JPH0566982U - 半田バンプの形成方法 - Google Patents
半田バンプの形成方法Info
- Publication number
- JPH0566982U JPH0566982U JP007889U JP788992U JPH0566982U JP H0566982 U JPH0566982 U JP H0566982U JP 007889 U JP007889 U JP 007889U JP 788992 U JP788992 U JP 788992U JP H0566982 U JPH0566982 U JP H0566982U
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- JP
- Japan
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- solder
- pattern
- wiring board
- solder wire
- wire
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/012—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 配線基板のパターンの上面に超音波によるウ
エッジボンディングで半田ワイヤーを接着し、半田ワイ
ヤーを切断し、リフローすることによりパターンの上面
に半田バンプを形成する。 【構成】 配線基板2のパターン22の上面に半田ワイ
ヤー3を接続するために超音波によるウエッジボンディ
ング4を行う。そして半田ワイヤーの他端をカッターを
用いて切断する。次に配線基板をリフローすることによ
りパターンの上面に半田バンプを形成する。
エッジボンディングで半田ワイヤーを接着し、半田ワイ
ヤーを切断し、リフローすることによりパターンの上面
に半田バンプを形成する。 【構成】 配線基板2のパターン22の上面に半田ワイ
ヤー3を接続するために超音波によるウエッジボンディ
ング4を行う。そして半田ワイヤーの他端をカッターを
用いて切断する。次に配線基板をリフローすることによ
りパターンの上面に半田バンプを形成する。
Description
【0001】
本考案は、配線基板上に形成されたパターン上に半田バンプを形成する方法に 関する。
【0002】
従来、ハイブリッドIC等の高密度の表面実装を行う方法として、基板にファ インパターンを形成して半導体ベアチップを搭載する。このような実装方法とし てフリップチップ工法がある。図5は従来のフリップチップ工法の一例で、1は 半導体ベアチップで、半導体ベアチップの表面の電極13にバンプ12を形成し ている。2は配線基板で、配線基板の表面のパターン(電極)22の上に半田バ ンプまたは導電性接着剤21が形成されている。配線基板2の上に半導体ベアチ ップ1を載せてリフローを行なうことによって両者を接続する。半田バンプ21 をパターン22の上に形成するための製造方法には次の方法がある。1.半田ペ ーストの印刷。2.半田ディップ。3.ディスペンサーによる半田ペーストの供 給。4.超音波と加熱の併用のウエッジボンダーによる半田の形成。 配線基板2のパターン22の上に形成される半田の量は直径100ミクロン、 高さ20〜100ミクロンである。またパターン22の間隔は150ミクロンで ある。そのため上記の方法の1、2および3では半田の供給が難しく問題があり 、4の方法においては、半田ワイヤーの先端に半田の玉を放電により形成するた めこのとき酸化防止の不活性ガスが必要でこのような設備を備えた専用装置が必 要になる等の問題があった。
【0003】
本考案は、上記従来の技術の問題点に鑑みなされたもので、配線基板のパター ンの上面に超音波によるウエッジボンディングで半田ワイヤーを接着し、半田ワ イヤーを切断し、リフローすることによりパターンの上面に半田バンプを形成す る。
【0004】
上記課題を解決するために本考案では、配線基板上に形成されたパターンの上 に超音波によるウエッジボンダーを用いて半田ワイヤーをボンディングし、該半 田ワイヤーを切断し、該配線基板をリフローすることにより前記パターン上に半 田バンプを形成することを特徴とする半田バンプの形成方法を提供するものであ る。
【0005】
上記構成によれば、配線基板のパターンの上面に半田ワイヤを接続するために 超音波によるウエッジボンディングを行う。そして半田ワイヤの他端をカッター を用いて切断する。次に配線基板をリフローすることによりパターンの上面に半 田バンプを形成する
【0006】
本考案の実施例を添付図面を参照して詳細に説明する。図1から図4は本考案 の半田バンプの形成方法の一実施例を示す断面図である。 図において、2は配線基板で、配線基板の上面にパターン(電極)22が形成 されている。図2はウエッジボンディングの図で、4はウエッジボンダーの超音 波印加ツールで、半田ワイヤー3の先端部がパターン22の上面部に供給され、 超音波印加ツール4が半田ワイヤー3の上部より半田ワイヤー3を抑えながら超 音波を印加する。超音波の印加により半田ワイヤー3はパターン22の上面部に 振動による摩擦熱で接着され、しかる後、図示しないが半田ワイヤー3の他端は カッターで切断する。図3は半田ワイヤー3がパターン22の上面に接着された 図で、このようにして加工された配線基板2はリフロー槽に挿入されリフローす ることにより、半田ワイヤー3は溶融し、表面張力により丸くなる。図4はリフ ローされた配線基板の図で、配線基板2のパターン22の上面には半田バンプ2 1が形成されている。
【0007】
以上のように本考案においては、半田ワイヤーの径と圧着幅だけで供給量を制 御するため供給量を均一にすることができるので、バンプの大きさは均一化する 。また放電により半田ボールを造らないため加熱工程がなく酸化防止のための不 活性ガス供給装置がいらないので設備が少なくてすみ、設備費が安く済む等の効 果は大きい。
【図1】本考案の半田バンプの形成方法の一実施例を示
す断面図である。
す断面図である。
【図2】本考案の半田バンプの形成方法を示す断面図で
ある。
ある。
【図3】本考案の半田バンプの形成方法を示す断面図で
ある。
ある。
【図4】本考案の半田バンプの形成方法を示す断面図で
ある。
ある。
【図5】従来のフリップチップ工法を示す断面図であ
る。
る。
1 半導体ベアチップ 12 バンプ 13 電極 2 配線基板 21 半田バンプ 22 パターン 3 半田ワイヤー 4 超音波印加ツール
Claims (1)
- 【請求項1】 配線基板上に形成されたパターンの上に
超音波によるウエッジボンダーを用いて半田ワイヤーを
ボンディングし、該半田ワイヤーを切断し、該配線基板
をリフローすることにより前記パターン上に半田バンプ
を形成することを特徴とする半田バンプの形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP007889U JPH0566982U (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 半田バンプの形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP007889U JPH0566982U (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 半田バンプの形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566982U true JPH0566982U (ja) | 1993-09-03 |
Family
ID=11678158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP007889U Pending JPH0566982U (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 半田バンプの形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566982U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08148495A (ja) * | 1994-11-25 | 1996-06-07 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその製造方法、半導体装置におけるバンプ密着性評価方法 |
| JP2007281327A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Nichicon Corp | 微小はんだ付けランドへのはんだ供給方法 |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP007889U patent/JPH0566982U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08148495A (ja) * | 1994-11-25 | 1996-06-07 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその製造方法、半導体装置におけるバンプ密着性評価方法 |
| JP2007281327A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Nichicon Corp | 微小はんだ付けランドへのはんだ供給方法 |
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