JPH0584848U - 懸濁物濃度分布測定装置 - Google Patents
懸濁物濃度分布測定装置Info
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- JPH0584848U JPH0584848U JP2565792U JP2565792U JPH0584848U JP H0584848 U JPH0584848 U JP H0584848U JP 2565792 U JP2565792 U JP 2565792U JP 2565792 U JP2565792 U JP 2565792U JP H0584848 U JPH0584848 U JP H0584848U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 操作が簡単で、しかも主観に頼らない正確な
測定結果を得ることが可能な懸濁物濃度分布測定装置を
提供することを目的とする。 【構成】 接続器1とケーブル2で接続された検出器3
とよりなり、接続器1には電源回路1aとPCインター
フェース回路1bと内部インターフェース回路1cとを
具備し、検出器3はコントロール部4とセンサー部5と
よりなり、コントロール部4には内部インターフェース
回路4aとコントローラ回路4bと信号処理回路4cと
を具備し、センサー部5には複数のセンサーブロック5
aを具備したものである。
測定結果を得ることが可能な懸濁物濃度分布測定装置を
提供することを目的とする。 【構成】 接続器1とケーブル2で接続された検出器3
とよりなり、接続器1には電源回路1aとPCインター
フェース回路1bと内部インターフェース回路1cとを
具備し、検出器3はコントロール部4とセンサー部5と
よりなり、コントロール部4には内部インターフェース
回路4aとコントローラ回路4bと信号処理回路4cと
を具備し、センサー部5には複数のセンサーブロック5
aを具備したものである。
Description
【0001】
本発明は沈澱槽等の堆積物、沈澱物、懸濁物の空間的分布を測定する装置に関 する。
【0002】
従来、懸濁物等の浮遊物の濃度の分布は、濃度計を対象とする空間位置にて連 続して測定することにより求めていた。
【0003】
しかし、上述の方式では対象となる空間位置の位置確度が低く正確値を期待す ることは困難で、しかも測定には相当な経験が必要であり、必ずしも満足な結果 が得られていない。
【0004】 本考案は上述の問題を解決して、簡単で、しかも正確な測定結果を得ることが 可能な測定装置を提供することを課題とする。
【0005】
上述の課題を解決するために、沈澱槽等の懸濁物の空間的な濃度分布測定装置 において、接続器1と、検出器3と、前記接続器1及び検出器3を接続するケー ブル2よりなり、前記接続器1には電源回路1aとパーソナルコンピュータイン ターフェース回路(以下PCインターフェース回路という)1bと内部インター フェース回路1cとを具備し、前記検出器3はコントロール部4とセンサー部5 とよりなり、前記コントロール部4には内部インターフェース回路4aとコント ローラ回路4bと信号処理回路4cとを具備し、前記センサー部5には複数のセ ンサーブロック5aを具備したものである。
【0006】 前記各センサーブロック5aは互いに対向している発光部51と受光部52と よりなり、前記発光部51と受光部52間の直線光束が懸濁物で吸収されるよう に構成されたものと、それぞれ固有の一点Pに向かって発光部51及び受光部5 2が配置されており、前記発光部51の光が懸濁物によって反射された反射光を 受光部52が受光するように構成されたものとがある。
【0007】
図1は本考案の懸濁物濃度分布測定装置の構成図である。この装置は接続器1 、検出器3、前記接続器1及び検出器3を接続するケーブル2よりなり、前記接 続器は電源回路1a、PCインターフェース回路1b、内部インターフェース回 路1cで構成されており、前記検出器3はコントロール部4とセンサー部5とで 構成されている。更に前記コントロール部4は内部インターフェース回路4a、 コントローラ回路4b、信号処理回路4cで構成されており、前記センサー部5 は複数のセンサーブロック5aで構成されている。
【0008】 接続器1の電源回路1aはこの装置全体に電力を供給するものである。PCイ ンターフェース回路1bは外部のPCとの接続用インターフェース回路であり、 その仕様はEIA・RS−232Cに準拠しているものである。内部インターフ ェース回路1cは接続器1と検出器3の接続用インターフェース回路で、ケーブ ル2の長さを考慮して内部インターフェース回路の仕様により、 1)20mAカレントループ 2)RS−422/RS−485 3)光フアイバー伝送 等が考えられる。
【0009】 検出器3のコントロール部4のコントローラ回路4b、信号処理回路4cは図 2に示すように、コントローラ回路4bは1チップCPU 41と、この1チッ プCPU41に接続されている電源及びリセット回路42、発振回路44よりな り、信号処理回路4cはセンサードライブ回路47、A/Dコンバータ45及び プリアンプ46よりなる。
【0010】 検出器3のセンサー部5はその長手方向に16〜64組の光学式のセンサーブ ロック5aが所定間隔で配置されている。このセンサーブロック5aは図5に示 すように、発光部51として赤外線発光ダイオードD1 が、受光部52としてフ ォトトランジスタTr1 が使用され、これらの動作をセンサードライブ回路47 で制御するためにスイッチングトランジスタTr2 が使用されている。
【0011】 このセンサーブロック5aは図3、図4に示すように二通りの方法がある。そ の一は図3(イ)に示すように透過式のものである。センサー部5の表面に凹部 53を設け、この凹部53の両側に発光部51及び受光部52を埋設して光軸5 4が凹部53の内部を通過するように構成したものである。
【0012】 図3(ロ)は透過特性図で、高濃度に適しており、検出限界は光路距離l、発 光光量により変化する。低濃度限界以下の濃度では、フォトトランジスタTr1 は飽和しており、出力はほぼ一定となる(図の区間A)。又、高濃度限界以上で は出力は暗電流に支配されてしまい(図の区間C)、使用可能範囲は図の区間B である。
【0013】 その二は図4(イ)に示すように反射式のものである。センサー部5の表面に 同一傾斜でセンサー部5の外部の一点Pに対向する方向に凹部55、55が穿設 されている。この凹部55には一方には発光部51が、他方には受光部52が埋 設して、それぞれの光軸56、56が前記一点Pで交差するように配置されてい る。
【0014】 図4(ロ)は散乱特性図で、この形状は低濃度の検出に適している。検出限界 は透過式と同様に光路距離l、発光光量により変化する。この方式は散乱光量を 検出するため、受光光量は極めて小さな値となるので、受光部52は特に高感度 とする必要がある。低濃度限界以下の濃度では出力は暗電流に支配されてしまう (図の区間A)。又、高濃度以上では光路における光の吸収が支配的になり出力 は低下する(図の区間C)。使用可能範囲は図の区間Bであり、光路距離lを短 くすることで高濃度限界を可能な限り高く設定する。
【0015】 又、上述の装置は光を利用するため、検出器3はセンサーブロック5aの形状 にかかわらず外来光の影響を受け、出力に誤差を生じる。
【0016】 図6は透過式の場合で、外来光の存在は出力に透過光の増加、即ち濃度の低下 として表れ、誤差出力は濃度が高くなると小さくなる。なお、透過式の場合は構 造上、受光部52への外来光の直射は少ない。図中、aは外来光無し、bは弱い 外来光、cは強い外来光の場合である。
【0017】 図7は反射式の場合で、外来光の存在は出力に散乱光の増加、即ち濃度の増加 として表れ、出力誤差は測定範囲内ではほぼ一定の値を示す。なお、反射式の場 合は構造上、外来光の直射を受け易く、又、受光部の感度が高く設定されている ので、僅かな外来光でも出力が飽和する。図中、aは外来光無し、bは弱い外来 光、cは強い外来光の場合である。
【0018】 このため、外来光による誤差を除去するには、回路的に行う方法、及び特別な 回路を用いずにソフトウェアにより行う方法が考えられる。何れの方法を採るに しても、受光部52が外来光により飽和しないことが必要である。
【0019】 受光部52が外来光により飽和するような条件下での使用が考えられる場合は 、回路構成及び受光素子の変更が必要である。受光素子としてはフォトトランジ スタに比べダイナミックレンジの広いフォトダイオードを使用する必要がある。
【0020】 外来光除去回路による誤差の除去として、図8に示すように発光部51に供給 する電流として、定電流を数kHzで変調した変調電流(図中の破線で、実線は 定電流)で駆動する。一方、受光部52側ではプリアンプ46にバンドパスフィ ルターを入れ、変調周波数信号のみを取り出す。図9、図10はこの状態を示し たもので、外来光の有る場合は波形aとなり、外来光の無い場合は波形bとなる 。なお、cに相当する出力分が外来光による誤差である。又、図10は外来光に よる誤差分を除去した出力波形で、dは低濃度、eは高濃度の場合である。
【0021】 この出力信号の振幅は透過光量、又は反射光量に比例するので、この出力を増 幅、整流して平均化し、A/Dコンバータ45に入力する。なお、この方法を用 いる場合は定電流駆動の場合に加えて変調周波数発振回路、変調回路、バンドパ ス・フィルター回路、全波整流回路が必要となることは勿論である。
【0022】 ソフトウェアによる誤差の除去として、暗電流によるオフセット値の除去の応 用である。先ず、発光部51を発光させずに計測を行い、バックグラウンド値を 測定する。その後発光部51を発光させて計測を行い、測定値からバックグラウ ンド値を引くことで誤差を除去する。
【0023】 次に、この装置の動作について説明する。先ず、検出器3を測定すべき懸濁物 の中に挿入する。この後、接続器1の電源回路1aをONにしてこの装置を動作 状態にすると、1チップCPUは接続器1を介してのPCとの命令,データの送 受信、各センサーブロック5aのスキャンタイミングの制御、A/Dコンバータ 45によるデータのA/D変換タイミングの制御を行う。
【0024】 センサー部5では、1チップCPU 41がセンサーブロック5aのスキャン を開始すると、選択されたセンサーブロック5aのスイッチングトランジスタT r2 がONとなり、発光ダイオードD1 はセンサードライブ回路47の定電流駆 動回路により一定電流で駆動され、一定の光量で発光する。
【0025】 一方、フォトトランジスタTr1 には入射した光量に比例するコレクタ電流が 流れる。この電流はRL により電圧に変換され、プリアンプ46により増幅され てA/Dコンバータ45に入力される。
【0026】 1チップCPU 41はフォトトランジスタTr1 の出力が安定するまで待っ た後、A/D変換を実施する。このA/D変換が終了すると、1チップCPU 41は変換されたデジタル・データを内部のRAMに記録し、スイッチングトラ ンジスタTr2 をOFFにする。
【0027】 このような動作で一つのセンサーブロック5aでの計測が終わると、1チップ CPU 41は次のセンサーブロック5aを選択し、上述の動作を行う。この動 作を繰り返し、全部のセンサーブロック5aの計測が終了すると1チップCPU 41は内部インターフェース回路4aを介してRAMに記憶されているデジタル ・データを順次送付する。
【0028】 このデータに基づき、PCインターフェース回路1bに接続されている外部の PCが濃度及び濃度分布を計算し、表示する。
【0029】
上述のように、懸濁物の濃度分布の測定が容易であるばかりでなく、測定現場 と管理施設間の距離を大きくとれる。
【0030】 空間的位置の確度が高い。
【図1】本考案の懸濁物濃度分布測定装置の構成図であ
る。
る。
【図2】コントロール部の回路構成図である。
【図3】透過形のセンサーブロックの説明図で、(イ)
は構成図、(ロ)は特性図である。
は構成図、(ロ)は特性図である。
【図4】反射形のセンサーブロックの説明図で、(イ)
は構成図、(ロ)は特性図である。
は構成図、(ロ)は特性図である。
【図5】センサーブロックの回路構成図である。
【図6】透過式の場合の外来光の影響特性図である。
【図7】反射式の場合の外来光の影響特性図である。
【図8】外来光防止用の発光駆動電流特性図である。
【図9】外来光の有無による受光部出力特性図である。
【図10】外来光防止用のフィルター出力の特性図であ
る。
る。
1 接続器 1a 電源回路 1b PCインターフェース 1c 内部インターフェース 2 ケーブル 3 検出器 4 コントロール部 5 センサー部 51 発光部 52 受光部
Claims (3)
- 【請求項1】 沈澱槽等の懸濁物の空間的分布の濃度分
布測定装置において、接続器と、検出器と、前記接続器
及び検出器を接続するケーブルよりなり、前記接続器に
は電源回路とパーソナルコンピュータインターフェース
回路と内部インターフェース回路とを具備し、前記検出
器はコントロール部とセンサー部とよりなり、前記コン
トロール部には内部インターフェース回路とコントロー
ラ回路と信号処理回路とを具備し、前記センサー部には
複数のセンサーブロックを具備したことを特徴とする懸
濁物濃度分布測定装置。 - 【請求項2】 前記各センサーブロックは互いに対向し
ている発光部と受光部とよりなり、前記発光部と受光部
間の直線光束が懸濁物で吸収されるように構成されたこ
とを特徴とする請求項1の懸濁物濃度分布測定装置。 - 【請求項3】 前記各センサーブロックはそれぞれ固有
の一点に向かって発光部及び受光部が配置されており、
前記発光部の光が懸濁物によって反射された反射光を受
光部が受光するように構成されたことを特徴とする請求
項1の懸濁物濃度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992025657U JP2601860Y2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | 懸濁物濃度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992025657U JP2601860Y2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | 懸濁物濃度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0584848U true JPH0584848U (ja) | 1993-11-16 |
| JP2601860Y2 JP2601860Y2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=12171891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992025657U Expired - Fee Related JP2601860Y2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | 懸濁物濃度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2601860Y2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55110951A (en) * | 1979-02-19 | 1980-08-27 | Oki Electric Ind Co Ltd | Ultrasonic wave detector for sludge dredging |
| JPS62112035A (ja) * | 1985-11-11 | 1987-05-23 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPS62123555U (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-05 | ||
| JPS62133157U (ja) * | 1986-02-13 | 1987-08-22 | ||
| JPH0545276A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-23 | Res Dev Corp Of Japan | 固液系攪拌におけるスラリー濃度の多点リアルタイム 測定装置 |
-
1992
- 1992-04-21 JP JP1992025657U patent/JP2601860Y2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2601860Y2 (ja) | 1999-12-06 |
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