JPH0573182B2

JPH0573182B2 -

Info

Publication number: JPH0573182B2
Application number: JP62060779A
Authority: JP
Inventors: Ko Nakajima; Katsutoshi Saida; Takashi Kaseda
Original assignee: YOKO KK
Current assignee: YOKO KK
Priority date: 1987-03-16
Filing date: 1987-03-16
Publication date: 1993-10-13
Also published as: JPS63225177A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕（産業上の利用分野）本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。

（従来の技術）既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、片面のみに各種の電子部品を装着した被検査
体としての回路基板の検査点に多数のコンタクト
プローブピンの先端を接触させて導通検査してい
る。

すなわち、上述した回路基板検査装置は、プロ
ーブピンボード上に多数のコンタクトプローブピ
ンを弾発的に植設し、これらコンタクトプローブ
ピンを、回路基板の一面に装着された各電子部品
から突出させて回路基板の他面に位置させた導体
部分に上方または下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて電気的導通検査を施すようになつてい
る。

このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品を取付けて回路基板の
他面に検査回路面を形成している関係上、コンタ
クトプローブピンを被検査体の他面側から回路基
板に接触導通させて測定検査が行われる。

しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために高密度配列
化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板の
両面にそれぞれ装着して使用されるため、これら
の両面回路基板の導通検査は、両面回路基板の
上、下方向から同時に、しかも、一挙に一工程で
導通検査することが望まれている。

この問題を解決するために、本出願人は、特開
昭61−223666号において、両面回路基板を着脱自
在に支持する回路基板保持枠を、複数の案内支柱
を有する装置枠体内部に案内支柱に沿つて上下に
移動自在に設け、回路基板保持枠の上方位置に、
下向きのコンタクトプローブピンを有する上部プ
ローブピンボードを装置枠体に固定して支持し、
回路基板保持枠の下方位置に、上向きのコンタク
トプローブピンを有する下部プローブピンボード
を保持する下部プローブピンボード装着枠を案内
支柱に沿つて上下に移動自在に装着し、下部プロ
ーブピンボード装着枠を上方へ向かつて押上げる
ことによつて回路基板保持枠をも押上げ、これに
よつて回路基板に、その上下で、上部プローブピ
ンボードのプローブピンおよび下部プローブピン
ボードのプローブピンによる接触を受けさせ、両
面を同時に検査する両面回路基板検査装置を提案
した。

（発明が解決しようとする問題点）ところで、この両面回路基板検査装置において
は、各被検査基板の検査のたびに下部プローブピ
ンボード装着枠を上方へ向かつて押上げつつ、そ
の押上げ動作によつてその上方にある回路基板保
持枠をも押上げるという動作が要求される。とこ
ろが、回路基板保持枠は、下部プローブピンボー
ド装着枠とは別に形成されていて案内支柱に独立
して上下変位できるように支持されている関係
上、上下方向の寸法が大きくなるとともに案内支
柱への嵌合部を備え比較的重量があり、したがつ
て、下部プローブピンボード装着枠に加えて回路
基板保持枠をも押上げるにはそれだけ強い動力が
必要になり、しかも独立した回路基板保持枠を製
作しなければならないのでコストも高くなる。

本発明はこのような問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、回路基板保持枠を下
部プローブピンボードを装着する枠体の上面に直
接載置することによつて、独立した回路基板保持
枠を不要とし、上下方向の全体寸法を小さくし、
構造を簡単にして検査時の押上げ動力を低減し、
しかも製作コストの低減をもはかることにある。

〔発明の構成〕

（問題点を解決するための手段）本発明の両面回路基板検査装置は、支持ベース
に複数の案内支柱を植設し、案内支柱の上部に天
板を取付けて構成した検査装置の枠体を備え、前
記天板の下側には、下向きのコンタクトプローブ
ピンを有する水平な上部プローブピンボードを枠
体外に取出し自在に装着し、一方、枠体内の下側
空間には、前記案内支柱に沿つて上下方向に移動
可能に昇降台を設け、この昇降台を上部プローブ
ピンボードに対し上昇、下降させるための昇降駆
動機構を設け、昇降台上には、スライド枠を、昇
降台上の位置と前記枠体外に突出する位置との間
で摺動可能に支持し、スライド枠上には下部コン
タクトプローブピンボードを水平に取付け、下部
プローブピンボードには上向きのコンタクトプロ
ーブピンを装着し、これらのコンタクトプローブ
ピンの上端を囲むように、枠状の回路基板載置台
を下部プローブピンボードの上方に弾発的に支承
し、回路基板載置台はその上面に検査すべき両面
回路基板を支持する面を備え、回路基板載置台上
に支持された回路基板の下面が通常下部コンタク
トプローブピンの上端から僅かに離れるように
し、昇降台の上昇時に回路基板の上面が、まず、
上部プローブピンボードのコンタクトプローブピ
ンに接触し、次いで弾発されている回路基板載置
台が下部プローブピンボードに接近するように下
圧されることによつて、回路基板の下面が下部プ
ローブピンボードのコンタクトプローブピンに接
触するようにしたことを特徴とする。

（作用）このような構成により、昇降台を上昇させる
と、その上面に載置されているスライド枠と下部
プローブピンボードは、その上面に回路基板載置
台を支持したまま上昇させられ、まず回路基板載
置台上の被検査回路基板の上面が上部プローブピ
ンボードのプローブピンに接触して停止し、続い
て下部プローブピンボードが弾発力に抗してさら
に上昇し、回路基板載置台に支持されている被検
査回路基板の下面に下部プローブピンボードのプ
ローブピン上端が接触し、これにより導通状態が
得られて検査が行なわれる。

（実施例）以下、本発明を図示の実施例について説明す
る。

第１図において、符号１は、回路基板検査装置
の扁平な四角形状支持ベースを示し、この支持ベ
ース１上の隅角部には、第２図から明らかなよう
に４本の案内支柱２が植設されており、この案内
支柱２の上部には天板３が固定され、これらによ
つて装置の枠体４が構成されている。

天板３の下方には、それと平行に上部プローブ
ピンボードB₁が支持されている。この上部プロ
ーブピンボードB₁は、天板３の下面に固定され
た上部プローブピンボード装着枠６に前後方向
（紙面に直交する方向）に摺動自在に支持されて
いる。この摺動を可能にするために、装着枠６の
下端部には、上部プローブピンボードB₁の両側
縁を摺動自在に支持する支持段部付条片７が固定
されている。この部分の詳細については後述す
る。上部プローブピンボードB₁は下向きの先端
を有する多数のコンタクトプローブピン５を備え
ている。これらのプローブピン５は、上部プロー
ブピンボードB₁を貫通した状態でそれに装着さ
れている。

枠体４の内側の下部には、昇降台８が設けら
れ、この昇降台８の隅角部には筒体９が固設さ
れ、これらの筒体９は各案内支柱２に摺動自在に
嵌合しており、これにより昇降台８は案内支柱２
に案内されつつ上下方向に移動可能となる。

昇降台８の両側には前後方向のガイド受け１
０，１０が固定されており、これらのガイド受け
１０，１０により前後方向に案内されるようにバ
ー状のガイド１１，１１が設けられ、これらのガ
イド１１，１１は下部プローブピンボード支持用
スライド枠１２の下面に固定されている。よつ
て、このスライド枠１２は、ガイド受け１０，１
０に案内されつつ前後方向に摺動変位可能とな
る。スライド枠１２の上面には、下部プローブピ
ンボードB₂が装着され、その上に回路基板載置
台１３が設けられている。下部プローブピンボー
ドB₂には、上向きの先端を有する多数のコンタ
クトプローブピン１４がプローブピンボードB₂
を上下に貫通した状態で装着されている。

以上に説明した基本的構成を、第５図を参照し
てさらに詳細に説明する。

まず、上部プローブピンボードB₁の両側縁は
前記条片７の内側に設けた段部７ａ上に載置さ
れ、段部７ａ上を前後方向にスライド可能であ
る。段部７ａ上での上部プローブピンボードB₁
の所定の位置は、装着枠６を上方から下方へ向か
つて貫通する位置決めピン１６の下端を、同ボー
ドB₁の両側部に形成した孔１７内へ挿入するこ
とによりなされる。位置決めピン１６は孔１７へ
の挿入後、止めビス１８により抜止めされる。装
着枠６および条片７はボルト１９、ナツト２０お
よび止めねじ２１によつて天板３の下面に固定さ
れる。

下部ピンボード支持用スライド枠１２は内側に
開口１２ａを有する枠状をなし、その上面に前記
下部プローブピンボードB₂の周辺部がねじなど
により固定される。このピンボードB₂には、そ
の側縁寄りに上下方向のブツシユ２３が一体的に
挿通されており、このブツシユ２３内に、回路基
板載置台１３の側縁部の下面に下方へ向かつて突
設したスライドピン２４が挿入されている。スラ
イドピン２４はその下端に拡大頭部を有してお
り、実際には、下方からブツシユ２３を通して上
方へ挿入した後、回路基板載置台１３にその上面
からそれを貫通して下方へ通した止めねじ２５に
よつて回路基板載置台１３に固定される。

一方、回路基板載置台１３と下部プローブピン
ボードB₂の間にはコイルばね２６が介装されて
いる。このばね２６の下端は、下方をビス２７で
閉塞したピンボードB₂の孔内に挿入されている。
このばね２６の力によつて、回路基板載置台１３
は、スライドピン２４の下端の拡大頭部がブツシ
ユ２３の下端縁に当接する所まで押上げられ、回
路基板載置台１３の下面とピンボードB₂の上面
との間に間隔が残されている。この状態で、枠体
の回路基板載置台１３の上面に載置された被検査
回路基板Ｐの下面は、下部プローブピンボード
B₂のプローブピン１４の先端（上端）との間に
僅かな間隙を存して対向する。なお、２８は回路
基板Ｐに実装された電子部品を示す。

既述のようにスライド枠１２はガイド受け１
０，１０に案内されつつ前後に摺動変位可能とな
つているが、スライド枠１２を昇降台８上の所定
位置で停止させ位置決めするために、第６図に示
す機構が設けられる。同図において、３０は位置
決めピンで、その上端は、スライド枠１２の下面
に開口するピン挿入穴を形成するブツシユ３１の
内部に挿入可能となつている。位置決めピン３０
は、昇降台８上に固定したピンガイド部材３２に
より上下方向に案内され、位置決めピン動作シリ
ンダC₁（第７図も参照）により上方へ変位させら
れるようになつている。位置決めピン３０をブツ
シユ３１内へ挿入すると、スライド枠１２は昇降
台８上で位置決めされる。

昇降台８上の所定位置へスライド枠１２が後退
した時にそれを検出するために、第１のリードス
イツチS₁が昇降台８上に固定され、このリードス
イツチS₁による検出を受ける検出片３４がスライ
ド枠１２の側端面に固定されている。一方、スラ
イド枠１２が昇降台８より外方へ前進した限度位
置を検出するために、第８図に示すように、昇降
台８上の前部寄りに第２のリードスイツチS₂が固
定されている。この第２のリードスイツチS₂によ
る検出を受けるために検出片３５が第５図に示す
ように設けられている。

第４図の側面図および第８図に示すように、昇
降台８上には、スライド枠１２の前進限度位置お
よび後退限度位置においてスライド枠１２の一部
に衝接するシヨツクアブソーバD₁およびD₂が設
けられている。シヨツクアブソーバD₂は、例え
ばスライド枠１２の前端から垂下する部分３６に
よる衝接を受ける。シヨツクアブソーバD₂も同
様な部分による衝接を受ける。

第１図の左端部に示すように、昇降台８上には
スライド枠１２の前進後退用モータＭが設置され
ている。このモータＭは、第９図、第１１図およ
び第１２図に示すように回転出力軸４０を有し、
この出力軸４０に固定したプーリ４１と他のプー
リ４２との間には伝動ベルト４３が掛渡されてい
る。プーリ４２の軸４４にはピニオン４５が固定
されている。一方、スライド枠１２の側面にはラ
ツク４６が固定されており、このラツクにピニオ
ン４５がかみ合つている。したがつて、モータＭ
のいずれかの方向への回転により、スライド枠１
２は昇降台８に対して前進後退運動を行なう。そ
して、この運動の限度位置で、前記リードスイツ
チS₁，S₂が検出信号を発し、モータＭを停止させ
るようになつている。

下部プローブピンボードB₂を上部プローブピ
ンボードB₁へ向かつて上昇させて導通検査を行
なうために昇降駆動機構が設けられている。この
昇降駆動機構を、第１図、第２図、第３図および
第４図について以下説明する。

第１図および第２図に示すように、回路基板検
査装置の前方からみて右側に駆動源としての空気
圧シリンダC₂が天板３の下面に支持された状態
で設けられている。第３図に示すように、天板３
の後部下面にはブラケツト５０が突設され、それ
にピン５１によつて空気圧シリンダC₂の一端が
枢着されている。このシリンダC₂のピストンロ
ツド５２は前方へ突出し、その先端はピン５３に
よつてアーム５４の一端に枢着されている。この
アーム５４の他端は、天板３の下面に固定した軸
受５５に支持される回動軸５６に固定されてい
る。したがつて、ピストンロツド５２の進退によ
つて回動軸５６が回動変位することになる。

回動軸５６は、第１図に示すように、天板３の
下面に沿つて支持され、一方、回動軸５６には、
アーム５４と異なる位置で、レバー５８が固定さ
れている。第３図に示すように、レバー５８の一
端にはピン５９によつてほぼ上下方向の屈曲リン
ク６０の上端が枢着されている。レバー５８のピ
ン５９のある側の腕は、通常は図示のようにほぼ
水平方向に突出している。屈曲リンク６０の下端
はピン６１によつて昇降台８上のブラケツト６２
に枢着されている。このようなレバー５８および
屈曲リンク６０は、第１図に示すように回動軸５
６の軸方向に離れた両側位置にそれぞれ設けられ
る。

レバー５８の他端のピン６４（第４図）によつ
て前後方向の連動リンク６５の前端が枢着され、
このリンク６５の後端は、ピン６６によつて前記
レバー５８と同様なレバー５８Ｅの一端に枢着さ
れている。このレバー５８Ｅは軸受５５Ｅに支持
された回動軸５６Ｅに枢着され、レバー５８Ｅの
他端はピン５９Ｅによつて屈曲リンク６０Ｅの上
端に枢着されている。この屈曲リンク６０Ｅの下
端は屈曲リンク６０の場合と同様にピン６１Ｅ
（第３図）によつて昇降台８に枢着される。リン
ク６５、レバー５８Ｅおよび屈曲リンク６０Ｅも
左右１対設けられる。

以上の構成により、第３図においてピストンロ
ツド５２を矢印方向に後退させるようにシリンダ
C₂を作動させると、アーム５４を介してレバー
５８が反時計方向に回動し、かつ連動リンク６５
を介してレバー５８Ｅも同方向に回動するので、
屈曲リンク６０，６０Ｅが上方へ引上げられ、こ
れにより昇降台８が上昇する。また、ピストンロ
ツド５２を前進させると、昇降台８は下降する。

第１１図に示すように、上部プローブピンボー
ドB₁の後端部には上部接続ピンボードb₁が水平
方向に設けられている。上部接続ピンボードb₁
は、図示の例では上部プローブピンボードB₁よ
り高い位置にあり、連結部材７０により天板３
に、連結部材７１により上部プローブピンボード
B₁の後端にそれぞれ固定されている。

下部プローブピンボードB₂の後端部には、下
部接続ピンボードb₂が水平に固定されている。こ
の例では、下部接続ピンボードb₂は下部プローブ
ピンボードB₂より低い位置にあり、連結部材７
２によりそれに固定されている。よつて、下部接
続ピンボードb₂は下部プローブピンボードB₂と
共に前後に移動可能となつている。

上部接続ピンボードb₁には、一定の配列、例え
ば格子状配列で多数の上下方向貫通孔が形成され
ており、それらの貫通孔の少なくとも一部、好ま
しくは全部に接続ピン７４が挿通され固定されて
いる。接続ピン７４は取外し可能に設けられる。
そして、上部プローブピンボードB₁に挿通され
ている前記コンタクトプローブピン５の基端（上
端）と接続ピン７４の上端とはジヤンパー線７５
により接続されている。

一方、下部接続ピンボードb₂にも一定の配列、
例えば格子状配列で多数の上下方向貫通孔が形成
されており、それらの貫通孔の少なくとも一部、
好ましくは全部に接続ピン７６が挿通固定されて
いる。この接続ピン７６も取外し可能に設けられ
る。そして、下部プローブピンボードB₂に挿通
されている前記コンタクトプローブピン１４の基
端（下端）と接続ピン７６の下端とはジヤンパー
線７７により接続されている。

上部および下部接続ピンボードb₁，b₂の間に
は、中間接続ピンボードb₃が位置している。この
中間接続ピンボードb₃も一定配列、例えば格子状
配列の上下方向貫通孔が形成され、それら貫通孔
の少なくとも一部（通常は全部）に接続ピン７８
が着脱自在に挿通固定されている。これらの接続
ピン７８の一部は、上部接続ピンボードb₁の接続
ピン７４と上下方向に位置が合うように設置され
ており、他のものは下部接続ピンボードb₂の接続
ピン７６と上下方向に位置が合うように設置され
ている。なお、接続ピン７４，７６，７８のすべ
てが上下方向に位置が合うようにしておくのが望
ましい。

中間接続ピンボードb₃の両側端には、昇降板８
０の下端がねじ８１により固定されている。昇降
板８０は天板３を貫通して天板の上方へ突出し、
そこにカム従動ローラ８１が軸８２により支持さ
れている。一方、中間接続ピンボードb₃は、第１
２図に示すようにその両端にスリーブ８３がはめ
込まれ、このスリーブ８３が、天板３から下方へ
向かつて突設されたガイドロツド８４に上下に摺
動可能に嵌合している。そして、スリーブ８３と
天板３との間にはコイルばね８５が介装されてい
る。

第１０図ないし第１２図に示すように、カム従
動ローラ８１の下側に前後方向に長いカム８７が
設けられて天板３の上面に長手方向に摺動変位可
能に支承されている。このカム８７は隆起部８７
ａ（第１１図）を有している。このカム８７に一
線をなして一体的に続くようにラツク８８が設け
られて同様に天板３の上面に長手方向に摺動変位
可能に支持されている。カム８７およびラツク８
８は、第１２図に示す軌道９２に案内されて摺動
変位する。ラツク８８に隣接して軸受８９が設置
され、反対側の同様な軸受８９（第２図参照）と
の間に回転軸９０が支持され、この回転軸と一体
をなすギヤ９１が第１０図にも示すようにラツク
８８にかみ合つている。回転軸９０には、それを
回転させるための操作ハンドル９２の基端が固定
されている。

第１３図の原理図に示すように、中間接続ピン
ボードb₃に挿通される接続ピン７８はその上下端
にばね９４に抗して後退可能の接触端部９５を備
えている。図示を省略したが、接触端部９５は本
体９６の外部へ脱出しないように抜止め手段が施
されている。一方、各接続ピン７８に隣接して導
通ピン９７が挿通され、接続ピン７８と導通ピン
９７が９８で示すように導電状態で接続され、導
通ピン９７からは図示しない検査機器へ配線９９
が接続されている。図示の例では、左側の接続ピ
ン７８は例えば下部接続ピンボードb₂の接続ピン
７６と後述のように接触させるためのものであ
り、右側の接続ピン７８は例えば上部接続ピンボ
ードb₁の接続ピン７４と後述のように接触させる
ためのものである。

次に、以上に述べた両面回路基板検査装置の作
用を説明する。

被検査体としての両面回路基板Ｐを検査するに
は、第１図においてスライド枠前進後退用モータ
Ｍを運転してスライド枠１２をガイド受け１０，
１０上で手前側へ前進させる。これにより、スラ
イド枠１２上の下部プローブピンボードB₂およ
びその上の回路基板載置台１３が枠体４外へ露出
する。スライド枠１２が前進限度位置へ達した時
にシヨツクアブソーバD₁で停止のシヨツクが吸
収され、位置検出用スイツチS₂がスライド枠の前
進端位置を検出してモータＭを停止させる。

次に、露出した回路基板載置台１３上に、第５
図に示す状態で検査すべき回路基板Ｐを載置して
所定位置に取付ける。続いて、モータＭを逆転さ
せると、回路基板Ｐを載せたスライド枠１２は枠
体４内へ後退する。そして、後退限度位置での停
止はシヨツクアブソーバD₂への衝接によるなさ
れ、また後退限度位置への到達が位置検出用スイ
ツチS₁により検出されてモータＭは停止する。こ
のように後退限度位置へ達したところで、シリン
ダC₁の作動により位置決めピン３０（第６図）
が上昇してブツシユ３１内の穴へ挿入されるた
め、スライド枠１２は昇降台８上の所定位置に固
定される。これは、スライド枠１２上の回路基板
載置台１３、ひいては回路基板Ｐが第４図に示す
ような所定位置にセツトされたことを意味する。

次いで、昇降駆動機構のシリンダC₂を動作さ
せて、そのピストンロツド５２を第３図の矢印方
向に後退させる。これによつて、レバー５８，５
８Ｅが第４図において反時計方向に回動し、屈曲
リンク６０，６０Ｅを上昇させるので、昇降台８
は案内支柱２に沿つて上昇する。この上昇の限度
では、レバー５８，５８Ｅのピン５９，５９Ｅの
ある側の腕は、最初の水平位置からほぼ垂直上方
を向く位置まで回動する。この上昇により、下部
プローブピンボードB₂および回路基板載置台１
３は回路基板Ｐと共に上昇する。上述のように、
レバー５８，５８Ｅのピン５９，５９Ｅのある側
の腕が水平位置から垂直上方を向く位置まで回動
変位することによつて、その腕により屈曲リンク
６０，６０Ｅを介して上昇させられる昇降台８上
の回路基板Ｐは、最初は比較的速く上昇し、上部
プローブピンボードB₁に近づくにつれてその上
昇速度が遅くなる。

回路基板Ｐがその上昇の結果、上部プローブピ
ンボードB₁のコンタクトプローブピン５の先端
（下端）に接触すると、回路基板Ｐの上昇は停止
する。なお、この時、コンタクトプローブピン５
の先端は、第１３図の接触ピン７８の場合と同様
に弾力に抗して僅か後退する。

回路基板Ｐの上昇が停止しても、昇降台８は上
昇を続け、したがつて下部プローブピンボード
B₂は回路基板載置台１３との間に介在するばね
２６を圧縮しつつスライドピン２４に案内されな
がら回路基板Ｐへ近づき、コンタクトプローブピ
ン１４の上端が回路基板Ｐの下面に接触する。こ
の時も、コンタクトプローブピン１４の先端は接
触ピン７８の場合と同様に弾力に抗して幾分後退
する。かくして、回路基板Ｐはその上下からコン
タクトプローブピン５，１４による接触を受け、
後述の導通回路を経て導通検査がなされる。

そして、導通検査完了後、駆動シリンダC₂の
ピストンロツド５２が突出することにより、昇降
台８が下降して、回路基板Ｐは両コンタクトプロ
ーブピン５，１４から解放される。そして、第４
図の状態が得られた後、モータＭの作動によりス
ライド枠１２が枠体４の前方へ送出されて回路基
板Ｐが露出するので、それを回路基板載置台１３
から取外して検査が終る。

上述の導通検査時における検査機器への導通回
路は、次のようにして形成される。操作ハンドル
９２を第１１図の位置に保持しておくと、ラツク
８８を介してカム８７は同図の位置をとり、カム
の隆起部８７ａがカム従動ローラ８１を押上げ
る。これにより、昇降板８０を介して中間接続ピ
ンボードb₃が図示のように上昇させられ、その接
続ピン７８の上端が上部接続ピンボードb₁の接続
ピン７４の下端に接触する。したがつて、上部プ
ローブピンボードB₁のコンタクトプローブピン
５は、ジヤンパー線７５、接続ピン７４、接続ピ
ン７８、導体接続部９８（第１３図）、導体ピン
９７および配線９９を経て検査機器の一方の端子
に接続される。

前述のように、昇降駆動機構の駆動シリンダ
C₂の作動により昇降台８を上昇させることによ
つて被検査回路基板Ｐを上昇させていくと、遂に
は回路基板Ｐの上面に下向きのコンタクトプロー
ブピン５の先端が接触し、続いて回路基板の下面
に上向きのコンタクトプローブピン１４の先端が
接触するが、これと同時またはそれより僅か遅れ
て、下部プローブピンボードB₂と共に上昇して
いた下部接続ピンボードb₂の接続ピン７６の上端
が中間接続ピンボードb₃の接続ピン７８の下端に
接触する。したがつて、この瞬間に下部プローブ
ピンボードB₂のコンタクトプローブピン１４は
ジヤンパー線７７、接続ピン７６、接続ピン７
８、導体接続部９８（第１３図）、導体ピン９７
および配線９９を経て検査機器の他方の端子に接
続される。よつて、回路基板Ｐの電子機器と検査
機器を結ぶ閉回路が形成されて導通検査がなされ
ることになる。

既述のように、上部、中間および下部接続ピン
ボードb₁，b₃，b₂には所定配列の貫通孔があり、
これらの貫通孔に接続ピン７４，７８，７６が着
脱可能に挿通固定されている。そして、中間接続
ピンボードb₂の接続ピン７８のの小なくとも一部
は、回路導通時にその上下端で同時に上部接続ピ
ンボードb₁の接続ピン７４および下部接続ピンボ
ードb₂の接続ピン７６による接触を受けるように
することができる。このようにしても、位置の合
う上部、下部接続ピン７４，７６のいずれか一方
がジヤンパー線７５，７７でコンタクトプローブ
ピン５，１４に接続されていなければ、コンタク
トプローブピンに接続されている接続ピンのみが
導通にあずかることになり問題は生じない。一
方、上部および下部接続ピンボードb₁，b₂の接続
ピン７４，７６は上下方向に位置が対向しないよ
うに挿入配列することもできる。この場合には、
導通検査状態で、中間接続ピンボードb₃の接続ピ
ン７８の第１のグループは上部接続ピンボードb₁
の接続ピン７４のみによる接触を受け、接続ピン
７８の第２のグループは下部接続ピンボードb₂の
接続ピン７６のみによる接触を受ける。以上のい
ずれの場合においても、第１および第２のグルー
プの接続ピン７８はいずれも均等なものを用いる
ことができる。

導通検査完了後、昇降台８を下降させて下部プ
ローブピンボードB₂を下げると、それに伴つて
下部接続ピンボードb₂も下降し、第１１図の状態
になり接続ピン７６は接続ピン７８から離れる。

操作ハンドル９２を第１１図において上方へ回
動すると、ギヤ９１を介してラツク８８が同図で
右方へ摺動し、これに伴つてカム８７も右方へ摺
動するので、カム従動ローラ８１はカムの隆起部
８７ａから降り、昇降板８０は下降を許され、ば
ね８５の力により昇降板８０と共に中間接続ピン
ボードb₃は下降して、その接続ピン７８が上部接
続ピンボードb₁の接続ピン７４との接触が解かれ
る。したがつて、上部プローブピンボードB₁を
他のものと交換したい時には、位置決めピン１６
（第５図）によるロツクを解いてから同ボードB₁
を条片７の段部７ａに沿つて前方へ引出せば、後
部の上部接続ピンボードb₁も一緒に引出される。
そして、この時、ジヤンパー線７５も一緒に引出
される。そして、新しい上部プローブピンボード
をそれに付属する上部接続ピンボードと共にユニ
ツトとして段部７ａに沿つて押込んで位置決めピ
ン１６でロツクする。

下部プローブピンボードB₂とそれに付属する
下部接続ピンボードb₂のセツトの交換も、モータ
Ｍによりスライド枠１２を前進させて外へ出した
後行なうことができる。この場合も、下部プロー
ブピンボードB₂、下部接続ピンボードb₂および
ジヤンパー線７７をユニツトとして交換すること
ができる。

いずれの場合でも、従来の装置の場合のように
長いコードを引回すことがなく、コード切れ、半
田付けの剥がれなどの問題がなく、ピンボードの
取扱いが簡単化される。そして、このように上部
および下部ピンボードを交換した後は、その導通
にあずかる接続ピンの配列に応じて、中間接続ピ
ンボードb₃の接続ピン７８の導通検査機器への接
続を調整すればよい。

導通ピン９７（第１３図）は、それにテスター
の端子を当てることによつて、上部および下部プ
ローブピンボードB₁，B₂のプローブピンから上
部および下部接続ピンボードb₁，b₂の接続ピンお
よび中間接続ピンボードb₃の接続ピンを経て導通
ピン９７に至る導通状態を検査することを可能と
する点で便利である。

前述のように、上部、下部および中間接続ピン
ボードb₁，b₂，b₃には、通常、それらの全部の貫
通孔に接続ピンが挿通される。これは接続ピンボ
ードb₁，b₂，b₃の全体的なバランス、特に上下動
する接続ピンボードb₂，b₃の全体的なバランスを
とるうえで好ましい。

前述のように駆動シリンダC₂を作動させ、ピ
ストンロツド５２、レバー５８，５８Ｅおよび屈
曲リンク６０，６０Ｅを介して昇降台８を上昇、
下降させる機構は、次の点で好ましい。

まず、既述のように、レバー５８，５８Ｅの屈
曲リンク６０，６０Ｅに連結された腕は、シリン
ダC₂の作用で、第３，４図の水平位置から垂直
上方を向く位置へ回動変位するに際し、最初はそ
の垂直上方へ向かう運動成分が大きいが、次第に
上方へ向かう運動成分が減少してくる。このた
め、回路基板Ｐは最初速やかに上昇し、上部プロ
ーブピンボードB₁のコンタクトプローブピン５
の下端に接触する瞬間には上昇速度はかなり減少
する。これは下部プローブピンボードB₂につい
ても同様である。したがつて、導通検査サイクル
の短縮のためにシリンダC₂の作動速度を上げて
も、回路基板とプローブピンボードB₁，B₂のコ
ンタクトプローブピンの接触は衝撃の少ない軟接
触となる。一方、昇降台８の上昇完了後に駆動シ
リンダの圧力が消失するような事態が生じても、
屈曲リンク６０，６０Ｅに連結されるレバー５
８，５８Ｅの腕が真上を向いているので、レバー
を下げるモーメントが作用せず、昇降台８がロツ
クされたような状態になり落下しない。なお、屈
曲リンク６０，６０Ｅはその屈曲形状ののため、
上昇時に軸５６，５６Ｅと干渉しない。

〔発明の効果〕

本発明では、検査すべき両面回路基板を保持す
るために案内支柱に独立して支持された保持枠を
設けることなく、下部プローブピンボードの上に
弾発的に回路基板載置台を直接載置したので、構
造が簡単化されるとともに装置の上下方向寸法が
小さくなつてコストが下がり、検査時の押上げ動
力が少なくてすみ、しかも両面回路基板の両方の
面の検査点にコンタクトプローブピンを同時に接
触させて導通検査を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の両面回路基板検査装置の正面
図、第２図は同平面図、第３図は第１図の右側面
図、第４図は一部を切欠いて示す第３図と同様な
図、第５図は第１図の右半部の一部縦断状態の正
面図、第６図は第５図の一部の断面詳細図、第７
図は第６図に示す位置決めピン動作シリンダの横
断面図、第８図は本発明の検査装置の昇降台の一
側部を示す平面図、第９図は本発明の検査装置の
一側部の一部切除平面図、第１０図は第９図のＸ
−Ｘ線断面図、第１１図は本発明の検査装置の後
部の構造を示す一部断面側面図、第１２図は同じ
く一部断面背面図、第１３図は中間接続ピンボー
ドとその接続ピンを示す説明図である。１……支持ベース、２……案内支柱、５……コ
ンタクトプローブピン、３……天板、６……ピン
ボード装着枠、B₁……上部プローブピンボード、
B₂……下部プローブピンボード、７……支持段
付条片、８……昇降台、９……筒体、１０……ガ
イド受け、１１……ガイド、１２……下部ピンボ
ード支持用スライド枠、１３……回路基板載置
台、１４……コンタクトプローブピン、Ｐ……回
路基板、１６……位置決めピン、２３……ブツシ
ユ、２４……スライドピン、２６……コイルば
ね、２８……電子部品、３０……位置決めピン、
C₁……位置決めピン動作シリンダ、D₁，D₂……
シヨツクアブソーバ、S₁，S₂……スライド枠位置
検出用スイツチ、Ｍ……スライド枠前進後退用モ
ータ、C₂……昇降駆動機構の駆動シリンダ、Ｍ
……スライド枠の前進後退用モータ、４１，４２
……プーリ、４３……ベルト、４５……ピニオ
ン、４６……ラツク、５０……ブラケツト、５２
……ピストンロツド、５４……アーム、５６，５
６Ｅ……回動軸、５８，５８Ｅ……レバー、６
０，６０Ｅ……屈曲リンク、６５……連動リン
ク、b₁……上部接続ピンボード、b₂……下部接続
ピンボード、b₃……中間接続ピンボード、７４，
７６，７８……接続ピン、７５，７７……ジヤン
パー線、８０……昇降板、８１……カム従動ロー
ラ、８３……スリーブ、８４……ガイドロツド、
８５……ばね、８７……カム、８７ａ……カムの
隆起部、８８……ラツク、９０……回転軸、９２
……操作ハンドル、９７……導通ピン。

Claims

【特許請求の範囲】１支持ベースに複数の案内支柱を植設し、案内
支柱の上部に天板を取付けて構成した検査装置の
枠体を備え、前記天板の下側には、下向きのコン
タクトプローブピンを有する水平な上部プローブ
ピンボードを枠体外に取出し自在に装着し、一
方、枠体内の下側空間には、前記案内支柱に沿つ
て上下方向に移動可能に昇降台を設け、この昇降
台を上部プローブピンボードに対し上昇、下降さ
せるための昇降駆動機構を設け、昇降台上には、
スライド枠を、昇降台上の位置と前記枠体外に突
出する位置との間で摺動可能に支持し、スライド
枠上には下部コンタクトプローブピンボードを水
平に取付け、下部プローブピンボードには上向き
のコンタクトプローブピンを装着し、これらのコ
ンタクトプローブピンの上端を囲むように、枠状
の回路基板載置台を下部プローブピンボードの上
方に弾発的に支承し、回路基板載置台はその上面
に検査すべき両面回路基板を支持する面を備え、
回路基板載置台上に支持された回路基板の下面が
通常下部コンタクトプローブピンの上端から僅か
に離れるようにし、昇降台の上昇時に回路基板の
上面が、まず、上部プローブピンボードのコンタ
クトプローブピンに接触し、次いで弾発されてい
る回路基板載置台が下部プローブピンボードに接
近するように下圧されることによつて、回路基板
の下面が下部プローブピンボードのコンタクトプ
ローブピンに接触するようにしたことを特徴とす
る両面回路基板検査装置。２昇降駆動機構が、天板と昇降台を連結するリ
ンク機構と、このリンク機構の１つのリンクを回
動させる回転駆動機構とよりなる特許請求の範囲
第１項記載の両面回路基板検査装置。３スライド枠が側面にラツクを有し、このラツ
クを駆動するように駆動ピニオンがラツクにかみ
合つている特許請求の範囲第１項記載の両面回路
基板検査装置。