JPH056517Y2 - - Google Patents
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- JPH056517Y2 JPH056517Y2 JP4116387U JP4116387U JPH056517Y2 JP H056517 Y2 JPH056517 Y2 JP H056517Y2 JP 4116387 U JP4116387 U JP 4116387U JP 4116387 U JP4116387 U JP 4116387U JP H056517 Y2 JPH056517 Y2 JP H056517Y2
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、例えば大気あるいは工場排気などの
試料ガス中に含まれるSO2ガスの濃度を測定する
ためのSO2ガス分析装置において、そのSO2ガス
分析部へ供給すべき試料ガスに対する前処理手段
として用いられる干渉ガス除去器に関する。
試料ガス中に含まれるSO2ガスの濃度を測定する
ためのSO2ガス分析装置において、そのSO2ガス
分析部へ供給すべき試料ガスに対する前処理手段
として用いられる干渉ガス除去器に関する。
前述したようなSO2ガス分析装置においては、
一般に、UVF法(紫外螢光法)、つまり、試料ガ
スに紫外線を照射してそれに含まれるSO2ガスに
螢光を発せしめ、その螢光強度を測定するという
手段が採用されている。ところが、前記したよう
な試料ガス中には、測定対象であるSO2ガスと同
様に紫外線を受けて螢光を発する性質を有するガ
ス(例えば、エチルベンゼン、キシレン、ナフタ
レン等の芳香族炭化水素類など)が含まれている
ことが多く、従つて、SO2ガスの測定に際しては
これらのガスがSO2ガスに対する干渉ガスとして
作用するために、測定精度が大きく低下してしま
うことになる。
一般に、UVF法(紫外螢光法)、つまり、試料ガ
スに紫外線を照射してそれに含まれるSO2ガスに
螢光を発せしめ、その螢光強度を測定するという
手段が採用されている。ところが、前記したよう
な試料ガス中には、測定対象であるSO2ガスと同
様に紫外線を受けて螢光を発する性質を有するガ
ス(例えば、エチルベンゼン、キシレン、ナフタ
レン等の芳香族炭化水素類など)が含まれている
ことが多く、従つて、SO2ガスの測定に際しては
これらのガスがSO2ガスに対する干渉ガスとして
作用するために、測定精度が大きく低下してしま
うことになる。
そこで、試料ガスをSO2ガス分析部へ供給する
に先立つて、その試料ガスから前記のような干渉
ガスを予め除去しておく必要があり、その前処理
手段として、従来は、SO2ガス分析部よりも前段
に干渉ガス除去用の加熱触媒装置を設けて、試料
ガスをその加熱触媒装置に通して酸化分解してか
らSO2ガス分析部へ供給するようにしていた。
に先立つて、その試料ガスから前記のような干渉
ガスを予め除去しておく必要があり、その前処理
手段として、従来は、SO2ガス分析部よりも前段
に干渉ガス除去用の加熱触媒装置を設けて、試料
ガスをその加熱触媒装置に通して酸化分解してか
らSO2ガス分析部へ供給するようにしていた。
しかしながら、上記のように加熱触媒装置から
なる干渉ガス除去器を用いる従来技術による場合
には、当面の除去対象である前述のような芳香族
炭化水素類などを一応除去することはできるが、
その反面、試料ガス中に含まれている硫化水素や
メルカプタンなどのSO2ガス以外の硫黄化合物
が、加熱触媒装置において酸化されてSO2ガスが
発生するために、これらの硫黄化合物が恰も干渉
ガスと同様の作用をもつことになる、といつた新
たな問題が生じてしまう。
なる干渉ガス除去器を用いる従来技術による場合
には、当面の除去対象である前述のような芳香族
炭化水素類などを一応除去することはできるが、
その反面、試料ガス中に含まれている硫化水素や
メルカプタンなどのSO2ガス以外の硫黄化合物
が、加熱触媒装置において酸化されてSO2ガスが
発生するために、これらの硫黄化合物が恰も干渉
ガスと同様の作用をもつことになる、といつた新
たな問題が生じてしまう。
また、前記加熱触媒装置は通常300〜400℃程度
の高温に維持する必要があるために、SO2ガス分
析装置として見た場合には非常に電力消費量が大
きく不経済であると共に、他の構成物との間の断
熱手段を講じる必要もあることから、分析装置全
体のコンパクト化が困難である、という問題もあ
る。
の高温に維持する必要があるために、SO2ガス分
析装置として見た場合には非常に電力消費量が大
きく不経済であると共に、他の構成物との間の断
熱手段を講じる必要もあることから、分析装置全
体のコンパクト化が困難である、という問題もあ
る。
本考案の目的は、かかる従来問題を一挙に解消
できる全く新規な構成のSO2ガス分析装置用の干
渉ガス除去器を開発・提供せんとすることにあ
る。
できる全く新規な構成のSO2ガス分析装置用の干
渉ガス除去器を開発・提供せんとすることにあ
る。
上記目的を達成するために、本考案によるSO2
ガス分析装置用の干渉ガス除去器は、第1図の概
念図(所謂クレーム対応図)に示すように、SO2
ガス分析部(ここでは図示せず)へ供給すべき試
料ガスSを通過させるための流路管1を、ポリシ
ロキサンを主成分とする高分子膜を用いて形成
し、かつ、その高分子膜製流路管1の外周囲に、
その流路管1内における試料ガスSの圧力よりも
低圧のパージ用ガスPを流動させるように構成し
てある、という特徴を備えている。
ガス分析装置用の干渉ガス除去器は、第1図の概
念図(所謂クレーム対応図)に示すように、SO2
ガス分析部(ここでは図示せず)へ供給すべき試
料ガスSを通過させるための流路管1を、ポリシ
ロキサンを主成分とする高分子膜を用いて形成
し、かつ、その高分子膜製流路管1の外周囲に、
その流路管1内における試料ガスSの圧力よりも
低圧のパージ用ガスPを流動させるように構成し
てある、という特徴を備えている。
かかる特徴構成故に発揮される作用は次の通り
である。
である。
即ち、上記本考案は、一般に酸素富化膜として
使用されているポリシロキサンを主成分とする高
分子膜が、干渉ガスである芳香族炭化水素類を選
択的にかつ非常に高効率で吸着・溶解させるが、
測定対象であるSO2ガスをはじめとする他の無機
ガスは殆ど透過させない性質を有している、とい
う発見的事実に基いてなされたものである。
使用されているポリシロキサンを主成分とする高
分子膜が、干渉ガスである芳香族炭化水素類を選
択的にかつ非常に高効率で吸着・溶解させるが、
測定対象であるSO2ガスをはじめとする他の無機
ガスは殆ど透過させない性質を有している、とい
う発見的事実に基いてなされたものである。
而して、本考案によるSO2ガス分析装置用の干
渉ガス除去器においては、そのポリシロキサンを
主成分とする高分子膜を用いて形成した流路管1
内に試料ガスSを導入通過させるように構成し、
しかも、その高分子膜製流路管1の外周囲に、試
料ガスSよりも低圧のパージ用ガスP(例えば、
清浄化空気)を流動させるように構成したことに
より、前記第1図に模式的に示しているように、
流路管1内を試料ガスSが通過する際に、その試
料ガスS中に含まれている干渉ガス(芳香族炭化
水素類など)のみが、流路管1を構成するポリシ
ロキサンを主成分とする高分子膜中に選択的に吸
着されて溶解し、しかる後、その流路管1の外周
囲を流動している低圧のパージ用ガスP中へ吸引
されて拡散するというようにして、試料ガス中か
らの干渉ガスの除去が、連続的にかつ確実な選択
性の下に非常に高効率で行われる。
渉ガス除去器においては、そのポリシロキサンを
主成分とする高分子膜を用いて形成した流路管1
内に試料ガスSを導入通過させるように構成し、
しかも、その高分子膜製流路管1の外周囲に、試
料ガスSよりも低圧のパージ用ガスP(例えば、
清浄化空気)を流動させるように構成したことに
より、前記第1図に模式的に示しているように、
流路管1内を試料ガスSが通過する際に、その試
料ガスS中に含まれている干渉ガス(芳香族炭化
水素類など)のみが、流路管1を構成するポリシ
ロキサンを主成分とする高分子膜中に選択的に吸
着されて溶解し、しかる後、その流路管1の外周
囲を流動している低圧のパージ用ガスP中へ吸引
されて拡散するというようにして、試料ガス中か
らの干渉ガスの除去が、連続的にかつ確実な選択
性の下に非常に高効率で行われる。
そして、本考案による干渉ガス除去器は、従来
の加熱触媒装置のように高温に加熱維持する必要
が無いから、非常に安全であると共に省エネルギ
ー効果が大きく、しかも、流路管1を構成するポ
リシロキサンを主成分とする高分子膜自体が非常
に安定な物質で寿命が長いことも相俟つて、全体
として極めて経済的であり、また、他の構成物と
の間の断熱手段を講じることも不要で、分析装置
全体のコンパクト化も容易に達成することができ
るようになり、更にまた、試料ガスS中に含まれ
ているSO2ガス以外の硫黄化合物が加熱により酸
化されて測定誤差の原因となるSO2ガスが発生す
るという従来問題も全く生じることが無く、測定
精度を大幅に向上させ得るようになつた。
の加熱触媒装置のように高温に加熱維持する必要
が無いから、非常に安全であると共に省エネルギ
ー効果が大きく、しかも、流路管1を構成するポ
リシロキサンを主成分とする高分子膜自体が非常
に安定な物質で寿命が長いことも相俟つて、全体
として極めて経済的であり、また、他の構成物と
の間の断熱手段を講じることも不要で、分析装置
全体のコンパクト化も容易に達成することができ
るようになり、更にまた、試料ガスS中に含まれ
ているSO2ガス以外の硫黄化合物が加熱により酸
化されて測定誤差の原因となるSO2ガスが発生す
るという従来問題も全く生じることが無く、測定
精度を大幅に向上させ得るようになつた。
以下、本考案に係るSO2ガス分析装置用の干渉
ガス除去器の各種具体的実施例を図面(第2図な
いし第5図)に基いて説明する。
ガス除去器の各種具体的実施例を図面(第2図な
いし第5図)に基いて説明する。
第2図イの縦断側面図および第2図ロの横断面
図は主実施例を示し、同図において、1は、この
干渉ガス除去器の後段に位置するSO2ガス分析部
(図示せず)へ供給すべき試料ガスSを通過させ
るための流路管であつて、通常は酸素富化膜とし
て多用されているポリシロキサン(特に、ポリメ
チルビニルシロキサン)を主成分とする高分子膜
製の円管体で構成されている。
図は主実施例を示し、同図において、1は、この
干渉ガス除去器の後段に位置するSO2ガス分析部
(図示せず)へ供給すべき試料ガスSを通過させ
るための流路管であつて、通常は酸素富化膜とし
て多用されているポリシロキサン(特に、ポリメ
チルビニルシロキサン)を主成分とする高分子膜
製の円管体で構成されている。
また、2は、前記高分子膜製流路管1を支承す
ると共に、その流路管1の外周囲にパージ用ガス
P(例えば、常温あるいは比較的低温の清浄化空
気など)を流動させるためのチヤンバーCを形成
するためのケーシングであつて、その長手方向両
端部にパージ用ガスPの導入口2Aおよび導出口
2Bを備えている。
ると共に、その流路管1の外周囲にパージ用ガス
P(例えば、常温あるいは比較的低温の清浄化空
気など)を流動させるためのチヤンバーCを形成
するためのケーシングであつて、その長手方向両
端部にパージ用ガスPの導入口2Aおよび導出口
2Bを備えている。
そして、前記ケーシング2の導入口2Aには、
流量制御手段としてのニードル弁3が介装された
パージ用ガスPの導入流路4が接続され、一方、
ケーシング2の導出口2Bには、圧力計5および
吸引ポンプ6(これは比較的小容量のもので十分
である)が介装されたパージ用ガスPの導出流路
7が接続され、以つて、前記高分子膜製流路管1
の外周囲(つまり、前記チヤンバーC内)に、前
記流路管1内における試料ガスSの導入圧力(通
常は略大気圧)よりも低圧となるように、例えば
0.1〜0.2Kg/cm2程度減圧されたパージ用ガスPを
流動させ得るように構成されている。
流量制御手段としてのニードル弁3が介装された
パージ用ガスPの導入流路4が接続され、一方、
ケーシング2の導出口2Bには、圧力計5および
吸引ポンプ6(これは比較的小容量のもので十分
である)が介装されたパージ用ガスPの導出流路
7が接続され、以つて、前記高分子膜製流路管1
の外周囲(つまり、前記チヤンバーC内)に、前
記流路管1内における試料ガスSの導入圧力(通
常は略大気圧)よりも低圧となるように、例えば
0.1〜0.2Kg/cm2程度減圧されたパージ用ガスPを
流動させ得るように構成されている。
なお、上記構成に係る干渉ガス除去器におい
て、前記ケーシング2により形成されるチヤンバ
ーC内を流動するパージ用ガスPの圧力は、前記
ニードル弁3による流量調節を行うことによつて
所定の値に設定される。そして、その干渉ガス除
去器の作用は、前記第1図を用いて既に説明した
ものと基本的に同様であるので、重複を避けるた
めにここでは省略する。ただし、前記パージ用ガ
スPとして、特に清浄化した空気を用いることに
より、流路管1の内外において、単に圧力差を持
たせるのみならず、可及的に大きな干渉ガス
(HC)濃度差をも持たせるようにすれば、一層
高い干渉ガス除去効果が得られることを付記して
おく。
て、前記ケーシング2により形成されるチヤンバ
ーC内を流動するパージ用ガスPの圧力は、前記
ニードル弁3による流量調節を行うことによつて
所定の値に設定される。そして、その干渉ガス除
去器の作用は、前記第1図を用いて既に説明した
ものと基本的に同様であるので、重複を避けるた
めにここでは省略する。ただし、前記パージ用ガ
スPとして、特に清浄化した空気を用いることに
より、流路管1の内外において、単に圧力差を持
たせるのみならず、可及的に大きな干渉ガス
(HC)濃度差をも持たせるようにすれば、一層
高い干渉ガス除去効果が得られることを付記して
おく。
ところで、上記主実施例においては、前記流路
管1を構成するに、ポリシロキサンを主成分とす
る高分子膜で構成された1本の円筒体を用いたも
のを示したが、第3図に示すように、同様の構成
を有する細い円筒体を複数本設けることにより、
パージ用ガスPとの接触面積をより大きくとれる
ようにすれば、更に一層高い干渉ガス除去効率を
得ることができる。この場合には、図示している
ように、ケーシング2には、更に、試料ガスSの
導入口2aおよび導出口2b、ならびに、試料ガ
スSの分流用チヤンバー2cおよび合流用チヤン
バー2dを設けるようにする。その他の構成は上
記主実施例のものと同様であるので、同じ機能を
有する部材には同じ参照番号を付すことにより、
それらについての説明は省略する。
管1を構成するに、ポリシロキサンを主成分とす
る高分子膜で構成された1本の円筒体を用いたも
のを示したが、第3図に示すように、同様の構成
を有する細い円筒体を複数本設けることにより、
パージ用ガスPとの接触面積をより大きくとれる
ようにすれば、更に一層高い干渉ガス除去効率を
得ることができる。この場合には、図示している
ように、ケーシング2には、更に、試料ガスSの
導入口2aおよび導出口2b、ならびに、試料ガ
スSの分流用チヤンバー2cおよび合流用チヤン
バー2dを設けるようにする。その他の構成は上
記主実施例のものと同様であるので、同じ機能を
有する部材には同じ参照番号を付すことにより、
それらについての説明は省略する。
また、上記各実施例においては、前記流路管1
を構成するに、その全体(全周囲)がポリシロキ
サンを主成分とする高分子膜のみで構成された円
管体を用いたものを示したが、必ずしもそのよう
にする必要は無く、例えば第4図に示すように、
ケーシング2内に2枚のポリシロキサンを主成分
とする平膜状の高分子膜1A,1Aを張設するこ
とにより、SO2ガス分析部へ供給すべき試料ガス
Sを通過させるための流路管1をそれら両高分子
膜1A,1A間に形成すると共に、その流路管1
の両側(この例では左右両側)に、夫々、試料ガ
スSの導入圧力よりも低圧となるように減圧され
たパージ用ガスPを流動させ得るチヤンバーC,
Cを設ける構成を採用してもよい。この場合に
は、図示しているように、前記両チヤンバーC,
Cに対して、夫々、パージ用ガスPの導入口2A
および導出口2Bを設けるようにする。その他の
構成は上記主実施例のものと同様であるので、同
じ機能を有する部材には同じ参照番号を付すこと
により、それらについての説明は省略する。
を構成するに、その全体(全周囲)がポリシロキ
サンを主成分とする高分子膜のみで構成された円
管体を用いたものを示したが、必ずしもそのよう
にする必要は無く、例えば第4図に示すように、
ケーシング2内に2枚のポリシロキサンを主成分
とする平膜状の高分子膜1A,1Aを張設するこ
とにより、SO2ガス分析部へ供給すべき試料ガス
Sを通過させるための流路管1をそれら両高分子
膜1A,1A間に形成すると共に、その流路管1
の両側(この例では左右両側)に、夫々、試料ガ
スSの導入圧力よりも低圧となるように減圧され
たパージ用ガスPを流動させ得るチヤンバーC,
Cを設ける構成を採用してもよい。この場合に
は、図示しているように、前記両チヤンバーC,
Cに対して、夫々、パージ用ガスPの導入口2A
および導出口2Bを設けるようにする。その他の
構成は上記主実施例のものと同様であるので、同
じ機能を有する部材には同じ参照番号を付すこと
により、それらについての説明は省略する。
第5図は、上記本考案に係る干渉ガス除去器を
SO2ガス分析装置に実装する場合の好適実施例を
示している。
SO2ガス分析装置に実装する場合の好適実施例を
示している。
即ち、図示しているように、試料ガスSの導入
口11、フイルター12、SO2ガス分析部13、
流量計14、キヤピラリー15、後で詳述すると
ころの流量制御手段V(例えばニードル弁)、吸引
ポンプ16、試料ガス導出口17等をこの順に配
列してサンプルラインAを形成する一方、前記サ
ンプルラインAにおけるSO2ガス分析部3よりも
前段側に、本考案に係る干渉ガス除去器Xを構成
する高分子膜製流路管1およびチヤンバーC形成
用のケーシング2を設け、そして、このチヤンバ
ーC内に前記流路管1内における試料ガスの圧力
よりも低圧となるように減圧されたパージ用ガス
P(この例では清浄化空気)を流動させるべく、
外部空気の取入れ口18、フイルター19、流量
計20、キヤピラリー21、炭化水素類等の不純
物を酸化除去するための加熱触媒装置22等をこ
の順に配列して成るパージガス導入流路23を介
して、ケーシング2の導入口2Aからパージ用ガ
スP(清浄化空気)を導入し、かつ、そのケーシ
ング2(チヤンバーC)の導出口2Aから前記サ
ンプルラインAに設けられた流量制御手段Vより
も前段側に至るパージガス導出流路24を設けて
パージラインBを形成してある。
口11、フイルター12、SO2ガス分析部13、
流量計14、キヤピラリー15、後で詳述すると
ころの流量制御手段V(例えばニードル弁)、吸引
ポンプ16、試料ガス導出口17等をこの順に配
列してサンプルラインAを形成する一方、前記サ
ンプルラインAにおけるSO2ガス分析部3よりも
前段側に、本考案に係る干渉ガス除去器Xを構成
する高分子膜製流路管1およびチヤンバーC形成
用のケーシング2を設け、そして、このチヤンバ
ーC内に前記流路管1内における試料ガスの圧力
よりも低圧となるように減圧されたパージ用ガス
P(この例では清浄化空気)を流動させるべく、
外部空気の取入れ口18、フイルター19、流量
計20、キヤピラリー21、炭化水素類等の不純
物を酸化除去するための加熱触媒装置22等をこ
の順に配列して成るパージガス導入流路23を介
して、ケーシング2の導入口2Aからパージ用ガ
スP(清浄化空気)を導入し、かつ、そのケーシ
ング2(チヤンバーC)の導出口2Aから前記サ
ンプルラインAに設けられた流量制御手段Vより
も前段側に至るパージガス導出流路24を設けて
パージラインBを形成してある。
つまり、上記のように、前記流量制御手段V
を、サンプルラインA上において、かつ、そのサ
ンプルラインAに合流させたパージラインB(パ
ージガス導出流路24)よりも後流側に配置する
ことによつて、その流量制御手段Vが、それらサ
ンプルラインSおよびパージラインPに対して同
時に作用するように構成してある。なお、図中2
5,26は、前記吸引ポンプ6の直前に接続され
たキヤピラリーおよび圧力スイツチであつて、そ
の圧力スイツチ26による検出結果に基いて、吸
引ポンプ16の直前における圧力を一定に維持す
るように、前記流量制御手段V(ニードル弁)を
自動制御可能に構成されている。
を、サンプルラインA上において、かつ、そのサ
ンプルラインAに合流させたパージラインB(パ
ージガス導出流路24)よりも後流側に配置する
ことによつて、その流量制御手段Vが、それらサ
ンプルラインSおよびパージラインPに対して同
時に作用するように構成してある。なお、図中2
5,26は、前記吸引ポンプ6の直前に接続され
たキヤピラリーおよび圧力スイツチであつて、そ
の圧力スイツチ26による検出結果に基いて、吸
引ポンプ16の直前における圧力を一定に維持す
るように、前記流量制御手段V(ニードル弁)を
自動制御可能に構成されている。
上記のように、サンプルラインAおよびパージ
ラインBに対して同時に作用する共通の流量制御
手段Vを設ける構造を採用することにより、たと
え温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ16
の能力変化等による流量変化が生じたとしても、
サンプルラインAおよびパージラインBにおける
流量は比例的に(同じ割合で)変化することとな
つて、サンプルラインAにおける試料ガスSの流
量変化に起因して生じる干渉ガスおよびSO2ガス
の透過率変化と、パージラインPにおけるパージ
用ガスPの流量変化に起因する同透過率変化と
が、互いに逆特性であることから、それらが相殺
し合う結果、大容量の吸引ポンプ16を用いたり
音速ノズルまたは調圧装置などの格別な機構を設
けるといつた大規模かつ不経済な流量影響対策を
講じなくても、流量影響による透過率(つまり、
干渉ガス除去能力および測定対象成分であるSO2
ガス損失率)変化が殆ど表れないようにでき、以
つて、十分に小容量の吸引ポンプ16を使用し
て、SO2ガス分析装置全体をより一層シンプルか
つコンパクトで安価に構成できながら、かつ、温
度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ16の能
力変化等に起因する流量影響を殆ど受けること無
く、常に優れた測定精度を確保できる。
ラインBに対して同時に作用する共通の流量制御
手段Vを設ける構造を採用することにより、たと
え温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ16
の能力変化等による流量変化が生じたとしても、
サンプルラインAおよびパージラインBにおける
流量は比例的に(同じ割合で)変化することとな
つて、サンプルラインAにおける試料ガスSの流
量変化に起因して生じる干渉ガスおよびSO2ガス
の透過率変化と、パージラインPにおけるパージ
用ガスPの流量変化に起因する同透過率変化と
が、互いに逆特性であることから、それらが相殺
し合う結果、大容量の吸引ポンプ16を用いたり
音速ノズルまたは調圧装置などの格別な機構を設
けるといつた大規模かつ不経済な流量影響対策を
講じなくても、流量影響による透過率(つまり、
干渉ガス除去能力および測定対象成分であるSO2
ガス損失率)変化が殆ど表れないようにでき、以
つて、十分に小容量の吸引ポンプ16を使用し
て、SO2ガス分析装置全体をより一層シンプルか
つコンパクトで安価に構成できながら、かつ、温
度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ16の能
力変化等に起因する流量影響を殆ど受けること無
く、常に優れた測定精度を確保できる。
また、吸引ポンプ16の能力変化等による流量
変化が生じた場合に、サンプルラインAおよびパ
ージラインBにおける流量を初期設定値に復帰さ
せるに際しても、前記ひとつの(共通の)流量制
御手段Vを操作するだけで、非常に容易に行うこ
とができる。
変化が生じた場合に、サンプルラインAおよびパ
ージラインBにおける流量を初期設定値に復帰さ
せるに際しても、前記ひとつの(共通の)流量制
御手段Vを操作するだけで、非常に容易に行うこ
とができる。
以上詳述したところから明らかなように、本考
案に係るSO2ガス分析装置用の干渉ガス除去器に
よれば、SO2ガス分析部へ供給すべき試料ガスを
通過させるための流路管を、主たる干渉ガスであ
る芳香族炭化水素を選択的にかつ非常に高効率で
吸着・溶解させる性質を有しているところのポリ
シロキサンを主成分とする高分子膜を用いて形成
し、かつ、その高分子膜製流路管の外周囲に、そ
の流路管内における試料ガスの圧力よりも低圧の
パージ用ガスを流動させる、という従来になかつ
た全く新規な構成を採用したことによつて、試料
ガス中からの干渉ガスの除去を、連続的にかつ確
実な選択性の下に非常に高効率で行なえ、しか
も、従来の加熱触媒装置のように高温に加熱維持
する必要が無いから、試料ガス中に含まれている
SO2ガス以外の硫黄化合物が加熱により酸化され
て測定誤差の原因となるSO2ガスが発生するとい
う従来問題も全く生じることが無く、測定精度を
大幅に向上させ得ると共に、非常に安全かつ経済
的であり、また、分析装置全体のコンパクト化も
容易に達成することができる、という種々の優れ
た効果が発揮されるに至つた。
案に係るSO2ガス分析装置用の干渉ガス除去器に
よれば、SO2ガス分析部へ供給すべき試料ガスを
通過させるための流路管を、主たる干渉ガスであ
る芳香族炭化水素を選択的にかつ非常に高効率で
吸着・溶解させる性質を有しているところのポリ
シロキサンを主成分とする高分子膜を用いて形成
し、かつ、その高分子膜製流路管の外周囲に、そ
の流路管内における試料ガスの圧力よりも低圧の
パージ用ガスを流動させる、という従来になかつ
た全く新規な構成を採用したことによつて、試料
ガス中からの干渉ガスの除去を、連続的にかつ確
実な選択性の下に非常に高効率で行なえ、しか
も、従来の加熱触媒装置のように高温に加熱維持
する必要が無いから、試料ガス中に含まれている
SO2ガス以外の硫黄化合物が加熱により酸化され
て測定誤差の原因となるSO2ガスが発生するとい
う従来問題も全く生じることが無く、測定精度を
大幅に向上させ得ると共に、非常に安全かつ経済
的であり、また、分析装置全体のコンパクト化も
容易に達成することができる、という種々の優れ
た効果が発揮されるに至つた。
第1図は、本考案の基本的概念図(クレーム対
応図)を示している。そして、第2図ないし第4
図は、本考案に係るSO2ガス分析装置用の干渉ガ
ス除去器の各種具体的実施例を示し、第2図イは
主実施例の縦断側面図、第2図ロは第2図イの
−線矢視図(横断面図)であり、第3図は別の
実施例の縦断側面図であり、第4図は更に別の実
施例の横断面図である。また、第5図は本考案に
係る干渉ガス除去器をSO2ガス分析装置に実装す
る場合の好適実施例を示す全体概略構成図であ
る。 1……ポリシロキサンを主成分とする高分子膜
製の流路管、D……SO2ガス分析部、P……低圧
パージ用ガス、S……試料ガス。
応図)を示している。そして、第2図ないし第4
図は、本考案に係るSO2ガス分析装置用の干渉ガ
ス除去器の各種具体的実施例を示し、第2図イは
主実施例の縦断側面図、第2図ロは第2図イの
−線矢視図(横断面図)であり、第3図は別の
実施例の縦断側面図であり、第4図は更に別の実
施例の横断面図である。また、第5図は本考案に
係る干渉ガス除去器をSO2ガス分析装置に実装す
る場合の好適実施例を示す全体概略構成図であ
る。 1……ポリシロキサンを主成分とする高分子膜
製の流路管、D……SO2ガス分析部、P……低圧
パージ用ガス、S……試料ガス。
Claims (1)
- SO2ガス分析部へ供給すべき試料ガスを通過さ
せるための流路管を、ポリシロキサンを主成分と
する高分子膜を用いて形成し、かつ、その高分子
膜製流路管の外周囲に、その流路管内における試
料ガスの圧力よりも低圧のパージ用ガスを流動さ
せるように構成してあることを特徴とするSO2ガ
ス分析装置用の干渉ガス除去器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4116387U JPH056517Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4116387U JPH056517Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63148852U JPS63148852U (ja) | 1988-09-30 |
| JPH056517Y2 true JPH056517Y2 (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=30855910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4116387U Expired - Lifetime JPH056517Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056517Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-03-19 JP JP4116387U patent/JPH056517Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63148852U (ja) | 1988-09-30 |
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