JPH0586077B2 - - Google Patents

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JPH0586077B2
JPH0586077B2 JP62210862A JP21086287A JPH0586077B2 JP H0586077 B2 JPH0586077 B2 JP H0586077B2 JP 62210862 A JP62210862 A JP 62210862A JP 21086287 A JP21086287 A JP 21086287A JP H0586077 B2 JPH0586077 B2 JP H0586077B2
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JP
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semiconductor
superconducting material
oxide superconducting
oxide
control electrode
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分野] 本発明は酸化物超電導材料を用いた固体電子装
置に関する。
本発明は入力端子と出力端子とを有する3端子
素子に関する。本発明はかかる素子に増幅機能、
スイツチ機能を有せしめるとともに、入力信号を
制御用入力に印加することにより出力信号を出力
より検出せしめんとするものである。
[従来の技術] 従来、超電導材料、例えばNb−Ge系(例とし
てはNb3Ge)等の金属材料を用いて固体電子デ
イバイスを作る試みがなされてきた。
その代表的なものはジヨセフソン素子である。
このジヨセフソン素子は超電導現象とトンネル電
流現象とを組み合わせてスイツチングを行わんと
するもので、2端子回路よりなつている。
[従来の問題点] しかし、かかるジヨセフソン素子は2端子回路
素子であるため、入力信号と出力信号とを独立信
号として用いることができず、増幅機能を有さな
い。このため工業用応用を考える時、超高周波で
動作させることができるという特長を有しながら
も回路設計がきわめて困難である。また、これま
での半導体集積回路で培われている設計技術を用
いることができないという欠点を有する。
また超電導材料が酸化物であり、また半導体集
積回路に用いられる材料、例えば珪素半導体を直
接密接せしめると、長時間の使用にその界面に半
導体それ自体が反応し酸化珪素絶縁物が成長し、
電流を流せないようにしてしまう。このため、こ
の半導体と酸化物超電導材料とのコンタクト方法
にはこれまでよい手段が見出されていなかつた。
本発明はかかる欠点を除去し、超高周波動作を
させるとともに、素子を3端子(4端子)回路素
子、即ち入力信号を加える制御用電極および出力
信号を導出する電極とを有せしめんとするもので
ある。
[問題を解決すべき手段] 本発明はかかる問題を解決するため、酸化物超
電導材料と半導体材料とを複合化した固体電子素
子(デイバイス)構造を有せしめんとするもので
ある。
本発明は、非超電導性の絶縁性表面を有する基
板上の半導体または半導体基板を構成する半導体
に対し、その両端部を動作温度領域では電気抵抗
が零または零に近い特性を有する超電導材料
(Tco即ち電気抵抗が原理的に零になる温度を有
する材料)(かかる材料を酸化物超電導材料とい
う)により連結した固体素子に関する。そしてこ
の超電導材料をトンネル電流が流れる範囲の厚さ
の絶縁または半絶縁膜を介して半導体に接せしめ
た電極部を設けたものである。
本発明はの超電導素子においては、一対の酸化
物超電導材料にトンネル電流を流し得る厚さの絶
縁または半絶縁膜(以下トンネル電流用膜とい
う)を介して半導体を設けた。またこのトンネル
電流用膜は窒化珪素または炭化珪素を主成分と
し、酸化物超電導材料と超電導膜とが互いに反応
してしまうことに対するブロツキング作用を有す
るとともに、トンネル電流を流しやすいエネルギ
バンド巾の小さい材料を用いた。また半導体とそ
れとは離間した制御用電極との間には、十分大き
い電気抵抗、好ましくは半導体に比べて102倍以
上の電気抵抗を有する被膜、好ましくは絶縁膜を
設け、入力端子である制御用電極から電圧を印加
させ、その下側の酸化物半導体に電圧を印加す
る。この半導体は、その印加電圧により空乏層を
有するため、その空乏層の大きさにより一方より
他方へ超電導材料の電極間に電流が流れる。
第1図A,B,Cは本発明の固体素子の縦断面
図を示す。
第1図において、非超電導性を有する絶縁基板
板1上に一対の酸化物超電導材料3,5を有す
る。そしてこの間に半導体4を有する。半導体4
とそれぞれの酸化物超電導材料とのコンタクト部
(電極部)にはトンネル電流用膜8,9を有する。
また半導体4上には絶縁膜11を介して制御用
電極10が設けられている。
第1図Bにおいて、半導体基板1上に選択的に
フイールド絶縁物2を設け、その内部に本発明の
電子装置を設けている。この単結晶半導体基板1
上にトンネル電流用膜8,9を有し、それに密接
して酸化物超電導材料の電極、リード3,5を有
する。またこれらを覆うとともに、この半導体1
の活性領域4上には絶縁膜11を有する。さらに
活性半導体領域4の上方の絶縁膜11上に制御用
電極10を有する。
第1図Cにおいて、単結晶半導体基板1の上部
には第1図Bと同様のフイールド絶縁膜2を有す
る。またフイールド絶縁膜2で囲まれた内部の半
導体領域における中央部(図面中央部に位置し、
図面に垂直方向にはフイールド絶縁膜までその両
端が及んでいる)に絶縁膜11、その上の制御用
電極10を有する。またこの制御用電極10の外
周辺は絶縁膜12で覆われて、この電極10と酸
化物超電導材料3,5とが互いにシヨートしない
ようにしている。これと制御用電極およびその下
の絶縁膜のない半導体上にはトンネル電流用膜
8,9を有する。そしてこの膜上には酸化物超電
導材料3,5の電極、リードとが設けられてい
る。この第1図Cにおいては、制御用電極により
その両端を一致させた不純物領域の大部分と酸化
物超電導材料とが接している自己接合型とせしめ
た。
「作用」 かかる構造とすることにより、周波数特性に優
れ、かつ実質的に半導体材料と酸化物超電導材料
とを互いに密接させることができた。そしてそれ
ぞれの材料が互いに反応し、界面に絶縁性のトン
ネル電流を流さないような厚さの進行性の信頼性
低下を促す絶縁膜が形成されることがなくなつ
た。
本発明において、トンネル電流用膜として窒化
珪素および炭化珪素を主成分とする非酸化性膜を
用いた。これらは非酸化物であり、酸素に対する
ブロツキング効果を有するとともに、酸化珪素に
比べてエネルギバンド巾が小さい(酸化珪素
8eV、窒化珪素5eV、炭化珪素3eV)ため、トン
ネル電流を流しやすいという特長も有する。
本発明は、同一基板上に複数個の固体素子を作
ることができ、かかる素子を設計論理に基づき連
結することにより超電導集積回路を作らんとした
時、その相互配線を抵抗零で作ることができる。
以下に図面に従つて実施例を説明する。
「実施例 1」 この実施例は第1図Aの構造を示す。
基板としてYSZ(イツトリア・スタビライズ
ド・ジルコン)またはチタン酸ストロンチウムを
用いた。これはその上にスクリーン印刷法、スパ
ツタ法、MBE(モレキユラ・ビーム・エピタキシ
ヤル)法、CVD(気相反応)法等を用いて形成さ
れる超電導材料、例えば、(A1-x BX)
yCuzOw x=0.1〜1,y=2.0〜4.0好ましくは
2.5〜3.5,z=1.0〜4.0好ましくは1.5〜3.5,w=
4.0〜10.0好ましくは6〜8を有し、AはY(イツ
トリウム)、Gu(ガドリニウム)、Yb(イツテルビ
ウム)、Eu(ユーロピウム)、Tb(テルビウム)、
Dy(ジスプロシウム)、Ho(ホルミウム)、Er(エ
ルビウム)、Tm(ツリウム)、Lu(ルテチウム)、
Sc(スカンジウム)またはその他の元素周期表
a族の1つまたは複数種類より選ばれ、BはRa
(ラジウム)、Ba(バリウム)、Sr(ストロンチウ
ム)、Ca(カルシウム)、Mg(マグネシウム)、Be
(ベリリウム)の元素周期表a族の1つまたは
複数種より選ばれた超電導材料、特に例えば
YBa2Cu3O68,YBaSrCu3O68,YBaCaCu3
O68等である。またAとして元素周期表におけ
るランタニド元素またはアクチニド元素を用い得
る。またこれらに珪素、ゲルマニウム、スズ、
鉛、インジウム、アンチモン、弗素等を添加して
結晶粒界のバリアを下げ得る。
尚、本明細書における元素周期表は理化学辞典
(岩波書店 1963年4月1日発行)によるもので
ある。
この形成と同時またはその後に、500〜1200℃
の温度で熱アニールで5〜10時間処理し、その後
徐冷して作製した。
さらにこれらの上面に水素またはハロゲン元素
が添加された非単結晶半導体4を光CVD法また
はプラズマCVD法で形成した。酸化物超電導材
料3,5の間のみ残存させて活性半導体4領域を
作り、これら全体に絶縁膜11を作つて、その上
に制御用電極10を作製した。
次に制御用電極10を第2の表面を構成する酸
化物超電導材料または金属、例えば銅または銅と
ニツケルとの化合物を真空蒸着法を用いて作製し
た。出力用の端部18,19は酸化物超電導薄膜
に密接し、抵抗零の接触がなされるべくした。
第2図はこの実施例での動作を示す。
この図面で、横軸は第1図に対応した距離を示
し、縦軸はエネルギレベル(ポテンシヤル)を示
す。
第2図Aにおいて、超電導材料、即ち出力の他
端5に電圧を印加する。するとポテンシヤル30
を得る。その結果、電子は20,20′の双方に
量子論的な波動性において存在するが、20の方
が十分大きいため、電流としては22として観察
される。
第2図Aにおいては制御用電極に何らかの電圧
も印加されていない。
第2図Bにおいて、制御用電極に負の電圧を印
加する。すると、活性半導体領域4のポテンシヤ
ル21は第2図Aの24より第2図Bの24′へ
と移る。その結果形成された障壁に関連して2
0′は更に小さくなり、また20は障壁のため極
端に小さくなる。かくして酸化物超電導材料の領
域3より他の酸化物超電導材料の領域5へと一対
の出力用電極間に電圧30を印加して電流22′
を流さんとすると、実質的に電流は流れにくくな
り、その値は押さえられる。
結果として制御用電極に負の電圧が印加される
と電流22′は小さくなる。
また第2図Cは制御用電極に正の電圧21′を
印加した場合を示す。電子の遷移確率20′は大
きくなり、逆に20は小さくなる。しかしこの領
域4の井戸は電子で埋められ、24″のバリアは
25に見掛け上のポテンシヤルに移つた後、実質
的に消失する。結果として第2図Aと同じまたは
それに近い電流22″が流れる。
かくして入力信号のポテンシヤルにより出力電
流を検出できる。この時制御電極下の被膜の抵抗
が十分であり、入力信号を供給するためのエネル
ギ構造よりも出力信号を大きく取り出し得るなら
ば増幅をしたこととなり、4端子素子でありかつ
増幅装置とし得る。この出力を電圧で検出せんと
するならば、この出力は直列に抵抗を第2図Aに
示す如くにして加えれば、その電流より電圧とし
て検出できる。即ちインバータを作り得る。
「実施例 2」 第1図Bは本発明の他の実施例を示す。
図面において、珪素半導体基板1に対し選択的
にフイールド絶縁膜2を設ける。このフイールド
絶縁膜により囲まれた半導体領域内に半導体の活
性領域4、その両端にトンネル電流用膜8,9を
介して酸化物超電導材料の電極リード3,5が設
けられている。
これら全体を覆つて絶縁膜11例えば酸化珪素
膜を有する。この絶縁膜上のかつ活性半導体領域
上に制御用電極10を有する。
かくして一方の超電導材料5より他方の超電導
材料3に活性半導体領域を通して流れる電流の量
を制御用電極10に印加された電圧により制御せ
しめた。
この図面において、トンネル電流用膜8,9は
シリコン半導体基板1を700〜950℃の高純度アン
モニア中で15〜40分加熱した。するとこのシリコ
ン半導体の表面を10〜25Åの厚さで窒化珪素膜に
変形させることができた。この窒化珪素膜は高温
で作りかつその温度も酸化物超電導材料を作る温
度にほぼ等しいため、その上面に酸化物超電導材
料を作つている際、同時にこの下地と反応してし
まう等の欠点を有さない。この実施例でも酸化物
超電導材料は実施例1と同じとした。
「実施例 3」 第1図Cは本発明の他の実施例を示す。
図面において、第1図Bと同様にシリコン半導
体上にフイールド絶縁膜2を作つた。その後、こ
れらの上に絶縁膜11を熱酸化膜で作つた。さら
に制御用電極10を酸化物超電導材料、シリコン
半導体または金属酸化物で形成した。さらにこれ
らをパターニングし、制御用電極、その下の絶縁
膜を構成せしめ、他部を除去した。
次にこの制御用電極またはその上のフオトレジ
ストをマスクとして半導体中にPまたはN型の添
加物を多量にイオン注入法等により添加して不純
物領域13,14を作つた。
絶縁ゲイト型電界効果半導体装置におけるソー
ス、ドレインと同質の効果を有する。制御用電極
の外側に絶縁物を形成し、さらにトンネル電流用
被膜8,9を炭化珪素により作製した。この作製
法は、高純度メタンガスを含む不純物気体中で
800〜1050℃に加熱して、シリコン半導体表面を
炭化した。かくしてトンネル電流用膜として10〜
30Åの厚さの半絶縁膜の炭化珪素膜を形成した。
同時に添加された不純物をアニールし、この領域
13,14を半導体化せしめた。
さらにこれらに対し、実施例と同様の酸化物超
電導材料をスパツタ法または電子ビーム蒸着法に
より形成し、所望のパターニングをし、酸化物超
電導材料の一対の電極リード3,5を作製した。
この外側に外部接触用のリード18,19を設
けてもよい。またさらに酸化物超電導材料として
第1層用の超電導材料を作製した後、これらの全
面を絶縁膜で覆い、所定の位置に穴あけをし、第
2層めの酸化物としての酸化物超電導材料として
もよい。
かくして制御用電極下の一対の超電導材料間の
距離(活性半導体領域の長さ)を1μm以下とする
ことにより、1n秒以下の周波数特性を期待し得
る。
第1図Cにおいて、半導体に設けられた不純物
領域のほとんどすべてに対し、トンネル電流用膜
を介して酸化物超電導材料の電極リードを形成し
た。かくして不純物領域を工業的に可能な方法に
より小さくすることにより、より高密度な集積回
路とし得る。
「効果」 本発明は、これまで2端子素子であつた超電導
素子を4端子素子としたことにある。そしてこの
制御用電極下に半導体を設けることにより、半導
体集積回路と超電導材料とを複合化して超高速の
固体素子装置を作ることができた。
さらに、この超電導固体素子を同一基板に多数
個設け、集積化させることが可能となつた。
本発明において、半導体と超電導材料との界面
にトンネル電流用被膜を用いることにより、周波
数特性を下げることなく十分な信頼性を有するア
クテイブ素子を作ることができた。またこのトン
ネル電流用被膜の下にイオン注入法等によりP+
またはN+の導電型の半導体装置を設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の超電導固体素子の縦断面図を
示す。第2図は本発明の超電導固体素子の動作原
理を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 絶縁性表面を有する基板上に設けられた半導
    体と、該半導体にブロツキング層を介して設けら
    れた一対の酸化物超電導材料と、該一対の酸化物
    超電導材料間において前記半導体に電圧を印加す
    る電極とを有することを特徴とする酸化物超電導
    材料を用いた電子装置。 2 特許請求の範囲第1項において、ブロツキン
    グ層として窒化珪素または炭化珪素を用いること
    を特徴とする酸化物超電導材料を用いた電子装
    置。 3 特許請求の範囲第1項においていて、ブロツ
    キング層として非酸化物を用いることを特徴とす
    る酸化物超電導材料を用いた電子装置。
JP62210862A 1987-08-24 1987-08-24 Electronic device using superconducting material Granted JPS6453477A (en)

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CN88106274A CN1014382B (zh) 1987-08-24 1988-08-24 采用超导材料的电子器件
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JPS62122287A (ja) * 1985-11-22 1987-06-03 Hitachi Ltd 超伝導トランジスタ

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