JPH0578809B2 - - Google Patents
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- JPH0578809B2 JPH0578809B2 JP24005384A JP24005384A JPH0578809B2 JP H0578809 B2 JPH0578809 B2 JP H0578809B2 JP 24005384 A JP24005384 A JP 24005384A JP 24005384 A JP24005384 A JP 24005384A JP H0578809 B2 JPH0578809 B2 JP H0578809B2
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光交換機や光情報処理装置等の論理
演算・記憶要素として重要な光双安定半導体レー
ザ装置に関する。
演算・記憶要素として重要な光双安定半導体レー
ザ装置に関する。
(従来の技術)
大量の情報信号を高速に処理するための超高速
の論理演算、記憶デバイスの研究が精力的に続け
られている。従来、電気信号の論理演算、記憶を
行うデバイスとしてはカレント・スイツチを基本
ブロツクとしたカレント・モード・ロジツクが知
られており、更には近年GaAsFET、高電子移動
度トランジスタ(HEMT)やジヨセフソン接合
素子等を用いた超高速論理演算、記憶デバイスの
研究が進められている。しかしながら、画像情報
等の2次元的な大量のデータの高速デジタル情報
処理を電気信号で行うには演算速度、消費電力等
の面で限界がある。また、光伝送信号の交換機等
では光を一担電気信号に変換することによる帶域
制限、歪、波長情報の消失等の問題がある。この
ため高速で広帯域で、2次元並列の情報処理にも
親和性のある光信号を光のままデジタル情報処
理、記憶することのできる光論理演算、記憶デバ
イスの実現が望まれている。このような光論理演
算、記憶デバイスとしては、雑誌オプテイカル・
エンジニアリング(Optical Engineering)19巻、
1980年463〜468ページに記載されているような半
導体エタロンによる光双安定素子や昭和59年度電
子通信学会総合全国大会論文集S17−15に記載さ
れているような光双安定半導体レーザ等が考えら
れる。このうちでは、自身で発振、増幅機能を有
する光双安定半導体レーザが大きな可能性を持つ
ており期待されている。現在この光双安定半導体
レーザを用いて光論理演算又は記憶を行う装置
(本明細書では光双安定半導体レーザ装置と称す
る。)は、昭和59年度電子通信学会総合全国大会
論文集S17−13に記載されているように時分割光
交換機の光メモリ等として実際にシステムの中で
用いられている。
の論理演算、記憶デバイスの研究が精力的に続け
られている。従来、電気信号の論理演算、記憶を
行うデバイスとしてはカレント・スイツチを基本
ブロツクとしたカレント・モード・ロジツクが知
られており、更には近年GaAsFET、高電子移動
度トランジスタ(HEMT)やジヨセフソン接合
素子等を用いた超高速論理演算、記憶デバイスの
研究が進められている。しかしながら、画像情報
等の2次元的な大量のデータの高速デジタル情報
処理を電気信号で行うには演算速度、消費電力等
の面で限界がある。また、光伝送信号の交換機等
では光を一担電気信号に変換することによる帶域
制限、歪、波長情報の消失等の問題がある。この
ため高速で広帯域で、2次元並列の情報処理にも
親和性のある光信号を光のままデジタル情報処
理、記憶することのできる光論理演算、記憶デバ
イスの実現が望まれている。このような光論理演
算、記憶デバイスとしては、雑誌オプテイカル・
エンジニアリング(Optical Engineering)19巻、
1980年463〜468ページに記載されているような半
導体エタロンによる光双安定素子や昭和59年度電
子通信学会総合全国大会論文集S17−15に記載さ
れているような光双安定半導体レーザ等が考えら
れる。このうちでは、自身で発振、増幅機能を有
する光双安定半導体レーザが大きな可能性を持つ
ており期待されている。現在この光双安定半導体
レーザを用いて光論理演算又は記憶を行う装置
(本明細書では光双安定半導体レーザ装置と称す
る。)は、昭和59年度電子通信学会総合全国大会
論文集S17−13に記載されているように時分割光
交換機の光メモリ等として実際にシステムの中で
用いられている。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、従来の光双安定半導体レーザ装置に
は、光信号の速度が上昇するにつれてトリガ光レ
ベルが増大するという問題がある。そこで、従来
のその装置では、使用できる光信号速度の上限は
数100Mb/s程度と考えられており、Gb/s程
度以上の高速の光信号の演算、記憶には問題があ
つた。
は、光信号の速度が上昇するにつれてトリガ光レ
ベルが増大するという問題がある。そこで、従来
のその装置では、使用できる光信号速度の上限は
数100Mb/s程度と考えられており、Gb/s程
度以上の高速の光信号の演算、記憶には問題があ
つた。
そこで、本発明の目的は、光信号の演算及び記
憶が高速に行える光双安定半導体レーザ装置の提
供にある。
憶が高速に行える光双安定半導体レーザ装置の提
供にある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、共振器内部に電流注入領域及び電流
非注入領域がある光双安定半導体レーザと、前記
電流注入領域にバイアス電流を与える手段とが備
えてある光双安定半導体レーザ装置において、前
記電流非注入領域にバイアス光を印加する手段が
設けてあることを特徴とする。
非注入領域がある光双安定半導体レーザと、前記
電流注入領域にバイアス電流を与える手段とが備
えてある光双安定半導体レーザ装置において、前
記電流非注入領域にバイアス光を印加する手段が
設けてあることを特徴とする。
(発明の作用・原理)
ここでまず光双安定半導体レーザの動作に付い
て図面を用いて説明する。
て図面を用いて説明する。
第2図aは、光双安定半導体レーザの具体例を
示す断面図である。その構造は通常用いられる電
流注入形の半導体レーザとほぼ同じであり、例え
ば、GaAlAs/GaAsやInGaAsP/Inを材料とす
るダブルヘテロ接合構造のレーザーである。但
し、電極が一様ではなく、一部に電流の注入され
ない部分が存在していることが通常の半導体レー
ザとは異なつている。上記電流の非注入領域は可
飽和吸収体として働くので本図の光双安定半導体
レーザでは注入電流対光出力特性にに双安定特性
をもたせることができる。なお、電極を不均一に
するかわりに、発光領域である活性層の部分に不
均一性をもたせ、一部に可飽和吸収領域を設置す
ることにより同様な双安定特性をもたせることが
できる。これらの光双安定半導体レーザでは注入
電流iを適当に選ぶことによつて、外部からの注
入光に対する出射光の特性にも双安定特性が得ら
れる。このような光双安定半導体レーザの詳細は
前述の昭和59年度電子通信学会総合全国大会論文
集S17−15に於いて詳しく述べてある。
示す断面図である。その構造は通常用いられる電
流注入形の半導体レーザとほぼ同じであり、例え
ば、GaAlAs/GaAsやInGaAsP/Inを材料とす
るダブルヘテロ接合構造のレーザーである。但
し、電極が一様ではなく、一部に電流の注入され
ない部分が存在していることが通常の半導体レー
ザとは異なつている。上記電流の非注入領域は可
飽和吸収体として働くので本図の光双安定半導体
レーザでは注入電流対光出力特性にに双安定特性
をもたせることができる。なお、電極を不均一に
するかわりに、発光領域である活性層の部分に不
均一性をもたせ、一部に可飽和吸収領域を設置す
ることにより同様な双安定特性をもたせることが
できる。これらの光双安定半導体レーザでは注入
電流iを適当に選ぶことによつて、外部からの注
入光に対する出射光の特性にも双安定特性が得ら
れる。このような光双安定半導体レーザの詳細は
前述の昭和59年度電子通信学会総合全国大会論文
集S17−15に於いて詳しく述べてある。
第2図b,c,dは同図aの光双安定半導体レ
ーザの動作を説明するための図である。第2図b
は入射光量Pin=0とした時の注入電流iと出射
光量Pputの関係を示す図である。すなわち注入電
流iをipから増加させたときにはi=iaで急激に
出射光量Pputが増加し、逆に注入電流iをitから
減少させた場合には出射光量Pputはi=icで急激
に減少するようなヒステリミス特性を示し、i=
ibにおいて出射光量P0およびP1の2つの安定点A
及びBがある。
ーザの動作を説明するための図である。第2図b
は入射光量Pin=0とした時の注入電流iと出射
光量Pputの関係を示す図である。すなわち注入電
流iをipから増加させたときにはi=iaで急激に
出射光量Pputが増加し、逆に注入電流iをitから
減少させた場合には出射光量Pputはi=icで急激
に減少するようなヒステリミス特性を示し、i=
ibにおいて出射光量P0およびP1の2つの安定点A
及びBがある。
第2図cは同図bにおいて注入電流i=ibとし
た時の入射光量Pioと出射光量Pputの関係を示す図
である。すなわち出射光量Pput=P0の第1の安定
点Aにある時に入射光量Pioを0から増加させた
場合は出射光量PputはPio=Paで急激に増加し、以
降入射光量Pio=Ptから減少させた場合には出射
光量Pputはほとんど減少せずに出射光量Pput=P1
の第2の安定点Bに移る。第2図cにおける点
A,Bはそれぞれ同図bにおける点A,Bと同一
の点を表す。第2図dは注入電流iおよび入射光
Pioにたいする光双安定半導体レーザの動作を表
にして示したものである。注入電流iがibで入射
光Pにが0である場合には、光双安定半導体レー
ザーは前に書き込まれたデータに応じて第2図b
における2つの安定点A,Bのいずれか一方に位
置し、出射光量P0あるいはP1を保守する。同図
bにおいて光双安定半導体レーザが一方の安定点
B(出射光量P1)を保持している時に注入電流i
は一度i0とし再びibni戻すと出射光量PputはB→D
→Aの順に変化し以後他方の安定点A(出射光量
P0)を保持する。すなわち光双安定半導体レー
ザはリセツトされる。また第2図cにおいて光双
安定半導体レーザが安定点A(出射光量P0)を保
持している時に入射光量を一度Ptとし再び0に戻
すと出射光量PputはA→E→Bの順に変化し以後
安定点B(出射光量P1)を保持する。すなわち光
双安定半導体レーザはセツトされる。
た時の入射光量Pioと出射光量Pputの関係を示す図
である。すなわち出射光量Pput=P0の第1の安定
点Aにある時に入射光量Pioを0から増加させた
場合は出射光量PputはPio=Paで急激に増加し、以
降入射光量Pio=Ptから減少させた場合には出射
光量Pputはほとんど減少せずに出射光量Pput=P1
の第2の安定点Bに移る。第2図cにおける点
A,Bはそれぞれ同図bにおける点A,Bと同一
の点を表す。第2図dは注入電流iおよび入射光
Pioにたいする光双安定半導体レーザの動作を表
にして示したものである。注入電流iがibで入射
光Pにが0である場合には、光双安定半導体レー
ザーは前に書き込まれたデータに応じて第2図b
における2つの安定点A,Bのいずれか一方に位
置し、出射光量P0あるいはP1を保守する。同図
bにおいて光双安定半導体レーザが一方の安定点
B(出射光量P1)を保持している時に注入電流i
は一度i0とし再びibni戻すと出射光量PputはB→D
→Aの順に変化し以後他方の安定点A(出射光量
P0)を保持する。すなわち光双安定半導体レー
ザはリセツトされる。また第2図cにおいて光双
安定半導体レーザが安定点A(出射光量P0)を保
持している時に入射光量を一度Ptとし再び0に戻
すと出射光量PputはA→E→Bの順に変化し以後
安定点B(出射光量P1)を保持する。すなわち光
双安定半導体レーザはセツトされる。
このように光双安定半導体レーザは、光信号に
対しS−Rフリツプ・フロツプとして動作し、記
憶機能を持つている。光双安定半導体レーザの動
作速度は、可飽和吸収領域でのキヤリアの寿命で
決まつており、注入電流バイアスに対する依存性
を持つことが知られている。つまり、第2図bで
バイアス電流値を可能な限りiaに近付けることに
より、トリガ光入力レベルが低下し、高速光信号
に対する応答が改善される。実際に光双安定半導
体レーザを用いる際にも、電流、温度の変動によ
る誤動作がない範囲でバイアス電流をiaに近付け
て用いられている。このようなバイアスによる高
速光信号への応答性の改善の効果は同様に光バイ
アスによつても期待できる。つまり、第2図cで
光入力PioにPani近い光バイアスを与えておけば、
必要なトリガ光入力レベルが減少し、高速光信号
への応答性が更に改善される。本発明は、このよ
うな効果を利用し、光双安定半導体レーザに電流
及び光のバイアスを与えて動作させる装置であ
る。
対しS−Rフリツプ・フロツプとして動作し、記
憶機能を持つている。光双安定半導体レーザの動
作速度は、可飽和吸収領域でのキヤリアの寿命で
決まつており、注入電流バイアスに対する依存性
を持つことが知られている。つまり、第2図bで
バイアス電流値を可能な限りiaに近付けることに
より、トリガ光入力レベルが低下し、高速光信号
に対する応答が改善される。実際に光双安定半導
体レーザを用いる際にも、電流、温度の変動によ
る誤動作がない範囲でバイアス電流をiaに近付け
て用いられている。このようなバイアスによる高
速光信号への応答性の改善の効果は同様に光バイ
アスによつても期待できる。つまり、第2図cで
光入力PioにPani近い光バイアスを与えておけば、
必要なトリガ光入力レベルが減少し、高速光信号
への応答性が更に改善される。本発明は、このよ
うな効果を利用し、光双安定半導体レーザに電流
及び光のバイアスを与えて動作させる装置であ
る。
(実施例)
以下本発明につき図面を用い詳細に説明する。
第1図a〜dは本発明の一実施例の光双安定半
導体レーザ装置を説明するための図であり、同図
aはその一実施例の構成を示す図である。この実
施例は、光双安定半導体レーザ1の電流非注入領
域に光フアイバ2を介して電源4により駆動され
た半動体レーザ3からのバイアス光が印加される
構成となつている。電流非注入領域は電極のない
部分を活性層近く迄エツチングにより除いて形成
してあり、そのエツチングの溝の部分に上方から
光フアイバ2の端面が近接させてある。
導体レーザ装置を説明するための図であり、同図
aはその一実施例の構成を示す図である。この実
施例は、光双安定半導体レーザ1の電流非注入領
域に光フアイバ2を介して電源4により駆動され
た半動体レーザ3からのバイアス光が印加される
構成となつている。電流非注入領域は電極のない
部分を活性層近く迄エツチングにより除いて形成
してあり、そのエツチングの溝の部分に上方から
光フアイバ2の端面が近接させてある。
第1図b,c,dは同図aの実施例の動作を説
明するための図である。第1図bはバイアス光
Pbが存在し入射光量Pio=0としたときの注入電
流iと出射光量Pputとの関係を示す図である。先
に説明した第2図bの場合と同様に、本実施例
は、注入電流iをi0から増加させたときにはi=
iaで急激に出射光量Pputが増加し、逆に注入電流
iをitから減少させたときには出射光量Pputはi
=icで急激に減少するようなヒステリシス特性を
示し、i=ibにおいて出射光量P0およびP1の2つ
の安定点AおよびBを有する。このように、本実
施例では、第2図bの場合に比べバイアス光Pb
が存在する分だけシステリシス・ループが低注入
電流側にずれている。
明するための図である。第1図bはバイアス光
Pbが存在し入射光量Pio=0としたときの注入電
流iと出射光量Pputとの関係を示す図である。先
に説明した第2図bの場合と同様に、本実施例
は、注入電流iをi0から増加させたときにはi=
iaで急激に出射光量Pputが増加し、逆に注入電流
iをitから減少させたときには出射光量Pputはi
=icで急激に減少するようなヒステリシス特性を
示し、i=ibにおいて出射光量P0およびP1の2つ
の安定点AおよびBを有する。このように、本実
施例では、第2図bの場合に比べバイアス光Pb
が存在する分だけシステリシス・ループが低注入
電流側にずれている。
第1図cは、第1図bに於いて注入電流i=ib
として、バイアス光Pbが存在する際の入射光量
Pioと出射光量Pputとの関係を示す図である。出射
光量Pput=P0の第1の安定点Aにある時に入射光
量Pioを0から増加させた場合は出射光量Pputは
Pio=Paで急激に増加し、以降入射光量Pio=Ptか
ら減少させた場合には出射光量Pputはほとんど減
少せずに出射光量Pput=P1の第2の安定点、Bに
移る。これも第2図を用いて説明したものとほぼ
同様であるが、バイアス光Pbが存在する分だけ
ヒステリンスの立上がり光量Paが減少している
点が異なる。
として、バイアス光Pbが存在する際の入射光量
Pioと出射光量Pputとの関係を示す図である。出射
光量Pput=P0の第1の安定点Aにある時に入射光
量Pioを0から増加させた場合は出射光量Pputは
Pio=Paで急激に増加し、以降入射光量Pio=Ptか
ら減少させた場合には出射光量Pputはほとんど減
少せずに出射光量Pput=P1の第2の安定点、Bに
移る。これも第2図を用いて説明したものとほぼ
同様であるが、バイアス光Pbが存在する分だけ
ヒステリンスの立上がり光量Paが減少している
点が異なる。
第1図dは注入電流iおよび入射光Pioに対す
る本図aの実施例の動作を表にして示したもので
ある。注入電流iがibで入射光Pioが0である場場
合には光双安定半導体レーザは前に書き込まれた
データに応じて第1図bにおける2つの安定点
A,Bのいずれか一方に位置し、出射光量P0あ
るいはP1を保持する。第1図bにおいて光双安
定半導体レーザ1が一方の安定点B(出射光量
P1)を保持している時に注入電流iを一度i0とし
再びibに戻すと出射光量PputはB→D→Aの順に
変化し以降他方の安定点A(出射光量P0)を保持
する。すなわち光双安定半導体レーザ1はリセツ
トされる。また第1図cにおいて光双安定半導体
レーザ1が安定点A(出射光量P0)を保持してい
る時に入射光量を一度Ptとし再び0に戻すと、出
射光量PputはA→E→Bの順に変化し以後安定点
B(出射光量P1)を保持する。すなわち光双安定
半導体レーザ1はセツトされる。
る本図aの実施例の動作を表にして示したもので
ある。注入電流iがibで入射光Pioが0である場場
合には光双安定半導体レーザは前に書き込まれた
データに応じて第1図bにおける2つの安定点
A,Bのいずれか一方に位置し、出射光量P0あ
るいはP1を保持する。第1図bにおいて光双安
定半導体レーザ1が一方の安定点B(出射光量
P1)を保持している時に注入電流iを一度i0とし
再びibに戻すと出射光量PputはB→D→Aの順に
変化し以降他方の安定点A(出射光量P0)を保持
する。すなわち光双安定半導体レーザ1はリセツ
トされる。また第1図cにおいて光双安定半導体
レーザ1が安定点A(出射光量P0)を保持してい
る時に入射光量を一度Ptとし再び0に戻すと、出
射光量PputはA→E→Bの順に変化し以後安定点
B(出射光量P1)を保持する。すなわち光双安定
半導体レーザ1はセツトされる。
このように、第1図aに示した光双安定半導体
レーザ装置は、先に説明した通常の光双安定半導
体レーザと同様に動作するが、光バイアスPbが
存在する分だけセツトに要する入射光量を小さく
できる。そのため高速の光信号に対する応答が著
しく改善されることになる。更にバイアスが光及
び電流で与えてあるから動作点の設定を非常に微
妙に行うことができるという利点も生じる。従来
の装置では温度等の変動により光双安定半導体レ
ーザのヒステリシス特性が変動するため温度を一
定に保ように外部でペルチエ素子等により制御を
行つている。これに対し、本実施例では、温度変
動によるシステリシス特性の変化を予め把握して
おけば光バイアス値を変化させヒステリシス特性
の変動を補償することも可能である。このような
微妙な制御が可能なのは、本実施例では光バイア
ス及び電流バイアスを共に変化させることができ
るからである。
レーザ装置は、先に説明した通常の光双安定半導
体レーザと同様に動作するが、光バイアスPbが
存在する分だけセツトに要する入射光量を小さく
できる。そのため高速の光信号に対する応答が著
しく改善されることになる。更にバイアスが光及
び電流で与えてあるから動作点の設定を非常に微
妙に行うことができるという利点も生じる。従来
の装置では温度等の変動により光双安定半導体レ
ーザのヒステリシス特性が変動するため温度を一
定に保ように外部でペルチエ素子等により制御を
行つている。これに対し、本実施例では、温度変
動によるシステリシス特性の変化を予め把握して
おけば光バイアス値を変化させヒステリシス特性
の変動を補償することも可能である。このような
微妙な制御が可能なのは、本実施例では光バイア
ス及び電流バイアスを共に変化させることができ
るからである。
なお、第1図aに示した実施例では光バイアス
を光双安定半導体レーザ1の上部から印加する構
造としたが、本発明では光入力信号と共に光双安
定半導体レーザ1の入射端から印加する構造も可
能である。また、光フアイバ2の使用は本質的で
はなく、本発明は光バイアスが印加される構造で
あればよい。また、メモリのリセツト動作の再に
は電流バイアスと共に光バイアスも切るようにす
ることもできる。
を光双安定半導体レーザ1の上部から印加する構
造としたが、本発明では光入力信号と共に光双安
定半導体レーザ1の入射端から印加する構造も可
能である。また、光フアイバ2の使用は本質的で
はなく、本発明は光バイアスが印加される構造で
あればよい。また、メモリのリセツト動作の再に
は電流バイアスと共に光バイアスも切るようにす
ることもできる。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように本発明によれば、非
常に高速な光信号に対しても光論理演算及び記憶
が可能な光双安定半導体レーザ装置が提供でき
る。そこで本発明は、高速の光交換機や光情報処
理装置の実現に寄与するところ大である。
常に高速な光信号に対しても光論理演算及び記憶
が可能な光双安定半導体レーザ装置が提供でき
る。そこで本発明は、高速の光交換機や光情報処
理装置の実現に寄与するところ大である。
第1図aは本発明の一実施例の構成を示す図、
同図bはその実施例の注入電流と出射光量の関係
を示す図、同図cはその実施例の入射光量と出射
光量との関係を示す図、同図dは注入電流及び入
射光量に対する第1図a実施例の作動を示す図、
第2図aは電流だけでバイアスを与える光双安定
半導体レーザを示す模式的な断面図、同図bは本
図aの光双安定半導体レーザの注入電流と出射光
量との関係を示す図、同図cは本図aの光双安定
半導体レーザの入射光量と出射光量との関係を示
す図、同図dは注入電流及び入射光量に対する第
2図aの光双安定半導体レーザの動作を示す図で
ある。 1……光双安定半導体レーザ、2……光フアイ
バ、3……半導体レーザ、4……電源。
同図bはその実施例の注入電流と出射光量の関係
を示す図、同図cはその実施例の入射光量と出射
光量との関係を示す図、同図dは注入電流及び入
射光量に対する第1図a実施例の作動を示す図、
第2図aは電流だけでバイアスを与える光双安定
半導体レーザを示す模式的な断面図、同図bは本
図aの光双安定半導体レーザの注入電流と出射光
量との関係を示す図、同図cは本図aの光双安定
半導体レーザの入射光量と出射光量との関係を示
す図、同図dは注入電流及び入射光量に対する第
2図aの光双安定半導体レーザの動作を示す図で
ある。 1……光双安定半導体レーザ、2……光フアイ
バ、3……半導体レーザ、4……電源。
Claims (1)
- 1 共振器内部に電流注入領域及び電流非注入領
域がある光双安定半導体レーザと、前記電流注入
領域にバイアス電流を与える手段とが備えてある
光双安定半導体レーザ装置において、前記電流非
注入領域にバイアス光を印加する手段が設けてあ
ることを特徴とする光双安定半導体レーザ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24005384A JPS61118731A (ja) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | 光双安定半導体レ−ザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24005384A JPS61118731A (ja) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | 光双安定半導体レ−ザ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61118731A JPS61118731A (ja) | 1986-06-06 |
| JPH0578809B2 true JPH0578809B2 (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=17053773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24005384A Granted JPS61118731A (ja) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | 光双安定半導体レ−ザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61118731A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE68927211T2 (de) * | 1988-07-28 | 1997-01-30 | Fujitsu Ltd | Bistabile Halbleiterlaser-Vorrichtung |
-
1984
- 1984-11-14 JP JP24005384A patent/JPS61118731A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61118731A (ja) | 1986-06-06 |
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