JPH057761B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の詳細な説明］ 本発明は、磁気デイスクにおける信号損失を検
出し、そして正確に信号損失のロケーシヨンを位
置決定し、そして分析の目的のために、そのよう
な信号損失が発生したロケーシヨンを検査する方
法に関する。

デジタル・データのような情報は、後に再生す
るために磁気デイスクに記録される。磁気デイス
クおよび再生の品質は、しばしば、通常「ドロツ
プアウト」と呼ばれる記録された信号の瞬間的な
損失によつて影響される。選択されたドロツプア
ウトを評価することは、信号損失の原因を識別す
る際に有益であることが見い出され、そしてしば
しば、製造プロセスは、この評価に基づいて、デ
イスクの品質を改良するために変更される。信号
が損失する理由に関する価値ある情報は、例え
ば、顕微鏡により個々のドロツプアウトを検査す
ることにより得られる。この技術は、労力と時間
を費やすかあるいは費やす傾向があり、そしてま
た、現存の技術を使用して、所与のデイスクにお
ける計数されたドロツプアウトの一部分のみが分
析のために位置決定されるために、決定的ではな
いであろう。

種々の装置と方法が、磁気テープとデイスクを
含むシート状材料における欠陥を検出するための
技術に対して公知である。例えば、ホツジへの米
国特許第3525930号とワング他への米国特許第
3662158号は、信号ドロツプアウト検出装置を示
し、この場合カウンターがドロツプアウト数を決
定するために使用される。デイオン他への米国特
許第3781835号は、ドロツプアウト検出装置の別
の例であり、磁気記録デイスクを保証する方法を
さらに具体的に教示する。そのような方法におい
て、３つのヘツドが、デイスクの表面を連続的に
螺旋状に移動する。１つのヘツドはデイスクにお
いてDC消去トラツクにおける雑音を検出し、第
２のヘツドはそのようなデイスクにおけるパルス
の連続パターンを記録し、そして第３のヘツドは
記録されたパルスを読み返す。ドロツプアウト
は、パルスがあるパーセントだけ振幅を減少され
たか否かを決定することにより、検出される。

他の公知の欠陥検出装置において、個々の欠陥
のロケーシヨンを決定し、かつ情報を使用者に利
用可能にするための手段又は工程がまた提供され
る。例えば、ムーニー他への米国特許第4477890
号は、デイスクの検出可能な特性のマツプを生成
する装置を開示する。デイスクは、レーザー・ビ
ームを使用して、螺旋パターンにて光学的に走査
される。検出器は、デイスクの表面の反射特性を
検出し、そして信号を表示装置に与える。記憶オ
シロスコープである表示装置は、オシロスコー
プ・ビームを走査パターンに対応する螺旋パター
ンに追従させるために、ドライブ入力を与えられ
る。

ヨシタケ他への米国特許第4638374号は、回転
可能な記録媒体又はデイスクのための欠陥検出装
置の別の例である。この特許は、第１及び第２の
ドロツプアウト検出信号を生成する第１及び第２
のドロツプアウト選択回路を使用して、ドロツプ
アウトの開始及び終了位置を検出することを教示
する。角度検出信号が生成され、これはデイスク
における角度位置を表示し、この場合第１及び第
２の検出信号は、参照信号に関する参照位置に関
して生成される。デイスクは、45度のセグメント
に分割される。そしてドロツプアウトが、複数の
デイスクの同一の部分又はセグメントにおいて広
範囲に発生するとき、サンプルやオリジナル・デ
イスク等をチエツクし、ドロツプアウトの原因を
突き止めかつその原因を除去することが可能であ
る。

同一関連において、ハドソンへの米国特許第
4197011号は、ビデオ・デイスクのような回転す
る溝付きデイスクに光ビームを走査し、デイスク
の表面における欠陥の存在を検出し、そして回転
するデイスク形感光紙上に欠陥位置の極座標プロ
ツトを記録するシステムを開示する。感光紙上の
プロツトは、欠陥の半径方向及び円周方向のロケ
ーシヨンを作図する。回転する多角形スキヤナー
が、検査されるデイスク上にて第１のレーザー・
ビームを半径方向に走査し、そして感光紙上にて
第２のレーザー・ビームを走査するために使用さ
れる。第２のレーザー・ビームは、検査されるデ
イスクの表面から反射する光に応答する欠陥感知
回路の出力により、変調をオン／オフされる。

さらに、タケウチ他への米国特許第4417149号
は、ラスター走査レーザー・ビームを使用してシ
ート材料のウエブにおける全体の欠陥又は穴を検
出し、そして欠陥を検査し測定するために、この
情報に基づいて、顕微鏡を欠陥のロケーシヨンに
位置付ける装置を示す。

そして最後に、本発明の方法に密度に関連した
方法において、磁気テープにおいて検出されたド
ロツプアウトのＸ−Ｙ位置がコンピユーターによ
つて計算され、検出されたドロツプアウトの上に
顕微鏡を位置付けるためにこの情報を使用する。
ドロツプアウトは、テープに記録されたフレーム
及びライン同期情報に関連して検出される。この
ような方法は、1985年７月29日提出の米国同時係
属特許出願第759846号においてさらに十分に記載
され、ここに参照のために編入される。

本発明は、今までの技術によつて教示されない
改良された方法を提供し、磁気デイスクにおいて
検出されたドロツプアウトに関する情報を正確に
突き止めかつ記憶し、そして連続するドロツプア
ウトを検査機器との作動関係に置くために、この
情報の続く使用に関する方法を提供する。

このような方法において、磁気デイスクにおけ
るドロツプアウトが検出され、そして連続するド
ロツプアウトに関する情報がメモリ・アレイに記
憶される。その情報に基づいて、ドロツプアウト
の半径方向及び角度のロケーシヨンに関するデー
タが計算される。それから、磁気デイスクは、デ
イスク検査機器との作動関係に移動され、そして
選択されたドロツプアウトが検査のために位置付
けられたとき、その位置において磁気デイスクは
停止される。磁気デイスクの続く移動は、計算さ
れたデータに基づいて制御され、これにより検査
のために連続するドロツプアウトの位置を決定す
る。

この方法は、使用者が磁気デイスクにおける多
様なドロツプアウトを迅速に検査し、そしてその
検査に基づいて、将来製造されるデイスクの品質
を改良する際に有益である情報を収集するために
非常に有効である。

簡単に述べると、本発明は、信号ドロツプアウ
トが検出されたロケーシヨンにおいて磁気デイス
クを選択的に検査する方法であつて、 そのような磁気デイスクにおける各ドロツプア
ウトの角度及び半径方向のロケーシヨンを検出す
る段階と； ドロツプアウトのロケーシヨンに関する情報を
コンピユーターに記憶する段階と； コンピユーターに記憶されたドロツプアウト・
ロケーシヨン情報に基づいて、そのような機器に
関してデイスクの位置を制御し、それによつて連
続するドロツプアウトがデイスク検査機器により
検査される段階と； を含む方法である。

特に、デイスクは、デジタル・データのような
情報を記録し、そしてドロツプアウトは、改良さ
れたデイスク保証器を使用して検出される。各ド
ロツプアウトのデイスク・トラツク番号と角度ロ
ケーシヨンがコンピユーターに記憶される。

好ましい方法において、記録された情報は、保
証器によつてデイスク上に書き込まれ、それから
保証器は次にそのような情報を読み出し、そして
ドロツプアウトを検出する。

１つの実施態様において、保証器においてドロ
ツプアウトを規定するために必要とされるデジタ
ル・データにおける信号損失のレベルを、ドロツ
プアウト検出の前にセツトすることができる。別
の実施態様において、ドロツプアウトを規定する
信号損失のレベルを、ドロツプアウト検出操作を
継続する前に変更し、そしてドロツプアウトを、
信号損失のレベルを識別するためにコード化す
る。別の実施態様において、コンピユーターに記
憶された情報を、デイスクの両面におけるドロツ
プアウトのロケーシヨンと重大度を表示するマツ
プを生成するために使用する。

さらに具体的には、本発明の方法によつて検査
されるデイスクは、デイスク上に複数の同心円形
トラツクと、インデツクス・マーク又はインデツ
クス・ホール（以後「同期信号」と呼ぶ）を有
し、そしてそのようなドロツプアウトはトラツク
番号によつて半径方向に位置決めされ、そして角
度位置は、同期信号の通過とドロツプアウトとの
間の時間を測定することにより決定される。

デイスク検査機器は、デイスクが置かれる極座
標の機械的位置決めテーブルを含むデイスク検査
装置の一部であり、そしてテーブルは、そのよう
な機器の下に検査すべきドロツプアウトを位置付
けるために、コンピユーターに記憶されたドロツ
プアウト・ロケーシヨン情報に基づいて、移動さ
せられそして回転させられる。

検出されたドロツプアウトが検査のために選択
されるとき、コンピユーターはドロツプアウトの
半径方向及び角度のロケーシヨンを計算し、そし
てデイスクを移動させるために必要な制御信号を
位置決めテーブルに送る。その結果そのような欠
陥はドロツプアウト検査機器の下に位置付けられ
る。

本発明は、先行技術に対して改良を提供する。

本発明は、ドロツプアウトを生じさせる磁気デ
イスクにおける欠陥を迅速かつ明確に識別しそし
てその位置を決定し、そして個々のドロツプアウ
トを選択的に検査する、統合されたコンピユータ
ー制御による識別及び位置選定方法である。その
ような方法において使用される基本的な構成要素
は、改良された専用の保証器、精密駆動されるデ
イスク微小位置決めテーブルの上に取り付けられ
る高品質モジユール型顕微鏡、改良された商業的
に入手できるドロツプアウト計数器、及び完全に
プログラム化されたデスクトツプ・コンピユータ
ーとプリンターを含む。

システムは、完全統合モードにおいて動作する
ように設計される。注文ソフトウエアは、基本的
モジユールと構成要素のコンピユーター制御を許
容し、迅速な顕微鏡検査のために、ドロツプアウ
トが検出されるデイスクの特定領域を明確に位置
決定しかつ正確に位置付けをする。

この方法を使用して、ドロツプアウトを引き起
こすデイスク欠陥の予想される原因又は発生源の
識別は、数時間ではなく数分で行われる。質問に
対する客観的及び簡潔な答えは、迅速かつ自動的
に提供される。この能力は、デイスクのコーテイ
ング、ベース・フイルム、製造工程、貯蔵又は使
用のいづれにおいても、ドロツプアウトの性質、
発生源及び発生原因に対する価値ある情報を生む
ことが立証された。これは、デイスク製造業者、
供給者及び重要な使用者に対し、明確なドロツプ
アウトの識別と位置決定において躍進を表わす。

特に、図面を参照すると、本発明の方法におい
て、検査される磁気デイスク１０は、コンピユー
ター１４によつて制御されるデイスク保証器１２
に挿入される。操作者は、ドロツプアウトとして
規定される信号損失のレベルを選択する。これ
は、所望ならば、信号の厳し損失のみを検査する
ような改良された診断能力を提供する。ドロツプ
アウトに対する工業的標準値は、通常、40パーセ
ントの信号損失として規定される。商業的に入手
できる保証器は、デイスクの各トラツク１１にパ
ルスを書き込み、そして記録された情報を読み戻
す。信号レベルが選択されたしきい値よりも低い
とき、トラツク番号が表示される。

保証器１２は各トラツクを連続的に規則的に走
査する。ドロツプアウトＤが検出されるとき、保
証器はコンピユーター１４に割り込み、そしてド
ロツプアウトの形態、デイスクのどちらの面に発
生したか及びトラツク・ロケーシヨンを識別す
る。保証器は、このトラツクを連続的に走査す
る。それからコンピユーター１４は、ドロツプア
ウトの角度位置を得るために、カウンター１６、
クロツク１８、及びメモリ２０からなるインダー
フエースを準備する。デイスク保証器１２からの
同期パルスは、クロツク１８によつて駆動される
カウンター１６をスタートさせる。保証器は、ド
ロツプアウトによつて保証器がパルスをインター
フエースに送るように、改良される。これらのパ
ルスは、カウンターの読み値をインターフエース
におけるメモリ２０に転送し、そしてメモリを増
分させる。デイスクは、デイスクの既知のロケー
シヨンにおいて形成又はプリントされたインデツ
クス・ホール又はインデツクス・マークの形態に
おいて、同期信号Ｓを有する。同期信号Ｓが次に
検出されるとき、そのクロツク・カウント値がメ
モリに置かれ、そしてインターフエースが無能力
化される。角度数にて測定されるドロツプアウト
の角度位置は、最終メモリ・ロケーシヨンにおけ
るクロツク・カウント値によつて、与えられたメ
モリ・ロケーシヨンにおけるクロツク・カウント
値を割り算し、そしてそれから360を掛け算する
ことにより、決定される。このデータが取られた
後、コンピユーター１４はトラツク１１の走査の
継続を保証器１２に指令する。

デイスクを完全に走査した後、ドロツプアウト
を規定する信号レベルを減少させ、そして別の走
査を開始することができる。デイスクの各面を完
全に検査し、ドロツプアウトを、デイスクが保証
器から取り除かれる前に、信号損失のレベルによ
つて類別することができる。デイスク１０のマツ
プ１０′が生成され、欠陥Ｄは、デイスクのどち
らの面かを識別できるようにカラーコード化さ
れ、そして強度は、CRTビデオ・デイスプレイ
に表示されるとき、信号損失のレベルを識別する
ように識別コード化される。

それからデイスクを、顕微鏡にて欠陥領域を検
査するために、極座標の機械的位置決めテーブル
２２上に置くことができる。操作者は、デイスク
のどちらの面を検査するかを選択する。操作者
は、デイスプレイ・スクリーン上のカーソルを、
対象となる欠陥を表示するカラー・コード化ドツ
トに移動することにより、検査すべき欠陥を選択
する。

オプシヨンとして、カーソルは、十字線とし
て、又はリード／ライト・ヘツドの外形として表
示される。リード／ライト・ヘツドの外形は、ド
ロツプアウトを引き起こした欠陥の特定の性質を
決定する際に操作者を補助するために提供され
る。それからコンピユーター１４は、その欠陥の
半径方向の位置および角度位置を計算し、そして
必要な制御信号を位置決めテーブル２２に送る。
テーブル、光学顕微鏡２４又は他のデイスク検査
機器の視野内に、対象となる欠陥を位置付けるた
めに移動させられそして回転させられる。欠陥が
位置決めされた後にカーソルを移動することがで
き、これによつて位置決めテーブルが移動させら
れ、こうして操作者は、表示されたドロツプアウ
トに隣接したデイスクの領域を検査することがで
きる。

本発明の操作可能な実施態様において、デイス
ク保証器は、スリーフエニツクス社によつて製造
された3PXフロツピー・デイスク保証器であり、
コンピユーターは、ヒユーレツトパツカード社の
モデル9836Cであり、そしてインターフエースは
6942Aマルチプログラマーとその関連モジユール
である。マルチプログラマーのモジユールは、総
てヒユーレツトパツカード社によつて製造され、
クロツク（モデル69736A）、カウンター（モデル
69775A）、およびメモリ（モデル69790B）を含
む。位置決めテーブルは、ATS303MM／45／
SMH／MH回転位置決めモジユールと、
ATS302M／45／SMW／MH直線位置決めモジ
ユールと、ユニデツクスII／2C／Ｗ／Ｗ／1401／
1401／SM−Ｏ／SM−Ｏテーブル・ドライブを
含み、エアロテツク社、（ピツツバーグ、ペンシ
ルバニア州）によつて製造される。

本発明の主なる特徴及び態様は以下のとおりで
ある。

１ 記録された情報中の信号のドロツプアウトが
検出されたロケーシヨンにおいて磁気デイスク
を選択的に検査する方法であつて、 磁気デイスクにおけるドロツプアウトを検出
する段階と； これらのドロツプアウトの角度及び半径方向
のロケーシヨンを決定する段階と； コンピユーターにそのようなドロツプアウト
のロケーシヨンに関する情報を記憶する段階
と； 磁気デイスクをデイスク検査機器との作動関
係に移動させる段階と； コンピユーターに記憶されたドロツプアウ
ト・ロケーシヨン情報に基づいて、そのような
機器に関して磁気デイスクの位置を制御し、そ
れによつて連続するドロツプアウトがデイスク
検査機器により検査される段階と； からなる方法。

２ 信号のドロツプアウトが検出されたロケーシ
ヨンにおいて、記録された情報を有する磁気デ
イスクを選択的に検査する方法であつて、 磁気デイスクにおけるドロツプアウトを検出
する段階と； 各ドロツプアウトのデイスク・トラツク番号
と角度ロケーシヨンに関する情報をコンピユー
ターに記憶する段階と； 磁気デイスクをデイスク検査機器との作動関
係に移動させる段階と； コンピユーターに記憶されたドロツプアウ
ト・ロケーシヨン情報に基づいて、そのような
機器に関して磁気デイスクの位置を制御し、そ
れによつて連続するドロツプアウトがデイスク
検査機器により検査される段階と； からなる方法。

３ 情報は、保証器によつて磁気デイスクに書き
込まれ、それから保証器は、そのような情報を
読み戻しそしてドロツプアウトを検出する上記
１に記載の方法。

４ 磁気デイスクは、複数のトラツクと同期信号
を有し、そしてこの場合、そのようなドロツプ
アウトは、トラツク番号によつて半径方向に位
置を決定され、そしてドロツプアウトの角度位
置は、同期信号の通過とドロツプアウトとの間
の時間を測定することにより決定される上記１
に記載の方法。

５ 同期信号が、デイスクにおける既知のロケー
シヨンにおいて形成されたインデツクス・ホー
ルである上記４に記載の方法。

６ 同期信号が、デイスクにおける既知のロケー
シヨンにおいて記録されたインデツクス・マー
ククである上記４に記載の方法。

７ デイスク検査機器は、デイスクが置かれる極
座標の機械的位置決めテーブルを含むデイスク
検査装置の一部であり、そしてこの場合テーブ
ルは、コンピユーターに記憶されたドロツプア
ウト・ロケーシヨン情報に基づいて、機器の下
に検査されるドロツプアウトを位置付けるため
に回転させられそして移動させられる上記１に
記載の方法。

８ デイスクに記録された情報がデジタル・デー
タの形式である上記１に記載の方法。

９ デイスクに記録された情報がアナログ形式で
ある上記１に記載の方法。

10 検出されたドロツプアウトが検査のために選
択されるとき、コンピユーターがドロツプアウ
トの半径方向及び角度のロケーシヨンを計算
し、そして必要な制御信号を位置決めテーブル
に送り、これにより欠陥がドロツプアウト検査
機器の下に位置付けられるようにデイスクを移
動させる上記１に記載の方法。

11 ドロツプアウトの検出の前に、保証器におい
て、ドロツプアウトを規定するために必要とさ
れる信号損失のレベルを設定する段階をさらに
含む上記３に記載の方法。

12 ドロツプアウトを規定する信号損失のレベル
がドロツプアウト検出操作を続ける前に変更さ
れ、そしてこの場合、ドロツプアウトは、信号
損失のレベルを識別するためにコード化される
上記11に記載の方法。

13 マツプが、コンピユーターに記憶された情報
を用いて生成され、デイスクの両面におけるド
ロツプアウトのロケーシヨンと重大度を表示す
る上記１に記載の方法。

14 マツプが、コンピユーターに記憶された情報
を用いて生成され、デイスクの両面におけるド
ロツプアウトのロケーシヨンと重大度を同時に
表示する上記１に記載の方法。

【図面の簡単な説明】

図は、磁気デイスクにおけるドロツプアウトに
関する情報を検出かつ記憶する本発明の方法と、
顕微鏡によつて検査される個々のドロツプアウト
も選択的に位置決めるためのこの情報の使用を示
す図である。図中、 １０……磁気デイスク、１０′……マツプ、１
１……トラツク、１２……デイスク保証器、１４
……コンピユーター、１６……カウンター、１８
……クロツク、２０……メモリー、２２……位置
決めテーブル、２４……光学顕微鏡、Ｄ……ドロ
ツプアウト、Ｓ……同期信号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ (a) 複数のトラツクと同期信号を有する磁気
   デイスク上に記録された磁気信号の損失レベル
   を検出するために、読み出された信号を所定の
   しきい値と比較すること、 (b) 該磁気デイスク上に記録された磁気信号の他
   の損失レベルを検出するために、読み出された
   信号を上記所定のしきい値と異なる所定のしき
   い値と比較すること、 (c) 所定のメモリ・ロケーシヨンにおけるクロツ
   ク・カウント値を最終メモリ・ロケーシヨンに
   おけるクロツク・カウント値で割り算し、そし
   て、それに360を掛けることにより、角度数に
   て測定されるドロツプアウトの角度位置を決定
   すること、 (d) コンピユーターに磁気信号の検出された損失
   に関する半径方向および角度方向の情報を記憶
   すること、 (e) カラーコード化された磁気信号の損失レベル
   によりデイスクのマツプを生成すること、 (f) 該マツプをカラーCRTデイスプレイ装置上
   に表示すること、 (g) 検出された磁気信号損失を表わすコード化さ
   れたカラーシンボル上にカーソルを位置付ける
   ことにより、特定のドロツプアウトを選択する
   こと、 (h) コンピユーターに記憶されている該特定のド
   ロツプアウトに関する情報に基づいて、デイス
   ク検査機器に対してデイスクの位置を制御する
   こと、 の各工程から成る磁気デイスクのドロツプアウト
   の位置を決定しそして検査する方法。