JPH0583146B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0583146B2 JPH0583146B2 JP12787888A JP12787888A JPH0583146B2 JP H0583146 B2 JPH0583146 B2 JP H0583146B2 JP 12787888 A JP12787888 A JP 12787888A JP 12787888 A JP12787888 A JP 12787888A JP H0583146 B2 JPH0583146 B2 JP H0583146B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cam
- image
- window
- camshaft
- cam surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Engines (AREA)
- Valve-Gear Or Valve Arrangements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、カムシヤフトの検査装置に関し、更
に詳しくは、TIG焼入れ処理を行つたカムシヤフ
トに対しても好適に検査を行うことができるカム
シヤフトの検査装置に関する。
に詳しくは、TIG焼入れ処理を行つたカムシヤフ
トに対しても好適に検査を行うことができるカム
シヤフトの検査装置に関する。
カムシヤフトの検査装置の一般的構成は、第１
図に示すように、カムシヤフトＳを所定の位置、
角度に保持するシヤフト保持手段２と、カムシヤ
フトＳの画像を得るカメラ手段３と、前記シヤフ
ト保持手段２及びカメラ手段３を制御してカムシ
ヤフトＳのカム面の検査を行う処理装置４とから
なつている。
図に示すように、カムシヤフトＳを所定の位置、
角度に保持するシヤフト保持手段２と、カムシヤ
フトＳの画像を得るカメラ手段３と、前記シヤフ
ト保持手段２及びカメラ手段３を制御してカムシ
ヤフトＳのカム面の検査を行う処理装置４とから
なつている。
従来装置では、シヤフト保持手段２でカムシヤ
フトＳを回転し、第７図に示すように、検査対象
のカムＥのカム面Ecを撮像方向（矢印）に向け
る。
フトＳを回転し、第７図に示すように、検査対象
のカムＥのカム面Ecを撮像方向（矢印）に向け
る。
この角度で得られる画像は第８図に示すように
なり、そのＸ軸における明暗は第９図に示すよう
になる。つまり、カム面Ecの部分が明るく、軸Ａ
の部分が暗くなる。そこで、適当な閾値Lpを定め
れば、カム面Ecの端縁の位置X1，X2を検出でき
る。
なり、そのＸ軸における明暗は第９図に示すよう
になる。つまり、カム面Ecの部分が明るく、軸Ａ
の部分が暗くなる。そこで、適当な閾値Lpを定め
れば、カム面Ecの端縁の位置X1，X2を検出でき
る。
そして、第１０図に示すように、検出した位置
X1，X2間の領域を含むようにウインドウＷを設
定し、そのウインドウＷ内に欠陥部分があるか否
かを検査している。
X1，X2間の領域を含むようにウインドウＷを設
定し、そのウインドウＷ内に欠陥部分があるか否
かを検査している。
近年、カム面にTIG焼入れ処理が行われるよう
になつたが、そのTIG焼入れ処理によつてカムの
端縁に「だれ」が発生する場合がある。第１１図
に斜線を施した部分は「だれ」を表している。
になつたが、そのTIG焼入れ処理によつてカムの
端縁に「だれ」が発生する場合がある。第１１図
に斜線を施した部分は「だれ」を表している。
ところが、第１２図および第１３図に示すよう
に、「だれ」によつてカムＥの端縁Edに対応する
画像部分は暗部になるので、実際の端縁Edの位
置X1，X2よりも内側の位置X1＋δ1，X2−δ2に端
縁があるかのように誤つて検出されることにな
る。
に、「だれ」によつてカムＥの端縁Edに対応する
画像部分は暗部になるので、実際の端縁Edの位
置X1，X2よりも内側の位置X1＋δ1，X2−δ2に端
縁があるかのように誤つて検出されることにな
る。
この場合、第１４図に示すように、ウインドウ
ＷがカムＥの実際の幅より小さくなり、「だれ」
の部分がウインドウＷ外へ出るので、欠陥の一つ
である「だれ」を発見できない問題を生じる。
ＷがカムＥの実際の幅より小さくなり、「だれ」
の部分がウインドウＷ外へ出るので、欠陥の一つ
である「だれ」を発見できない問題を生じる。
従つて、本発明の目的とするところは、TIG焼
入れ処理によつて「だれ」が発生しても好適に検
査を行うことが出来るカムシヤフトの検査装置を
提供することにある。
入れ処理によつて「だれ」が発生しても好適に検
査を行うことが出来るカムシヤフトの検査装置を
提供することにある。
本発明のカムシヤフトの検査装置は、TIG焼入
れ処理を行つたカムシヤフトのカム面の欠陥を検
査するための装置であつて、カムのベースサーク
ル部分を含む第１の画像を得る第１の撮像手段
と、第１の画像のベースサークル部分からカム位
置を検出してウインドウ位置を決定するウインド
ウ位置決定手段と、カム面部分を含む第２の画像
を得る第２の撮像手段と、第２の画像に前記ウイ
ンドウを設定してウインドウ内について欠陥の検
査を行う検査手段とを具備してなることを構成上
の特徴とするものである。
れ処理を行つたカムシヤフトのカム面の欠陥を検
査するための装置であつて、カムのベースサーク
ル部分を含む第１の画像を得る第１の撮像手段
と、第１の画像のベースサークル部分からカム位
置を検出してウインドウ位置を決定するウインド
ウ位置決定手段と、カム面部分を含む第２の画像
を得る第２の撮像手段と、第２の画像に前記ウイ
ンドウを設定してウインドウ内について欠陥の検
査を行う検査手段とを具備してなることを構成上
の特徴とするものである。
TIG焼入れ処理は、カム面に対して行われる
が、カムのベースサークル部（第１１図のEb）
には行われない。従つて、ベースサークル部には
「だれ」が発生することはない。
が、カムのベースサークル部（第１１図のEb）
には行われない。従つて、ベースサークル部には
「だれ」が発生することはない。
そこで、カムのベースサークル部の画像に基づ
いて位置を検出すれば、「だれ」よる影響を受け
ないで実際のカムの位置が分かり、適正にウイン
ドウ位置を決められる。
いて位置を検出すれば、「だれ」よる影響を受け
ないで実際のカムの位置が分かり、適正にウイン
ドウ位置を決められる。
すなわち、カム面の画像に前記ウインドウを設
定すれば、そのウインドウ内にカムの端縁も必ず
含まれ、「だれ」が発生しておれば欠陥として発
見されることになる。
定すれば、そのウインドウ内にカムの端縁も必ず
含まれ、「だれ」が発生しておれば欠陥として発
見されることになる。
以下、図に示す実施例に基づいて本発明を更に
詳しく説明する。ここに第１図は本発明の一実施
例のカムシヤフトの検査装置の構成模式図、第２
図は第１の画像を得る状態のカム位置説明図、第
３図は第１の画像の例示図、第４図は第１の画像
における明暗分布図、第５図は第２の画像を得る
状態のカム位置説明図、第６図は第２の画像とウ
インドウの例示図である。なお、図に示す実施例
により本発明が限定されるものではない。
詳しく説明する。ここに第１図は本発明の一実施
例のカムシヤフトの検査装置の構成模式図、第２
図は第１の画像を得る状態のカム位置説明図、第
３図は第１の画像の例示図、第４図は第１の画像
における明暗分布図、第５図は第２の画像を得る
状態のカム位置説明図、第６図は第２の画像とウ
インドウの例示図である。なお、図に示す実施例
により本発明が限定されるものではない。
第１図に示すように、カムシヤフトの検査装置
１は、シヤフト保持手段２と、カメラ手段３と、
処理手段４とからなつている。
１は、シヤフト保持手段２と、カメラ手段３と、
処理手段４とからなつている。
処理手段４は、シヤフト保持手段２を駆動し
て、第２図に示すように、検査対象のカムＥのベ
ースサークル部Ebが撮像方向（矢印）に向くよ
うにする。
て、第２図に示すように、検査対象のカムＥのベ
ースサークル部Ebが撮像方向（矢印）に向くよ
うにする。
ここで得られる画像すなわち第１の画像は、第
３図に示すように、ベースサークル部Ebの部分
を含む画像となるが、ベースサークル部Ebには
TIG焼入れ処理がなされていないから、その端縁
Efには「だれ」が発生していない。
３図に示すように、ベースサークル部Ebの部分
を含む画像となるが、ベースサークル部Ebには
TIG焼入れ処理がなされていないから、その端縁
Efには「だれ」が発生していない。
処理手段４は、第４図に示すように、第１の画
像のＸ軸上の明暗と所定の閾値Lpとを比較し、カ
ムＥの位置X1，X2を検出する。上述したように、
カムＥのベースサークル部Ebの端縁Efには「だ
れ」が発生していないから、正確にカムＥの位置
X1，X2を得ることができる。
像のＸ軸上の明暗と所定の閾値Lpとを比較し、カ
ムＥの位置X1，X2を検出する。上述したように、
カムＥのベースサークル部Ebの端縁Efには「だ
れ」が発生していないから、正確にカムＥの位置
X1，X2を得ることができる。
次に、処理手段４は、シヤフト保持手段２によ
りカムシヤフトＳを回転し、第５図に示すよう
に、カム面Ecが撮像方向（矢印）に向くようにす
る。
りカムシヤフトＳを回転し、第５図に示すよう
に、カム面Ecが撮像方向（矢印）に向くようにす
る。
ここで得られる画像すなわち第２の画像は、第
６図に示すように、カム面Ecの部分を含む画像と
なる。
６図に示すように、カム面Ecの部分を含む画像と
なる。
そして、処理手段４は、前記検出した位置X1，
X2間の領域を含む位置にウインドウＷを設定す
る。
X2間の領域を含む位置にウインドウＷを設定す
る。
次に、処理手段４は、ウインドウＷ内について
欠陥の検査を行うが、第６図から理解されるよう
に、ウインドウＷはカムＥを正しく含んでおり、
従つて、欠陥の一種である端縁Edの「だれ」を
も好適に発見し得ることとなる。
欠陥の検査を行うが、第６図から理解されるよう
に、ウインドウＷはカムＥを正しく含んでおり、
従つて、欠陥の一種である端縁Edの「だれ」を
も好適に発見し得ることとなる。
本発明によれば、TIG焼入れ処理を行つたカム
シヤフトのカム面の欠陥を検査するための装置で
あつて、カムのベースサークル部分を含む第１の
画像を得る第１の撮像手段と、第１の画像のベー
スサークル部分からカム位置を検出してウインド
ウ位置を決定するウインドウ位置決定手段と、カ
ム面部分を含む第２の画像を得る第２の撮像手段
と、第２の画像に前記ウインドウを設定してウイ
ンドウ内について欠陥の検査を行う検査手段とを
具備してなることを特徴とするカムシヤフトの検
査装置が提供され、これによりTIG焼入れ処理を
行つたカムシヤフトの場合でも好適に検査を行う
ことが出来るようになる。
シヤフトのカム面の欠陥を検査するための装置で
あつて、カムのベースサークル部分を含む第１の
画像を得る第１の撮像手段と、第１の画像のベー
スサークル部分からカム位置を検出してウインド
ウ位置を決定するウインドウ位置決定手段と、カ
ム面部分を含む第２の画像を得る第２の撮像手段
と、第２の画像に前記ウインドウを設定してウイ
ンドウ内について欠陥の検査を行う検査手段とを
具備してなることを特徴とするカムシヤフトの検
査装置が提供され、これによりTIG焼入れ処理を
行つたカムシヤフトの場合でも好適に検査を行う
ことが出来るようになる。
第１図は本発明の一実施例のカムシヤフトの検
査装置の構成模式図、第２図は第１の画像を得る
状態のカム位置説明図、第３図は第１の画像の例
示図、第４図は第１の画像における明暗分布図、
第５図は第２の画像を得る状態のカム位置説明
図、第６図は第２の画像とウインドウの例示図、
第７図は従来装置における検査時のカム位置説明
図、第８図は第７図に示す状態で得られる画像の
例示図、第９図は第８図のＸ軸上の明暗分布図、
第１０図は第８図に示す画像とウインドウの関係
を示す例示図、第１１図はTIG焼入れ処理により
「だれ」の発生したカムに対しての第７図相当図、
第１２図は同第８図相当図、第１３図は同第９図
相当図、第１４図は同第１０図相当図である。 符号の説明、１……カムシヤフトの検査装置、
２……シヤフト保持手段、３……カメラ手段、４
……処理手段、Ｓ……カムシヤフト、Ｅ……検査
対象のカム、Eb……ベースサークル部、Ef……ベ
ースサークル部の端縁、Ec……カム面、Ed……
カム面の端縁、Ｗ……ウインドウ、Ｉ……隣接す
るカム。
査装置の構成模式図、第２図は第１の画像を得る
状態のカム位置説明図、第３図は第１の画像の例
示図、第４図は第１の画像における明暗分布図、
第５図は第２の画像を得る状態のカム位置説明
図、第６図は第２の画像とウインドウの例示図、
第７図は従来装置における検査時のカム位置説明
図、第８図は第７図に示す状態で得られる画像の
例示図、第９図は第８図のＸ軸上の明暗分布図、
第１０図は第８図に示す画像とウインドウの関係
を示す例示図、第１１図はTIG焼入れ処理により
「だれ」の発生したカムに対しての第７図相当図、
第１２図は同第８図相当図、第１３図は同第９図
相当図、第１４図は同第１０図相当図である。 符号の説明、１……カムシヤフトの検査装置、
２……シヤフト保持手段、３……カメラ手段、４
……処理手段、Ｓ……カムシヤフト、Ｅ……検査
対象のカム、Eb……ベースサークル部、Ef……ベ
ースサークル部の端縁、Ec……カム面、Ed……
カム面の端縁、Ｗ……ウインドウ、Ｉ……隣接す
るカム。
Claims (1)
- １ TIG焼入れ処理を行つたカムシヤフトのカム
面の欠陥を検査するための装置であつて、カムの
ベースサークル部分を含む第１の画像を得る第１
の撮像手段と、第１の画像のベースサークル部分
からカム位置を検出してウインドウ位置を決定す
るウインドウ位置決定手段と、カム面部分を含む
第２の画像を得る第２の撮像手段と、第２の画像
に前記ウインドウを設定してウインドウ内につい
て欠陥の検査を行う検査手段とを具備してなるこ
とを特徴とするカムシヤフトの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787888A JPH01297536A (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787888A JPH01297536A (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01297536A JPH01297536A (ja) | 1989-11-30 |
| JPH0583146B2 true JPH0583146B2 (ja) | 1993-11-24 |
Family
ID=14970875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12787888A Granted JPH01297536A (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01297536A (ja) |
-
1988
- 1988-05-25 JP JP12787888A patent/JPH01297536A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01297536A (ja) | 1989-11-30 |
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