JPH0573953A - 光学式記録再生装置 - Google Patents
光学式記録再生装置Info
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- JPH0573953A JPH0573953A JP3236702A JP23670291A JPH0573953A JP H0573953 A JPH0573953 A JP H0573953A JP 3236702 A JP3236702 A JP 3236702A JP 23670291 A JP23670291 A JP 23670291A JP H0573953 A JPH0573953 A JP H0573953A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光検出器の個数を減らして、光検出器の位置
の調整を簡易にする。 【構成】 半導体レーザ１からの出射光は結像レンズ１
８により、光ディスク１３上に集光され、光ディスク１
３からの反射光１４は、回折素子３により回折され、光
検出器４の２分割光検出部３９，４０，４１，４２で受
光される。光検出器４上の鏡５で半導体レーザ１からの
出射光を反射させることにより、光検出器４を、光を遮
らないような形状に無理に加工すること無しに、＋１次
回折光と−１次回折光の両方を１つの光検出器４で受光
できる。
の調整を簡易にする。 【構成】 半導体レーザ１からの出射光は結像レンズ１
８により、光ディスク１３上に集光され、光ディスク１
３からの反射光１４は、回折素子３により回折され、光
検出器４の２分割光検出部３９，４０，４１，４２で受
光される。光検出器４上の鏡５で半導体レーザ１からの
出射光を反射させることにより、光検出器４を、光を遮
らないような形状に無理に加工すること無しに、＋１次
回折光と−１次回折光の両方を１つの光検出器４で受光
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コンパクトディスク再
生装置等に用いられる光学式記録再生装置に関するもの
である。
生装置等に用いられる光学式記録再生装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】回折素子を用いた従来の光学式記録再生
装置は、例えば特開昭６２−１３７７３６号公報に開示
されているような構成になっている。従来の光学式記録
再生装置の例を図６に示す。半導体レーザ１の出射光２
は、回折格子１７を透過し、結像レンズ１８により光デ
ィスク１３に収束される。光ディスク１３からの反射光
１４は、結像レンズ１８により収束され、回折格子１７
により回折される。回折格子１７の回折光１５，１６，
３３，３４は、各々半導体レーザ１の脇にある２分割光
検出器１９，２０，３１，３２に到達する。ここで回折
光３３，３４は、それぞれ回折光１６，１５を＋１次回
折光とすると−１次回折光にあたり、−１次回折光とす
ると＋１次回折光にあたる関係にある。２分割光検出器
１９，２０，３１，３２は、各々光検出器９と１０，光
検出器１１と１２，光検出器２７と２８，光検出器２９
と３０から構成されている。またこれらの２分割光検出
器１９，２０，３１，３２は、すべて結像レンズ１８の
光軸に垂直な同一平面上にある。
装置は、例えば特開昭６２−１３７７３６号公報に開示
されているような構成になっている。従来の光学式記録
再生装置の例を図６に示す。半導体レーザ１の出射光２
は、回折格子１７を透過し、結像レンズ１８により光デ
ィスク１３に収束される。光ディスク１３からの反射光
１４は、結像レンズ１８により収束され、回折格子１７
により回折される。回折格子１７の回折光１５，１６，
３３，３４は、各々半導体レーザ１の脇にある２分割光
検出器１９，２０，３１，３２に到達する。ここで回折
光３３，３４は、それぞれ回折光１６，１５を＋１次回
折光とすると−１次回折光にあたり、−１次回折光とす
ると＋１次回折光にあたる関係にある。２分割光検出器
１９，２０，３１，３２は、各々光検出器９と１０，光
検出器１１と１２，光検出器２７と２８，光検出器２９
と３０から構成されている。またこれらの２分割光検出
器１９，２０，３１，３２は、すべて結像レンズ１８の
光軸に垂直な同一平面上にある。
【０００３】回折格子１７を半導体レーザ１の方向から
見たときの格子の配置の様子を図７に模式的に示す。格
子のピッチは、配置をわかりやすくするために実際より
大きく書いてある。回折格子１７は、結像レンズ１８の
光軸と交わる線を境に、格子方向の異なる左側回折格子
２１と右側回折格子２２とから構成されている。左側回
折格子２１の±１次回折光は、２分割光検出器１９の分
割線上の点２５及び２分割光検出器３２の分割線上の点
２４に収束する。一方、右側回折格子２２の±１次回折
光は、２分割光検出器２０の分割線上の点２６及び２分
割光検出器３１の分割線上の点２３に収束する。
見たときの格子の配置の様子を図７に模式的に示す。格
子のピッチは、配置をわかりやすくするために実際より
大きく書いてある。回折格子１７は、結像レンズ１８の
光軸と交わる線を境に、格子方向の異なる左側回折格子
２１と右側回折格子２２とから構成されている。左側回
折格子２１の±１次回折光は、２分割光検出器１９の分
割線上の点２５及び２分割光検出器３２の分割線上の点
２４に収束する。一方、右側回折格子２２の±１次回折
光は、２分割光検出器２０の分割線上の点２６及び２分
割光検出器３１の分割線上の点２３に収束する。
【０００４】焦点誤差信号，トラッキング誤差信号、そ
して再生信号を得る方法を次に説明する。
して再生信号を得る方法を次に説明する。
【０００５】光ディスクの上下面ぶれ（デフォーカス）
に対し、２分割光検出器１９，２０，３１，３２の光検
出器９，１０，１１，１２，２７，２８，２９，３０が
受光する光量は変動するため、光検出器９と１０の受光
量の差、光検出器１１と１２の受光量の差、光検出器２
７と２８の受光量の差、そして光検出器２９と３０の受
光量の差を示す信号をもって焦点誤差信号とすることが
できる。すなわち、合焦位置では、上に述べたように２
分割光検出器１９，２０，３１，３２の分割線上に回折
光１５，１６，３３，３４が収束するので差信号は零と
なる。光ディスク１３が結像レンズ１８から遠ざかる方
向にずれた場合には、回折光１５，１６，３３，３４の
収束点は、２分割光検出器１９，２０，３１，３２上か
ら回折格子１７の方向にシフトする。この時、回折格子
１７の中心すなわち結像レンズ１８の光軸に入射した光
線は不動であるため、回折光の収束点のぼけは、２分割
光検出器１９及び２０の各々内側の光検出器１０及び１
１上と、２分割光検出器３１及び３２の各々外側の光検
出器２７及び３０上に生じ、光検出器１０，１１，２
７，３０にくる光量が増加する。逆に、光ディスク１３
が結像レンズ１８に近づく場合には、回折光１５，１
６，３３，３４の収束点は、回折格子１７から遠ざかる
方向にシフトする。この場合には２分割光検出器１９及
び２０のそれぞれ外側の光検出器９及び１２と、２分割
光検出器３１及び３２のそれぞれ内側の光検出器２８及
び２９の光量が増加する。
に対し、２分割光検出器１９，２０，３１，３２の光検
出器９，１０，１１，１２，２７，２８，２９，３０が
受光する光量は変動するため、光検出器９と１０の受光
量の差、光検出器１１と１２の受光量の差、光検出器２
７と２８の受光量の差、そして光検出器２９と３０の受
光量の差を示す信号をもって焦点誤差信号とすることが
できる。すなわち、合焦位置では、上に述べたように２
分割光検出器１９，２０，３１，３２の分割線上に回折
光１５，１６，３３，３４が収束するので差信号は零と
なる。光ディスク１３が結像レンズ１８から遠ざかる方
向にずれた場合には、回折光１５，１６，３３，３４の
収束点は、２分割光検出器１９，２０，３１，３２上か
ら回折格子１７の方向にシフトする。この時、回折格子
１７の中心すなわち結像レンズ１８の光軸に入射した光
線は不動であるため、回折光の収束点のぼけは、２分割
光検出器１９及び２０の各々内側の光検出器１０及び１
１上と、２分割光検出器３１及び３２の各々外側の光検
出器２７及び３０上に生じ、光検出器１０，１１，２
７，３０にくる光量が増加する。逆に、光ディスク１３
が結像レンズ１８に近づく場合には、回折光１５，１
６，３３，３４の収束点は、回折格子１７から遠ざかる
方向にシフトする。この場合には２分割光検出器１９及
び２０のそれぞれ外側の光検出器９及び１２と、２分割
光検出器３１及び３２のそれぞれ内側の光検出器２８及
び２９の光量が増加する。
【０００６】以上の考え方により、光検出器９，１０，
１１，１２，２７，２８，２９，３０の出力電圧を、各
々Ｖ（９），Ｖ（１０），Ｖ（１１），Ｖ（１２），Ｖ
（２７），Ｖ（２８），Ｖ（２９），Ｖ（３０）とすれ
ば、焦点誤差信号は、（Ｖ（１０）＋Ｖ（１１））−
（Ｖ（９）＋Ｖ（１２））−（Ｖ（２８）＋Ｖ（２
９））＋（Ｖ（２７）＋Ｖ（３０））により検出でき、
光ディスク１３の焦点ずれの方向及び量を検知すること
ができる。
１１，１２，２７，２８，２９，３０の出力電圧を、各
々Ｖ（９），Ｖ（１０），Ｖ（１１），Ｖ（１２），Ｖ
（２７），Ｖ（２８），Ｖ（２９），Ｖ（３０）とすれ
ば、焦点誤差信号は、（Ｖ（１０）＋Ｖ（１１））−
（Ｖ（９）＋Ｖ（１２））−（Ｖ（２８）＋Ｖ（２
９））＋（Ｖ（２７）＋Ｖ（３０））により検出でき、
光ディスク１３の焦点ずれの方向及び量を検知すること
ができる。
【０００７】一方、トラッキング誤差信号は、半導体レ
ーザ１からの出射光２の光ディスク１３上における絞り
込みスポットがトラック位置からずれると、もどり光の
強度分布にアンバランスが生じることを利用する。図の
紙面に垂直な方向にトラックが伸びている配置であると
すると、トラックずれにより回折光１５と１６の強度比
および回折光３３と３４の強度比が変わるため、２分割
光検出器１９と２０の出力信号と２分割光検出器３１と
３２の出力信号に差が生じる。従ってトラッキング誤差
信号は、（Ｖ（９）＋Ｖ（１０））−（Ｖ（１１）＋Ｖ
（１２））−（Ｖ（２７）＋Ｖ（２８））＋（Ｖ（２
９）＋Ｖ（３０））により検出でき、この差信号の正負
により、トラックずれの方向も検知することができる。
ーザ１からの出射光２の光ディスク１３上における絞り
込みスポットがトラック位置からずれると、もどり光の
強度分布にアンバランスが生じることを利用する。図の
紙面に垂直な方向にトラックが伸びている配置であると
すると、トラックずれにより回折光１５と１６の強度比
および回折光３３と３４の強度比が変わるため、２分割
光検出器１９と２０の出力信号と２分割光検出器３１と
３２の出力信号に差が生じる。従ってトラッキング誤差
信号は、（Ｖ（９）＋Ｖ（１０））−（Ｖ（１１）＋Ｖ
（１２））−（Ｖ（２７）＋Ｖ（２８））＋（Ｖ（２
９）＋Ｖ（３０））により検出でき、この差信号の正負
により、トラックずれの方向も検知することができる。
【０００８】光ディスク１３からの再生信号は、２分割
光検出器１９，２０，３１，３２の光量の総和、Ｖ
（９）＋Ｖ（１０）＋Ｖ（１１）＋Ｖ（１２）＋Ｖ（２
７）＋Ｖ（２８）＋Ｖ（２９）＋Ｖ（３０）をとること
により検出できる。
光検出器１９，２０，３１，３２の光量の総和、Ｖ
（９）＋Ｖ（１０）＋Ｖ（１１）＋Ｖ（１２）＋Ｖ（２
７）＋Ｖ（２８）＋Ｖ（２９）＋Ｖ（３０）をとること
により検出できる。
【０００９】回折格子１７からの±１次回折光の両方を
利用せず、＋１次回折光もしくは−１次回折光のみを利
用しても、例えば２分割光検出器１９，２０のみによっ
ても、焦点誤差信号，トラッキング誤差信号、そして再
生信号を検出できるが、２分割光検出器１９，２０，３
１，３２のすべてを用いて、これらの信号を検出する方
が光利用率が高い。
利用せず、＋１次回折光もしくは−１次回折光のみを利
用しても、例えば２分割光検出器１９，２０のみによっ
ても、焦点誤差信号，トラッキング誤差信号、そして再
生信号を検出できるが、２分割光検出器１９，２０，３
１，３２のすべてを用いて、これらの信号を検出する方
が光利用率が高い。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上に述べた従来の光学
式記録再生装置は、回折素子からの＋１次回折光と−１
次回折光をそれぞれ別の光検出器で受光しているため、
必要とする光検出器の個数が多く、光検出器の位置の調
整に手間がかかる。また回折素子の回折光の内、＋１次
回折光と−１次回折光の両方の回折光を受光できるよう
な光検出部を有する、図８（ａ）に示すような光検出器
８４は、光発生手段からの出射光を遮ってしまうという
問題がある。なお図８（ａ）において、８５，８６，８
７，８８は２分割光検出部であり、それぞれ光検出部８
９，９０、光検出部９１，９２、光検出部９３，９４、
光検出部９５，９６で構成されている。このような問題
を回避するためには、図８（ｂ）に示すように、光検出
器９７に光発生手段からの出射光を通す穴９８を開ける
方法や、図８（ｃ）に示すように、Ｕ字形に光検出器９
９を削る方法も考えられるが、光検出部に損傷を与えず
にこのような加工を行うことは困難であるという課題が
あった。
式記録再生装置は、回折素子からの＋１次回折光と−１
次回折光をそれぞれ別の光検出器で受光しているため、
必要とする光検出器の個数が多く、光検出器の位置の調
整に手間がかかる。また回折素子の回折光の内、＋１次
回折光と−１次回折光の両方の回折光を受光できるよう
な光検出部を有する、図８（ａ）に示すような光検出器
８４は、光発生手段からの出射光を遮ってしまうという
問題がある。なお図８（ａ）において、８５，８６，８
７，８８は２分割光検出部であり、それぞれ光検出部８
９，９０、光検出部９１，９２、光検出部９３，９４、
光検出部９５，９６で構成されている。このような問題
を回避するためには、図８（ｂ）に示すように、光検出
器９７に光発生手段からの出射光を通す穴９８を開ける
方法や、図８（ｃ）に示すように、Ｕ字形に光検出器９
９を削る方法も考えられるが、光検出部に損傷を与えず
にこのような加工を行うことは困難であるという課題が
あった。
【００１１】本発明の目的は、上述のような課題を解決
し、＋１次回折光と−１次回折光のどちらも利用し、な
おかつ光検出器の個数を減らすことで光検出器の位置の
調整を簡易にすることのできる光学式記録再生装置を提
供することにある。
し、＋１次回折光と−１次回折光のどちらも利用し、な
おかつ光検出器の個数を減らすことで光検出器の位置の
調整を簡易にすることのできる光学式記録再生装置を提
供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、光発生手段
と、この光発生手段から出射された光を記録媒体上に集
光させる結像レンズと、前記光発生手段と前記結像レン
ズの間にあって、前記記録媒体からの反射光を前記光発
生手段からの出射光の光軸外へ回折させる回折素子と、
この回折素子による回折光を受光して光信号を電気信号
に変換する複数の光検出部を有した光検出器とを備えた
光学式記録再生装置において、前記光検出部が前記回折
素子の回折光の内、＋１次回折光と−１次回折光の両方
の回折光を受光し、前記光発生手段から出射された光を
反射させて前記回折素子へ導く反射体が、前記光検出器
上に固定されていることを特徴とする。
と、この光発生手段から出射された光を記録媒体上に集
光させる結像レンズと、前記光発生手段と前記結像レン
ズの間にあって、前記記録媒体からの反射光を前記光発
生手段からの出射光の光軸外へ回折させる回折素子と、
この回折素子による回折光を受光して光信号を電気信号
に変換する複数の光検出部を有した光検出器とを備えた
光学式記録再生装置において、前記光検出部が前記回折
素子の回折光の内、＋１次回折光と−１次回折光の両方
の回折光を受光し、前記光発生手段から出射された光を
反射させて前記回折素子へ導く反射体が、前記光検出器
上に固定されていることを特徴とする。
【００１３】
【作用】＋１次回折光と−１次回折光のどちらの回折光
も同じ光検出器で受光するので、別々の光検出器で受光
するのに比べて、光検出器の位置の調整が簡易である。
また光検出器上の鏡で光発生手段からの出射光を反射す
る構成なので、光検出器によって光の蹴られる心配がな
い。
も同じ光検出器で受光するので、別々の光検出器で受光
するのに比べて、光検出器の位置の調整が簡易である。
また光検出器上の鏡で光発生手段からの出射光を反射す
る構成なので、光検出器によって光の蹴られる心配がな
い。
【００１４】
【実施例】本発明の光学式記録再生装置の第１実施例を
図１に基づいて以下に説明する。
図１に基づいて以下に説明する。
【００１５】本実施例に係る光学式記録再生装置は、図
１に示すように、光発生手段である半導体レーザ１と、
半導体レーザ１からの出射光２を反射させる反射体であ
る鏡５と、回折素子３を透過した光を記録媒体である光
ディスク１３に集光すると共に、光ディスク１３からの
反射光１４を回折素子３に導く結像レンズ１８と、この
反射光１４を結像レンズ１８の光軸外に回折する回折素
子３と、その回折光３５，３６，３７，３８を受光して
光信号を電気信号に変換する光検出器４から構成されて
いる。回折素子３は結像レンズ１８の光軸と交わる点を
境に領域３ａ，３ｂに分割され、領域３ａが回折光３
５，３８を、領域３ｂが回折光３６，３７を発生する。
図２に示すように光検出器４は、回折光３５，３６を受
光する２分割光検出部３９，４０と、回折光３７，３８
を受光する２分割光検出部４１，４２を備えている。２
分割光検出部３９，４０，４１，４２は、各々光検出部
４３，４４、光検出部４５，４６、光検出部４７，４
８、そして光検出部４９，５０から構成されている。
１に示すように、光発生手段である半導体レーザ１と、
半導体レーザ１からの出射光２を反射させる反射体であ
る鏡５と、回折素子３を透過した光を記録媒体である光
ディスク１３に集光すると共に、光ディスク１３からの
反射光１４を回折素子３に導く結像レンズ１８と、この
反射光１４を結像レンズ１８の光軸外に回折する回折素
子３と、その回折光３５，３６，３７，３８を受光して
光信号を電気信号に変換する光検出器４から構成されて
いる。回折素子３は結像レンズ１８の光軸と交わる点を
境に領域３ａ，３ｂに分割され、領域３ａが回折光３
５，３８を、領域３ｂが回折光３６，３７を発生する。
図２に示すように光検出器４は、回折光３５，３６を受
光する２分割光検出部３９，４０と、回折光３７，３８
を受光する２分割光検出部４１，４２を備えている。２
分割光検出部３９，４０，４１，４２は、各々光検出部
４３，４４、光検出部４５，４６、光検出部４７，４
８、そして光検出部４９，５０から構成されている。
【００１６】本実施例に係る光学式記録再生装置は、光
検出部４３，４４，４５，４６，４７，４８，４９，５
０の出力電圧を、それぞれＶ（４３），Ｖ（４４），Ｖ
（４５），Ｖ（４６），Ｖ（４７），Ｖ（４８），Ｖ
（４９），Ｖ（５０）とすると、焦点誤差信号としてＶ
（４３）−Ｖ（４４）−Ｖ（４５）＋Ｖ（４６）−Ｖ
（４７）＋Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）−Ｖ（５０）を、ト
ラッキング誤差信号としてＶ（４３）＋Ｖ（４４）−Ｖ
（４５）−Ｖ（４６）−Ｖ（４７）−Ｖ（４８）＋Ｖ
（４９）＋Ｖ（５０）を、そして再生信号としてＶ（４
３）＋Ｖ（４４）＋Ｖ（４５）＋Ｖ（４６）＋Ｖ（４
７）＋Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）を用いる。
検出部４３，４４，４５，４６，４７，４８，４９，５
０の出力電圧を、それぞれＶ（４３），Ｖ（４４），Ｖ
（４５），Ｖ（４６），Ｖ（４７），Ｖ（４８），Ｖ
（４９），Ｖ（５０）とすると、焦点誤差信号としてＶ
（４３）−Ｖ（４４）−Ｖ（４５）＋Ｖ（４６）−Ｖ
（４７）＋Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）−Ｖ（５０）を、ト
ラッキング誤差信号としてＶ（４３）＋Ｖ（４４）−Ｖ
（４５）−Ｖ（４６）−Ｖ（４７）−Ｖ（４８）＋Ｖ
（４９）＋Ｖ（５０）を、そして再生信号としてＶ（４
３）＋Ｖ（４４）＋Ｖ（４５）＋Ｖ（４６）＋Ｖ（４
７）＋Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）を用いる。
【００１７】本発明の光学式記録再生装置の第２実施例
は、前記第１実施例の光学式記録再生装置において、光
検出器４の代わりに、図３に示す光検出器６を、光検出
部６３が半導体レーザ１側にくるように配置した構成で
ある。半導体レーザ１は、その構造によって出射光の放
射角が、接合面に平行な方向と接合面に垂直な方向で異
なる場合もあるので、出射光の全部ではなく光軸に近い
部分だけを利用することもある。その場合、光検出部６
３で本来利用されない光を受光することで、出射光の強
度を検知し、半導体レーザ１への注入電流を制御するこ
とで、出射光の強度を安定化させられる。光検出器６の
２分割光検出部５１，５２，５３，５４は、それぞれ図
２の光検出器４の２分割光検出部３９，４０，４１，４
２に対応し、光検出器６の光検出部５５，５６，５７，
５８，５９，６０，６１，６２は、それぞれ図２の光検
出器４の光検出部４３，４４，４５，４６，４７，４
８，４９，５０に対応している。
は、前記第１実施例の光学式記録再生装置において、光
検出器４の代わりに、図３に示す光検出器６を、光検出
部６３が半導体レーザ１側にくるように配置した構成で
ある。半導体レーザ１は、その構造によって出射光の放
射角が、接合面に平行な方向と接合面に垂直な方向で異
なる場合もあるので、出射光の全部ではなく光軸に近い
部分だけを利用することもある。その場合、光検出部６
３で本来利用されない光を受光することで、出射光の強
度を検知し、半導体レーザ１への注入電流を制御するこ
とで、出射光の強度を安定化させられる。光検出器６の
２分割光検出部５１，５２，５３，５４は、それぞれ図
２の光検出器４の２分割光検出部３９，４０，４１，４
２に対応し、光検出器６の光検出部５５，５６，５７，
５８，５９，６０，６１，６２は、それぞれ図２の光検
出器４の光検出部４３，４４，４５，４６，４７，４
８，４９，５０に対応している。
【００１８】本発明の光学式記録再生装置の第３実施例
は、前記第１実施例の光学式記録再生装置において、回
折素子３の代わりに図４（ａ）に示す回折素子７４を、
光検出器４の代わりに図４（ｂ）に示す光検出器７５を
配置した構成である。回折素子７４には、トラック誤差
検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、領域７４
ｃからの回折光は光検出部７６上と光検出部７９上に集
光され、回折素子７４の領域７４ｄからの回折光は光検
出部７７上と光検出部７８上に集光される。回折素子７
４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用いら
れ、回折素子７４の領域７４ａからの回折光は、２分割
光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線
上に集光され、回折素子７４の領域７４ｂからの回折光
は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出
部８３の分割線上に集光される。焦点誤差信号は、前記
第１実施例の光学式記録再生装置と同様な演算によって
得られ、トラック誤差信号は、光検出部７６と光検出部
７９の出力の和から、光検出部７７と光検出部７８の出
力の和を引くことによって得られる。再生信号は、全て
の出力の和から得られる。トラック誤差検出用の２つの
領域と焦点誤差検出用の２つの領域を直角に回折素子上
に設けているので、トラック誤差信号が、焦点誤差信号
に回り込みにくくなっている。
は、前記第１実施例の光学式記録再生装置において、回
折素子３の代わりに図４（ａ）に示す回折素子７４を、
光検出器４の代わりに図４（ｂ）に示す光検出器７５を
配置した構成である。回折素子７４には、トラック誤差
検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、領域７４
ｃからの回折光は光検出部７６上と光検出部７９上に集
光され、回折素子７４の領域７４ｄからの回折光は光検
出部７７上と光検出部７８上に集光される。回折素子７
４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用いら
れ、回折素子７４の領域７４ａからの回折光は、２分割
光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線
上に集光され、回折素子７４の領域７４ｂからの回折光
は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出
部８３の分割線上に集光される。焦点誤差信号は、前記
第１実施例の光学式記録再生装置と同様な演算によって
得られ、トラック誤差信号は、光検出部７６と光検出部
７９の出力の和から、光検出部７７と光検出部７８の出
力の和を引くことによって得られる。再生信号は、全て
の出力の和から得られる。トラック誤差検出用の２つの
領域と焦点誤差検出用の２つの領域を直角に回折素子上
に設けているので、トラック誤差信号が、焦点誤差信号
に回り込みにくくなっている。
【００１９】本発明の光学式記録再生装置の第４実施例
は、前記第３実施例の光学式記録再生装置において、回
折素子７４の代わりに図５（ａ）に示す回折素子６４
を、光検出器７５の代わりに図５（ｂ）に示す光検出器
６５を配置した構成である。回折素子６４の領域６４
ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄは、それぞれ回折素子７４
の７４ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄに対応している。そ
して光検出器６５の２分割光検出部６６，６７，６８，
６９は、それぞれ光検出器７５の２分割光検出部８０，
８２，８１，８３に対応し、光検出器６５の光検出部７
０，７１，７２，７３は、それぞれ光検出器７５の光検
出部７５，７７，７８，７９に対応している。
は、前記第３実施例の光学式記録再生装置において、回
折素子７４の代わりに図５（ａ）に示す回折素子６４
を、光検出器７５の代わりに図５（ｂ）に示す光検出器
６５を配置した構成である。回折素子６４の領域６４
ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄは、それぞれ回折素子７４
の７４ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄに対応している。そ
して光検出器６５の２分割光検出部６６，６７，６８，
６９は、それぞれ光検出器７５の２分割光検出部８０，
８２，８１，８３に対応し、光検出器６５の光検出部７
０，７１，７２，７３は、それぞれ光検出器７５の光検
出部７５，７７，７８，７９に対応している。
【００２０】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば、
＋１次回折光を受光する光検出器と−１次回折光を受光
する光検出器を１つの光検出器にまとめることで、必要
とされる光検出器の個数を減らすことができる。したが
って光検出器の位置の調整が簡易である。また光検出器
上の反射体で光発生手段からの出射光を反射する構成な
ので、光検出器によって光の蹴られる心配がなく、光検
出器を無理な形状に加工する必要もない。
＋１次回折光を受光する光検出器と−１次回折光を受光
する光検出器を１つの光検出器にまとめることで、必要
とされる光検出器の個数を減らすことができる。したが
って光検出器の位置の調整が簡易である。また光検出器
上の反射体で光発生手段からの出射光を反射する構成な
ので、光検出器によって光の蹴られる心配がなく、光検
出器を無理な形状に加工する必要もない。
【図１】本発明の光学式記録再生装置の第１実施例の構
成を示す概略斜視図である。
成を示す概略斜視図である。
【図２】図１の実施例における光検出器を示す平面図で
ある。
ある。
【図３】本発明の光学式記録再生装置の第２実施例にお
ける光検出器を示す平面図である。
ける光検出器を示す平面図である。
【図４】本発明の光学式記録再生装置の第３実施例を示
す説明図であり、（ａ）は回折素子を示す平面図、
（ｂ）は光検出器を示す平面図である。
す説明図であり、（ａ）は回折素子を示す平面図、
（ｂ）は光検出器を示す平面図である。
【図５】本発明の光学式記録再生装置の第４実施例を示
す説明図であり、（ａ）は回折素子を示す平面図、
（ｂ）は光検出器を示す平面図である。
す説明図であり、（ａ）は回折素子を示す平面図、
（ｂ）は光検出器を示す平面図である。
【図６】従来の光学式記録再生装置の構成を示す概略図
である。
である。
【図７】従来の光学式記録再生装置を構成する回折格子
と光検出器を示す説明図である。
と光検出器を示す説明図である。
【図８】３種類の光検出器を示す説明図であり、（ａ）
は長方形の形状をした光検出器の平面図、（ｂ）は中央
に穴の開いた光検出器の平面図、（ｃ）はＵ字形の形状
をした光検出器の平面図である。
は長方形の形状をした光検出器の平面図、（ｂ）は中央
に穴の開いた光検出器の平面図、（ｃ）はＵ字形の形状
をした光検出器の平面図である。
１ 半導体レーザ ２ 出射光 ３ 回折素子 ３ａ，３ｂ 領域 ４ 光検出器 ５ 鏡 ６，９〜１２ 光検出器 １３ 光ディスク １４ 反射光 １５，１６ 回折光 １７ 回折格子 １８ 結像レンズ １９，２０ ２分割光検出器 ２１ 左側回折格子 ２２ 右側回折格子 ２３〜２６ 回折光の収束点 ２７〜３０ 光検出器 ３１，３２ ２分割光検出器 ３３〜３８ 回折光 ３９〜４２ ２分割光検出部 ４３〜５０ 光検出部 ５１〜５４ ２分割光検出部 ５５〜６３ 光検出部 ６４ 回折素子 ６４ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄ 領域 ６５ 光検出器 ６６〜６９ ２分割光検出部 ７０〜７３ 光検出部 ７４ 回折素子 ７４ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄ 領域 ７５ 光検出器 ７６〜７９ 光検出部 ８０〜８３ ２分割光検出部 ８４ 光検出器 ８５〜８８ ２分割光検出部 ８９〜９６ 光検出部 ９７，９９ 光検出器 ９８ 穴
Claims (1)
- 【請求項１】光発生手段と、この光発生手段から出射さ
れた光を記録媒体上に集光させる結像レンズと、前記光
発生手段と前記結像レンズの間にあって、前記記録媒体
からの反射光を前記光発生手段からの出射光の光軸外へ
回折させる回折素子と、この回折素子による回折光を受
光して光信号を電気信号に変換する複数の光検出部を有
した光検出器とを備えた光学式記録再生装置において、 前記光検出部が前記回折素子の回折光の内、＋１次回折
光と−１次回折光の両方の回折光を受光し、前記光発生
手段から出射された光を反射させて前記回折素子へ導く
反射体が、前記光検出器上に固定されていることを特徴
とする光学式記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3236702A JPH0573953A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 光学式記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3236702A JPH0573953A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 光学式記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573953A true JPH0573953A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=17004502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3236702A Pending JPH0573953A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 光学式記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0573953A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137736A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-20 | Nec Corp | 光ヘツド装置 |
| JPS6435737A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 | Sony Corp | Optical head device |
-
1991
- 1991-09-18 JP JP3236702A patent/JPH0573953A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137736A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-20 | Nec Corp | 光ヘツド装置 |
| JPS6435737A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 | Sony Corp | Optical head device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
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