JPH06186071A - レーザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法 - Google Patents
レーザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法Info
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- JPH06186071A JPH06186071A JP33774692A JP33774692A JPH06186071A JP H06186071 A JPH06186071 A JP H06186071A JP 33774692 A JP33774692 A JP 33774692A JP 33774692 A JP33774692 A JP 33774692A JP H06186071 A JPH06186071 A JP H06186071A
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- JP
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- laser
- pulse
- laser pulse
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Continuous Casting (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 レーザパルスを使用してモールド内の溶鋼湯
面３を測定する計測方法であって、発射レーザパルスと
反射レーザパルスとの到達時間差を検出する際に、発射
レーザパルスおよび反射レーザパルスの検出レベルをそ
のピーク値に対して５０％となるようにする。 【効果】 モールド内の溶鋼湯面をレーザパルスを使用
して計測するため、γ線式レベル計などで計測する場合
に比べて、その測定範囲が広くなり、また発射レーザパ
ルスと反射レーザパルスとの到達時間差を求める際に、
各レーザパルスのピーク値の５０％の箇所を検出レベル
としたので、例えばレーザパルスのピーク値が変化する
ことにより発生する検出時間の測定誤差をできるだけ少
なくすることができる。
面３を測定する計測方法であって、発射レーザパルスと
反射レーザパルスとの到達時間差を検出する際に、発射
レーザパルスおよび反射レーザパルスの検出レベルをそ
のピーク値に対して５０％となるようにする。 【効果】 モールド内の溶鋼湯面をレーザパルスを使用
して計測するため、γ線式レベル計などで計測する場合
に比べて、その測定範囲が広くなり、また発射レーザパ
ルスと反射レーザパルスとの到達時間差を求める際に、
各レーザパルスのピーク値の５０％の箇所を検出レベル
としたので、例えばレーザパルスのピーク値が変化する
ことにより発生する検出時間の測定誤差をできるだけ少
なくすることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ測距装置による
モールド内溶鋼湯面計測方法に関する。
モールド内溶鋼湯面計測方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、連続鋳造設備においては、溶鋼
湯面の自動制御が行われているが、この自動制御を行う
ためには、溶鋼湯面を連続的にかつ自動的に測定する必
要がある。
湯面の自動制御が行われているが、この自動制御を行う
ためには、溶鋼湯面を連続的にかつ自動的に測定する必
要がある。
【０００３】従来、このようなモールド内の溶鋼湯面
は、γ線式レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶ
（工業テレビカメラ）若しくは熱電対を利用したものが
使用されていた。
は、γ線式レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶ
（工業テレビカメラ）若しくは熱電対を利用したものが
使用されていた。
【０００４】上記γ線式レベル計は、放射線の透過量の
変化により湯面のレベルを計測するものであり、また渦
電流式レベル計は湯面との間でのインダクタンスの変化
量を計測するものであり、またＩＴＶを利用したもの
は、湯面をテレビカメラにより観察するとともに、その
観察画像を画像処理することにより湯面のレベルを計測
するものであり、さらに熱電対を利用したものは、所定
箇所に配置された熱電対の温度変化を測定することによ
り湯面のレベルを計測するものであった。
変化により湯面のレベルを計測するものであり、また渦
電流式レベル計は湯面との間でのインダクタンスの変化
量を計測するものであり、またＩＴＶを利用したもの
は、湯面をテレビカメラにより観察するとともに、その
観察画像を画像処理することにより湯面のレベルを計測
するものであり、さらに熱電対を利用したものは、所定
箇所に配置された熱電対の温度変化を測定することによ
り湯面のレベルを計測するものであった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のγ線式
レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶを利用した
ものによると、その計測範囲が狭く、湯面までの計測距
離に限界があるという問題があり、また熱電対を利用し
たものにおいては、計測精度が劣るという問題があっ
た。
レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶを利用した
ものによると、その計測範囲が狭く、湯面までの計測距
離に限界があるという問題があり、また熱電対を利用し
たものにおいては、計測精度が劣るという問題があっ
た。
【０００６】そこで、本発明は上記問題を解消し得るレ
ーザ測距装置におけるモールド内溶鋼湯面の計測方法を
提供することを目的とする。
ーザ測距装置におけるモールド内溶鋼湯面の計測方法を
提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のレーザ測距装置におけるモールド内溶鋼湯
面の計測方法は、レーザ駆動回路部、レーザ発光部、お
よびレーザ受光部からなる検出部と、上記レーザ駆動回
路部に制御パルス信号を送るパルス発生器、上記レーザ
発光部からの発射レーザパルスおよびレーザ受光部から
の反射レーザパルスを入力してこれらレーザパルスを電
気信号に変換する光検出素子、この光検出素子からの電
気信号を入力して発射レーザパルスと反射レーザパルス
との到達時間差を測定する時間差測定回路、およびこの
時間差測定回路により得られた到達時間差を入力して溶
鋼湯面までの距離を演算する信号処理回路部を有する制
御部とからなるレーザ測距装置により、モールド内溶鋼
湯面を計測する方法であって、上記発射レーザパルスと
反射レーザパルスとの到達時間差を検出する際に、少な
くとも反射レーザパルスの検出レベルをそのピーク値に
対して常に所定比率となるようにする方法である。
め、本発明のレーザ測距装置におけるモールド内溶鋼湯
面の計測方法は、レーザ駆動回路部、レーザ発光部、お
よびレーザ受光部からなる検出部と、上記レーザ駆動回
路部に制御パルス信号を送るパルス発生器、上記レーザ
発光部からの発射レーザパルスおよびレーザ受光部から
の反射レーザパルスを入力してこれらレーザパルスを電
気信号に変換する光検出素子、この光検出素子からの電
気信号を入力して発射レーザパルスと反射レーザパルス
との到達時間差を測定する時間差測定回路、およびこの
時間差測定回路により得られた到達時間差を入力して溶
鋼湯面までの距離を演算する信号処理回路部を有する制
御部とからなるレーザ測距装置により、モールド内溶鋼
湯面を計測する方法であって、上記発射レーザパルスと
反射レーザパルスとの到達時間差を検出する際に、少な
くとも反射レーザパルスの検出レベルをそのピーク値に
対して常に所定比率となるようにする方法である。
【０００８】
【作用】上記の計測方法によると、モールド内の溶鋼湯
面をレーザパルスを使用して計測するため、例えばγ線
式レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶを使用し
たものに比べて、その測定範囲が広くなり、さらに熱電
対を使用したものに比べて、溶鋼湯面までの距離を非常
に正確に計測することができ、しかも発射レーザパルス
と反射レーザパルスとの到達時間差を求める際に、各レ
ーザパルスのピーク値の所定比率の箇所を検出レベルと
したので、例えば反射レーザパルスのピーク値が異なる
ことにより発生する測定誤差をできるだけ小さくするこ
とができる。
面をレーザパルスを使用して計測するため、例えばγ線
式レベル計、渦電流式レベル計、またはＩＴＶを使用し
たものに比べて、その測定範囲が広くなり、さらに熱電
対を使用したものに比べて、溶鋼湯面までの距離を非常
に正確に計測することができ、しかも発射レーザパルス
と反射レーザパルスとの到達時間差を求める際に、各レ
ーザパルスのピーク値の所定比率の箇所を検出レベルと
したので、例えば反射レーザパルスのピーク値が異なる
ことにより発生する測定誤差をできるだけ小さくするこ
とができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例におけるモールド内
溶鋼湯面の計測方法を図１〜図５に基づき説明する。
溶鋼湯面の計測方法を図１〜図５に基づき説明する。
【００１０】まず、本発明に係る溶鋼湯面の計測方法に
使用するレーザ測距装置の構成を図１に基づき説明す
る。すなわち、このレーザ測距装置は、センサーヘッド
部（検出部）１およびセンサーコントローラ部（制御
部）２とから構成されている。
使用するレーザ測距装置の構成を図１に基づき説明す
る。すなわち、このレーザ測距装置は、センサーヘッド
部（検出部）１およびセンサーコントローラ部（制御
部）２とから構成されている。
【００１１】上記センサーヘッド部１には、レーザ駆動
回路部１１と、レーザ発光部１２と、受光レンズ部（レ
ーザ受光部）１３と、上記レーザ発光部１２からモール
ド内の溶鋼湯面３に発射された発射レーザパルスの反射
レーザパルスを上記受光レンズ部１３に導く穴空きミラ
ー１４とが配置されている。
回路部１１と、レーザ発光部１２と、受光レンズ部（レ
ーザ受光部）１３と、上記レーザ発光部１２からモール
ド内の溶鋼湯面３に発射された発射レーザパルスの反射
レーザパルスを上記受光レンズ部１３に導く穴空きミラ
ー１４とが配置されている。
【００１２】また、上記センサーコントローラ部２に
は、上記レーザ駆動回路部１１に制御パルス信号を送り
出すためのパルス発生器２１と、上記レーザ発光部１２
からの発射レーザパルスおよび受光レンズ部１３からの
反射レーザパルスを入力するとともにこれら入力された
レーザパルスを電気信号に変換する第１および第２光検
出素子２２，２３と、この第１光検出素子２２からの発
射レーザパルスの電気信号を第１増幅器２４を介して入
力するとともに、反射レーザパルスの電気信号を第２増
幅器２５を介して入力して、各レーザパルスのピーク値
の所定比率例えば５０％を検出レベルとしてその検出時
間を計測する定比率−パルス−高さ弁別器（consatnt f
raction ：定比弁別器）２６と、この定比率−パルス−
高さ弁別器２６からの検出時間を入力して両電気信号の
到達時間差を測定する時間差測定回路２７と、各増幅器
２４，２５からの出力に応じてゲインを自動調節するゲ
イン自動調節器（ＡＧＣ）２８と、上記時間差測定回路
２７で得られた到達時間差を入力して溶鋼湯面３までの
距離を演算する信号処理回路部２９とが設けられてい
る。なお、この信号処理回路部２９で得られた距離信号
は、表示器３０に送られて表示され、また電流出力部３
１および電圧出力部３２にも送られる。
は、上記レーザ駆動回路部１１に制御パルス信号を送り
出すためのパルス発生器２１と、上記レーザ発光部１２
からの発射レーザパルスおよび受光レンズ部１３からの
反射レーザパルスを入力するとともにこれら入力された
レーザパルスを電気信号に変換する第１および第２光検
出素子２２，２３と、この第１光検出素子２２からの発
射レーザパルスの電気信号を第１増幅器２４を介して入
力するとともに、反射レーザパルスの電気信号を第２増
幅器２５を介して入力して、各レーザパルスのピーク値
の所定比率例えば５０％を検出レベルとしてその検出時
間を計測する定比率−パルス−高さ弁別器（consatnt f
raction ：定比弁別器）２６と、この定比率−パルス−
高さ弁別器２６からの検出時間を入力して両電気信号の
到達時間差を測定する時間差測定回路２７と、各増幅器
２４，２５からの出力に応じてゲインを自動調節するゲ
イン自動調節器（ＡＧＣ）２８と、上記時間差測定回路
２７で得られた到達時間差を入力して溶鋼湯面３までの
距離を演算する信号処理回路部２９とが設けられてい
る。なお、この信号処理回路部２９で得られた距離信号
は、表示器３０に送られて表示され、また電流出力部３
１および電圧出力部３２にも送られる。
【００１３】そして、さらに上記センサーヘッド部１か
らの発射レーザパルスおよび反射レーザパルスを、セン
サーコントローラ部２に伝送するための伝送経路として
は、光ファイバー４１が使用されている。なお、パルス
発生器２１で発生された制御パルス信号の伝送経路は、
電線４２が使用されている。
らの発射レーザパルスおよび反射レーザパルスを、セン
サーコントローラ部２に伝送するための伝送経路として
は、光ファイバー４１が使用されている。なお、パルス
発生器２１で発生された制御パルス信号の伝送経路は、
電線４２が使用されている。
【００１４】上記構成において、パルス発生器２１から
制御パルス信号がレーザ駆動回路部１１に送られて、レ
ーザ発光部１２から測定用の発射レーザパルスが溶鋼湯
面３に発射されるとともに、光ファイバー４１を介して
センサーコントローラ部２の第１光検出素子２２にも送
られる。
制御パルス信号がレーザ駆動回路部１１に送られて、レ
ーザ発光部１２から測定用の発射レーザパルスが溶鋼湯
面３に発射されるとともに、光ファイバー４１を介して
センサーコントローラ部２の第１光検出素子２２にも送
られる。
【００１５】溶鋼湯面３で反射した反射レーザパルスは
穴空きミラー１４を介して受光レンズ部１３に入射され
た後、同様に、光ファイバー４１を介して第２光検出素
子２３に送られる。
穴空きミラー１４を介して受光レンズ部１３に入射され
た後、同様に、光ファイバー４１を介して第２光検出素
子２３に送られる。
【００１６】上記発射レーザパルスおよび入射レーザパ
ルスが第１および第２光検出素子２２，２３に入り電気
信号に変換された後、それぞれ増幅器２４，２５を介し
て、定比率−パルス−高さ弁別器２６に入力される。
ルスが第１および第２光検出素子２２，２３に入り電気
信号に変換された後、それぞれ増幅器２４，２５を介し
て、定比率−パルス−高さ弁別器２６に入力される。
【００１７】そして、この定比率−パルス−高さ弁別器
２６においては、図２（ａ）に示すように、各レーザパ
ルスのピーク値の５０％の立ち上がり部分が検出レベル
（スレッシュレベル）とされて、その箇所の立ち上がり
部における検出時間（Ｔ）が時間差測定回路２７に送ら
れて、ここで両レーザパルスの到達時間差が測定され
る。
２６においては、図２（ａ）に示すように、各レーザパ
ルスのピーク値の５０％の立ち上がり部分が検出レベル
（スレッシュレベル）とされて、その箇所の立ち上がり
部における検出時間（Ｔ）が時間差測定回路２７に送ら
れて、ここで両レーザパルスの到達時間差が測定され
る。
【００１８】ここで得られた到達時間差は信号処理回路
部２９に入力され、溶鋼湯面３までの距離が演算されて
その結果が表示器３０に送られて表示される。なお、そ
の結果は、電流出力部３１および電圧出力部３２にも送
られる。
部２９に入力され、溶鋼湯面３までの距離が演算されて
その結果が表示器３０に送られて表示される。なお、そ
の結果は、電流出力部３１および電圧出力部３２にも送
られる。
【００１９】このように、第１および第２光検出素子２
２，２３から出力されるレーザパルスを検出する際に、
そのピーク値の５０％の立ち上がり部を検出レベルとし
て検出するようにしたので、定比率−パルス−高さ弁別
器２６を設けない装置に比べて、測定誤差が大幅に改善
される。
２，２３から出力されるレーザパルスを検出する際に、
そのピーク値の５０％の立ち上がり部を検出レベルとし
て検出するようにしたので、定比率−パルス−高さ弁別
器２６を設けない装置に比べて、測定誤差が大幅に改善
される。
【００２０】例えば、定比率−パルス−高さ弁別器２６
を設けた場合には、図２の（ａ）に示すように、レーザ
パルスのピーク値の変動幅をｄとすると、この変動幅に
対する移動時間はｔ1 となり、これに対して、定比率−
パルス−高さ弁別器２６を設けない場合には、図２の
（ｂ）に示すように、レーザパルスのピーク値の変動幅
を（ａ）と同様にｄとすると、この変動幅に対する移動
時間はｔ2 となる。
を設けた場合には、図２の（ａ）に示すように、レーザ
パルスのピーク値の変動幅をｄとすると、この変動幅に
対する移動時間はｔ1 となり、これに対して、定比率−
パルス−高さ弁別器２６を設けない場合には、図２の
（ｂ）に示すように、レーザパルスのピーク値の変動幅
を（ａ）と同様にｄとすると、この変動幅に対する移動
時間はｔ2 となる。
【００２１】これら図２（ａ）および（ｂ）から明らか
なように、ｔ1 ＜ｔ2 となり、測定誤差となる移動時間
が、定比率−パルス−高さ弁別器２６を設けた場合の方
が、非常に小さくなっているのがよく分かる。
なように、ｔ1 ＜ｔ2 となり、測定誤差となる移動時間
が、定比率−パルス−高さ弁別器２６を設けた場合の方
が、非常に小さくなっているのがよく分かる。
【００２２】また、ここで上記計測方法における測定範
囲を確かめるために、白色の紙を使用して３０００mmま
での計測実験した結果について示すと、図３のようにな
る。この図３から明らかなように、レーザ発光部までの
距離が３０００mmであっても、レベル計表示位置（実線
にて示す）と実測値（白丸印で示す）とが一致している
のがよく分かる。なお、この値は、従来のγ線式レベル
計、渦電流式レベル計またはＩＴＶを利用したものに比
較して、充分に広い範囲、すなわち充分な距離の測定が
可能であることを示している。
囲を確かめるために、白色の紙を使用して３０００mmま
での計測実験した結果について示すと、図３のようにな
る。この図３から明らかなように、レーザ発光部までの
距離が３０００mmであっても、レベル計表示位置（実線
にて示す）と実測値（白丸印で示す）とが一致している
のがよく分かる。なお、この値は、従来のγ線式レベル
計、渦電流式レベル計またはＩＴＶを利用したものに比
較して、充分に広い範囲、すなわち充分な距離の測定が
可能であることを示している。
【００２３】また、上記計測方法を使用した場合の測定
誤差を確かめるために、９００mm〜１１００mmの測定範
囲内において、白色の紙を少しづつ移動させて、紙まで
の距離を測定した結果を、図４に示す。この図４から分
かるように、この場合にも、レベル計表示位置（実線に
て示す）と実測値（白丸印で示す）とが一致しているの
がよく分かる。すなわち、測定精度が極めて良好である
ことが分かる。
誤差を確かめるために、９００mm〜１１００mmの測定範
囲内において、白色の紙を少しづつ移動させて、紙まで
の距離を測定した結果を、図４に示す。この図４から分
かるように、この場合にも、レベル計表示位置（実線に
て示す）と実測値（白丸印で示す）とが一致しているの
がよく分かる。すなわち、測定精度が極めて良好である
ことが分かる。
【００２４】さらに、定比率−パルス−高さ弁別器２６
を使用した効果について調べた結果を、図５に示す。な
お、測定方法としては、受光素子の電圧を変化させて反
射レーザパルスのピーク値を変化させ、そして定比率−
パルス−高さ弁別器２６を使用した場合と、使用しない
場合との測定誤差を調べた。
を使用した効果について調べた結果を、図５に示す。な
お、測定方法としては、受光素子の電圧を変化させて反
射レーザパルスのピーク値を変化させ、そして定比率−
パルス−高さ弁別器２６を使用した場合と、使用しない
場合との測定誤差を調べた。
【００２５】すなわち、図５の実線には、定比率−パル
ス−高さ弁別器２６を使用した場合のグラフを示し、破
線には、定比率−パルス−高さ弁別器を使用しない場合
（スレッシュレベルが一定である場合）を示した。この
図５から明らかなように、定比率−パルス−高さ弁別器
２６を使用した方が、使用しない場合よりも、測定誤差
が大幅に改善されていることがよく分かる。
ス−高さ弁別器２６を使用した場合のグラフを示し、破
線には、定比率−パルス−高さ弁別器を使用しない場合
（スレッシュレベルが一定である場合）を示した。この
図５から明らかなように、定比率−パルス−高さ弁別器
２６を使用した方が、使用しない場合よりも、測定誤差
が大幅に改善されていることがよく分かる。
【００２６】また、各受光素子２２，２３、増幅器２
４，２５、定比率−パルス−高さ弁別器２６，時間差測
定回路２７およびゲイン自動制御装置２８は、温度制御
がされており、さらに各レーザパルスの伝送経路とし
て、光ファイバー４１を使用しているので、伝送経路途
中において、ノイズが混入することはない。
４，２５、定比率−パルス−高さ弁別器２６，時間差測
定回路２７およびゲイン自動制御装置２８は、温度制御
がされており、さらに各レーザパルスの伝送経路とし
て、光ファイバー４１を使用しているので、伝送経路途
中において、ノイズが混入することはない。
【００２７】なお、上記実施例においては、レーザをパ
ルス状に変調したレーザパルスを使用したが、正弦波を
変調したレーザを使用することもできる。
ルス状に変調したレーザパルスを使用したが、正弦波を
変調したレーザを使用することもできる。
【００２８】
【発明の効果】以上のように本発明の計測方法による
と、モールド内の溶鋼湯面をレーザパルスを使用して計
測するため、従来のように、γ線式レベル計、渦電流式
レベル計、またはＩＴＶを使用したものに比べて、その
測定範囲が広くなり、さらに熱電対を使用したものに比
べて、溶鋼湯面までの距離を非常に正確に計測すること
ができ、また発射レーザパルスと反射レーザパルスとの
到達時間差を求める際に、各レーザパルスのピーク値の
所定比率の箇所を検出レベルとしたので、例えば溶鋼湯
面の状態により、反射レーザパルスのピーク値が変化す
ることにより発生する検出時間の測定誤差をできるだけ
少なくすることができ、したがって測定精度の向上を図
ることができる。
と、モールド内の溶鋼湯面をレーザパルスを使用して計
測するため、従来のように、γ線式レベル計、渦電流式
レベル計、またはＩＴＶを使用したものに比べて、その
測定範囲が広くなり、さらに熱電対を使用したものに比
べて、溶鋼湯面までの距離を非常に正確に計測すること
ができ、また発射レーザパルスと反射レーザパルスとの
到達時間差を求める際に、各レーザパルスのピーク値の
所定比率の箇所を検出レベルとしたので、例えば溶鋼湯
面の状態により、反射レーザパルスのピーク値が変化す
ることにより発生する検出時間の測定誤差をできるだけ
少なくすることができ、したがって測定精度の向上を図
ることができる。
【図１】本発明の一実施例におけるレーザ測距装置の概
略構成を示すブロック図である。
略構成を示すブロック図である。
【図２】同実施例における測定方法を説明する時間と反
射レーザパルスの受光レベルとの関係を示すグラフであ
る。
射レーザパルスの受光レベルとの関係を示すグラフであ
る。
【図３】同実施例の計測方法における測定範囲を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図４】同実施例の計測方法における測定精度を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図５】同実施例の計測方法における測定誤差を示すグ
ラフである。
ラフである。
１ センサーヘッド部 ２ センサーコントローラ部 １１ レーザ駆動回路部 １２ レーザ発光部 １３ 受光レンズ部 ２１ パルス発生器 ２２ 第１光検出素子 ２３ 第２光検出素子 ２６ 定比率−パルス−高さ弁別器 ２７ 時間差測定回路 ２６ 信号処理回路部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹内 幸男 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 前田 保裕 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 江越 和文 大阪府大阪市此花区西九条５丁目３番28号 日立造船株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】レーザ駆動回路部、レーザ発光部、および
レーザ受光部からなる検出部と、上記レーザ駆動回路部
に制御パルス信号を送るパルス発生器、上記レーザ発光
部からの発射レーザパルスおよびレーザ受光部からの反
射レーザパルスを入力してこれらレーザパルスを電気信
号に変換する光検出素子、この光検出素子からの電気信
号を入力して発射レーザパルスと反射レーザパルスとの
到達時間差を測定する時間差測定回路、およびこの時間
差測定回路により得られた到達時間差を入力して溶鋼湯
面までの距離を演算する信号処理回路部を有する制御部
とからなるレーザ測距装置により、モールド内溶鋼湯面
を計測する方法であって、上記発射レーザパルスと反射
レーザパルスとの到達時間差を検出する際に、少なくと
も反射レーザパルスの検出レベルをそのピーク値に対し
て常に所定比率となるようにすることを特徴とするレー
ザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33774692A JPH06186071A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | レーザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33774692A JPH06186071A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | レーザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06186071A true JPH06186071A (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=18311573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33774692A Pending JPH06186071A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | レーザ測距装置によるモールド内溶鋼湯面計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06186071A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0747153A1 (en) * | 1995-06-07 | 1996-12-11 | PROGELTA S.r.l. | Facility for casting molten metallic materials having a laser sensor device to control the level of molten metal |
| JPH09126860A (ja) * | 1995-10-30 | 1997-05-16 | Koden Electron Co Ltd | レーザ式液面計 |
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| CN106404120A (zh) * | 2016-11-21 | 2017-02-15 | 深圳市迈测科技股份有限公司 | 激光式液位测量装置和激光式光纤液位检测系统 |
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| JPH0373880A (ja) * | 1989-08-16 | 1991-03-28 | Toshiba Corp | レーザ測距器 |
-
1992
- 1992-12-18 JP JP33774692A patent/JPH06186071A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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