JPH0580039A - ガスクロマトグラフの分析方法 - Google Patents
ガスクロマトグラフの分析方法Info
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- JPH0580039A JPH0580039A JP27057391A JP27057391A JPH0580039A JP H0580039 A JPH0580039 A JP H0580039A JP 27057391 A JP27057391 A JP 27057391A JP 27057391 A JP27057391 A JP 27057391A JP H0580039 A JPH0580039 A JP H0580039A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定対象の重質量成分の高速分析，あるいは
重質量成分の高速バックフラッシュを可能にする。 【構成】 キャリアガスＣＧの流量を調節する減圧弁６
と、この減圧弁６を駆動してそのキャリアガス流量を任
意の設定値に制御するキャリアガス流量制御部２５を設
ける。そしてサンプルガスＳＧの分析に際し、測定対象
の低質量成分を検出したのち、その検出時よりもキャリ
アガス流量を大きくして重質量成分を検出する。これに
より、キャリアガス流量が一定のときに比べて、重質量
成分の高速分析が可能となる。また、測定対象の低質量
成分のバックフラッシュカラム通過後、そのキャリアガ
ス流量を大きくして重質量成分のバックフラッシュを加
速して行うことができる。
重質量成分の高速バックフラッシュを可能にする。 【構成】 キャリアガスＣＧの流量を調節する減圧弁６
と、この減圧弁６を駆動してそのキャリアガス流量を任
意の設定値に制御するキャリアガス流量制御部２５を設
ける。そしてサンプルガスＳＧの分析に際し、測定対象
の低質量成分を検出したのち、その検出時よりもキャリ
アガス流量を大きくして重質量成分を検出する。これに
より、キャリアガス流量が一定のときに比べて、重質量
成分の高速分析が可能となる。また、測定対象の低質量
成分のバックフラッシュカラム通過後、そのキャリアガ
ス流量を大きくして重質量成分のバックフラッシュを加
速して行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はカラム内に充填された充
填剤とガスとの吸着性の差を利用してガス分析を行うガ
スクロマトグラフに関し、特にガスクロマトグラフの分
析方法に関するものである。
填剤とガスとの吸着性の差を利用してガス分析を行うガ
スクロマトグラフに関し、特にガスクロマトグラフの分
析方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセス等にお
いてプロセスガスに成分分析を行い、その分析結果に基
づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行った
りするための検出装置としてガスクロマトグラフが従来
から一般的に用いられている。
いてプロセスガスに成分分析を行い、その分析結果に基
づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行った
りするための検出装置としてガスクロマトグラフが従来
から一般的に用いられている。
【０００３】図５はこの種のガスクロマトグラフの基本
的構成を示す図で、恒温槽を形成し所定温度に保持され
るアナライザ本体１，このアナライザ本体１内に配置さ
れるサンプルバルブ２，カラム３および検出器４，計量
管５，ヘリウム等のキャリアガスＣＧを所定圧に減圧す
る減圧弁６等を備え、測定時にサンプルバルブ２に流路
を実線の状態から破線の状態に切り替えることにより、
計量管５によって分取した測定すべきサンプルガスＳＧ
をキャリアガスＣＧによってカラム３内に送り込むよう
にしている。
的構成を示す図で、恒温槽を形成し所定温度に保持され
るアナライザ本体１，このアナライザ本体１内に配置さ
れるサンプルバルブ２，カラム３および検出器４，計量
管５，ヘリウム等のキャリアガスＣＧを所定圧に減圧す
る減圧弁６等を備え、測定時にサンプルバルブ２に流路
を実線の状態から破線の状態に切り替えることにより、
計量管５によって分取した測定すべきサンプルガスＳＧ
をキャリアガスＣＧによってカラム３内に送り込むよう
にしている。
【０００４】このカラム３にはサンプルガスＳＧに応じ
て異なるが、活性炭，活性アルミナ，モレキュラーシー
ブ等の粒度を揃えた粉末が固定相として充填されてお
り、この固定相とサンプルガス中の各ガス成分との吸着
性や分配係数の差異に基づく移動速度の差を利用して、
各ガス成分を相互に分離し、これを熱伝導度検出器等の
検出器４によって検出し電気信号に変換する。この電気
信号はガス成分濃度に比例し、これをコントローラ７に
より波形処理したり記録紙に記録する。一方、非測定時
にはサンプルバルブ２の流路を実線図示の状態に切替え
ることにより、キャリアガスＣＧをカラム３および検出
器４へ導いている。
て異なるが、活性炭，活性アルミナ，モレキュラーシー
ブ等の粒度を揃えた粉末が固定相として充填されてお
り、この固定相とサンプルガス中の各ガス成分との吸着
性や分配係数の差異に基づく移動速度の差を利用して、
各ガス成分を相互に分離し、これを熱伝導度検出器等の
検出器４によって検出し電気信号に変換する。この電気
信号はガス成分濃度に比例し、これをコントローラ７に
より波形処理したり記録紙に記録する。一方、非測定時
にはサンプルバルブ２の流路を実線図示の状態に切替え
ることにより、キャリアガスＣＧをカラム３および検出
器４へ導いている。
【０００５】なお、減圧弁６は、キャリアガス供給流路
１３およびキャリアガス排出流路１４に連通する内室３
１，この内室３１を上下２つの室に仕切るダイヤフラム
３２，ポペット弁３３，圧縮コイルばね３４などを備え
る。この上側の室にはダイヤフラム３２を下側の室側に
付勢する圧力設定用の圧縮コイルばね３８と、圧縮コイ
ルばね３８の上端を保持するばね受け部材３７とが配設
され、このばね受け部材３７を圧力設定用ねじ３６によ
って上下動させると圧縮コイルばね３８のばね圧が調整
される。そして下側の室側にはシートリンク（図示せ
ず）とその流通孔を開閉制御するポヘット弁３３が圧縮
コイルばね３４に対向して配設され、圧力調節用ねじ３
６を手動操作で回してキャリアガスＣＧの２次圧ＰＯ
（出力圧）を設定圧力と等しくするものとなっている。
１３およびキャリアガス排出流路１４に連通する内室３
１，この内室３１を上下２つの室に仕切るダイヤフラム
３２，ポペット弁３３，圧縮コイルばね３４などを備え
る。この上側の室にはダイヤフラム３２を下側の室側に
付勢する圧力設定用の圧縮コイルばね３８と、圧縮コイ
ルばね３８の上端を保持するばね受け部材３７とが配設
され、このばね受け部材３７を圧力設定用ねじ３６によ
って上下動させると圧縮コイルばね３８のばね圧が調整
される。そして下側の室側にはシートリンク（図示せ
ず）とその流通孔を開閉制御するポヘット弁３３が圧縮
コイルばね３４に対向して配設され、圧力調節用ねじ３
６を手動操作で回してキャリアガスＣＧの２次圧ＰＯ
（出力圧）を設定圧力と等しくするものとなっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなガスクロマトグラフにおいて、キャリアガス流量の
調節は減圧弁６の圧力設定用ねじ３６を手動で回してキ
ャリア圧力を調節することにより行っているため、キャ
リアガス流量を自動的に変更することができず、測定対
象の重質量成分の高速分析が困難であったり、あるいは
重質量成分の高速バックフラッシュが困難であるという
問題点があった。
うなガスクロマトグラフにおいて、キャリアガス流量の
調節は減圧弁６の圧力設定用ねじ３６を手動で回してキ
ャリア圧力を調節することにより行っているため、キャ
リアガス流量を自動的に変更することができず、測定対
象の重質量成分の高速分析が困難であったり、あるいは
重質量成分の高速バックフラッシュが困難であるという
問題点があった。
【０００７】本発明は以上の点に鑑み、かかる問題点を
解消するためになされたもので、サンプルガスの重質量
成分の高速分析，あるいは重質量成分の高速バックフラ
ッシュを可能にしたガスクロマトグラフの分析方法を提
供することを目的とする。
解消するためになされたもので、サンプルガスの重質量
成分の高速分析，あるいは重質量成分の高速バックフラ
ッシュを可能にしたガスクロマトグラフの分析方法を提
供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るガスクロマトグラフの分析方法は、キ
ャリアガスの流量を調節する減圧弁と、該減圧弁を駆動
してそのキャリアガス流量を任意の設定値に制御するキ
ャリアガス流量制御部を備え、サンプルガスの分析に際
し、あらかじめ測定対象の低質量成分を検出し、しかる
後その検出時よりキャリアガス流量を大きくして重質量
成分を検出するようにしたものである。
め、本発明に係るガスクロマトグラフの分析方法は、キ
ャリアガスの流量を調節する減圧弁と、該減圧弁を駆動
してそのキャリアガス流量を任意の設定値に制御するキ
ャリアガス流量制御部を備え、サンプルガスの分析に際
し、あらかじめ測定対象の低質量成分を検出し、しかる
後その検出時よりキャリアガス流量を大きくして重質量
成分を検出するようにしたものである。
【０００９】また本発明は、サンプルガスの分析に際
し、あらかじめ測定対象の低質量成分がバックフラッシ
ュカラムを通過したのち、そのキャリアガス流量を大き
くして重質量成分のバックフラッシュを加速して行うよ
うにしたものである。
し、あらかじめ測定対象の低質量成分がバックフラッシ
ュカラムを通過したのち、そのキャリアガス流量を大き
くして重質量成分のバックフラッシュを加速して行うよ
うにしたものである。
【００１０】
【作用】本発明においては、キャリアガス調節圧力の設
定値を任意に設定できる減圧弁を設け、そのキャリアガ
ス流量を自動的に変化させることにより、測定対象の重
質量成分の高速分析あるいは重質量成分の高速バックフ
ラッシュを行うことができる。
定値を任意に設定できる減圧弁を設け、そのキャリアガ
ス流量を自動的に変化させることにより、測定対象の重
質量成分の高速分析あるいは重質量成分の高速バックフ
ラッシュを行うことができる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を説明するた
めのガスクロマトグラフの基本構成図であり、図２(a)
はそのアナライザ本体内の分析時の流路系を、図２(b)
はそのバックフラッシュ時の流路系をそれぞれ示してい
る。これらの図において、１は恒温槽を形成し所定温度
に保持される従来と同様なアナライザ本体であり、この
アナライザ本体１内にはサンプルバルブ２，カラム３つ
まりメインカラム３ａおよびバックフラッシュカラム３
ｂ（図２参照），検出器４，計量管５等が収容されてい
る。６はヘリウム等のキャリアガスＣＧを所定圧に減圧
してそのキャリアガス流量を調節するための減圧弁であ
る。
詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を説明するた
めのガスクロマトグラフの基本構成図であり、図２(a)
はそのアナライザ本体内の分析時の流路系を、図２(b)
はそのバックフラッシュ時の流路系をそれぞれ示してい
る。これらの図において、１は恒温槽を形成し所定温度
に保持される従来と同様なアナライザ本体であり、この
アナライザ本体１内にはサンプルバルブ２，カラム３つ
まりメインカラム３ａおよびバックフラッシュカラム３
ｂ（図２参照），検出器４，計量管５等が収容されてい
る。６はヘリウム等のキャリアガスＣＧを所定圧に減圧
してそのキャリアガス流量を調節するための減圧弁であ
る。
【００１２】この減圧弁６は、内室１１と，内室１１を
上下２つの室１１ａ，１１ｂに仕切るダイヤフラム１２
と，内室１１に連通するキャリアガス供給通路１３およ
びキャリアガス排出通路１４と，ポペット弁１５と，圧
縮コイルばね１６等を備え、下側の室１１ａが圧力室、
上側の室１１ｂが背圧室をそれぞれ形成している。そし
て、キャリアガス供給流路１３より送られてくるキャリ
アガスＣＧの圧力を所定圧Ｐ0 に減圧する背圧室１１ｂ
には１つの出入口１７を有し、この出入口１７はキャリ
アガス供給流路１３から分岐されキャリアガス排出流路
１４に連通する背圧流路１８に分岐路１９を介して連通
されている。また、分岐路１９には焼結金属等からなる
固定絞り２０が配置されている。
上下２つの室１１ａ，１１ｂに仕切るダイヤフラム１２
と，内室１１に連通するキャリアガス供給通路１３およ
びキャリアガス排出通路１４と，ポペット弁１５と，圧
縮コイルばね１６等を備え、下側の室１１ａが圧力室、
上側の室１１ｂが背圧室をそれぞれ形成している。そし
て、キャリアガス供給流路１３より送られてくるキャリ
アガスＣＧの圧力を所定圧Ｐ0 に減圧する背圧室１１ｂ
には１つの出入口１７を有し、この出入口１７はキャリ
アガス供給流路１３から分岐されキャリアガス排出流路
１４に連通する背圧流路１８に分岐路１９を介して連通
されている。また、分岐路１９には焼結金属等からなる
固定絞り２０が配置されている。
【００１３】一方、背圧流路１８には分岐路１９を挟ん
でその上流側と下流側に位置する２つの電磁弁２１，２
２が配置され、また下流側電磁弁２２の下流側には減圧
弁６の２次側圧力ＰOを検出する圧力センサ７が設けら
れている。従って、キャリアガスＣＧはキャリアガス供
給流路１３を経て減圧弁６の圧力室１１ａ側に１次側圧
力ＰS として送られるとともに、上流側電磁弁２１を開
くと、背圧流路１８−分岐路１９−固定絞り２０を通っ
て背圧室１１ｂにも背圧ＰNとして送られ、この背圧ＰN
を、一次側圧力ＰS と圧縮コイルばね１６のばね圧の和
と対応させている。そして背圧ＰNは下流側電磁弁２２
を開くと低下する。
でその上流側と下流側に位置する２つの電磁弁２１，２
２が配置され、また下流側電磁弁２２の下流側には減圧
弁６の２次側圧力ＰOを検出する圧力センサ７が設けら
れている。従って、キャリアガスＣＧはキャリアガス供
給流路１３を経て減圧弁６の圧力室１１ａ側に１次側圧
力ＰS として送られるとともに、上流側電磁弁２１を開
くと、背圧流路１８−分岐路１９−固定絞り２０を通っ
て背圧室１１ｂにも背圧ＰNとして送られ、この背圧ＰN
を、一次側圧力ＰS と圧縮コイルばね１６のばね圧の和
と対応させている。そして背圧ＰNは下流側電磁弁２２
を開くと低下する。
【００１４】２５は前記減圧弁６を駆動してそのキャリ
アガス流量を任意の設定値に制御するためのキャリアガ
ス流量制御部で、圧力センサ７からの検出信号とＣＰＵ
（マイクロコンピュータ）２３からのキャリアガス流量
設定信号ＳＰがＤ／Ａ変換器２４を経て入力されると、
これら両信号を比較してその比較結果に基いて２つの電
磁弁２１，２２を開閉制御し、２次側圧力ＰO が常に設
定圧となるようにしている。この場合、キャリアガスＣ
Ｇの１次側圧力ＰS，背圧ＰNおよび２次側圧力ＰOの関
係は、ＰS≧ＰN＞ＰOとなる。
アガス流量を任意の設定値に制御するためのキャリアガ
ス流量制御部で、圧力センサ７からの検出信号とＣＰＵ
（マイクロコンピュータ）２３からのキャリアガス流量
設定信号ＳＰがＤ／Ａ変換器２４を経て入力されると、
これら両信号を比較してその比較結果に基いて２つの電
磁弁２１，２２を開閉制御し、２次側圧力ＰO が常に設
定圧となるようにしている。この場合、キャリアガスＣ
Ｇの１次側圧力ＰS，背圧ＰNおよび２次側圧力ＰOの関
係は、ＰS≧ＰN＞ＰOとなる。
【００１５】すなわち、圧力サンサ７の検出信号ＰＶが
キャリアガス流量設定信号ＳＰの下限値以下の場合、２
次側圧力ＰO は設定圧力より低い。このとき、キャリア
ガス流量制御部２５からの信号によって上流側電磁弁２
１を開く一方、下流側電磁弁２２を全閉状態に保持し、
背圧室１１ｂに供給されるキャリアガスＣＧの流量を増
加させる。すると、背圧ＰN が増大し、ダイヤフラム１
２を圧縮コイルばね１６に抗して下方に変位させ、ポペ
ット弁１５を開く。
キャリアガス流量設定信号ＳＰの下限値以下の場合、２
次側圧力ＰO は設定圧力より低い。このとき、キャリア
ガス流量制御部２５からの信号によって上流側電磁弁２
１を開く一方、下流側電磁弁２２を全閉状態に保持し、
背圧室１１ｂに供給されるキャリアガスＣＧの流量を増
加させる。すると、背圧ＰN が増大し、ダイヤフラム１
２を圧縮コイルばね１６に抗して下方に変位させ、ポペ
ット弁１５を開く。
【００１６】従って、圧力室１１ａへ供給されるキャリ
アガスＣＧの流量が増加し、２次側圧力ＰOを増大させ
る。２次側圧力ＰOが増加して設定圧力と一致すると、
検出信号ＰＶがキャリアガス流量設定信号ＳＰの範囲内
に入るため上流側電磁弁２１を閉鎖する。外乱等により
２次側圧力ＰO が設定圧力より大きくなり、検出信号Ｐ
Ｖの値がキャリアガス流量設定信号ＳＰの上限値を越え
ると。今度は下流側電磁弁２２を開いて背圧ＰN を下げ
る。すると、その分だけダイヤフラム１２が上方に変位
してポペット弁１５が閉まり、２次側圧力ＰO を低下さ
せる。そして２次側圧力ＰO が設定圧と一致すると、下
流側電磁弁２２を閉鎖する。
アガスＣＧの流量が増加し、２次側圧力ＰOを増大させ
る。２次側圧力ＰOが増加して設定圧力と一致すると、
検出信号ＰＶがキャリアガス流量設定信号ＳＰの範囲内
に入るため上流側電磁弁２１を閉鎖する。外乱等により
２次側圧力ＰO が設定圧力より大きくなり、検出信号Ｐ
Ｖの値がキャリアガス流量設定信号ＳＰの上限値を越え
ると。今度は下流側電磁弁２２を開いて背圧ＰN を下げ
る。すると、その分だけダイヤフラム１２が上方に変位
してポペット弁１５が閉まり、２次側圧力ＰO を低下さ
せる。そして２次側圧力ＰO が設定圧と一致すると、下
流側電磁弁２２を閉鎖する。
【００１７】このようなキャリアガス流量制御装置によ
ると、圧力センサ７の検出信号ＰＶと予めＣＰＵ２３内
に設定されたキャリアガス流量設定信号ＳＰをキャリア
ガス流量制御部２５で比較演算して、その結果に基づき
各電磁弁２１，２２を開閉制御することにより、減圧弁
６の２次側圧力を常に設定圧に保持できるとともに、そ
の設定圧力を自動的に可変設定できる。
ると、圧力センサ７の検出信号ＰＶと予めＣＰＵ２３内
に設定されたキャリアガス流量設定信号ＳＰをキャリア
ガス流量制御部２５で比較演算して、その結果に基づき
各電磁弁２１，２２を開閉制御することにより、減圧弁
６の２次側圧力を常に設定圧に保持できるとともに、そ
の設定圧力を自動的に可変設定できる。
【００１８】ここで、バックフラッシュカラム３ｂは、
サンプルガスＳＧの分析時にサンプルバルブ２の流路を
図２(a)の実線の状態から図２(b)の実線の状態に切替え
ることにより、メインカラム３ａと直列に接続され、そ
の範囲内で炭素（Ｃ）の少ない低質量成分（軽いガス成
分）を高速で効率よく分離する。この時、計量管５によ
って分取した測定すべきサンプルガスＳＧは、減圧弁６
を経てキャリアガスＣＧによってバックフラッシュカラ
ム３ｂ，メインカラム３ａ内に送り込み、これらのカラ
ム３ｂ，３ａ内で各ガス成分を固定相に対する各成分の
吸着性（親和性）や分配係数の差異に基づく移動速度の
差を利用して各ガス成分を相互に分離する。しかる後、
これを熱伝導度検出器（ＴＣＤ）等の検出器４で検出
し、そのガス成分の濃度に比例した信号をＡ／Ｄ変換器
２６を経てＣＰＵ２３によって波形処理して記録紙に記
録する。
サンプルガスＳＧの分析時にサンプルバルブ２の流路を
図２(a)の実線の状態から図２(b)の実線の状態に切替え
ることにより、メインカラム３ａと直列に接続され、そ
の範囲内で炭素（Ｃ）の少ない低質量成分（軽いガス成
分）を高速で効率よく分離する。この時、計量管５によ
って分取した測定すべきサンプルガスＳＧは、減圧弁６
を経てキャリアガスＣＧによってバックフラッシュカラ
ム３ｂ，メインカラム３ａ内に送り込み、これらのカラ
ム３ｂ，３ａ内で各ガス成分を固定相に対する各成分の
吸着性（親和性）や分配係数の差異に基づく移動速度の
差を利用して各ガス成分を相互に分離する。しかる後、
これを熱伝導度検出器（ＴＣＤ）等の検出器４で検出
し、そのガス成分の濃度に比例した信号をＡ／Ｄ変換器
２６を経てＣＰＵ２３によって波形処理して記録紙に記
録する。
【００１９】一方、サンプルガスＳＧ中の重くて炭素の
多い重質量成分は、バックフラッシュカラム３ｂを低質
量成分より遅く通過するため、分析を必要としない場合
には図２(b) の実線で示すようにバックフラッシュカラ
ム３ｂを通過したのち、その排出口８より廃棄される。
なお、図２中９はバックフラッシュカラム３ｂの補償用
カラム抵抗である。
多い重質量成分は、バックフラッシュカラム３ｂを低質
量成分より遅く通過するため、分析を必要としない場合
には図２(b) の実線で示すようにバックフラッシュカラ
ム３ｂを通過したのち、その排出口８より廃棄される。
なお、図２中９はバックフラッシュカラム３ｂの補償用
カラム抵抗である。
【００２０】このように本実施例によると、ＣＰＵ２３
からの設定値により任意にキャリアガス調節圧力を設定
できる減圧弁６を備えることにより、そのキャリアガス
流量を任意に設定できる。そのため、サンプルガスＳＧ
を分析する場合（図２(a)）、図３(b) に示すように、
測定対象の低質量成分Ａを検出完了したのち、その時点
ｔ0 でキャリアガス流量を大きく設定することによっ
て、重質量成分Ｂを、キャリアガス流量が一定の場合
（図３(a) 参照）に比べて早く検出でき、重質量成分Ｂ
の高速分析が可能になる。このため、その分析周期（時
間）Ｔｂは、図３(a) に示すキャリアガス流量が一定の
ときの分析周期Ｔａよりも大幅に短縮される。
からの設定値により任意にキャリアガス調節圧力を設定
できる減圧弁６を備えることにより、そのキャリアガス
流量を任意に設定できる。そのため、サンプルガスＳＧ
を分析する場合（図２(a)）、図３(b) に示すように、
測定対象の低質量成分Ａを検出完了したのち、その時点
ｔ0 でキャリアガス流量を大きく設定することによっ
て、重質量成分Ｂを、キャリアガス流量が一定の場合
（図３(a) 参照）に比べて早く検出でき、重質量成分Ｂ
の高速分析が可能になる。このため、その分析周期（時
間）Ｔｂは、図３(a) に示すキャリアガス流量が一定の
ときの分析周期Ｔａよりも大幅に短縮される。
【００２１】また、測定対象の重質量成分Ｂを必要とし
ない場合、低質量成分Ａがバックフラッシュカラム３ｂ
を通過したのち、時刻ｔ1で図２(b)の実線の如くサンプ
ルバルブ２をバックフラッシュ状態に保持してキャリア
ガス流量を大きくすると、重質量成分のバックフラッシ
ュを一定の時間Ｔｄだけ加速して、分析周期Ｔ1 を短縮
できる。それ以降、その操作を繰り返すことにより、重
質量成分の高速バックフラッシュを行うことができる。
ない場合、低質量成分Ａがバックフラッシュカラム３ｂ
を通過したのち、時刻ｔ1で図２(b)の実線の如くサンプ
ルバルブ２をバックフラッシュ状態に保持してキャリア
ガス流量を大きくすると、重質量成分のバックフラッシ
ュを一定の時間Ｔｄだけ加速して、分析周期Ｔ1 を短縮
できる。それ以降、その操作を繰り返すことにより、重
質量成分の高速バックフラッシュを行うことができる。
【００２２】なお、図４中Ｔｃは測定対象の低質量成分
の測定中の時間を、Ｔｄはバックフラッシュ加速中の時
間を示す。またｔ1，ｔ3は測定（Ｔｃ後）中にキャリア
ガス流量を増大させる時刻を、そしてｔ2，ｔ4はそのキ
ャリアガス流量を元に戻す時刻をそれぞれ示している。
の測定中の時間を、Ｔｄはバックフラッシュ加速中の時
間を示す。またｔ1，ｔ3は測定（Ｔｃ後）中にキャリア
ガス流量を増大させる時刻を、そしてｔ2，ｔ4はそのキ
ャリアガス流量を元に戻す時刻をそれぞれ示している。
【００２３】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、サンプル
ガスの分析に際し、あらかじめ測定対象の低質量成分を
検出したのち、そのキャリアガス流量を大きくして重質
量成分を検出することにより、重質量成分の高速分析を
行うことができる。また測定対象の低質量成分がバック
フラッシュカラムを通過したのち、そのキャリアガス流
量を大きくして重質量成分のバックフラッシュを加速す
ることにより、その重質量成分の高速バックフラッシュ
を行うことができる。
ガスの分析に際し、あらかじめ測定対象の低質量成分を
検出したのち、そのキャリアガス流量を大きくして重質
量成分を検出することにより、重質量成分の高速分析を
行うことができる。また測定対象の低質量成分がバック
フラッシュカラムを通過したのち、そのキャリアガス流
量を大きくして重質量成分のバックフラッシュを加速す
ることにより、その重質量成分の高速バックフラッシュ
を行うことができる。
【図１】本発明の一実施例を説明するためのガスクロマ
トグラフの基本構成図である。
トグラフの基本構成図である。
【図２】(a)は図１のアナライザ本体の分析時の流路系
を示す概略図、(b)はそのバックフラッシュ時の流路系
を示す概略図である。
を示す概略図、(b)はそのバックフラッシュ時の流路系
を示す概略図である。
【図３】本実施例における重質量成分の高速分析を従来
例と対比して示す説明図であり、(a)は従来方法の場
合、(b)は本発明方法の場合である。
例と対比して示す説明図であり、(a)は従来方法の場
合、(b)は本発明方法の場合である。
【図４】本実施例における重質量成分の高速バックフラ
ッシュ法を示す説明図である。
ッシュ法を示す説明図である。
【図５】通常のガスクロマトグラフの基本構成図であ
る。
る。
１ アナライザ本体 ２ サンプルバルブ ３ カラム ３ａ メインカラム ３ｂ バックフラッシュカラム ４ 検出器 ５ 計量管 ６ 減圧弁 ２１，２２ 電磁弁 ２３ ＣＰＵ ２５ キャリアガス流量制御部
Claims (2)
- 【請求項１】 キャリアガスをサンプルバルブを経てカ
ラムに導き、該サンプルバルブの流路切替によりサンプ
ルガスをカラムに導いて各ガス成分に分離し、これを検
出器によって検出するガスクロマトグラフにおいて、 キャリアガスの流量を調節する減圧弁と、該減圧弁を駆
動してそのキャリアガス流量を任意の設定値に制御する
キャリアガス流量制御部を備え、サンプルガスの分析に
際し、あらかじめ測定対象の低質量成分を検出し、しか
る後その検出時よりキャリアガス流量を大きくして重質
量成分を検出することを特徴とするガスクロマトグラフ
の分析方法。 - 【請求項２】 請求項１において、サンプルガスの分析
に際し、あらかじめ測定対象の低質量成分がバックフラ
ッシュカラムを通過したのち、そのキャリアガス流量を
大きくして重質量成分のバックフラッシュを加速して行
うことを特徴とするガスクロマトグラフの分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27057391A JPH0580039A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | ガスクロマトグラフの分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27057391A JPH0580039A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | ガスクロマトグラフの分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580039A true JPH0580039A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17488030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27057391A Pending JPH0580039A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | ガスクロマトグラフの分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580039A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006346591A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Japan Organo Co Ltd | ガス分離方法及びガス分離装置 |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP27057391A patent/JPH0580039A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006346591A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Japan Organo Co Ltd | ガス分離方法及びガス分離装置 |
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