JPH0572276A - Ｌｓｉ試験装置およびｌｓｉ試験プログラム自動作成装置 - Google Patents
Ｌｓｉ試験装置およびｌｓｉ試験プログラム自動作成装置Info
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- JPH0572276A JPH0572276A JP3230123A JP23012391A JPH0572276A JP H0572276 A JPH0572276 A JP H0572276A JP 3230123 A JP3230123 A JP 3230123A JP 23012391 A JP23012391 A JP 23012391A JP H0572276 A JPH0572276 A JP H0572276A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数品種のＬＳＩの共通仕様部分の試験内容
の変更、追加を容易かつ迅速に行うＬＳＩ試験装置及び
ＬＳＩ試験用プログラム自動作成装置を提供する。 【構成】 第１の発明は、前記共通仕様部分についての
共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段４と、前
記ＬＳＩの各品種に対応する個別仕様部分についての個
別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段４と、前記
共通試験手順を変更、追加する共通試験手順変更追加手
段２、３と、前記変更、追加された共通試験手順並びに
被試験ＬＳＩ１５に対応する個別試験手順を読出し、被
試験ＬＳＩ１５の試験の制御を行う試験制御手段３と、
を備える。また、第２の発明は、試験制御手段３に代
え、前記変更、追加された共通試験手順並びに被試験Ｌ
ＳＩ１５に対応する個別試験手順を読出し、結合して試
験プログラムを自動作成するプログラム作成制御手段を
備える。
の変更、追加を容易かつ迅速に行うＬＳＩ試験装置及び
ＬＳＩ試験用プログラム自動作成装置を提供する。 【構成】 第１の発明は、前記共通仕様部分についての
共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段４と、前
記ＬＳＩの各品種に対応する個別仕様部分についての個
別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段４と、前記
共通試験手順を変更、追加する共通試験手順変更追加手
段２、３と、前記変更、追加された共通試験手順並びに
被試験ＬＳＩ１５に対応する個別試験手順を読出し、被
試験ＬＳＩ１５の試験の制御を行う試験制御手段３と、
を備える。また、第２の発明は、試験制御手段３に代
え、前記変更、追加された共通試験手順並びに被試験Ｌ
ＳＩ１５に対応する個別試験手順を読出し、結合して試
験プログラムを自動作成するプログラム作成制御手段を
備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩ試験装置および
ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置に係り、特に共通仕
様部分を有する同一系列の複数品種のＬＳＩを品種ごと
に異なる試験条件で試験するＬＳＩ試験装置およびＬＳ
Ｉ試験のための試験プログラムを自動作成するＬＳＩ試
験プログラム自動作成装置に関する。
ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置に係り、特に共通仕
様部分を有する同一系列の複数品種のＬＳＩを品種ごと
に異なる試験条件で試験するＬＳＩ試験装置およびＬＳ
Ｉ試験のための試験プログラムを自動作成するＬＳＩ試
験プログラム自動作成装置に関する。
【０００２】近年のＬＳＩの高集積化、多品種化に対応
してＬＳＩ試験の容易化並びに試験用プログラム作成の
迅速化が望まれている。
してＬＳＩ試験の容易化並びに試験用プログラム作成の
迅速化が望まれている。
【０００３】
【従来の技術】ＬＳＩの良品、不良品を餞別するための
試験は、ＣＡＤで発生された試験パターンを入力し、ま
たは試験プログラムを動作させることにより行ってお
り、正常動作が確認できたＬＳＩを良品としている。
試験は、ＣＡＤで発生された試験パターンを入力し、ま
たは試験プログラムを動作させることにより行ってお
り、正常動作が確認できたＬＳＩを良品としている。
【０００４】ところで、従来のＬＳＩにおいては、共通
仕様部分を有する同一系列の複数品種のＬＳＩからなる
シリーズＬＳＩがある。このシリーズＬＳＩを構成する
各ＬＳＩの試験を行う場合の試験プログラムは、一品種
に一試験プログラムが割り当てられていた。
仕様部分を有する同一系列の複数品種のＬＳＩからなる
シリーズＬＳＩがある。このシリーズＬＳＩを構成する
各ＬＳＩの試験を行う場合の試験プログラムは、一品種
に一試験プログラムが割り当てられていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】したがって、上述のシ
リーズＬＳＩを構成する各ＬＳＩ品種のすべてについ
て、共通仕様部分の試験内容の変更、追加を行う場合で
あっても、個々の試験プログラムのそれぞれについて変
更する必要があり、同一シリーズ内の複数のＬＳＩの品
種すべてに対して試験プログラムの変更を行うことは、
膨大な時間と労力がかかってしまうという問題点があっ
た。
リーズＬＳＩを構成する各ＬＳＩ品種のすべてについ
て、共通仕様部分の試験内容の変更、追加を行う場合で
あっても、個々の試験プログラムのそれぞれについて変
更する必要があり、同一シリーズ内の複数のＬＳＩの品
種すべてに対して試験プログラムの変更を行うことは、
膨大な時間と労力がかかってしまうという問題点があっ
た。
【０００６】そこで、本発明の目的は、同一系列に属す
る複数品種のＬＳＩの共通仕様部分の試験内容の変更、
追加を行う場合に、容易かつ迅速に行うことができるＬ
ＳＩ試験装置および試験のためのプログラムを自動作成
するＬＳＩ試験用プログラム自動作成装置を提供するこ
とにある。
る複数品種のＬＳＩの共通仕様部分の試験内容の変更、
追加を行う場合に、容易かつ迅速に行うことができるＬ
ＳＩ試験装置および試験のためのプログラムを自動作成
するＬＳＩ試験用プログラム自動作成装置を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、第１の発明は、各品種ごとに異なる試験条件でＬＳ
Ｉの試験を行うＬＳＩ試験装置において、同一系列に属
する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分についての共通試
験手順を記憶する共通試験手順記憶手段（４）と、前記
複数品種のＬＳＩの個別仕様部分についての各品種に対
応する個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段
（４）と、前記共通試験手順記憶手段（４）に記憶され
ている共通試験手順を変更しまたは追加する共通試験手
順変更追加手段（２、３）と、前記変更されたまたは追
加された共通試験手順並びに被試験ＬＳＩ（１５）に対
応する個別試験手順を読出し、前記被試験ＬＳＩ（１
５）の試験の制御を行う試験制御手段（３）と、を備え
て構成する。
め、第１の発明は、各品種ごとに異なる試験条件でＬＳ
Ｉの試験を行うＬＳＩ試験装置において、同一系列に属
する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分についての共通試
験手順を記憶する共通試験手順記憶手段（４）と、前記
複数品種のＬＳＩの個別仕様部分についての各品種に対
応する個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段
（４）と、前記共通試験手順記憶手段（４）に記憶され
ている共通試験手順を変更しまたは追加する共通試験手
順変更追加手段（２、３）と、前記変更されたまたは追
加された共通試験手順並びに被試験ＬＳＩ（１５）に対
応する個別試験手順を読出し、前記被試験ＬＳＩ（１
５）の試験の制御を行う試験制御手段（３）と、を備え
て構成する。
【０００８】また、第２の発明は、各品種ごとに異なる
試験条件でＬＳＩの試験を行うための試験プログラムを
自動作成するＬＳＩ試験プログラム自動作成装置におい
て、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分
についての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手
段（１９）と、前記複数品種のＬＳＩの個別仕様部分に
ついての各品種に対応する個別試験手順を記憶する個別
試験手順記憶手段（１９）と、前記共通試験手順記憶手
段（１９）に記憶されている共通試験手順を変更しまた
は追加する共通試験手順変更追加手段（１７、１８）
と、前記変更されたまたは追加された共通試験手順並び
に被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出し、結合
することにより前記被試験ＬＳＩの試験プログラムを自
動作成するプログラム作成制御手段（１７）と、を備え
て構成する。
試験条件でＬＳＩの試験を行うための試験プログラムを
自動作成するＬＳＩ試験プログラム自動作成装置におい
て、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分
についての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手
段（１９）と、前記複数品種のＬＳＩの個別仕様部分に
ついての各品種に対応する個別試験手順を記憶する個別
試験手順記憶手段（１９）と、前記共通試験手順記憶手
段（１９）に記憶されている共通試験手順を変更しまた
は追加する共通試験手順変更追加手段（１７、１８）
と、前記変更されたまたは追加された共通試験手順並び
に被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出し、結合
することにより前記被試験ＬＳＩの試験プログラムを自
動作成するプログラム作成制御手段（１７）と、を備え
て構成する。
【０００９】
【作用】第１の発明によれば、共通試験手順記憶手段
（４）は、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕
様部分についての共通試験手順を記憶する。個別試験手
順記憶手段（４）は、前記複数品種のＬＳＩの個別仕様
部分についての各品種に対応する個別試験手順を記憶す
る。共通試験手順変更追加手段（２、３）は、前記共通
試験手順記憶手段（４）に記憶されている共通試験手順
を変更しまたは追加する。これにより試験制御手段
（３）は、前記変更されたまたは追加された共通試験手
順並びに被試験ＬＳＩ（１５）に対応する個別試験手順
を読出し、前記被試験ＬＳＩ（１５）の試験の制御を行
う。
（４）は、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕
様部分についての共通試験手順を記憶する。個別試験手
順記憶手段（４）は、前記複数品種のＬＳＩの個別仕様
部分についての各品種に対応する個別試験手順を記憶す
る。共通試験手順変更追加手段（２、３）は、前記共通
試験手順記憶手段（４）に記憶されている共通試験手順
を変更しまたは追加する。これにより試験制御手段
（３）は、前記変更されたまたは追加された共通試験手
順並びに被試験ＬＳＩ（１５）に対応する個別試験手順
を読出し、前記被試験ＬＳＩ（１５）の試験の制御を行
う。
【００１０】したがって、試験制御手段（３）は、ＬＳ
Ｉの品種ごとに異なる試験をする場合であっても、同一
系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分について
の試験項目、試験規格などについては、常に共通試験手
順を読み出して行うので、ＬＳＩ試験装置（１）は、共
通仕様部分についての試験項目、試験規格の変更、追加
に容易に対応することができる。
Ｉの品種ごとに異なる試験をする場合であっても、同一
系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分について
の試験項目、試験規格などについては、常に共通試験手
順を読み出して行うので、ＬＳＩ試験装置（１）は、共
通仕様部分についての試験項目、試験規格の変更、追加
に容易に対応することができる。
【００１１】第２の発明によれば、共通試験手順記憶手
段（１９）は、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共
通仕様部分についての共通試験手順を記憶する。個別試
験手順記憶手段（１９）は、前記複数品種のＬＳＩの個
別仕様部分についての各品種に対応する個別試験手順を
記憶する。共通試験手順変更追加手段（１７、１８）
は、前記共通試験手順記憶手段（１９）に記憶されてい
る共通試験手順を変更しまたは追加する。これにより、
プログラム作成制御手段（１７）は、前記変更されたま
たは追加された共通試験手順並びに被試験ＬＳＩに対応
する個別試験手順を読出し、結合することにより前記被
試験ＬＳＩの試験プログラムを自動作成する。
段（１９）は、同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共
通仕様部分についての共通試験手順を記憶する。個別試
験手順記憶手段（１９）は、前記複数品種のＬＳＩの個
別仕様部分についての各品種に対応する個別試験手順を
記憶する。共通試験手順変更追加手段（１７、１８）
は、前記共通試験手順記憶手段（１９）に記憶されてい
る共通試験手順を変更しまたは追加する。これにより、
プログラム作成制御手段（１７）は、前記変更されたま
たは追加された共通試験手順並びに被試験ＬＳＩに対応
する個別試験手順を読出し、結合することにより前記被
試験ＬＳＩの試験プログラムを自動作成する。
【００１２】したがって、プログラム作成制御手段（１
７）は、ＬＳＩの品種ごとに異なる試験プログラムを作
成する場合であっても、同一系列に属する複数品種のＬ
ＳＩの共通仕様部分についての試験項目、試験規格など
については、常に共通試験手順を読み出して、プログラ
ムを自動作成するので、ＬＳＩ試験プログラム自動作成
装置（１６）は、共通仕様部分についての試験項目、試
験規格の変更、追加に容易に対応することができる。
７）は、ＬＳＩの品種ごとに異なる試験プログラムを作
成する場合であっても、同一系列に属する複数品種のＬ
ＳＩの共通仕様部分についての試験項目、試験規格など
については、常に共通試験手順を読み出して、プログラ
ムを自動作成するので、ＬＳＩ試験プログラム自動作成
装置（１６）は、共通仕様部分についての試験項目、試
験規格の変更、追加に容易に対応することができる。
【００１３】
【実施例】次に、図１乃至図２を参照して本発明の実施
例を説明する。第１の発明の実施例 ＬＳＩ試験装置１は、試験プログラムのチェック、試験
の実行制御、入出力装置２の制御、試験結果の解析など
を行うミニコンピュータ３を備えている。このミニコン
ピュータ３の制御下でユーザは、入出力装置２から試験
用のデータを入力し、試験結果のデータを出力する。デ
ータ入力装置としては、キーボード、カードリーダ等が
挙げられ、データ出力装置としてはラインプリンタ、Ｃ
ＲＴ（Cathode-Ray-Tube）等が挙げられる。また、磁気
ディスク、磁気テープ等の大容量記憶装置４にはＬＳＩ
試験装置１のシステムプログラム、試験プログラム、試
験パターン、測定データ等が記憶される。また、インタ
ーフェースコントローラ５は、試験プログラムに基づく
制御データや、測定データの受け渡しのインターフェー
ス動作を行う。
例を説明する。第１の発明の実施例 ＬＳＩ試験装置１は、試験プログラムのチェック、試験
の実行制御、入出力装置２の制御、試験結果の解析など
を行うミニコンピュータ３を備えている。このミニコン
ピュータ３の制御下でユーザは、入出力装置２から試験
用のデータを入力し、試験結果のデータを出力する。デ
ータ入力装置としては、キーボード、カードリーダ等が
挙げられ、データ出力装置としてはラインプリンタ、Ｃ
ＲＴ（Cathode-Ray-Tube）等が挙げられる。また、磁気
ディスク、磁気テープ等の大容量記憶装置４にはＬＳＩ
試験装置１のシステムプログラム、試験プログラム、試
験パターン、測定データ等が記憶される。また、インタ
ーフェースコントローラ５は、試験プログラムに基づく
制御データや、測定データの受け渡しのインターフェー
ス動作を行う。
【００１４】ミニコンピュータ３からの制御データに基
づいて、パターン発生器６は、マイクロプログラム制御
方式等によるハードウェアで機能試験に用いる入力パタ
ーンデータを発生し、波形整形器８に出力するととも
に、被測定（DUT:Device UnderTest ）ＬＳＩ１５から
出力されることが期待されるデータパターンを期待値パ
ターンデータとして論理比較制御器９に出力する。ま
た、タイミング信号発生器７は、ミニコンピュータ３の
制御データに基づいて被測定ＬＳＩ１５に印加する入力
パターンデータの立ち上がり、立ち下がりを決定するド
ライバタイミング信号を波形整形器８に出力するととも
に、被測定ＬＳＩの出力パターンデータと期待値パター
ンデータの比較タイミングに相当する比較タイミング信
号を論理比較制御器９に出力する。
づいて、パターン発生器６は、マイクロプログラム制御
方式等によるハードウェアで機能試験に用いる入力パタ
ーンデータを発生し、波形整形器８に出力するととも
に、被測定（DUT:Device UnderTest ）ＬＳＩ１５から
出力されることが期待されるデータパターンを期待値パ
ターンデータとして論理比較制御器９に出力する。ま
た、タイミング信号発生器７は、ミニコンピュータ３の
制御データに基づいて被測定ＬＳＩ１５に印加する入力
パターンデータの立ち上がり、立ち下がりを決定するド
ライバタイミング信号を波形整形器８に出力するととも
に、被測定ＬＳＩの出力パターンデータと期待値パター
ンデータの比較タイミングに相当する比較タイミング信
号を論理比較制御器９に出力する。
【００１５】波形整形器８は、入力された入力パターン
データおよびドライバタイミング信号に基づいて、被測
定ＬＳＩ１５に実際に印加する信号波形を生成し、ピン
エレクトロニクス１４に出力する。論理比較制御器９
は、入力された期待値パターンデータとピンエレクトロ
ニクス１４を介して入力された被測定ＬＳＩ１５の出力
パターンデータとを比較し、被測定ＬＳＩ１５の良否判
定を行い、その結果を不良解析メモリ１０に出力する。
不良解析メモリ１０は、不良発生状況を記憶するメモリ
であり、試験実行時に不良の発生した試験パターンと被
測定ＬＳＩの出力ピンの位置を記憶させたり、不良ビッ
ト救済を行うための不良セル位置を記憶させたりする。
データおよびドライバタイミング信号に基づいて、被測
定ＬＳＩ１５に実際に印加する信号波形を生成し、ピン
エレクトロニクス１４に出力する。論理比較制御器９
は、入力された期待値パターンデータとピンエレクトロ
ニクス１４を介して入力された被測定ＬＳＩ１５の出力
パターンデータとを比較し、被測定ＬＳＩ１５の良否判
定を行い、その結果を不良解析メモリ１０に出力する。
不良解析メモリ１０は、不良発生状況を記憶するメモリ
であり、試験実行時に不良の発生した試験パターンと被
測定ＬＳＩの出力ピンの位置を記憶させたり、不良ビッ
ト救済を行うための不良セル位置を記憶させたりする。
【００１６】ＡＣ測定ユニット１１は、交流特性試験に
用いられ、被測定ＬＳＩ１５の入出力タイミングを精密
に測定する。ＤＣ測定ユニット１２は、直流特性試験に
用いられ、被測定ＬＳＩ１５に所定の電圧、電流を印加
しながら、指定された出力ピンの電圧、電流等を精密に
測定する。被測定ＬＳＩ電源用定電圧発生器１３は、被
測定ＬＳＩ１５に指定された電圧、電流を印加するプロ
グラマブルな電源である。
用いられ、被測定ＬＳＩ１５の入出力タイミングを精密
に測定する。ＤＣ測定ユニット１２は、直流特性試験に
用いられ、被測定ＬＳＩ１５に所定の電圧、電流を印加
しながら、指定された出力ピンの電圧、電流等を精密に
測定する。被測定ＬＳＩ電源用定電圧発生器１３は、被
測定ＬＳＩ１５に指定された電圧、電流を印加するプロ
グラマブルな電源である。
【００１７】ピンエレクトロニクス１４は、波形整形器
８から出力された信号波形に試験を行うために必要な電
圧を与えて出力し、被測定ＬＳＩ１５の出力パターンデ
ータをデジタルデータに変換して論理比較制御器９に出
力する。
８から出力された信号波形に試験を行うために必要な電
圧を与えて出力し、被測定ＬＳＩ１５の出力パターンデ
ータをデジタルデータに変換して論理比較制御器９に出
力する。
【００１８】この場合において、大容量記憶装置４は、
共通試験手順記憶手段および個別試験手順記憶手段とし
て機能し、ミニコンピュータ３および入出力装置２は、
共通試験手順変更追加手段として機能し、ミニコンピュ
ータ３は制御手段として機能する。
共通試験手順記憶手段および個別試験手順記憶手段とし
て機能し、ミニコンピュータ３および入出力装置２は、
共通試験手順変更追加手段として機能し、ミニコンピュ
ータ３は制御手段として機能する。
【００１９】ここで大容量記憶装置４に記憶されている
試験プログラムの格納状況を図２を参照して説明する。
試験プログラム２０は、シリーズＬＳＩの共通試験プロ
グラム２１と、シリーズＬＳＩの個々の品種固有の個別
試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃと、を備えて構
成されている。
試験プログラムの格納状況を図２を参照して説明する。
試験プログラム２０は、シリーズＬＳＩの共通試験プロ
グラム２１と、シリーズＬＳＩの個々の品種固有の個別
試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃと、を備えて構
成されている。
【００２０】共通試験プログラム２１は、交流特性測
定、機能測定などの試験項目や試験内容並びに、電源電
圧、設定値、規格値などの試験規格が記述されている。
個別試験プログラムは、直流特性試験を行う場合の測定
箇所や、ピンの配置、機能等のピンの属性等が記述され
ている。この共通試験プログラム２１の変更または追加
を行う場合には、ユーザは入出力装置２、ミニコンピュ
ータ３を介して共通試験プログラム２１のみの変更また
は追加を行うので、個別試験プログラム２２Ａ、２２
Ｂ、２２Ｃに影響を及ぼすことはない。
定、機能測定などの試験項目や試験内容並びに、電源電
圧、設定値、規格値などの試験規格が記述されている。
個別試験プログラムは、直流特性試験を行う場合の測定
箇所や、ピンの配置、機能等のピンの属性等が記述され
ている。この共通試験プログラム２１の変更または追加
を行う場合には、ユーザは入出力装置２、ミニコンピュ
ータ３を介して共通試験プログラム２１のみの変更また
は追加を行うので、個別試験プログラム２２Ａ、２２
Ｂ、２２Ｃに影響を及ぼすことはない。
【００２１】実際に試験プログラム２０を用いてある特
定のＬＳＩの試験を行う場合には、ミニコンピュータ３
は、まず、共通試験プログラム２１を参照して共通仕様
にかかる試験を行い、さらにこの共通試験プログラム２
１中で個別試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃのい
ずれかを参照して個別仕様にかかる試験を行う。もしく
は、共通試験プログラム２１と必要な個別試験プログラ
ム、例えば個別試験プログラム２２Ｂを同時に読出して
試験を行う。
定のＬＳＩの試験を行う場合には、ミニコンピュータ３
は、まず、共通試験プログラム２１を参照して共通仕様
にかかる試験を行い、さらにこの共通試験プログラム２
１中で個別試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃのい
ずれかを参照して個別仕様にかかる試験を行う。もしく
は、共通試験プログラム２１と必要な個別試験プログラ
ム、例えば個別試験プログラム２２Ｂを同時に読出して
試験を行う。
【００２２】このようにシリーズＬＳＩの全品種に反映
可能な試験項目、試験規格などは共通試験プログラムに
記載されているので、シリーズＬＳＩの全品種に反映可
能な試験項目、試験規格を変更し、または追加する場合
には共通試験プログラムを変更し、または、追加すれば
よい。したがって、個別試験プログラムを変更する必要
はないので、シリーズＬＳＩの試験項目、試験規格等の
変更、追加を容易に行えるとともに、これらの変更、追
加に容易に対処することができる。
可能な試験項目、試験規格などは共通試験プログラムに
記載されているので、シリーズＬＳＩの全品種に反映可
能な試験項目、試験規格を変更し、または追加する場合
には共通試験プログラムを変更し、または、追加すれば
よい。したがって、個別試験プログラムを変更する必要
はないので、シリーズＬＳＩの試験項目、試験規格等の
変更、追加を容易に行えるとともに、これらの変更、追
加に容易に対処することができる。
【００２３】第２の発明の実施例 次に、図３および図２を参照して第２の発明の実施例を
説明する。ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置１６は、
図３に示すように、試験プログラムのチェック、試験の
実行制御、入出力装置の制御、試験結果の解析などを行
うミニコンピュータ１７を備えている。このミニコンピ
ュータ１７の制御下でユーザは、入出力装置１８から試
験プログラム用のデータを入力し、試験プログラムリス
ト等を出力する。データ入力装置としては、キーボー
ド、カードリーダ等が挙げられ、データ出力装置として
はラインプリンタ、ＣＲＴ等が挙げられる。また、磁気
ディスク、磁気テープ等の大容量記憶装置１９には、Ｌ
ＳＩ試験プログラム自動作成装置１７のシステムプログ
ラム、試験プログラム、試験パターン、等が記憶され
る。この場合において、大容量記憶装置１９は、共通試
験手順記憶手段および個別試験手順記憶手段として機能
し、ミニコンピュータ１７および入出力装置１８は、共
通試験手順変更追加手段として機能し、ミニコンピュー
タ１７はプログラム作成制御手段として機能する。
説明する。ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置１６は、
図３に示すように、試験プログラムのチェック、試験の
実行制御、入出力装置の制御、試験結果の解析などを行
うミニコンピュータ１７を備えている。このミニコンピ
ュータ１７の制御下でユーザは、入出力装置１８から試
験プログラム用のデータを入力し、試験プログラムリス
ト等を出力する。データ入力装置としては、キーボー
ド、カードリーダ等が挙げられ、データ出力装置として
はラインプリンタ、ＣＲＴ等が挙げられる。また、磁気
ディスク、磁気テープ等の大容量記憶装置１９には、Ｌ
ＳＩ試験プログラム自動作成装置１７のシステムプログ
ラム、試験プログラム、試験パターン、等が記憶され
る。この場合において、大容量記憶装置１９は、共通試
験手順記憶手段および個別試験手順記憶手段として機能
し、ミニコンピュータ１７および入出力装置１８は、共
通試験手順変更追加手段として機能し、ミニコンピュー
タ１７はプログラム作成制御手段として機能する。
【００２４】実際に試験プログラム２０を用いてある特
定のＬＳＩの試験プログラムを自動作成する場合には、
ミニコンピュータ１７は、まず、共通試験プログラム２
１を読出し、さらにこの共通試験プログラム２１に個別
試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃのいずれかを読
出して結合することにより個別仕様にかかる試験プログ
ラムの自動作成を行う。もしくは、共通試験プログラム
２１と必要な個別試験プログラム、例えば個別試験プロ
グラム２２Ｂを同時に読出して両者を結合し、ＬＳＩ試
験プログラムの自動作成を行う。
定のＬＳＩの試験プログラムを自動作成する場合には、
ミニコンピュータ１７は、まず、共通試験プログラム２
１を読出し、さらにこの共通試験プログラム２１に個別
試験プログラム２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃのいずれかを読
出して結合することにより個別仕様にかかる試験プログ
ラムの自動作成を行う。もしくは、共通試験プログラム
２１と必要な個別試験プログラム、例えば個別試験プロ
グラム２２Ｂを同時に読出して両者を結合し、ＬＳＩ試
験プログラムの自動作成を行う。
【００２５】上述のようにシリーズＬＳＩの全品種に反
映可能な試験項目、試験規格などは共通試験プログラム
に記載されているので、シリーズＬＳＩの全品種に反映
可能な試験項目、試験規格を変更し、または追加する場
合には入出力装置１８を介してミニコンピュータ１７を
制御することにより、共通試験プログラムを変更し、ま
たは、追加すればよい。したがって、各品種ごとに異な
る個別試験プログラムを変更する必要はないので、シリ
ーズＬＳＩの試験項目、試験規格等の変更、追加を容易
に行って試験プログラムを作成するとともに、これらの
変更、追加に容易に対処することができる。
映可能な試験項目、試験規格などは共通試験プログラム
に記載されているので、シリーズＬＳＩの全品種に反映
可能な試験項目、試験規格を変更し、または追加する場
合には入出力装置１８を介してミニコンピュータ１７を
制御することにより、共通試験プログラムを変更し、ま
たは、追加すればよい。したがって、各品種ごとに異な
る個別試験プログラムを変更する必要はないので、シリ
ーズＬＳＩの試験項目、試験規格等の変更、追加を容易
に行って試験プログラムを作成するとともに、これらの
変更、追加に容易に対処することができる。
【００２６】以上の各実施例においては、共通試験プロ
グラムおよび個別試験プログラムは、同一の大容量記憶
装置に記憶されていたが、複数の大容量記憶装置に分割
して記憶させることも可能である。
グラムおよび個別試験プログラムは、同一の大容量記憶
装置に記憶されていたが、複数の大容量記憶装置に分割
して記憶させることも可能である。
【００２７】また、共通試験プログラムおよび個別試験
プログラムは、さらに複数のサブルーチンで構成されて
いても良い。この場合において、共通試験プログラムを
機能毎にサブルーチンに分割しておけば、シリーズＬＳ
Ｉの試験項目、試験規格等の変更、追加をさらに容易に
行えることとなる。
プログラムは、さらに複数のサブルーチンで構成されて
いても良い。この場合において、共通試験プログラムを
機能毎にサブルーチンに分割しておけば、シリーズＬＳ
Ｉの試験項目、試験規格等の変更、追加をさらに容易に
行えることとなる。
【００２８】
【発明の効果】第１の発明によれば、共通試験手順変更
追加手段は、前記共通試験手順記憶手段に記憶されてい
る共通試験手順を変更しまたは追加し、試験制御手段
は、前記変更されたまたは追加された共通試験手順並び
に被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出し、前記
被試験ＬＳＩの試験の制御を行う。
追加手段は、前記共通試験手順記憶手段に記憶されてい
る共通試験手順を変更しまたは追加し、試験制御手段
は、前記変更されたまたは追加された共通試験手順並び
に被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出し、前記
被試験ＬＳＩの試験の制御を行う。
【００２９】したがって、ＬＳＩ試験装置は、ＬＳＩの
品種ごとに異なる試験をする場合であっても、同一系列
に属する複数のＬＳＩの共通仕様部分についての試験項
目、試験規格などについては、常に共通試験手順を読み
出して行うため、共通仕様部分についての試験項目、試
験規格の変更、追加に容易に対応することができる。
品種ごとに異なる試験をする場合であっても、同一系列
に属する複数のＬＳＩの共通仕様部分についての試験項
目、試験規格などについては、常に共通試験手順を読み
出して行うため、共通仕様部分についての試験項目、試
験規格の変更、追加に容易に対応することができる。
【００３０】第２の発明によれば、共通試験手順変更追
加手段は、前記共通試験手順記憶手段に記憶されている
共通試験手順を変更しまたは追加し、プログラム作成制
御手段は、前記変更されたまたは追加された共通試験手
順並びに被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出
し、結合することにより前記被試験ＬＳＩの試験プログ
ラムを自動作成する。
加手段は、前記共通試験手順記憶手段に記憶されている
共通試験手順を変更しまたは追加し、プログラム作成制
御手段は、前記変更されたまたは追加された共通試験手
順並びに被試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出
し、結合することにより前記被試験ＬＳＩの試験プログ
ラムを自動作成する。
【００３１】したがって、ＬＳＩ試験プログラム自動作
成装置は、ＬＳＩの品種ごとに異なる試験プログラムを
作成する場合であっても、同一系列に属する複数のＬＳ
Ｉの共通仕様部分についての試験項目、試験規格などに
ついては、常に共通試験手順を読み出して行うため、共
通仕様部分についての試験項目、試験規格の変更、追加
に容易に対応することができる。
成装置は、ＬＳＩの品種ごとに異なる試験プログラムを
作成する場合であっても、同一系列に属する複数のＬＳ
Ｉの共通仕様部分についての試験項目、試験規格などに
ついては、常に共通試験手順を読み出して行うため、共
通仕様部分についての試験項目、試験規格の変更、追加
に容易に対応することができる。
【図１】ＬＳＩ試験装置の基本構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】大容量記憶装置の記憶状態の説明図である。
【図３】ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置の基本構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
１…ＬＳＩ試験装置 ２…入出力装置 ３…ミニコンピュータ ４…大容量記憶装置 ５…インターフェースコントローラ ６…パターン発生器 ７…タイミング信号発生器 ８…波形整形器 ９…論理比較制御器 １０…不良解析メモリ １１…ＡＣ測定ユニット １２…ＤＣ測定ユニット １３…被試験ＬＳＩ電源用低電圧発生器 １４…ピンエレクトロニクス １５…被測定ＬＳＩ １６…ＬＳＩ試験プログラム自動作成装置 １７…ミニコンピュータ １８…入出力装置 １９…大容量記憶装置 ２０…試験プログラム ２１…共通試験プログラム ２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ…個別試験プログラム
Claims (2)
- 【請求項１】 各品種ごとに異なる試験条件でＬＳＩの
試験を行うＬＳＩ試験装置において、 同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分につ
いての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段
（４）と、 前記複数品種のＬＳＩの個別仕様部分についての各品種
に対応する個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手
段（４）と、 前記共通試験手順記憶手段に記憶されている共通試験手
順を変更しまたは追加する共通試験手順変更追加手段
（２、３）と、 前記変更されたまたは追加された共通試験手順並びに被
試験ＬＳＩ（１５）に対応する個別試験手順を読出し、
前記被試験ＬＳＩの試験の制御を行う試験制御手段
（３）と、を備えたことを特徴とするＬＳＩ試験装置。 - 【請求項２】 各品種ごとに異なる試験条件でＬＳＩの
試験を行うための試験プログラムを自動作成するＬＳＩ
試験プログラム自動作成装置において、 同一系列に属する複数品種のＬＳＩの共通仕様部分につ
いての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段
（１９）と、 前記複数品種のＬＳＩの個別仕様部分についての各品種
に対応する個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手
段（１９）と、 前記共通試験手順記憶手段に記憶されている共通試験手
順を変更しまたは追加する共通試験手順変更追加手段
（１７、１８）と、 前記変更されたまたは追加された共通試験手順並びに被
試験ＬＳＩに対応する個別試験手順を読出し、結合する
ことにより前記被試験ＬＳＩの試験プログラムを自動作
成するプログラム作成制御手段（１７）と、を備えたこ
とを特徴とするＬＳＩ試験プログラム自動作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230123A JPH0572276A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | Ｌｓｉ試験装置およびｌｓｉ試験プログラム自動作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230123A JPH0572276A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | Ｌｓｉ試験装置およびｌｓｉ試験プログラム自動作成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572276A true JPH0572276A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16902931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3230123A Withdrawn JPH0572276A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | Ｌｓｉ試験装置およびｌｓｉ試験プログラム自動作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572276A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268213A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Advantest Corp | プログラムおよび試験装置 |
| JPWO2021149175A1 (ja) * | 2020-01-22 | 2021-07-29 |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP3230123A patent/JPH0572276A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268213A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Advantest Corp | プログラムおよび試験装置 |
| JPWO2021149175A1 (ja) * | 2020-01-22 | 2021-07-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |