JPH056531A - 磁気デイスク - Google Patents
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- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 35
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 21
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 14
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 abstract description 11
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 9
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 abstract description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 7
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 abstract description 2
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 3
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 201000001432 Coffin-Siris syndrome Diseases 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910021385 hard carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 3
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010794 Cyclic Steam Stimulation Methods 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- TZVJRPRFJIXRGV-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Co].[Ta] Chemical compound [Cr].[Co].[Ta] TZVJRPRFJIXRGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
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- Lubricants (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高硬度で耐摩耗性、密着性、潤滑性に優れ、
高密度磁気記録技術に必要な500オングストローム以
下の膜厚の保護膜を兼ね備えた磁気ディスクを提供す
る。 【構成】 保護膜として硬質非晶質炭素膜を表面に設け
た磁気ディスクであって、硬質非晶質炭素膜の表面にフ
ッ素を含有する硬質非晶質炭素膜を設ける。
高密度磁気記録技術に必要な500オングストローム以
下の膜厚の保護膜を兼ね備えた磁気ディスクを提供す
る。 【構成】 保護膜として硬質非晶質炭素膜を表面に設け
た磁気ディスクであって、硬質非晶質炭素膜の表面にフ
ッ素を含有する硬質非晶質炭素膜を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高硬度で耐摩耗性に優れ
た磁気ディスクに関し、さらに詳しくは、硬度が高く、
耐摩耗性と潤滑性とを兼ね備えた表面保護膜構造を有す
る磁気ディスクに関するものである。
た磁気ディスクに関し、さらに詳しくは、硬度が高く、
耐摩耗性と潤滑性とを兼ね備えた表面保護膜構造を有す
る磁気ディスクに関するものである。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスクや磁気ヘッドは、磁気ディ
スク装置としてコンピュ−タ端末情報記憶装置に広く用
いられている。磁気ディスクは、アルミニウム金属基板
ないしはプラスチック等の基板上に、フェライトや鉄、
コバルト、ニッケルないしはこれらの化合物、またはネ
オジウム、サマリウム、ガドリニウム、テルビウム等の
希土類金属や、それらからなる化合物を磁気記録媒体と
して、塗布法やスパッタ法により薄い膜状に付着させて
用いられている。磁気ヘッドは種々の方式があるが、記
録媒体に書き込まれた磁気からの磁束を信号として取り
出すもので、可能な限り磁気ディスク面に近づけて使用
されるものである。このように、磁気ヘッドと磁気ディ
スクは互いに衝突摩擦しやすく、このため、磁気記録媒
体上に発生する傷等から記録媒体を保護するための保護
膜を必要とする。保護膜の備えるべき要件は、耐摩耗性
に優れていること、基板との密着性に優れていること、
表面の潤滑性に優れていること等が挙げられる。膜の硬
度は耐摩耗性の評価に用いることができ、硬度が高いほ
ど耐摩耗性に優れている。密着性は磁気ヘッドの接触時
あるいは摩擦時に保護膜が剥離しないために重要であ
る。潤滑性は磁気ディスクと磁気ヘッドの間の摩擦係数
によって評価することができ、摩擦係数が小さいほど保
護膜として優れている。
スク装置としてコンピュ−タ端末情報記憶装置に広く用
いられている。磁気ディスクは、アルミニウム金属基板
ないしはプラスチック等の基板上に、フェライトや鉄、
コバルト、ニッケルないしはこれらの化合物、またはネ
オジウム、サマリウム、ガドリニウム、テルビウム等の
希土類金属や、それらからなる化合物を磁気記録媒体と
して、塗布法やスパッタ法により薄い膜状に付着させて
用いられている。磁気ヘッドは種々の方式があるが、記
録媒体に書き込まれた磁気からの磁束を信号として取り
出すもので、可能な限り磁気ディスク面に近づけて使用
されるものである。このように、磁気ヘッドと磁気ディ
スクは互いに衝突摩擦しやすく、このため、磁気記録媒
体上に発生する傷等から記録媒体を保護するための保護
膜を必要とする。保護膜の備えるべき要件は、耐摩耗性
に優れていること、基板との密着性に優れていること、
表面の潤滑性に優れていること等が挙げられる。膜の硬
度は耐摩耗性の評価に用いることができ、硬度が高いほ
ど耐摩耗性に優れている。密着性は磁気ヘッドの接触時
あるいは摩擦時に保護膜が剥離しないために重要であ
る。潤滑性は磁気ディスクと磁気ヘッドの間の摩擦係数
によって評価することができ、摩擦係数が小さいほど保
護膜として優れている。
【0003】従来、この目的のための保護膜として、厚
み800オングストロ―ム程度の二酸化珪素(Si
O2)、窒化珪素(Si3N4)、アルミナ(Al2O3)
等の酸化物や窒化物、あるいはカ―ボン膜が用いられて
いる。Si3N4、SiO2およびAl2O3は、通常、シ
リコンやアルミニウムの有機金属化合物を溶媒中に溶解
したものを塗布乾燥後、熱処理する方法、窒素中ないし
はアルゴンと酸素の混合ガス中でスパッタリングする方
法、ないしは蒸着法で作製されている。カ−ボン膜につ
いては蒸着法、スパッタ法および炭化水素ガスによる化
学的気相成長法が知られている。これらの保護膜は50
0〜1000オングストローム程度の膜厚で用いられて
いた。また潤滑性に関しては、摩擦係数が0.5以下に
なるように、数十オングストロームの厚さの有機物から
なる潤滑剤を従来の保護膜表面に塗布して使用してい
た。近年の高度に発達した情報処理技術は、ますます大
容量の情報処理技術を要求しており、これに伴って高密
度磁気記録媒体技術は重要な位置を占めている。このた
め磁気ディスク表面の保護膜は、より一層の薄膜化が要
求されており、100オングストロームから50オング
ストローム程度のものも要求されつつある。
み800オングストロ―ム程度の二酸化珪素(Si
O2)、窒化珪素(Si3N4)、アルミナ(Al2O3)
等の酸化物や窒化物、あるいはカ―ボン膜が用いられて
いる。Si3N4、SiO2およびAl2O3は、通常、シ
リコンやアルミニウムの有機金属化合物を溶媒中に溶解
したものを塗布乾燥後、熱処理する方法、窒素中ないし
はアルゴンと酸素の混合ガス中でスパッタリングする方
法、ないしは蒸着法で作製されている。カ−ボン膜につ
いては蒸着法、スパッタ法および炭化水素ガスによる化
学的気相成長法が知られている。これらの保護膜は50
0〜1000オングストローム程度の膜厚で用いられて
いた。また潤滑性に関しては、摩擦係数が0.5以下に
なるように、数十オングストロームの厚さの有機物から
なる潤滑剤を従来の保護膜表面に塗布して使用してい
た。近年の高度に発達した情報処理技術は、ますます大
容量の情報処理技術を要求しており、これに伴って高密
度磁気記録媒体技術は重要な位置を占めている。このた
め磁気ディスク表面の保護膜は、より一層の薄膜化が要
求されており、100オングストロームから50オング
ストローム程度のものも要求されつつある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
種々の保護膜材料は、十分な硬度、密着性、耐摩耗性や
耐腐食性を有しておらず、例えばビッカ−ス硬度は、S
iO2では2000kg/mm2、アルミナや窒化珪素で
は3000kg/mm2程度であった。さらに保護膜厚
みも500オングストロ―ム程度が最小厚みで、これ以
下の膜厚では、その硬度、耐摩耗性や耐腐食性は格段に
低下してしまう根本的欠陥を持っていた。またこれらの
保護膜は潤滑性を向上させるために、潤滑剤を塗布して
使用されていることはいうまでもない。
種々の保護膜材料は、十分な硬度、密着性、耐摩耗性や
耐腐食性を有しておらず、例えばビッカ−ス硬度は、S
iO2では2000kg/mm2、アルミナや窒化珪素で
は3000kg/mm2程度であった。さらに保護膜厚
みも500オングストロ―ム程度が最小厚みで、これ以
下の膜厚では、その硬度、耐摩耗性や耐腐食性は格段に
低下してしまう根本的欠陥を持っていた。またこれらの
保護膜は潤滑性を向上させるために、潤滑剤を塗布して
使用されていることはいうまでもない。
【0005】これに対し、高硬度で潤滑性に優れた保護
膜材料として、スパッタ法や化学的気相成長法によって
作られる硬質カーボン膜が近年注目されている。しかし
ながらこの硬質カーボン膜においても、この潤滑性につ
いては不十分である。具体的には、磁気ヘッドと保護膜
の接触摩擦を繰り返すうちに摩擦係数が大きくなり、す
なわち潤滑性が劣化するといった問題がある。このこと
は、例えば、1990年発行の日本国際潤滑会議予稿集
(Proceedings ofthe International Tribology Confer
ence)の第1881ページの記載にみることができる。
すなわち、磁気ヘッドを磁気ディスク表面に押しつけ、
次に磁気ディスクを磁気ヘッドが浮上するまで高速回転
させ、浮上後回転を停止し、再び磁気ヘッドをディスク
面に接触させることを繰り返す、いわゆるコンタクト・
スタート・ストップ(CSS)試験を行った後、摩擦係
数を測定しているが、潤滑剤を用いない500オングス
トロームの膜厚の硬質カーボンにおいても、CSS回数
が少ないうちは摩擦係数が0.2程度と良好であるが、
2万回後の摩擦係数はすべて0.5以上となり、潤滑性
が劣化している。以上述べたように、従来の技術におい
ては500オングストローム以下の膜厚で、しかも高硬
度で耐摩耗性、密着性や潤滑性すべてに優れた保護膜は
実現されていなかった。本発明の目的は、このような従
来の問題点を解決することにある。
膜材料として、スパッタ法や化学的気相成長法によって
作られる硬質カーボン膜が近年注目されている。しかし
ながらこの硬質カーボン膜においても、この潤滑性につ
いては不十分である。具体的には、磁気ヘッドと保護膜
の接触摩擦を繰り返すうちに摩擦係数が大きくなり、す
なわち潤滑性が劣化するといった問題がある。このこと
は、例えば、1990年発行の日本国際潤滑会議予稿集
(Proceedings ofthe International Tribology Confer
ence)の第1881ページの記載にみることができる。
すなわち、磁気ヘッドを磁気ディスク表面に押しつけ、
次に磁気ディスクを磁気ヘッドが浮上するまで高速回転
させ、浮上後回転を停止し、再び磁気ヘッドをディスク
面に接触させることを繰り返す、いわゆるコンタクト・
スタート・ストップ(CSS)試験を行った後、摩擦係
数を測定しているが、潤滑剤を用いない500オングス
トロームの膜厚の硬質カーボンにおいても、CSS回数
が少ないうちは摩擦係数が0.2程度と良好であるが、
2万回後の摩擦係数はすべて0.5以上となり、潤滑性
が劣化している。以上述べたように、従来の技術におい
ては500オングストローム以下の膜厚で、しかも高硬
度で耐摩耗性、密着性や潤滑性すべてに優れた保護膜は
実現されていなかった。本発明の目的は、このような従
来の問題点を解決することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、硬質非晶質炭
素膜を表面に設けた磁気ディスクにおいて、硬質非晶質
炭素膜の最表面にフッ素を含有する層を設けたことを特
徴とする磁気ディスクである。
素膜を表面に設けた磁気ディスクにおいて、硬質非晶質
炭素膜の最表面にフッ素を含有する層を設けたことを特
徴とする磁気ディスクである。
【0007】以下、図面に基づいて本発明を説明する。
図1は本発明による磁気ディスクの構造を示す図であ
る。図1(a)は磁気ディスク11の平面図を示し、図
1(b)は図1(a)のX−X´線での断面を示す図で
ある。図1(b)で、基板12の表面に設けられた磁気
記録媒体層13上に、ほぼ全面にわたってシリコン皮膜
14を設け、その上に硬質非晶質炭素膜15を設けたも
のである。ここでシリコン皮膜14は硬質非晶質炭素膜
15と磁気記録媒体13との間の密着性を向上させるた
めに設けることが望ましい(特願昭62−234328
号)。さらに硬質非晶質炭素膜の表面にはフッ素を含有
した硬質非晶質炭素膜16が形成されている。基板12
としては、有機フィルムやアルミニウム等の金属ないし
は合金を用いることが可能で、磁気記録媒体層13を保
持するものであれば、特に材質は問題にならない。磁気
記録媒体層13の厚みは、通常10μmないしはそれ以
下の厚みとし、記録された情報を保持するのに必要な厚
みとされるものである。シリコン皮膜14の形成方法
は、均質な皮膜が形成される方法であれば特に制限され
るものではない。すなわち、蒸着法やスパッタ法、プラ
ズマ化学的気相成長法が使用できるが、スパッタ法が特
に良好な結果を与える。硬質非晶質炭素膜15の形成方
法は、メタン(CH4)と水素(H2)の混合ガスの直流
グロー放電プラズマ化学析出法が低温で良好な膜を合成
する手法として有効である。
図1は本発明による磁気ディスクの構造を示す図であ
る。図1(a)は磁気ディスク11の平面図を示し、図
1(b)は図1(a)のX−X´線での断面を示す図で
ある。図1(b)で、基板12の表面に設けられた磁気
記録媒体層13上に、ほぼ全面にわたってシリコン皮膜
14を設け、その上に硬質非晶質炭素膜15を設けたも
のである。ここでシリコン皮膜14は硬質非晶質炭素膜
15と磁気記録媒体13との間の密着性を向上させるた
めに設けることが望ましい(特願昭62−234328
号)。さらに硬質非晶質炭素膜の表面にはフッ素を含有
した硬質非晶質炭素膜16が形成されている。基板12
としては、有機フィルムやアルミニウム等の金属ないし
は合金を用いることが可能で、磁気記録媒体層13を保
持するものであれば、特に材質は問題にならない。磁気
記録媒体層13の厚みは、通常10μmないしはそれ以
下の厚みとし、記録された情報を保持するのに必要な厚
みとされるものである。シリコン皮膜14の形成方法
は、均質な皮膜が形成される方法であれば特に制限され
るものではない。すなわち、蒸着法やスパッタ法、プラ
ズマ化学的気相成長法が使用できるが、スパッタ法が特
に良好な結果を与える。硬質非晶質炭素膜15の形成方
法は、メタン(CH4)と水素(H2)の混合ガスの直流
グロー放電プラズマ化学析出法が低温で良好な膜を合成
する手法として有効である。
【0008】
【作用】本発明によれば、硬質非晶質炭素膜による優れ
た耐摩耗性と、フッ素を含有した硬質非晶質炭素による
優れた潤滑性とを同時に兼ね備え、500オングストロ
―ム以下の厚みでも良好な耐摩耗性と潤滑性を有する磁
気ディスクの表面保護膜を形成することができる。
た耐摩耗性と、フッ素を含有した硬質非晶質炭素による
優れた潤滑性とを同時に兼ね備え、500オングストロ
―ム以下の厚みでも良好な耐摩耗性と潤滑性を有する磁
気ディスクの表面保護膜を形成することができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について述べる。磁気
ディスクの基板として、直径5.25インチで、厚み
1.27mmのアルミニウム合金を用い、この上に磁気
記録媒体としてコバルト・クロム・タンタルの化合物を
スパッタ法により厚み約20μm付着させたものを用い
た。シリコン皮膜の形成は、通常のRFマグネトロンス
パッタ装置を用いた。真空度を10-3〜10-2Torr
の範囲としてアルゴンスパッタを用い、RF電力を10
0〜150Wとし、室温で成膜した。シリコン皮膜の厚
みは50オングストロームとした。硬質非晶質炭素膜お
よびフッ素を含有した硬質非晶質炭素膜の形成は図2に
示した装置を用いた。図2において、真空槽21に陰極
となる硬質非晶質炭素膜を形成すべき基板25を設置
し、基板の両面に平行となるように平板型の電極22を
配置する。陽極電極22には直流電源23を接続し、電
極間でグロ−放電を発生させる。具体的には、シリコン
皮膜を設けた磁気ディスク基板25を真空槽21に設置
し、次にメタンボンベ28、水素ボンベ29からの混合
ガスを導入し、硬質非晶質炭素膜の成膜を行う。得られ
る膜の質は真空度、ガスの混合比率や電極に印加する電
圧によって大きく変化するので、最適値を選ぶ必要があ
る。真空度は排気ポンプ26およびバルブ27で0.1
〜20Torrの真空度に調整する。またメタン28と
水素29の混合比率がCH4/H2=0.01〜0.10
の範囲の時、良好な結果を与える。一方、電圧の値は、
正規グロ−放電で、かつ異常グロ−放電が発生する直前
の条件が比較的良好な結果を与えた。またフッ素を含有
する硬質非晶質炭素膜は硬質非晶質炭素膜と同様な方法
で、メタン28のかわりに四フッ化メタン(CF4)3
0を用いて成膜を行った。
ディスクの基板として、直径5.25インチで、厚み
1.27mmのアルミニウム合金を用い、この上に磁気
記録媒体としてコバルト・クロム・タンタルの化合物を
スパッタ法により厚み約20μm付着させたものを用い
た。シリコン皮膜の形成は、通常のRFマグネトロンス
パッタ装置を用いた。真空度を10-3〜10-2Torr
の範囲としてアルゴンスパッタを用い、RF電力を10
0〜150Wとし、室温で成膜した。シリコン皮膜の厚
みは50オングストロームとした。硬質非晶質炭素膜お
よびフッ素を含有した硬質非晶質炭素膜の形成は図2に
示した装置を用いた。図2において、真空槽21に陰極
となる硬質非晶質炭素膜を形成すべき基板25を設置
し、基板の両面に平行となるように平板型の電極22を
配置する。陽極電極22には直流電源23を接続し、電
極間でグロ−放電を発生させる。具体的には、シリコン
皮膜を設けた磁気ディスク基板25を真空槽21に設置
し、次にメタンボンベ28、水素ボンベ29からの混合
ガスを導入し、硬質非晶質炭素膜の成膜を行う。得られ
る膜の質は真空度、ガスの混合比率や電極に印加する電
圧によって大きく変化するので、最適値を選ぶ必要があ
る。真空度は排気ポンプ26およびバルブ27で0.1
〜20Torrの真空度に調整する。またメタン28と
水素29の混合比率がCH4/H2=0.01〜0.10
の範囲の時、良好な結果を与える。一方、電圧の値は、
正規グロ−放電で、かつ異常グロ−放電が発生する直前
の条件が比較的良好な結果を与えた。またフッ素を含有
する硬質非晶質炭素膜は硬質非晶質炭素膜と同様な方法
で、メタン28のかわりに四フッ化メタン(CF4)3
0を用いて成膜を行った。
【0010】直流グロ−放電は基板25をア―スとし、
それに対向する電極22に直流電源23により正の電圧
で数百ボルト印加することにより発生させた。放電電流
密度は0.1〜1mA/mm2とした。反応ガスとし
て、メタンと水素の混合ガスを流量比CH4/H2=0.
01〜0.1の範囲で導入し、硬質非晶質炭素膜を形成
した。成膜時の圧力は0.1〜20Torrとし、基板
温度はほぼ室温とした。また硬質非晶質炭素膜の膜厚
は、反応時間によって制御し、100〜200オングス
トロームとした。次に、排気ポンプ26により真空槽2
1内を排気した後、四フッ化メタンと水素の混合ガスを
流量比CF4/H2=0.01〜0.1の範囲で導入し、
フッ素を含有した硬質非晶質炭素膜を形成した。膜厚は
50〜100オングストロームとした。その他の条件は
硬質非晶質炭素膜形成の時と同じとした。
それに対向する電極22に直流電源23により正の電圧
で数百ボルト印加することにより発生させた。放電電流
密度は0.1〜1mA/mm2とした。反応ガスとし
て、メタンと水素の混合ガスを流量比CH4/H2=0.
01〜0.1の範囲で導入し、硬質非晶質炭素膜を形成
した。成膜時の圧力は0.1〜20Torrとし、基板
温度はほぼ室温とした。また硬質非晶質炭素膜の膜厚
は、反応時間によって制御し、100〜200オングス
トロームとした。次に、排気ポンプ26により真空槽2
1内を排気した後、四フッ化メタンと水素の混合ガスを
流量比CF4/H2=0.01〜0.1の範囲で導入し、
フッ素を含有した硬質非晶質炭素膜を形成した。膜厚は
50〜100オングストロームとした。その他の条件は
硬質非晶質炭素膜形成の時と同じとした。
【0011】膜の耐摩耗性および摩擦係数は、先に述べ
たCSS試験と摩擦係数μを同時に測定する、いわゆる
CSS−μ試験法により行った。本実施例においては、
磁気ディスクに加わる磁気ヘッドの接触荷重を20g/
cm2、磁気ディスクの回転数を1分間に3600回転
とした。図3は、硬質非晶質炭素膜の膜厚を100オン
グストローム、フッ素を含有した硬質非晶質炭素膜の膜
厚を50オングストロームとしたときの、CSS回数と
摩擦係数変化を示したものである。本実施例では、潤滑
剤を用いなくとも2万回のCSS回数後の摩擦係数は
0.2以下で、優れた潤滑性を示した。またこの膜の硬
度はビッカース硬度に換算して8000〜10000k
g/mm2であり、CSS試験によって磁気ディスク表
面に摩耗が発生していないこと、および保護膜の剥離が
生じていないことは言うまでもない。また比較例とし
て、膜厚100オングストロームの硬質非晶質炭素膜の
みとした場合の結果も図3に示した。この場合、2万回
のCSS試験によって摩耗は認められなかったものの、
摩擦係数はCSS回数の増加に伴って最高0.6まで増
加した。
たCSS試験と摩擦係数μを同時に測定する、いわゆる
CSS−μ試験法により行った。本実施例においては、
磁気ディスクに加わる磁気ヘッドの接触荷重を20g/
cm2、磁気ディスクの回転数を1分間に3600回転
とした。図3は、硬質非晶質炭素膜の膜厚を100オン
グストローム、フッ素を含有した硬質非晶質炭素膜の膜
厚を50オングストロームとしたときの、CSS回数と
摩擦係数変化を示したものである。本実施例では、潤滑
剤を用いなくとも2万回のCSS回数後の摩擦係数は
0.2以下で、優れた潤滑性を示した。またこの膜の硬
度はビッカース硬度に換算して8000〜10000k
g/mm2であり、CSS試験によって磁気ディスク表
面に摩耗が発生していないこと、および保護膜の剥離が
生じていないことは言うまでもない。また比較例とし
て、膜厚100オングストロームの硬質非晶質炭素膜の
みとした場合の結果も図3に示した。この場合、2万回
のCSS試験によって摩耗は認められなかったものの、
摩擦係数はCSS回数の増加に伴って最高0.6まで増
加した。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による磁気
ディスクは、極めて高硬度で耐摩耗性および潤滑性に優
れ、かつ高密度磁気記録技術に要求される、膜厚500
オングストロ―ム以下の保護膜を兼ね備えたもので、実
用性が高いものである。
ディスクは、極めて高硬度で耐摩耗性および潤滑性に優
れ、かつ高密度磁気記録技術に要求される、膜厚500
オングストロ―ム以下の保護膜を兼ね備えたもので、実
用性が高いものである。
【図1】本発明による磁気ディスクの一例の平面図と断
面図である。
面図である。
【図2】本発明の磁気ディスクにおける硬質非晶質炭素
膜の形成に用いられる装置の一例の概略構成図である。
膜の形成に用いられる装置の一例の概略構成図である。
【図3】CSS回数と摩擦係数変化との関係を示す特性
図である。
図である。
11 磁気ディスク 12,25 基板 13 磁気記録媒体層 14 シリコン皮膜 15 硬質非晶質炭素膜 16 フッ素含有硬質非晶質炭素膜 21 真空槽 22 対向電極 23 直流電源 24 ガス導入口 26 排気ポンプ 27 バルブ 28 メタン 29 水素 30 四フッ化メタン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 硬質非晶質炭素膜を表面に設けた磁気デ
ィスクにおいて、硬質非晶質炭素膜の最表面にフッ素を
含有する層を設けたことを特徴とする磁気ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18419191A JPH056531A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁気デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18419191A JPH056531A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁気デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056531A true JPH056531A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=16148952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18419191A Pending JPH056531A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁気デイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056531A (ja) |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP18419191A patent/JPH056531A/ja active Pending
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