JPH0567971A - 履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置 - Google Patents
履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置Info
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- JPH0567971A JPH0567971A JP25287191A JP25287191A JPH0567971A JP H0567971 A JPH0567971 A JP H0567971A JP 25287191 A JP25287191 A JP 25287191A JP 25287191 A JP25287191 A JP 25287191A JP H0567971 A JPH0567971 A JP H0567971A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
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- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 DUT10の遷移点電圧を得るまでの経過を
記録・解析し、最適条件でDUT10を試験する。 【構成】 測定されるDUT10に入力電圧を与える高
精度D/A変換器1と、DUT10からの出力コードを
受け、その結果の処理と帰還制御をする処理部2と、処
理部2から出力されるデータを記憶する記憶回路3と、
記憶回路3の内容を読み出し、解析操作をするコンピュ
ータ装置4と、DUT10と処理部2にトリガ信号を送
り、時間的制御をするタイミング発生部5とを備え、D
UT10の遷移点電圧測定値を得るまでの経過を記憶回
路3に記憶し、記憶回路3の内容をコンピュータ装置4
で処理・表示する。
記録・解析し、最適条件でDUT10を試験する。 【構成】 測定されるDUT10に入力電圧を与える高
精度D/A変換器1と、DUT10からの出力コードを
受け、その結果の処理と帰還制御をする処理部2と、処
理部2から出力されるデータを記憶する記憶回路3と、
記憶回路3の内容を読み出し、解析操作をするコンピュ
ータ装置4と、DUT10と処理部2にトリガ信号を送
り、時間的制御をするタイミング発生部5とを備え、D
UT10の遷移点電圧測定値を得るまでの経過を記憶回
路3に記憶し、記憶回路3の内容をコンピュータ装置4
で処理・表示する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】A/D変換器の性能を評価する場
合、各出力コードの変化点に相当する入力電圧(遷移点
電圧)を測定しなければならない。このため、A/D変
換器用測定装置には、隣り合う出力コードの出力が均等
となるように入力電圧を制御する機構が必要とされる。
この発明は、遷移点電圧を得るまでの出力コードと入力
電圧の関係を記録・解析することによって、最適な制御
を達成し、測定時間を短縮するA/D変換器用測定装置
についてのものである。
合、各出力コードの変化点に相当する入力電圧(遷移点
電圧)を測定しなければならない。このため、A/D変
換器用測定装置には、隣り合う出力コードの出力が均等
となるように入力電圧を制御する機構が必要とされる。
この発明は、遷移点電圧を得るまでの出力コードと入力
電圧の関係を記録・解析することによって、最適な制御
を達成し、測定時間を短縮するA/D変換器用測定装置
についてのものである。
【0002】
【従来の技術】次に、従来技術によるA/D変換器用測
定装置の構成図を図4により説明する。図4の7は積分
型電圧計、8は可変電圧源、9はディジタル比較器、1
0は測定されるA/D変換器(以下、DUTという。)
である。図4によりDUT10の遷移点電圧が測定され
る。図4はアナログ方式によるDUT10の遷移点電圧
測定回路である。
定装置の構成図を図4により説明する。図4の7は積分
型電圧計、8は可変電圧源、9はディジタル比較器、1
0は測定されるA/D変換器(以下、DUTという。)
である。図4によりDUT10の遷移点電圧が測定され
る。図4はアナログ方式によるDUT10の遷移点電圧
測定回路である。
【0003】図4のA点の電圧は、DUT10の出力コ
ードと、対象とする遷移点コードを比較するデジタル比
較器9の判定結果によって出力電圧の掃引方向が切り換
わる可変電圧源8から供給される。可変電圧源8は、判
定結果が(出力コード<遷移点コード)の場合は、入力
電圧を大きくする方向に働き、判定結果が(出力コード
≧遷移点コード)の場合は、入力電圧を小さくする方向
に働く。
ードと、対象とする遷移点コードを比較するデジタル比
較器9の判定結果によって出力電圧の掃引方向が切り換
わる可変電圧源8から供給される。可変電圧源8は、判
定結果が(出力コード<遷移点コード)の場合は、入力
電圧を大きくする方向に働き、判定結果が(出力コード
≧遷移点コード)の場合は、入力電圧を小さくする方向
に働く。
【0004】次に、図4の波形図を図5により説明す
る。図5は図4のA点の波形図であり、電圧波形の平均
値は遷移点電圧に等しくなる。したがって、積分型電圧
計7により遷移点電圧を測定することができる。遷移点
は(2のn乗−1)点(nは変換器の分解能)あり、全
点を測定するには1点当たりの測定時間の(2のn乗−
1)倍が必要になる。図4により出力電圧を正確に測る
ためには、図5に示す波形の振幅を小さくするととも
に、電圧計7の積分時間を長くする必要がある。このた
め、測定時間が長くなる。
る。図5は図4のA点の波形図であり、電圧波形の平均
値は遷移点電圧に等しくなる。したがって、積分型電圧
計7により遷移点電圧を測定することができる。遷移点
は(2のn乗−1)点(nは変換器の分解能)あり、全
点を測定するには1点当たりの測定時間の(2のn乗−
1)倍が必要になる。図4により出力電圧を正確に測る
ためには、図5に示す波形の振幅を小さくするととも
に、電圧計7の積分時間を長くする必要がある。このた
め、測定時間が長くなる。
【0005】次に、従来技術による他のA/D変換器用
測定装置の構成図を図6により説明する。図6の11は
高精度D/A変換器、12は処理部である。図6は図4
の可変電圧源7を高精度D/A変換器11としたもので
あり、ディジタル方式によるDUT10の遷移点電圧測
定回路である。図6では、高精度D/A変換器11に可
変電圧源7のような動作をさせることによって、同じよ
うな電圧出力を得ることができる。しかし、図6のB点
の電圧を積分型電圧計で測定したのでは、測定時間が短
くならない。そこで通常は、高精度D/A変換器11の
測定値より直接遷移点電圧を求める。これにより、電圧
計を省略することができるが、高精度D/A変換器11
の出力は、ノイズ分布を表現したような値をとるので、
遷移点電圧の値を得るには、それぞれの入力電圧と出力
コードより統計的に処理をして求めなければならない。
図6の処理部12は、高精度D/A変換器11の電圧設
定と統計的処理をする部分である。
測定装置の構成図を図6により説明する。図6の11は
高精度D/A変換器、12は処理部である。図6は図4
の可変電圧源7を高精度D/A変換器11としたもので
あり、ディジタル方式によるDUT10の遷移点電圧測
定回路である。図6では、高精度D/A変換器11に可
変電圧源7のような動作をさせることによって、同じよ
うな電圧出力を得ることができる。しかし、図6のB点
の電圧を積分型電圧計で測定したのでは、測定時間が短
くならない。そこで通常は、高精度D/A変換器11の
測定値より直接遷移点電圧を求める。これにより、電圧
計を省略することができるが、高精度D/A変換器11
の出力は、ノイズ分布を表現したような値をとるので、
遷移点電圧の値を得るには、それぞれの入力電圧と出力
コードより統計的に処理をして求めなければならない。
図6の処理部12は、高精度D/A変換器11の電圧設
定と統計的処理をする部分である。
【0006】図6で遷移点電圧を高速に測定するには、
なるべく少ない回数で、真の電圧値を得ることが必要で
あるが、測定回数と精度は相反する関係にあり、最適な
条件を求める必要がある。必要な精度を確保し、測定回
数を最小限にとどめるためには、B点の電圧をすみやか
に遷移点近傍に移動させ、図7のように電圧を変化さ
せ、ある程度の数の出力コードを得なければならない。
なるべく少ない回数で、真の電圧値を得ることが必要で
あるが、測定回数と精度は相反する関係にあり、最適な
条件を求める必要がある。必要な精度を確保し、測定回
数を最小限にとどめるためには、B点の電圧をすみやか
に遷移点近傍に移動させ、図7のように電圧を変化さ
せ、ある程度の数の出力コードを得なければならない。
【0007】図6で、最適測定条件を得ようとすると、
出力コードと入力電圧の関係を記録できる他の装置を用
意し、その結果から類推するか、または再現性のある遷
移点電圧が得られるように条件を変えてみる試行錯誤的
操作が必要となる。また、このような操作で測定しても
最適条件の設定には時間がかかり、実際に最適条件にな
っていることが確認できない。これまで説明したとお
り、DUT10を高速・高精度な最適条件で測定しよう
とすると、どれかの面で不満足な結果しか得られないこ
とがわかる。
出力コードと入力電圧の関係を記録できる他の装置を用
意し、その結果から類推するか、または再現性のある遷
移点電圧が得られるように条件を変えてみる試行錯誤的
操作が必要となる。また、このような操作で測定しても
最適条件の設定には時間がかかり、実際に最適条件にな
っていることが確認できない。これまで説明したとお
り、DUT10を高速・高精度な最適条件で測定しよう
とすると、どれかの面で不満足な結果しか得られないこ
とがわかる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】nビットの分解能をも
つA/D変換器は(2のn乗−1)の遷移点をもってお
り、その性能の評価には、全遷移点の測定が必要であ
る。このため、1点当りの測定時間がわずか違うだけで
も、1個の変換器の評価に要する時間は大幅に変り、遷
移点の測定には精度と速度の最適化が必要である。図4
や図6には、このような最適化をするための機能が組込
まれておらず、測定装置だけで最適な条件を見つけるこ
とが困難である。
つA/D変換器は(2のn乗−1)の遷移点をもってお
り、その性能の評価には、全遷移点の測定が必要であ
る。このため、1点当りの測定時間がわずか違うだけで
も、1個の変換器の評価に要する時間は大幅に変り、遷
移点の測定には精度と速度の最適化が必要である。図4
や図6には、このような最適化をするための機能が組込
まれておらず、測定装置だけで最適な条件を見つけるこ
とが困難である。
【0009】この発明は、図6に記憶回路、コンピュー
タ装置及びタイミング発生部を加えることにより、遷移
点電圧を得るまでの経過を記録・解析し、最適条件でD
UT10を試験することができるA/D変換器用測定装
置の提供を目的とする。
タ装置及びタイミング発生部を加えることにより、遷移
点電圧を得るまでの経過を記録・解析し、最適条件でD
UT10を試験することができるA/D変換器用測定装
置の提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、測定されるDUT10に入力電圧を
与える高精度D/A変換器1と、DUT10からの出力
コードを受け、その結果の処理と帰還制御をする処理部
2と、処理部2から出力されるデータを記憶する記憶回
路3と、記憶回路3の内容を読み出し、解析操作をする
コンピュータ装置4と、DUT10と処理部2にトリガ
信号を送り、時間的制御をするタイミング発生部5とを
備え、DUT10の遷移点電圧測定値を得るまでの経過
を記憶回路3に記憶し、記憶回路3の内容をコンピュー
タ装置4で処理・表示する。
め、この発明では、測定されるDUT10に入力電圧を
与える高精度D/A変換器1と、DUT10からの出力
コードを受け、その結果の処理と帰還制御をする処理部
2と、処理部2から出力されるデータを記憶する記憶回
路3と、記憶回路3の内容を読み出し、解析操作をする
コンピュータ装置4と、DUT10と処理部2にトリガ
信号を送り、時間的制御をするタイミング発生部5とを
備え、DUT10の遷移点電圧測定値を得るまでの経過
を記憶回路3に記憶し、記憶回路3の内容をコンピュー
タ装置4で処理・表示する。
【0011】
【作用】次に、この発明によるA/D変換器用測定装置
の構成図を図1により説明する。図1の1は高精度D/
A変換器、2は処理部、3は記憶回路、4はコンピュー
タ装置、5はタイミング発生部、6は制御用バスであ
る。
の構成図を図1により説明する。図1の1は高精度D/
A変換器、2は処理部、3は記憶回路、4はコンピュー
タ装置、5はタイミング発生部、6は制御用バスであ
る。
【0012】記憶回路3は、DUT10からの出力コー
ドと、そのとき入力されている電圧(具体的には、高精
度D/A変換器1の入力コード)を一対の値として記憶
しており、この値は、処理部2により、時系列的順序に
従って記録される。処理部2は、DUT10の出力コー
ドと、そのときの高精度D/A変換器1の設定コードを
1回のサイクルごとに記憶回路3に書き込む。処理部2
のサイクル当りの処理速度は、DUT10の処理速度以
上でなければならないので、これによって、測定できる
変換レートが決定される。処理の高速化には、処理部2
の速度向上とハードウエアの高速性の確保が必要である
が、図1の構成は高速応答ができ、記憶回路3とのイン
ターフェースも容易であることから、記憶回路3の追加
による処理速度の低下は問題にならない。
ドと、そのとき入力されている電圧(具体的には、高精
度D/A変換器1の入力コード)を一対の値として記憶
しており、この値は、処理部2により、時系列的順序に
従って記録される。処理部2は、DUT10の出力コー
ドと、そのときの高精度D/A変換器1の設定コードを
1回のサイクルごとに記憶回路3に書き込む。処理部2
のサイクル当りの処理速度は、DUT10の処理速度以
上でなければならないので、これによって、測定できる
変換レートが決定される。処理の高速化には、処理部2
の速度向上とハードウエアの高速性の確保が必要である
が、図1の構成は高速応答ができ、記憶回路3とのイン
ターフェースも容易であることから、記憶回路3の追加
による処理速度の低下は問題にならない。
【0013】次に、記憶値を利用し、最適条件を得る解
析的操作が必要になるが、それぞれ各サイクルの値は、
記憶回路3に記録されているので、一連の測定が終了し
た時点で記憶回路3から読み出し、変化の経過を図示す
れば、わずかな試行錯誤によって最適条件に近づけるこ
とができる。表示については、システムに備わっている
コンピュータか、または、一般的なパーソナルコンピュ
ータを使用することができる。また、記憶回路3の容量
についても、全遷移点の経過を記録する必要はないの
で、わずかな費用で実現することができる。
析的操作が必要になるが、それぞれ各サイクルの値は、
記憶回路3に記録されているので、一連の測定が終了し
た時点で記憶回路3から読み出し、変化の経過を図示す
れば、わずかな試行錯誤によって最適条件に近づけるこ
とができる。表示については、システムに備わっている
コンピュータか、または、一般的なパーソナルコンピュ
ータを使用することができる。また、記憶回路3の容量
についても、全遷移点の経過を記録する必要はないの
で、わずかな費用で実現することができる。
【0014】次に、図1を説明する。タイミング発生部
5は、DUT10に変換の開始等の信号を送り、処理部
2にはDUT10の出力データの取り込み等の制御信号
を出力する。処理部2は高精度D/A変換器1に電圧値
をあらかじめ設定しており、この信号を受けてDUT1
0の出力コードを取り込む。出力コードは、設定電圧値
とともに記憶回路3に書き込まれ、処理部2はさらに次
の電圧値を高精度D/A変換器1に設定する。タイミン
グ発生部5と処理部2は、このようなサイクルをあらか
じめ設定された回数実行し、遷移点の値を計算するに必
要な回数を測定する。
5は、DUT10に変換の開始等の信号を送り、処理部
2にはDUT10の出力データの取り込み等の制御信号
を出力する。処理部2は高精度D/A変換器1に電圧値
をあらかじめ設定しており、この信号を受けてDUT1
0の出力コードを取り込む。出力コードは、設定電圧値
とともに記憶回路3に書き込まれ、処理部2はさらに次
の電圧値を高精度D/A変換器1に設定する。タイミン
グ発生部5と処理部2は、このようなサイクルをあらか
じめ設定された回数実行し、遷移点の値を計算するに必
要な回数を測定する。
【0015】処理部2は、これら一連の出力データと設
定電圧から遷移点の電圧を計算する。さらにこれらの測
定と計算を(2のn乗−1)回(nはDUT10の分解
能)実行し、全遷移点の値を得る。記憶回路3は、この
うち解析の必要な部分だけを記憶し、全点の測定終了
後、読み出して解析する。測定に必要な各部の設定は、
制御用バス6を用いて、コンピュータ4からあらかじめ
設定される。
定電圧から遷移点の電圧を計算する。さらにこれらの測
定と計算を(2のn乗−1)回(nはDUT10の分解
能)実行し、全遷移点の値を得る。記憶回路3は、この
うち解析の必要な部分だけを記憶し、全点の測定終了
後、読み出して解析する。測定に必要な各部の設定は、
制御用バス6を用いて、コンピュータ4からあらかじめ
設定される。
【0016】解析をする場合は、コンピュータ4によ
り、制御用バス6を用いて記憶回路3からデータを読み
出し、コンピュータ4に付属する表示器4Aにより、デ
ータのグラフを表示する。
り、制御用バス6を用いて記憶回路3からデータを読み
出し、コンピュータ4に付属する表示器4Aにより、デ
ータのグラフを表示する。
【0017】次に、表示器4Aの表示例を図2により説
明する。コンピュータ4と記憶回路3を用いることによ
って、さまざまな表示をすることができるが、次にその
応用例を示す。図3は、遷移点電圧近傍のノイズ分布の
表示例である。この表示に必要な一連の出力データを得
るには、DUT10の設定電圧を固定し、決められた回
数の変換を実行し、出現回数を記憶する。これを遷移点
近傍の必要な電圧についてすべて実行する。動作は、処
理部2のプログラムをわずか変えればよく、図1の構成
をそのまま使用することができる。
明する。コンピュータ4と記憶回路3を用いることによ
って、さまざまな表示をすることができるが、次にその
応用例を示す。図3は、遷移点電圧近傍のノイズ分布の
表示例である。この表示に必要な一連の出力データを得
るには、DUT10の設定電圧を固定し、決められた回
数の変換を実行し、出現回数を記憶する。これを遷移点
近傍の必要な電圧についてすべて実行する。動作は、処
理部2のプログラムをわずか変えればよく、図1の構成
をそのまま使用することができる。
【0018】
【発明の効果】この発明によれば、従来のA/D変換器
用測定装置に記憶回路を加えているので、遷移点電圧を
得るまでの経過を記録・解析することができ、最適条件
でDUTを試験することができる。また、コンピュータ
装置の解析により、デバック時の操作性の向上、効率化
を図ることができる。さらに、記憶回路は従来回路を少
し変えるだけ追加できるので、安価に実現することがで
きる。
用測定装置に記憶回路を加えているので、遷移点電圧を
得るまでの経過を記録・解析することができ、最適条件
でDUTを試験することができる。また、コンピュータ
装置の解析により、デバック時の操作性の向上、効率化
を図ることができる。さらに、記憶回路は従来回路を少
し変えるだけ追加できるので、安価に実現することがで
きる。
【図1】この発明によるA/D変換器用測定装置の構成
図である。
図である。
【図2】図1の入力電圧と出力データの関係を示すグラ
フである。
フである。
【図3】遷移点近傍のノイズ分布状態を示す図である。
【図4】従来技術によるA/D変換器用測定装置の構成
図である。
図である。
【図5】図4のA点の波形図である。
【図6】従来技術による他のA/D変換器用測定装置の
構成図である。
構成図である。
【図7】図6のB点の波形図である。
1 高精度D/A変換器 2 処理部 3 記憶回路 4 コンピュータ装置 5 タイミング発生部 6 制御用バス 10 DUT(測定されるA/D変換器)
Claims (1)
- 【請求項1】 測定されるA/D変換器(10)に入力電圧
を与える高精度D/A変換器(1) と、 A/D変換器(10)からの出力コードを受け、その結果の
処理と帰還制御をする処理部(2) と、 処理部(2) から出力されるデータを記憶する記憶回路
(3) と、 記憶回路(3) の内容を読み出し、解析操作をするコンピ
ュータ装置(4) と、 A/D変換器(10)と処理部(2) にトリガ信号を送り、時
間的制御をするタイミング発生部(5) とを備え、 A/D変換器(10)の遷移点電圧測定値を得るまでの経過
を記憶回路(3) に記憶し、記憶回路(3) の内容をコンピ
ュータ装置(4) で処理し、表示することを特徴とする履
歴用記憶回路を備えたA/D変換器用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25287191A JPH0567971A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25287191A JPH0567971A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0567971A true JPH0567971A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17243329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25287191A Pending JPH0567971A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0567971A (ja) |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP25287191A patent/JPH0567971A/ja active Pending
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