力
するエッジパルスEPに基づいて所定のサンプリングパ
ルスSPを発生する。このサンプリングパルスSPの発
生は、エッジパルスEPの一定時間後に行なわれ、信号
パルス長が1ビット長の場合は、正負信号パルスのほぼ
中央部に発生し、信号パルス長が複数ビット長の場合
は、第1のサンプリングパルスSPの発生は同様である
が、第2パルス以下はほぼ1ビット長の間隔で発生する
ようになっている。従って、信号レベルの取出しは、正
負信号パルスのほぼ中央部となり、波高値レベル部の値
を取出せるようになっている。4aはクロック信号発振
器、4bはサンプリングパルス発生回路である。
【0013】5は比較結果表示回路で、前記比較回路3
が出力する信号S2の比較結果の内、同期回路4のサン
プリングパルスSP時点において取出されたデータを表
示する。5aは表示器駆動回路、5bはLED等の表示
素子である。6は試験時にデータ信号を送信するデータ
信号送信回路で、回線だけの対向試験時にデータ端末装
置の代用として使用することができる。TC,TD端子
は、データ通信回線にデータ信号送信回路6を接続する
端子である。
【0014】(第2実施例)図面に従って本発明の第2
実施例について詳細に説明する。図2は本実施例を示す
信号レベル測定装置の概略構成図である。尚、図1に示
す前記第1実施例と同一の素子は同一符号を付した。図
中、Bは本実施例の信号レベル測定装置、7は信号レベ
ル測定回路で、前記第1実施例の比較回路3に替えて設
けられ、信号検出回路1が出力する信号Saのレベルを
直接測定する機能が付与される。7aはA/D変換回路
で、信号検出回路1が出力するアナログ値をデジタル値
に変換した信号Sbを送出する。
【0015】8は信号レベル表示回路で、前記第1実施
例の比較結果表示回路5に替えて設けられ、信号レベル
測定回路7の出力する信号Sbレベルの内、同期回路4
のサンプリングパルス時点において検出された数値を表
示する。その表示する数値は、極性付数値で表示され
る。また、信号レベル測定回路7はシリアル・パラレル
のいずれの形式の出力も可能である。8aは表示器駆動
回路であり、8bは制御回路で、A/D変換回路7aの
変換動作終了と同期回路4の出力とが一致した時に表示
器駆動回路8aの制御を行なう。8cはLCD,LED
等の表示素子である。
【0016】尚、絶対値回路を使用し、信号検出回路1
が出力する複流信号Saを絶対値表示に変換してA/D
変換回路7aに入力させるか、または、A/D変換回路
7aがCPUで制御されている場合には、A/D変換回
路7aの出力する数値をこのCPUに取込んで処理し、
信号レベル表示回路8に出力させるか、等することによ
り、信号レベル表示回路8は絶対値の表示が可能とな
る。勿論、信号レベル表示回路8に符号の表示回路を付
加して置かなければ、いずれの場合にも絶対値で表示さ
れる。
【0017】また、サンプリングパルスSPの発生時点
は、エッジパルスEPに基づいて信号パルスのほぼ中央
部になるようにしてあるので、信号レベル表示回路8に
出力される数値は、一般的には、一つのサンプリングパ
ルスSP時点における信号パルスの波高値を示すが、C
PUの使用が可能な場合には、CPUを使用して複数の
サンプリングパルスSP時点における信号パルスの波高
値の平均値を表示させるようにすることも可能である。
【0018】前記第1乃至第2実施例のそれぞれの仕様
は、このような具体的実施態様であるため、各々の動作
に先立ってデータ通信回線に繋ぎ込む場合の方式につき
図3乃至図4を参照して説明する。図中において、L
1,L2は端末装置DE1,DE2とデータ通信回線と
を接続する端子で、図3では、L1は信号送信端端子、
L2は信号受信端端子で、LEは地気に接続される地気
端子である。図4では、通信は相手端末装置DE1,D
E2の間でループ回路の構成で行なわれるので、送信端
末装置DE1,DE2側のL1が信号送信端端子とな
り、受信端末装置DE1,DE2側のL2が信号受信端
端子となる。
【0019】A1a,A1b,B1a,B1bは、信号
レベルを測定する場合、信号パルスの電流値によって測
定する信号レベル測定装置で、A2a,A2b,B2
a,B2bは、信号パルスの電圧値によって測定する装
置である。これらの装置を回線に繋ぎ込む場合には、そ
の測定箇所により、あるいは、測定目的によって装置の
接続する場所はそれぞれ異なる。
【0020】信号パルスの電流値によって測定する場合
には、信号レベル測定装置A1a,B1aまたはA2
a,B2aを使用する。信号レベル測定装置A1a,B
1aは、送信端での測定の場合であり、図3では端末装
置DE2が、また、図4では端末装置DE1が送信端末
装置の場合である。信号レベル測定装置A1b,B1b
は、受信端での測定の場合であり、図3および図4の端
末装置DE2が受信端末装置の場合である。
【0021】信号パルスの電圧値によって測定する場合
には、信号レベル測定装置A2a,B2a,またはA2
b,B2bを使用する。信号レベル測定装置A2a,B
2aは送信端の場合、信号レベル測定装置A2b,B2
bは受信端の場合であり、共に図3では端末装置DE1
が送信端末装置の場合である。図4に示す信号レベル測
定装置A2a,B2aは、接続する場所によって測定す
る場所が変り、送信端末装置としての端末装置DE1側
によせて接続すれば、端末装置DE1の送信端での測定
の場合となり、受信端末装置としての端末装置DE2側
によせて接続すれば、端末装置DE2の受信端での測定
の場合となる。
【0022】信号レベル測定装置A1a,B1aとA1
b,B1bおよびA2a,B2aとA2b,B2bの端
子TA,TBは、これらの装置を回線に接続するための
ものである。また、L1′,L2′は信号レベル測定装
置A1a,B1aおよびA1b,B1bを端子TA,T
Bにより回線を分断して回線に挿入接続したとき、L
1,L2に対応する端子である。
【0023】次に、第1乃至第2実施例A,Bの動作に
ついてそれぞれ説明する。この説明においては、図3の
信号レベル測定装置A1b,B1bをデータ通信回線の
受信側端子L2およびL2′間に接続し、データパルス
信号を電流値として検出、測定する場合について述べ
る。即ち、信号レベル測定装置A,Bにおける信号検出
回路1が信号パルスのレベルを電流値で測定する時、端
末装置DE2に受信する信号の測定をする場合を例にと
れば、図4に示すようにデータ通信回線の受信側L2お
よびL2′間に接続される。
【0024】まず、第1実施例Aでは、相手端末装置D
E1,DE2からデータ信号が端子L2に送られてくる
と、この電流は、図1の信号検出回路1の抵抗器1aに
端子電圧を発生する。この端子電圧はエッジ検出回路2
に送られ、その信号S1の立上がり、立下がり時に微分
回路2a,2bで信号S1のエッジ毎にエッジパルスE
Pを発生し、同期回路4を制御してサンプリングパルス
SPを発生させる。また、比較回路3は、信号検出回路
1の発生する信号S1電圧を基準電圧と比較し、その結
果を比較結果表示回路5に出力する。比較結果表示回路
5は比較回路3が出力する信号S2の比較結果の内、サ
ンプリングパルスSP時点における結果をデータ信号パ
ルスのレベルとして表示する。
【0025】一方、第2実施例Bでは、図2に示すよう
に、前記第1実施例Aにおける比較回路3に替えて、信
号レベル測定回路7を設けた場合も、A/D変換回路7
aは、信号検出回路1の発生するアナログ信号Saをデ
ジタル値として信号レベル表示回路8に出力する。この
出力信号Sbは、制御回路8bにより、A/D変換回路
7aの変換動作終了と同期回路4の出力とが一致した時
点で表示器駆動回路8aに入力され、測定した信号のレ
ベルを数値として信号レベル表示回路8に表示する。端
末装置DE1,DE2が無い場合でも、データ信号送信
回路6から所要のデータパルスを送出すればデータ通信
回線の試験を行なうことができる。
【0026】尚、以上の説明においては、サンプリング
パルスSPは信号レベル表示回路8に供給するとしてあ
るが、このサンプリングパルスSPを比較回路3、また
は信号レベル測定回路7に供給することも可能であり、
この場合は、比較回路3、または信号レベル測定回路7
は、サンプリングパルスSP時点においての処理結果
を、比較結果表示回路5または信号レベル表示回路8に
出力することが出来る。
【0027】
【発明の効果】かくして、従来の電流計、電圧計を使用
した測定では、一定周期の連続交流波形の測定は矩形波
を含めて可能であるが、データパルス列の測定、特に、
複流形式のデータパルス列の測定は不可能であった。本
発明によれば、測定はエッジパルスに基づいたサンプリ
ングパルスの制御によっているので、これ等の測定を可
能とするだけでなく、波高値を測定出来る利点がある。
また、装置の構成は簡易で、容易な操作によりデータ通
信回線に送受される信号パルス、特に、複流形式の信号
パルスの送受信レベルを直接に測定でき、更に、回線開
通試験、保守用試験に限らず、通信中の複流形式パルス
の測定を行なうことができる優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す信号レベル測定装置
の概略構成図である。
【図2】本発明の第2実施例を示す信号レベル測定装置
部分の概略構成図である。
【図3】本発明の実施例の信号レベル測定装置をデータ
通信回線に繋ぎ込む場合の方式図であって、地気回路を
利用した場合である。
【図4】同上において、ループ回路を利用した場合であ
る。
【符号の説明】
A,A1a,A1b,A2a,A2b,B,B1a,B
1b,B2a, B2b…信号レベル測定装置 1…信号検出回路 1a…信号検出素子 2…エッジ検出回路 2a,2b…微分回路 2c…オア回路 2d…インバータ回路 3…比較回路 3a…基準電圧表示端子 3b〜3e…比較素子 3f,3g…オア素子 3h…アンド素子 4…同期回路 4a…クロック信号発振器 4b…サンプリングパルス発生回路 5…比較結果表示回路 5a,8a…表示器駆動回路 5b,8c…表示素子 6…データ信号送信回路 7…信号レベル測定回路 7a…A/D変換回路 8…信号レベル表示回路 8b…制御回路 S1,S2,Sa,Sb…出力信号 EP…エッジパルス SP…サンプリングパルス DE1,DE2…端末装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 仙石 敬 東京都目黒区下目黒6丁目20番23号 株式 会社宮川製作所内 (72)発明者 小野 史勝 東京都目黒区下目黒6丁目20番23号 株式 会社宮川製作所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】データ通信回線の端末装置側または局装置
    側に接続されて、データパルス信号の検出を行なう信号
    検出回路と、この信号検出回路の出力信号の立上がり、
    立下がり時に、エッジパルスを発生するエッジ検出回路
    と、同じく前記出力信号のレベルを基準レベルと比較す
    る比較回路と、前記エッジパルスに基づいて所定のサン
    プリングパルスを発生する同期回路と、このサンプリン
    グパルスに制御されて、前記比較回路が出力する比較結
    果を表示する比較結果表示回路とから成り、前記エッジ
    パルスに基づいて発生させる前記サンプリングパルスの
    制御によりデータ通信回線の信号レベルを検出するよう
    にしたことを特徴とする信号レベル測定装置
  2. 【請求項2】データ通信回線の端末装置側または局装置
    側に接続されて、データパルス信号の検出を行なう信号
    検出回路と、この信号検出回路の出力信号の立上がり、
    立下がり時に、エッジパルスを発生するエッジ検出回路
    と、同じく前記アナログ値出力信号をデジタル値に変換
    するA/D変換回路を主体とする信号レベル測定回路
    と、前記エッジパルスに基づいて所定のサンプリングパ
    ルスを発生する同期回路と、このサンプリングパルスに
    制御されて、前記信号レベル測定回路が出力する信号レ
    ベル値を表示する信号レベル表示回路とから成り、前記
    エッジパルスに基づいて発生する前記サンプリングパル
    スの制御によりデータ通信回線の信号レベルを検出する
    ようにしたことを特徴とする信号レベル測定装置
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