JPH0581669B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0581669B2 JPH0581669B2 JP27018086A JP27018086A JPH0581669B2 JP H0581669 B2 JPH0581669 B2 JP H0581669B2 JP 27018086 A JP27018086 A JP 27018086A JP 27018086 A JP27018086 A JP 27018086A JP H0581669 B2 JPH0581669 B2 JP H0581669B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- amorphous
- alloy
- target
- sputtering
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 24
- 229910000808 amorphous metal alloy Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 23
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 23
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 11
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910008423 Si—B Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 6
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 4
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004455 differential thermal analysis Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002058 ternary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
(産業上の利用分野)
本発明は高い結晶化温度を有するTa系非晶質
合金の製造方法に関するものである。 (従来の技術) 近年、各種の非晶質材料が開発され、金属材料
の分野において、多くの注目を集めている。これ
らの合金は、従来の結晶合金とは異なり、結晶構
造を持たない合金であり、その性質も従来の金属
材料にはみられないものが多く、機械的性質、耐
摩耗性、耐食性、軟磁性、電気的性質などに優れ
ているため、結晶質金属に代わりうる材料とし
て、各種の用途開発が行われ、さらに、その用途
に適した材料開発も行われている。これらの合金
は、従来、一般に、単ロール法等の液体急冷法に
よつて作製されている。 (発明が解決しようとする問題点) 非晶質合金の最大の問題点は、熱的に不安定な
点にある。これは非晶質状態が熱力学的に非平衝
な準安定状態であるということに由来するもの
で、非晶質合金の宿命ともいえることである。即
ち、非晶質合金は、一般に、それぞれ特有の結晶
化温度を有し、その温度を越えるとより熱的に安
定な結晶合金に変化してしまい、非晶質状態のと
きにみられた優れた諸特性が全て失われてしまう
のである。この結晶化温度は、材料によつて異な
るが、一般に、絶対温度で測定した融点の0.4〜
0.6倍程度の値をとることが知られている。従つ
て、結晶化温度の高い合金を得るためには、融点
の高い合金を非晶質化しなければならない。 Ta−Si−B合金は、融点が約2300℃以上とき
わめて高い。このため液体急冷法によつて作製さ
れたTa−Si−B系非晶質合金は、その結晶化温
度が800℃〜1000℃と非常に高く、非晶質合金の
問題点を大幅に改善することが可能となつた(特
願昭61−012385号)。さらに、このTa−Si−B系
非晶質合金は、一般の非晶質合金に特有の高強
度、高硬度などの優れた機械的性質を有している
ために、例えば、耐摩耗性材料、および、温度上
昇を伴う電極用材料などへの応用が考えられる。 しかしながら、液体急冷法によつて作製される
Ta−Si−B系非晶質合金は、その形状が幅数mm
〜数cmのリボン状であるために、広い面積を有す
る非晶質合金を得ることができないという問題点
があつた。さらに、ある物質の上に、前記非晶質
合金を薄膜状で形成することも、従来の液体急冷
法ではできなかつた。 本発明は、このような従来技術の問題点を解決
して、結晶化温度を有し、かつ、機械的特性、耐
食性等にすぐれたTa−W系非晶質合金薄膜の製
造方法を提供することを目的とする。 (問題点を解決するための手段) 本発明は、Tal−x(Sil−yBy)xなる式で表
され、x=0.1〜0.4、y=0.01〜0.99である合金
を、ターゲツト物質にイオンを衝突させ、前記タ
ーゲツト物質をガス状態で飛び出させることによ
り、基板上に薄膜を形成することによつて、非晶
質化することを特徴とするTa系非晶質合金薄膜
の製造方法である。 (作用) Ta−Si−B系合金では、後に実施例で示すよ
うに、Taが60at%〜90at%の組成範囲で、非晶
質合金ができることを本発明者が見いだした。こ
の組成範囲をはずれると非晶質構造がほとんどみ
られなくなり、非晶質合金に特徴的な優れた特性
がすべて消失してしまう。また、yの範囲を0.01
〜0.99と限定したのは、この範囲に於てて、Siま
たはBを微量添加した場合や、いずれか一方だけ
を添加した場合よりも結晶化温度が高くなるから
である。 これらの非晶質合金の結晶化温度は、その融点
の高さに対応して、いずれも800℃以上という高
い値である。また、これらの非晶質合金の機械的
特性は、非晶質合金に一般にみられるように、高
強度かつ高硬度である。また、耐食性において
も、Taのすぐれた耐食性に匹敵するほどの耐食
性を有している。 本発明による製造方法は、アルゴンガス等の気
体原子または分子を高電界または高周波電界中で
イオン化し、さらに電界によつて加速することに
より、ターゲツト表面に衝突させて、ターゲツト
物質をターゲツト表面からたたき出して、基板上
に薄膜を形成するため、大面積で、かつ、均質な
合金薄膜を形成することが出来る。 また、ターゲツト物質としては、目的組成の
Ta−Si−B三元系合金、あるいは、TaとSiおよ
びBを適当な面積比で組み合わせた複合物質を利
用する。このため、得られる合金薄膜の組成は、
ターゲツト合金の組成を変化させることにより、
また、複合物質の面積比を適当に変化させること
により、容易に変化させることが出来るため、目
的とする組成の非晶質合金薄膜を容易に得ること
ができる。 (実施例) 以下、本発明の一実施例を図により詳細に説明
する。第1図に、本発明のTa系非晶質合金薄膜
を作製する装置の一例を示す。第1図に示す装置
は高周波二極マグネトロンスパツタ装置であり、
図において、1はターゲツト、2は基板である。
ターゲツト1は本実施例において、複合ターゲツ
トを用いた。即ち、直径100mm、厚さ5mmのTaタ
ーゲツトのうえに、一辺10mmの正方形で厚さ1mm
のSiおよびBの板を適当な枚数だけおいた。この
際、Taターゲツトの上に、SiおよびBの板が、
なるべく均一に分布するように設定した。Siおよ
びBの枚数を変化させることにより、得られる合
金薄膜の組成を変化させた。基板2には、長さ50
mm、幅25mmで厚さ0.2mmのガラスを用いた。 薄膜作製に際しては、最初にバルブ5を開い
て、真空チヤンバー3を真空ポンプ4によつて、
10-7Torrの真空まで排気する。この後、バリア
ブルリークバルブ6を開いて、アルゴンガス導入
管7よりアルゴンガスを10-3Torr台になるまで
導入する。この状態で高周波電源8の電源を入れ
ることにより、スパツタを開始させる。投入電力
は500Wとした。このとき、ターゲツト1は、冷
却水導入管10によつて水冷されている。また、
基板2は、液体窒素導入管11によつて導入され
た液体窒素12によつて、室温以下に冷却されて
いる。これは、Ta系合金薄膜を非晶質化するた
めには、水、液体窒素等の冷媒で基板を冷却する
必要があるためである。基板温度を熱電対14を
通して、温度計15によつて測定すると、−180℃
まで冷却されていることがわかつた。スパツタの
最初の1時間は、シヤツター9を閉じて、プレス
パツタを行つた。本スパツタ装置は、ターゲツト
の裏側に、永久磁石13が取り付けられており、
これがターゲツト表面に作る磁場によつて、高速
スパツタが行えるようになつている。プレスパツ
タ終了後、シヤツター9を開いて、基板上に薄膜
を作製した。薄膜作製は、1時間行つた。得られ
た薄膜の厚さは、5μm程度であつた。 得られたTa−Si−B合金薄膜の構造をX線回
析法によつて評価した。その膜も結晶による鋭い
回析ピークはみられず、ブロードなハローパター
ンが得られたことから、非晶質合金薄膜が得られ
たことが確認された。第1表に、示差熱分析で測
定したこれらの試料の結晶化温度を示す。いずれ
も800℃以上の高い結晶化温度を示している。こ
れらの試料の機械的特性は、ビツカース硬度が
800〜1500の範囲であるという優れた性質を示し
た。さらに、これらの試料は濃塩酸、濃硝酸、濃
硫酸、濃王水の中に一日放置しても何ら腐食され
た様子は見られず、重量変化も認められなかつ
た。
合金の製造方法に関するものである。 (従来の技術) 近年、各種の非晶質材料が開発され、金属材料
の分野において、多くの注目を集めている。これ
らの合金は、従来の結晶合金とは異なり、結晶構
造を持たない合金であり、その性質も従来の金属
材料にはみられないものが多く、機械的性質、耐
摩耗性、耐食性、軟磁性、電気的性質などに優れ
ているため、結晶質金属に代わりうる材料とし
て、各種の用途開発が行われ、さらに、その用途
に適した材料開発も行われている。これらの合金
は、従来、一般に、単ロール法等の液体急冷法に
よつて作製されている。 (発明が解決しようとする問題点) 非晶質合金の最大の問題点は、熱的に不安定な
点にある。これは非晶質状態が熱力学的に非平衝
な準安定状態であるということに由来するもの
で、非晶質合金の宿命ともいえることである。即
ち、非晶質合金は、一般に、それぞれ特有の結晶
化温度を有し、その温度を越えるとより熱的に安
定な結晶合金に変化してしまい、非晶質状態のと
きにみられた優れた諸特性が全て失われてしまう
のである。この結晶化温度は、材料によつて異な
るが、一般に、絶対温度で測定した融点の0.4〜
0.6倍程度の値をとることが知られている。従つ
て、結晶化温度の高い合金を得るためには、融点
の高い合金を非晶質化しなければならない。 Ta−Si−B合金は、融点が約2300℃以上とき
わめて高い。このため液体急冷法によつて作製さ
れたTa−Si−B系非晶質合金は、その結晶化温
度が800℃〜1000℃と非常に高く、非晶質合金の
問題点を大幅に改善することが可能となつた(特
願昭61−012385号)。さらに、このTa−Si−B系
非晶質合金は、一般の非晶質合金に特有の高強
度、高硬度などの優れた機械的性質を有している
ために、例えば、耐摩耗性材料、および、温度上
昇を伴う電極用材料などへの応用が考えられる。 しかしながら、液体急冷法によつて作製される
Ta−Si−B系非晶質合金は、その形状が幅数mm
〜数cmのリボン状であるために、広い面積を有す
る非晶質合金を得ることができないという問題点
があつた。さらに、ある物質の上に、前記非晶質
合金を薄膜状で形成することも、従来の液体急冷
法ではできなかつた。 本発明は、このような従来技術の問題点を解決
して、結晶化温度を有し、かつ、機械的特性、耐
食性等にすぐれたTa−W系非晶質合金薄膜の製
造方法を提供することを目的とする。 (問題点を解決するための手段) 本発明は、Tal−x(Sil−yBy)xなる式で表
され、x=0.1〜0.4、y=0.01〜0.99である合金
を、ターゲツト物質にイオンを衝突させ、前記タ
ーゲツト物質をガス状態で飛び出させることによ
り、基板上に薄膜を形成することによつて、非晶
質化することを特徴とするTa系非晶質合金薄膜
の製造方法である。 (作用) Ta−Si−B系合金では、後に実施例で示すよ
うに、Taが60at%〜90at%の組成範囲で、非晶
質合金ができることを本発明者が見いだした。こ
の組成範囲をはずれると非晶質構造がほとんどみ
られなくなり、非晶質合金に特徴的な優れた特性
がすべて消失してしまう。また、yの範囲を0.01
〜0.99と限定したのは、この範囲に於てて、Siま
たはBを微量添加した場合や、いずれか一方だけ
を添加した場合よりも結晶化温度が高くなるから
である。 これらの非晶質合金の結晶化温度は、その融点
の高さに対応して、いずれも800℃以上という高
い値である。また、これらの非晶質合金の機械的
特性は、非晶質合金に一般にみられるように、高
強度かつ高硬度である。また、耐食性において
も、Taのすぐれた耐食性に匹敵するほどの耐食
性を有している。 本発明による製造方法は、アルゴンガス等の気
体原子または分子を高電界または高周波電界中で
イオン化し、さらに電界によつて加速することに
より、ターゲツト表面に衝突させて、ターゲツト
物質をターゲツト表面からたたき出して、基板上
に薄膜を形成するため、大面積で、かつ、均質な
合金薄膜を形成することが出来る。 また、ターゲツト物質としては、目的組成の
Ta−Si−B三元系合金、あるいは、TaとSiおよ
びBを適当な面積比で組み合わせた複合物質を利
用する。このため、得られる合金薄膜の組成は、
ターゲツト合金の組成を変化させることにより、
また、複合物質の面積比を適当に変化させること
により、容易に変化させることが出来るため、目
的とする組成の非晶質合金薄膜を容易に得ること
ができる。 (実施例) 以下、本発明の一実施例を図により詳細に説明
する。第1図に、本発明のTa系非晶質合金薄膜
を作製する装置の一例を示す。第1図に示す装置
は高周波二極マグネトロンスパツタ装置であり、
図において、1はターゲツト、2は基板である。
ターゲツト1は本実施例において、複合ターゲツ
トを用いた。即ち、直径100mm、厚さ5mmのTaタ
ーゲツトのうえに、一辺10mmの正方形で厚さ1mm
のSiおよびBの板を適当な枚数だけおいた。この
際、Taターゲツトの上に、SiおよびBの板が、
なるべく均一に分布するように設定した。Siおよ
びBの枚数を変化させることにより、得られる合
金薄膜の組成を変化させた。基板2には、長さ50
mm、幅25mmで厚さ0.2mmのガラスを用いた。 薄膜作製に際しては、最初にバルブ5を開い
て、真空チヤンバー3を真空ポンプ4によつて、
10-7Torrの真空まで排気する。この後、バリア
ブルリークバルブ6を開いて、アルゴンガス導入
管7よりアルゴンガスを10-3Torr台になるまで
導入する。この状態で高周波電源8の電源を入れ
ることにより、スパツタを開始させる。投入電力
は500Wとした。このとき、ターゲツト1は、冷
却水導入管10によつて水冷されている。また、
基板2は、液体窒素導入管11によつて導入され
た液体窒素12によつて、室温以下に冷却されて
いる。これは、Ta系合金薄膜を非晶質化するた
めには、水、液体窒素等の冷媒で基板を冷却する
必要があるためである。基板温度を熱電対14を
通して、温度計15によつて測定すると、−180℃
まで冷却されていることがわかつた。スパツタの
最初の1時間は、シヤツター9を閉じて、プレス
パツタを行つた。本スパツタ装置は、ターゲツト
の裏側に、永久磁石13が取り付けられており、
これがターゲツト表面に作る磁場によつて、高速
スパツタが行えるようになつている。プレスパツ
タ終了後、シヤツター9を開いて、基板上に薄膜
を作製した。薄膜作製は、1時間行つた。得られ
た薄膜の厚さは、5μm程度であつた。 得られたTa−Si−B合金薄膜の構造をX線回
析法によつて評価した。その膜も結晶による鋭い
回析ピークはみられず、ブロードなハローパター
ンが得られたことから、非晶質合金薄膜が得られ
たことが確認された。第1表に、示差熱分析で測
定したこれらの試料の結晶化温度を示す。いずれ
も800℃以上の高い結晶化温度を示している。こ
れらの試料の機械的特性は、ビツカース硬度が
800〜1500の範囲であるという優れた性質を示し
た。さらに、これらの試料は濃塩酸、濃硝酸、濃
硫酸、濃王水の中に一日放置しても何ら腐食され
た様子は見られず、重量変化も認められなかつ
た。
【表】
【表】
なお、本実施例では、高周波二極マグネトロン
スパツタ装置によるTa系非晶質合金薄膜の製造
方法を紹介したが、非晶質薄膜を作製する際に、
他のスパツタ方法、即ち、通常の直流二極スパツ
タ法、高周波二極スパツタ法、三極あるいは四極
スパツタ法、バイアススパツタ法、イオンビーム
スパツタ法、反応性スパツタ法等を利用してもさ
しつかえない。 (発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によるTa
系非晶質合金薄膜の製造方法は高い結晶化温度を
有し、かつ、機械的特性、耐食性等にすぐれた非
晶質合金薄膜が容易に得られ、その効果は大き
い。
スパツタ装置によるTa系非晶質合金薄膜の製造
方法を紹介したが、非晶質薄膜を作製する際に、
他のスパツタ方法、即ち、通常の直流二極スパツ
タ法、高周波二極スパツタ法、三極あるいは四極
スパツタ法、バイアススパツタ法、イオンビーム
スパツタ法、反応性スパツタ法等を利用してもさ
しつかえない。 (発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によるTa
系非晶質合金薄膜の製造方法は高い結晶化温度を
有し、かつ、機械的特性、耐食性等にすぐれた非
晶質合金薄膜が容易に得られ、その効果は大き
い。
第1図は、本発明のTa系非晶質合金薄膜を作
製する装置の一例を示す図である。図において、
1はターゲツト、2は基板、3はチヤンバー、4
は真空ポンプ、5は真空バルブ、6はバリアブル
リークバルブ、7はアルゴンガス導入管、8は高
周波電源、9はシヤツター、10はターゲツト用
冷却水導入管、11は基板冷却用液体窒素導入
管、12は液体窒素、13は永久磁石、14は熱
電対、15は温度計である。
製する装置の一例を示す図である。図において、
1はターゲツト、2は基板、3はチヤンバー、4
は真空ポンプ、5は真空バルブ、6はバリアブル
リークバルブ、7はアルゴンガス導入管、8は高
周波電源、9はシヤツター、10はターゲツト用
冷却水導入管、11は基板冷却用液体窒素導入
管、12は液体窒素、13は永久磁石、14は熱
電対、15は温度計である。
Claims (1)
- 1 Tal−x(Sil−yBy)xなる式で表され、x
=0.1〜0.4、y=0.01〜0.99である組成の合金を、
ターゲツト物質にイオンを衝突させ、前記ターゲ
ツト物質をガス状態で飛び出させることにより、
基板上に薄膜を形成するスパツタ装置を用いて、
非晶質化させることを特徴とするTa系非晶質合
金薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27018086A JPS63125664A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ta系非晶質合金薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27018086A JPS63125664A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ta系非晶質合金薄膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63125664A JPS63125664A (ja) | 1988-05-28 |
| JPH0581669B2 true JPH0581669B2 (ja) | 1993-11-15 |
Family
ID=17482637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27018086A Granted JPS63125664A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ta系非晶質合金薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63125664A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6527813B1 (en) * | 1996-08-22 | 2003-03-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Ink jet head substrate, an ink jet head, an ink jet apparatus, and a method for manufacturing an ink jet recording head |
-
1986
- 1986-11-12 JP JP27018086A patent/JPS63125664A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63125664A (ja) | 1988-05-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20200335246A1 (en) | Fe-Co BASED AMORPHOUS SOFT MAGNETIC ALLOY AND PREPARATION METHOD THEREOF | |
| KR100499173B1 (ko) | 낮은 투자율을 갖는 코발트 스퍼터 타깃을 제조하는 방법 | |
| KR100552500B1 (ko) | 고순도 코발트 스퍼터 타겟 및 제조 과정 | |
| EP0468228B1 (en) | Method of producing amorphous magnetic film | |
| WO2008026439A1 (en) | Magnetic thin film | |
| Jiang et al. | The thermostability of the Fe16N2 phase deposited on a GaAs substrate by ion-beam-assisted deposition | |
| JPH0569892B2 (ja) | ||
| JP2001523767A (ja) | Ni−Siマグネトロンスパッタリングターゲットを製造する方法と該方法によって製造されるターゲット | |
| JPH0794709B2 (ja) | マグネトロン陰極スパツタ装置用ターゲツト | |
| CN115386811A (zh) | 一种高饱和磁感应强度韧性铁基非晶纳米晶带材及其制备方法 | |
| JPH0581668B2 (ja) | ||
| JPH0581669B2 (ja) | ||
| JPH0581670B2 (ja) | ||
| Qing-Ming et al. | Amorphization of binary alloys by magnetron cosputtering | |
| JP2001073125A (ja) | Co−Ta系合金スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
| JPH0581667B2 (ja) | ||
| JPS63130767A (ja) | Ta系非晶質合金薄膜の製造方法 | |
| JPS63125670A (ja) | Ta−W系非晶質合金薄膜の製造方法 | |
| JP4698779B2 (ja) | 磁性体スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
| CN1184345C (zh) | 大块非晶合金材料 | |
| JPS63130766A (ja) | Ta系非晶質合金薄膜の製造方法 | |
| JPH0582464B2 (ja) | ||
| JPS63125667A (ja) | Ta−W系非晶質合金薄膜の製造方法 | |
| US3475309A (en) | Method of making paramagnetic nickel ferrite thin films | |
| JPS63125668A (ja) | Ta−W系非晶質合金薄膜の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |