JPH058499Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH058499Y2
JPH058499Y2 JP7552885U JP7552885U JPH058499Y2 JP H058499 Y2 JPH058499 Y2 JP H058499Y2 JP 7552885 U JP7552885 U JP 7552885U JP 7552885 U JP7552885 U JP 7552885U JP H058499 Y2 JPH058499 Y2 JP H058499Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
slit
shielding plate
spectrometer
photo sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7552885U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61190833U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP7552885U priority Critical patent/JPH058499Y2/ja
Publication of JPS61190833U publication Critical patent/JPS61190833U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH058499Y2 publication Critical patent/JPH058499Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は、発光分光分析装置などに設けられた
走査型の分光器のスリツト位置を光学調整するた
めの調整機構に関する。
[Detailed Description of the Invention] (a) Field of Industrial Application The present invention relates to an adjustment mechanism for optically adjusting the slit position of a scanning spectrometer installed in an emission spectrometer or the like.

(ロ) 従来技術とその問題点 一般に、ツエルニターナ型の発光分光分析装置
などは、走査型の分光器を備えている。この種の
走査型の分光器では、分散素子がパルスモータで
高速駆動される関係上、角度送りが若干粗くなる
ので、出口スリツトを目的波長に合うように微調
整する必要する必要があり、このため、出口スリ
ツトを摺動可能に設けられたスリツト台に取り付
けた構成としている。
(b) Prior art and its problems In general, a Zernitana-type emission spectrometer is equipped with a scanning spectrometer. In this type of scanning spectrometer, the dispersive element is driven at high speed by a pulse motor, so the angular feed becomes somewhat rough, so the exit slit must be finely adjusted to match the target wavelength. Therefore, the exit slit is slidably attached to a slit stand.

また、この分光器では、光学系全体の調整のた
めに、出口スリツトの機械的な中央点を予め設定
する必要がある。そのため、従来は、第4図に示
すように、出口スリツトSを設けたスリツト台T
の左右にリミツトスイツチL1,Lrを設け、ス
リツト台Tを図外のパルスモータで左右に摺動さ
せ、スリツト台Tが左右のリミツトスイツチL
1,Lrに当接するまでの距離をそれぞれ測定し、
その結果から出口スリツトSの機械的な中央点を
設定していた。たとえば、スリツト台Tが左右の
リミツトスイツチL1,Lrからほぼ等しく離れ
た位置にある場合には、まず、スリツト台Tを左
方向にリミツトスイツチL1に当接するまで移動
させ、その間のパルス数を計測する。次に、その
位置からスリツト台Tを右方向にリミツトスイツ
チLrに当接するまで移動させ、その間のパルス
数を計測する。すると、スリツト台Tが左右にそ
れぞれ移動する間のパルス数から機械的に中央点
が分かるので、引き続いてスリツト台Tを左方向
に中央点の位置まで移動させる。
Furthermore, in this spectrometer, it is necessary to set the mechanical center point of the exit slit in advance in order to adjust the entire optical system. Therefore, conventionally, as shown in FIG. 4, a slit table T provided with an exit slit S
Limit switches L1 and Lr are provided on the left and right sides of the slit table T, and the slit table T is moved left and right by a pulse motor (not shown).
1. Measure the distance until contact with Lr,
Based on the results, the mechanical center point of the exit slit S was set. For example, if the slit table T is located at approximately equal distances from the left and right limit switches L1, Lr, first move the slit table T to the left until it contacts the limit switch L1, and measure the number of pulses during that time. Next, the slit table T is moved rightward from that position until it comes into contact with the limit switch Lr, and the number of pulses during that time is measured. Then, since the center point can be determined mechanically from the number of pulses while the slit table T moves left and right, the slit table T is subsequently moved leftward to the position of the center point.

しかしながら、このような機構でもつて中央点
を設定するのでは、スリツト台の移動量が大きく
(上記の例ではほぼ1往復となる)、したがつて、
中央点の設定に時間がかかる。しかも、スリツト
台とリミツトスイツチとは機械的な接触であるの
で、回数を重ねるうちにリミツトスイツチの位置
がずれてしまう可能性がある。
However, even with such a mechanism, setting the center point requires a large amount of movement of the slit table (approximately one round trip in the above example).
Setting the center point takes time. Moreover, since the slit table and the limit switch are in mechanical contact, the position of the limit switch may shift over time.

本考案は、このような事情に鑑みてなされたの
であつて、走査型分光器の光学系を調整する際
に、出口スリツトの機械的な中央点を短時間の内
に、かつ、精度良く設定できるようにすることを
目的とする。
The present invention was developed in view of these circumstances, and is a method for setting the mechanical center point of the exit slit in a short time and with high precision when adjusting the optical system of a scanning spectrometer. The purpose is to make it possible.

(ハ) 問題点を解決するための手段 本考案は、上記の目的を達成するために、分光
器の出口スリツトを摺動可能に支持するスリツト
台に遮光板を取り付け、該遮光板には前記出口ス
リツトを通過する分散光の光路上の位置に基準縁
を形成する一方、前記出口スリツトの光学調整の
ための機械的中央点に前記基準縁の有無を検出す
る発光部、発光部を有するフオツトセンサを配設
して分光器の調整機構を構成している。
(c) Means for solving the problem In order to achieve the above-mentioned object, the present invention has a light-shielding plate attached to a slit stand that slidably supports the exit slit of the spectrometer, and the light-shielding plate has the above-mentioned structure. A light-emitting unit that forms a reference edge at a position on the optical path of the dispersed light passing through the exit slit and detects the presence or absence of the reference edge at a mechanical center point for optical adjustment of the exit slit; a photo sensor having the light-emitting unit; are arranged to constitute the adjustment mechanism of the spectrometer.

(ニ) 作用 フオトセンサの受光部が光が検出している場合
には、スリツト台を一定方向(たとえば左方向)
に移動させる。遮光板の基準縁がフオトセンサの
光路上の位置まで来ると、発光部からの光が遮光
板で遮光されて受光部が光を検出しなくなるの
で、その時点でスリツト台の移動を停止する。
(d) Effect When the light receiving part of the photo sensor is detecting light, move the slit table in a certain direction (for example, to the left).
move it to When the reference edge of the light-shielding plate reaches a position on the optical path of the photo sensor, the light from the light-emitting part is blocked by the light-shielding plate and the light-receiving part no longer detects the light, so the movement of the slit table is stopped at that point.

逆に、遮光板によつてフオトセンサの発光部か
らの光が遮られている場合には、受光部で光が検
出されないので、スリツト台を上記と逆方向(右
方向)に移動させる。遮光板の基準縁がフオトセ
ンサの光路上の位置まで来ると、受光部が光を検
出するので、その時点でスリツト台の移動を停止
する。このようにして、出口スリツトは、直接的
に中央点に設定される。
Conversely, if the light from the light emitting part of the photo sensor is blocked by the light shielding plate, the light is not detected by the light receiving part, so the slit table is moved in the opposite direction (to the right). When the reference edge of the light-shielding plate reaches a position on the optical path of the photo sensor, the light receiving section detects light, and at that point, the movement of the slit table is stopped. In this way, the exit slit is set directly at the center point.

(ホ) 実施例 以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。
(E) Embodiments The present invention will be described in detail below based on embodiments shown in the drawings.

第1図は、本考案の実施例に係る第1図は分光
器の調整機構の斜視図、第2図はフオトセンサと
遮光板の一部を示す側面図である。この実施例の
分光器の調整機構1は、分光器の出口スリツト2
を摺動可能に支持するスリツト台4に遮光板6が
取り付けられている。この遮光板6は、その一部
を切り欠いて出口スリツト2を通過する分散光8
の光路10上の位置に基準縁12が形成されてい
る。
FIG. 1 is a perspective view of an adjustment mechanism of a spectrometer according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view showing a part of a photo sensor and a light shielding plate. The adjustment mechanism 1 of the spectrometer in this embodiment has an exit slit 2 of the spectrometer.
A light shielding plate 6 is attached to a slit table 4 that slidably supports the slit table. This light shielding plate 6 has a part cut out so that the dispersed light 8 passing through the exit slit 2 can be cut out.
A reference edge 12 is formed at a position on the optical path 10 .

一方、出口スリツト2の光学調整のための機械
的中央点(これは分光器の機械的な位置関係で一
義的に定まる)に上記基準縁12の有無を検出す
るフオトセンサ14が配設されている。このフオ
トセンサ14は、投受光用の発光部16と受光部
18とを対向配置して構成されており、本例では
フオトインタラプタが適用される。
On the other hand, a photo sensor 14 for detecting the presence or absence of the reference edge 12 is disposed at the mechanical center point of the exit slit 2 for optical adjustment (this is uniquely determined by the mechanical positional relationship of the spectrometer). . The photo sensor 14 includes a light emitting section 16 for emitting and receiving light and a light receiving section 18 that are arranged facing each other, and in this example, a photo interrupter is applied.

したがつて、この分光器の調整機構1におい
て、いま、遮光板6が第3図の2点鎖線で示す位
置にあつて、フオトセンサ14の受光部18が発
光部14からの光を検出している場合には、図外
のパルスモータによつてスリツト台4を同図中左
方向に移動させる。遮光板6の基準縁12が第3
図の実線で示されるように、フオトセンサ14の
光路上の位置まで来ると、発光部16からの光は
遮光板6に遮光され、受光部18は光を検出しな
くなるので、その時点でフオトセンサ14からパ
ルスモータに停止信号を与え、スリツト台4の移
動を停止する。基準縁12は光路10上に位置す
るように予め設定されているので、その結果、出
口スリツト2が機械的中央的に位置することにな
る。
Therefore, in the adjustment mechanism 1 of this spectrometer, the light shielding plate 6 is now in the position shown by the two-dot chain line in FIG. If so, the slit table 4 is moved to the left in the figure by a pulse motor (not shown). The reference edge 12 of the light shielding plate 6 is the third
As shown by the solid line in the figure, when the light from the light emitting section 16 reaches a position on the optical path of the photo sensor 14, the light from the light emitting section 16 is blocked by the light shielding plate 6 and the light receiving section 18 no longer detects the light. A stop signal is given to the pulse motor to stop the movement of the slit table 4. The reference edge 12 is preset to lie on the optical path 10, so that the exit slit 2 is mechanically centered.

上記とは逆に、フオトセンサ14の発光部16
と受光部18との間に遮光板6が介在している場
合には、該遮光板6によつて発光部16からの光
が遮られるので、受光部18で光が検出されな
い。この場合には、スリツト台4を第3図におい
て右方向に移動させる。遮光板6の基準縁12が
フオトセンサ14の光路上の位置まで来ると、遮
光板6による遮光が無くなるので、受光部18が
光を検出する。その時点でスリツト台4の移動を
直ちに停止する。このようにして、出口スリツト
2は、直接的に機械的な中央点に設定されること
になる。
Contrary to the above, the light emitting part 16 of the photo sensor 14
When the light shielding plate 6 is interposed between the light receiving part 18 and the light receiving part 18, the light from the light emitting part 16 is blocked by the light shielding plate 6, so that the light is not detected by the light receiving part 18. In this case, the slit table 4 is moved to the right in FIG. When the reference edge 12 of the light shielding plate 6 reaches a position on the optical path of the photo sensor 14, the light is no longer blocked by the light shielding plate 6, and the light receiving unit 18 detects the light. At that point, the movement of the slit table 4 is immediately stopped. In this way, the exit slit 2 will be set directly at the mechanical center point.

(ヘ) 効果 以上のように本考案によれば、スリツト台の移
動量が少なくて済み、しかも、非接触で中央点を
検出できるので、走査型分光器の光学系を調整す
る際に、出口スリツトの機械的な中央点を短時間
の内に、かつ、精度良く設定できるようになる等
の効果が発揮される。
(f) Effect As described above, according to the present invention, the amount of movement of the slit table is small, and the center point can be detected without contact, so when adjusting the optical system of a scanning spectrometer, the exit Effects such as being able to set the mechanical center point of the slit within a short time and with high precision are exhibited.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第3図は本考案の一実施例を示
し、第1図は分光器の調整機構の斜視図、第2図
はフオトセンサの遮光板の一部を示す側面図、第
3図はフオトセンサに対する遮光板の位置関係を
説明するための平面図、第4図は従来の分光器の
調整機構を示す概略平面図である。 1……分光器の調整機構、2……出口スリツ
ト、4……スリツト台、6……遮光板、10……
光路、12……基準縁、14……フオトセンサ、
16……発光部、18……発光部。
1 to 3 show an embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a perspective view of the adjustment mechanism of the spectrometer, FIG. 2 is a side view showing a part of the light shielding plate of the photo sensor, and FIG. A plan view for explaining the positional relationship of a light shielding plate with respect to a photo sensor, and FIG. 4 is a schematic plan view showing an adjustment mechanism of a conventional spectrometer. 1... Spectrometer adjustment mechanism, 2... Exit slit, 4... Slit stand, 6... Light shielding plate, 10...
Optical path, 12... Reference edge, 14... Photo sensor,
16... Light emitting section, 18... Light emitting section.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 分光器の出口スリツトを摺動可能に支持するス
リツト台に遮光板を取り付け、該遮光板には前記
出口スリツトを通過する分散光の光路上の位置に
基準縁を形成する一方、前記出口スリツトの光学
調整のための機械的中央点に前記基準縁の有無を
検出する発光部、受光部を有するフオトセンサを
配設したことを特徴とする分光器の調整機構。
A light shielding plate is attached to a slit base that slidably supports the exit slit of the spectrometer, and a reference edge is formed on the light shielding plate at a position on the optical path of the dispersed light passing through the exit slit. An adjustment mechanism for a spectrometer, characterized in that a photo sensor having a light emitting part and a light receiving part for detecting the presence or absence of the reference edge is disposed at a mechanical center point for optical adjustment.
JP7552885U 1985-05-20 1985-05-20 Expired - Lifetime JPH058499Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7552885U JPH058499Y2 (en) 1985-05-20 1985-05-20

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7552885U JPH058499Y2 (en) 1985-05-20 1985-05-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61190833U JPS61190833U (en) 1986-11-27
JPH058499Y2 true JPH058499Y2 (en) 1993-03-03

Family

ID=30616831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7552885U Expired - Lifetime JPH058499Y2 (en) 1985-05-20 1985-05-20

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH058499Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61190833U (en) 1986-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2777915B2 (en) Positioning mechanism
US5361121A (en) Periphery exposing method and apparatus therefor
US7982852B2 (en) Exposure apparatus and device manufacturing method
JPH04127585U (en) Sheet-type object detection device
JP2805220B2 (en) Exposure equipment
US4034403A (en) Apparatus for positional control of a reading head in a device for reproducing optically coded video disk recordings
EP0269058B1 (en) Document size detector for copying machine
JPH0464004B2 (en)
JPS62140418A (en) Position detector of surface
JP2556126B2 (en) Interval measuring device and interval measuring method
JP2837744B2 (en) Inspection method of sealant application state
JPH0358529B2 (en)
JPH0734334Y2 (en) Triangular distance type photoelectric detector
JPH0710352Y2 (en) Document density detector
JPH05132193A (en) Paper position detector
JPH05149714A (en) Position detection mechanism using optical sensor
USH1733H (en) Exposure method
JPH0446182Y2 (en)
TW426829B (en) The positioning method and device for the driving mechanism of scanner
JPS59163612A (en) Method and device for tilt control
JPH0117194B2 (en)
JPH05116573A (en) Vehicle distance confirmation device
JPH0410569B2 (en)
JP2569537B2 (en) Alignment device
JPH0341972B2 (en)