JPH0581752U - Ｉｃハンドラーのソケット清掃機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】ＩＣハンドラーにおいてソケットに残ったＩＣ
のハンダ粉を自動的に清掃する。 【構成】検査ステージ２０上を往復動するＩＣ取り出し
ハンド２３の一面にブラシ２５とエア吹出し口２６を設
けると共に、他面にＩＣ吸着パッド２４を設置し、ハン
ド２３を回転させることにより吸着パッド２４の面とブ
ラシ２５の面を切替え可能としている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ＩＣハンドラーの検査ステージにおいてＩＣが送り込まれるソケッ トの清掃機構に関する。

【０００２】

【従来の技術】

ＩＣハンドラーは、量産されたＩＣを高温または低温状態で検査するもので、 この装置は、ＩＣをトレイから供給するローダ部、ウォーキングビームでＩＣを 測定部へ運ぶ搬送部、ＩＣを検査ステージに送り込んでデータ測定する測定部、 測定後のＩＣをウォーキングビームで送り返す搬送部、ＩＣをデータ別にトレイ へ収納するアンローダ部から構成されている。

【０００３】 このうち測定部の上方には、ウォーキングビームからのＩＣを検査ステージの ソケットに送り込むテストヘッド（第１のハンド）と、測定後のＩＣをソケット から取り出して帰りのウォーキングビームに載置する第２のハンドが設置されて いる。テストヘッドは、ＩＣの吸着、加熱、押圧を行なうヒートブロックと、Ｉ Ｃの放熱を抑えるガイドブロックから成り、ガイドブロックは四隅がねじ止めさ れている。一方、メモリー型のＩＣは、ロジック型ＩＣ等に比べると検査が簡単 であるため一度に多数のＩＣを検査することができ、これに対応してハンドラー の各ハンドもヒートブロックや吸着パッドを１６個備えると共に、検査ステージ にも１６個のソケットを具備したものが現れている。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

ところがＩＣの多数の端子はハンダメッキされているから、テストヘッドやハ ンドでＩＣをソケットに出し入れしているとソケット内にハンダ粉が堆積し、こ れが測定不良を起こす原因となっている。このため、従来では作業員が定期的に 多数のソケットを刷毛で払ったり、息を吹いて清掃しているが、手間がかかるだ けでなく清掃を忘れて測定不良を起こすこともあった。

【０００５】 本考案は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、ソケット内 のハンダ粉や埃を自動的に払拭し得るＩＣハンドラーのソケット清掃機構を提供 することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、請求項１の考案では、検査ステージの上方に各ソケ ットを清掃するブラシとエア吹出し口を設けている。また、請求項２の考案では 、前記ブラシとエア吹出し口がＩＣの取り出しハンドの一面に複数取り付けられ 、ハンドの他面にＩＣの吸着パッドが取り付けられ、ハンドが軸を中心に回動可 能となっている。

【０００７】

【作用】

請求項１の構成により、ブラシがソケット内のハンダ粉等を払い、吹出し口か らのエアがハンダ粉を吹き飛ばす。請求項２の構成により、ＩＣを吸着移送する 場合は、吸着パッド面を下に、ソケットを清掃する場合はブラシが下になるよう にハンドが切替え回転する。

【０００８】

【実施例】

図１及び図２は、各々本考案のソケット清掃機構が適用されたＩＣハンドラー の測定部付近の側面図及び端面図である。テストヘッド１は、８個２列のヘッド １ａを支持板２に取り付けたもので、ヘッド１ａは、図３から分かるようにヒー トブロック３、ガイドブロック４、支持ブロック５、ピン６及びばね７から構成 されている。ヒートブロック３は、熱の伝わり易い金属製で、先端にＩＣを吸引 する吸着孔８が形成され、内部にＩＣ加熱用のヒータが埋め込まれている。ヒー トブロック３の両側には、ピン６が２本ずつ配置され、ピン６の一端は支持板２ に固定されている。また、ピン６には、２個の支持ブロック５とばね７が嵌め込 まれ、ピン段部６ａによって支持ブロック５が抜け出さないようになっている。 ガイドブロック４は、熱の伝わりにくい樹脂製で中央にヒートブロック３の先端 が通る角孔９、四隅にピン６と嵌合する孔１０、２箇所にねじの通る孔１１を有 し、２本のねじ１２を支持ブロック５のねじ穴１３に螺合して固着される。従っ て、ヒートブロック３がＩＣを吸着するときは、ガイドブロック４は支持ブロッ ク５と共にピン６に沿って引っ込み、吸着後はばね７の作用で再び突出し、図２ のようにＩＣの周囲がガイドブロック４で覆われるためＩＣの放熱が防止される 。

【０００９】 支持板２の両端には、図１から分かるように支軸１４が連結され、一方の支軸 １４にギア１５が固着され、他方の支軸１４はハンドラー本体に軸支されている 。ギア１５にはウォーム１６が直角に咬合し、ウォーム１６の端部にハンドル１ ７が連結されている。この実施例では、ハンドル１７を右回転させるとテストヘ ッド全体が手前に回動し、９０゜即ち真正面を向いた時点で停止するようになっ ている。

【００１０】 ハンドラーのベース１８上には、ＩＣ搬送用の２本のウォーキングビーム１９ 、ＩＣをデータ測定する検査ステージ２０、ＩＣ戻り用の２本のウォーキングビ ーム２１が設置されている。ウォーキングビーム１９は、図示しないローダ部か らのＩＣをピッチ単位で測定部へと搬送し、ＩＣは途中予熱ヒータで予熱される ようになっている。検査ステージ２０の上面には、１６個のソケット２２が設置 され、ベース１８の下面にはテスタ（図示せず）が配置されている。ウォーキン グビーム２１は、測定後のＩＣをアンローダ部へ搬送し、この後ＩＣはデータ別 にトレイへ分類収納される。

【００１１】 このハンドラーでは、テストヘッド１と並んでＩＣの取り出しハンド２３が設 置され、このハンド２３は、下面に１６個（２列８個）の吸着パッド２４、側面 に１６個のブラシ２５とエア吹出し口２６を備えている。また、ハンド２３は、 図示しないパルスモータにより軸２７を中心に回動可能で、図２の時計方向に９ ０゜回転するとブラシ２５が下を向くようになっている。ブラシ２５とエア吹出 し口２６は、図４に示すように各ソケット２２に残ったＩＣ端子のハンダ粉２８ 等を定期的に払うもので、ブラシ２５が数回往復動すると共に吹出し口２６から エアが噴出する。ハンド２３の上方は、アーム２９（図２）でテストヘッド１と 連結され、両者はパルスモータ（図示せず）により一体に横移動可能である。従 って、テストヘッド１によるウォーキングビーム１９からソケット２２へのＩＣ 送り込みと、ハンド２３によるソケット２２からウォーキングビーム２１へのＩ Ｃ移送が同時に行なわれ、ＩＣの移送及び測定時間が短縮される。

【００１２】 次にこのＩＣハンドラーの動作を説明すると、ＩＣはローダ部の供給トレイか ら２本のウォーキングビーム１９に載置され、途中予熱ヒータで予熱されながら 測定部へと送られる。ビーム終端に達したＩＣは、テストヘッド１の１６個のヒ ートブロック３で吸着加熱されながらソケット２２に送り込まれ、上から押圧さ れた状態でテスタにより測定される。このとき、ソケット内の測定済みＩＣは、 ハンド２３の吸着パッド２４により同時に取り出され、ウォーキングビーム２１ 上に載置される。このようにＩＣの検査が１６個単位で数回繰り返されると、ハ ンド２３は所定の制御によって軸２７を中心に９０°回転し、検査ステージ２０ 上に下降してブラシ２５とエア吹出し口２６が１６個のソケット２２を清掃する 。ウォーキングビーム２１上のＩＣは、アンローダ部へ送られた後アンローダハ ンドでデータ別にトレイに収納される。

【００１３】 次に検査すべきＩＣの種別が変わる場合には、テストヘッド１のヒートブロッ ク３とガイドブロック４を交換しなければならない。この手順について説明する と、まずテストヘッド１をウォーキングビーム１９側に移動させ、ハンドル１７ を右に回転させる。これでハンドル１７の回転がウォーム１６及びギア１５を介 して支軸１４に伝わり、図２に矢印で示すようにテストヘッド１が９０°手前に 回動して各ブロック３，４のねじ止め箇所が正面にくる。続いてガイドブロック ４の２つのねじ１２（図３）を外せば、ガイドブロック４と中のヒートブロック ３を簡単に抜き取ることができる。あとは別サイズのヒートブロック３を支持ブ ロック５の間に差し込み、上から別のガイドブロック４を各ピン６に嵌込んでね じ止めすればよい。ガイドブロック４はピン嵌合方式であるから、孔１１を支持 ブロック５のねじ穴１３に一々合わせる必要がなく、ねじも３２個で従来の半分 で済む。１６個のブロック交換が終了したら、ハンドル１７を左に回転させれば 、テストヘッド１は再び下方へ９０゜回動して元の状態に戻る。この間作業員は 楽な姿勢で作業を行なうことができ、また交換時間も半分以下に短縮される。

【００１４】

【考案の効果】

以上詳述したように本考案のソケット清掃機構では、ブラシとエア吹出し口が 定期的にソケット内のハンダ粉等を処分するので、ＩＣの測定不良を防止するこ とができる。また、ブラシとエア吹出し口をＩＣ取り出しハンドに設けて切替え 回転させているので、特別な機構やスペースを要しない効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】テストヘッド構造の側面図である。

【図２】テストヘッド及びハンドの端面図である。

【図３】ヘッドの分解斜視図である。

【図４】ハンドに設けたブラシと吹出し口の動作状態図
である。

【符号の説明】

２０ 検査ステージ ２２ ソケット ２３ ハンド ２４ 吸着パッド ２５ ブラシ ２６ エア吹出し口 ２７ 軸 ２８ ハンダ粉

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】検査ステージ２０の上方に各ソケット２２
   を清掃するブラシ２５とエア吹出し口２６を設けたこと
   を特徴とするＩＣハンドラーのソケット清掃機構。
2. 【請求項２】前記ブラシ２５とエア吹出し口２６がＩＣ
   の取り出しハンド２３の一面に複数取り付けられ、ハン
   ド２３の他面にＩＣの吸着パッド２４が取り付けられ、
   ハンド２３が軸２７を中心に回動可能である請求項１に
   記載のＩＣハンドラーのソケット清掃機構。