JPH0586216B2 - - Google Patents
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- JPH0586216B2 JPH0586216B2 JP60263410A JP26341085A JPH0586216B2 JP H0586216 B2 JPH0586216 B2 JP H0586216B2 JP 60263410 A JP60263410 A JP 60263410A JP 26341085 A JP26341085 A JP 26341085A JP H0586216 B2 JPH0586216 B2 JP H0586216B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- fluid
- pressure
- cornea
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、流体放出手段から流体を被検眼の角
膜に向かつて放出し、その流体の放出に基づいて
角膜を変形させ、眼圧値を測定する非接触式眼圧
計の改良に関する。
膜に向かつて放出し、その流体の放出に基づいて
角膜を変形させ、眼圧値を測定する非接触式眼圧
計の改良に関する。
(従来の技術)
従来から、非接触式眼圧計には、たとえば、特
公昭54−38437号公報に開示されているように流
体放出手段としてのシリンダー装置を駆動して、
時間をパラメータとしてあらかじめ定められた流
圧特性曲線を描く流体としての空気パルスを生成
し、その空気パルスを被検眼の角膜に向かつて放
出し、その空気パルスの放出に基づいて角膜を凸
面状態から平面状態を経て凹面状態に変形させ、
その変形を受けたときの角膜の変形・復帰時間が
眼圧と相関関係を有することから、その角膜の変
形量を光電的に検出してその変形・復帰時間を測
定し、それに基づいて眼圧値を測定するようにし
たものが知られている。
公昭54−38437号公報に開示されているように流
体放出手段としてのシリンダー装置を駆動して、
時間をパラメータとしてあらかじめ定められた流
圧特性曲線を描く流体としての空気パルスを生成
し、その空気パルスを被検眼の角膜に向かつて放
出し、その空気パルスの放出に基づいて角膜を凸
面状態から平面状態を経て凹面状態に変形させ、
その変形を受けたときの角膜の変形・復帰時間が
眼圧と相関関係を有することから、その角膜の変
形量を光電的に検出してその変形・復帰時間を測
定し、それに基づいて眼圧値を測定するようにし
たものが知られている。
ところで、この従来の非接触式眼圧計では、流
圧特性曲線が一定でないとそのシリンダー装置を
作動させて得られる眼圧値に誤差を含むことにな
る。そこで、従来の非接触式眼圧計では、ピスト
ンの移動速度と流体の流圧特性曲線との間に関係
があることから、眼圧値の測定を行う前にあらか
じめそのシリンダー装置を作動させてそのシリン
ダー装置のピストンの移動速度が基準の移動速度
に一致しているか否かのチエツクを行つて、あら
かじめ定められた流圧特性曲線に従つて流体の放
出がなされるか否かを判定し、ピストンの移動速
度が基準の移動速度に一致しているときにそのシ
リンダー装置の作動が正常であると判断するよう
にしている。
圧特性曲線が一定でないとそのシリンダー装置を
作動させて得られる眼圧値に誤差を含むことにな
る。そこで、従来の非接触式眼圧計では、ピスト
ンの移動速度と流体の流圧特性曲線との間に関係
があることから、眼圧値の測定を行う前にあらか
じめそのシリンダー装置を作動させてそのシリン
ダー装置のピストンの移動速度が基準の移動速度
に一致しているか否かのチエツクを行つて、あら
かじめ定められた流圧特性曲線に従つて流体の放
出がなされるか否かを判定し、ピストンの移動速
度が基準の移動速度に一致しているときにそのシ
リンダー装置の作動が正常であると判断するよう
にしている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、この従来のチエツク手段は、流
体の流圧特性曲線が常に一定であると仮定したう
えでの話であり、実際には、流体の流圧は温度、
密度等の関数であり、ピストンの移動速度が基準
の移動速度に一致しているとしても必ずしも流圧
特性曲線が一定であるとは限らないのであり、本
来的にシリンダー装置の作動が正常であるか否か
のチエツクを行うことができない不具合を内包し
ている。
体の流圧特性曲線が常に一定であると仮定したう
えでの話であり、実際には、流体の流圧は温度、
密度等の関数であり、ピストンの移動速度が基準
の移動速度に一致しているとしても必ずしも流圧
特性曲線が一定であるとは限らないのであり、本
来的にシリンダー装置の作動が正常であるか否か
のチエツクを行うことができない不具合を内包し
ている。
ところで、被検眼の眼圧と流体の流圧とは直接
対応しているので、近時、流体放出手段から被検
眼の角膜に流体を放出してこの角膜を変形させな
がらその被検眼の眼圧に対応する流体の圧力の変
化をその角膜の変形に逐次対応させて流体圧変化
検出回路により検出し、その角膜の変形と流体の
圧力との関係に基づいて眼圧値を測定するタイプ
の非接触式眼圧計が提案されている(たとえば、
実開昭59−143402号公報)。
対応しているので、近時、流体放出手段から被検
眼の角膜に流体を放出してこの角膜を変形させな
がらその被検眼の眼圧に対応する流体の圧力の変
化をその角膜の変形に逐次対応させて流体圧変化
検出回路により検出し、その角膜の変形と流体の
圧力との関係に基づいて眼圧値を測定するタイプ
の非接触式眼圧計が提案されている(たとえば、
実開昭59−143402号公報)。
このものは、眼圧値の測定回路が従来のものと
大幅に異なつており、流体の圧力を電気的に検出
して眼圧値の測定を行うために、電気回路として
の流体圧検出回路が複雑となり、電気的にその作
動が正常であるか否かをチエツクすることが要求
される。
大幅に異なつており、流体の圧力を電気的に検出
して眼圧値の測定を行うために、電気回路として
の流体圧検出回路が複雑となり、電気的にその作
動が正常であるか否かをチエツクすることが要求
される。
(発明の目的)
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもの
で、その目的とするところは、電気回路それ自体
の作動が正常であるか否かをチエツクすることの
できる非接触式眼圧計を提供するところにある。
で、その目的とするところは、電気回路それ自体
の作動が正常であるか否かをチエツクすることの
できる非接触式眼圧計を提供するところにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明に係わる非接触式眼圧計は、上記の目的
を達成するため、被検眼の角膜に向かつて流体を
放出するための流体放出手段と、前記流体の圧力
を検出するための圧力センサーと、前記圧力セン
サーからの信号により前記角膜を変形させながら
流体の圧力の変化を検出するための流体圧変化検
出回路と、被検眼角膜の変形を検出するための角
膜変形検出手段とを有し、前記流体圧変化検出回
路からの信号と前記角膜変形検出手段からの信号
とにより被検眼の眼圧値を測定する非接触式眼圧
計において、前記流体放出手段を駆動させること
により得られる前記圧力センサーからの信号に基
づき前記流体放出手段の作動を含めて前記流体圧
変化検出回路の作動を自動的にチエツクするセル
フチエツク回路が設けられていることを特徴とす
る。
を達成するため、被検眼の角膜に向かつて流体を
放出するための流体放出手段と、前記流体の圧力
を検出するための圧力センサーと、前記圧力セン
サーからの信号により前記角膜を変形させながら
流体の圧力の変化を検出するための流体圧変化検
出回路と、被検眼角膜の変形を検出するための角
膜変形検出手段とを有し、前記流体圧変化検出回
路からの信号と前記角膜変形検出手段からの信号
とにより被検眼の眼圧値を測定する非接触式眼圧
計において、前記流体放出手段を駆動させること
により得られる前記圧力センサーからの信号に基
づき前記流体放出手段の作動を含めて前記流体圧
変化検出回路の作動を自動的にチエツクするセル
フチエツク回路が設けられていることを特徴とす
る。
(作用)
本発明に係わる非接触式眼圧計によれば、セル
フチエツク回路は、流体放出手段の駆動により得
られる圧力センサーの信号に基づき、流体圧変化
検出回路が正常であるか否か、流体放出手段の作
動が正常であるか否かを検出する。
フチエツク回路は、流体放出手段の駆動により得
られる圧力センサーの信号に基づき、流体圧変化
検出回路が正常であるか否か、流体放出手段の作
動が正常であるか否かを検出する。
(実施例)
以下に、本発明に係る非接触式眼圧計の実施例
を図面を参照しつつ説明する。
を図面を参照しつつ説明する。
第1図において、1は流体放出手段としてのシ
リンダー装置、2は被検眼の角膜、3は射出光学
系、4は検出光学系である。シリンダー装置1
は、被検眼の角膜2に流体としての空気パルスを
放出してその角膜2を変形させる機能を有し、ロ
ータリーソレノイド5、シリンダー6、ソレノイ
ド駆動回路7から概略構成され、符号8はそのロ
ータリーソレノイド5のドラムを示す。
リンダー装置、2は被検眼の角膜、3は射出光学
系、4は検出光学系である。シリンダー装置1
は、被検眼の角膜2に流体としての空気パルスを
放出してその角膜2を変形させる機能を有し、ロ
ータリーソレノイド5、シリンダー6、ソレノイ
ド駆動回路7から概略構成され、符号8はそのロ
ータリーソレノイド5のドラムを示す。
シリンダー6はシリンダー筒部9を有し、その
シリンダー筒部9にはノズル筒部10とセンシン
グ筒部11とが設けられている。ノズル筒部10
はシリンダー筒部9と同軸に形成され、センシン
グ筒部11はシリンダ筒部9の周壁に突出形成さ
れている。シリンダ筒部9にはピストン12が往
復動可能に設けられている。このピストン12は
ピストンロツド13を介してドラム8に連結され
ている。ノズル筒部10は、角膜2に向かつて真
つ直ぐに延びており、シリンダ筒部9内の流体と
しての空気がパルスとして、そのピストン12の
往動によつてノズル筒部10から角膜2に向かつ
て放出されるものである。センシング筒部11に
は、圧力センサー11aが装着されているが、こ
の圧力センサー11aの機能については後述す
る。
シリンダー筒部9にはノズル筒部10とセンシン
グ筒部11とが設けられている。ノズル筒部10
はシリンダー筒部9と同軸に形成され、センシン
グ筒部11はシリンダ筒部9の周壁に突出形成さ
れている。シリンダ筒部9にはピストン12が往
復動可能に設けられている。このピストン12は
ピストンロツド13を介してドラム8に連結され
ている。ノズル筒部10は、角膜2に向かつて真
つ直ぐに延びており、シリンダ筒部9内の流体と
しての空気がパルスとして、そのピストン12の
往動によつてノズル筒部10から角膜2に向かつ
て放出されるものである。センシング筒部11に
は、圧力センサー11aが装着されているが、こ
の圧力センサー11aの機能については後述す
る。
角膜2は流体の流圧の増大に伴つて凸面状態か
ら平面状態に向かつて変形されるものであり、符
号Cは角膜2が変形を受けた状態を示し、符号m
はその変形量を示す。この変形量mは、変形を受
ける前の角膜2の頂点を02、変形を受けたことを
示している角膜Cの頂点を03とするとき、角膜2
の中心線01上に存在する頂点02と頂点03との間の
距離をいう。
ら平面状態に向かつて変形されるものであり、符
号Cは角膜2が変形を受けた状態を示し、符号m
はその変形量を示す。この変形量mは、変形を受
ける前の角膜2の頂点を02、変形を受けたことを
示している角膜Cの頂点を03とするとき、角膜2
の中心線01上に存在する頂点02と頂点03との間の
距離をいう。
射出光学系3と検出光学系4とは、角膜2の変
形量を検出する機能を有し、ここでは、射出光学
系3と検出光学系4とはシリンダー装置1に基づ
く角膜2の変形量を光電的に検出する角膜変形量
光電検出手段を構成している。その射出光学系3
は、光源14と集光レンズ15と絞り16と投光
レンズ17とから構成され、04はこの射出光学系
3の光軸を示す。絞り16はレンズ17の焦点位
置に設けられ、光源14の射出光は、集光レンズ
15により集光され、絞り16でその光量を調整
され、投光レンズ17によつて平行光束に変換さ
れ、検出光として角膜2に投影されるものであ
る。
形量を検出する機能を有し、ここでは、射出光学
系3と検出光学系4とはシリンダー装置1に基づ
く角膜2の変形量を光電的に検出する角膜変形量
光電検出手段を構成している。その射出光学系3
は、光源14と集光レンズ15と絞り16と投光
レンズ17とから構成され、04はこの射出光学系
3の光軸を示す。絞り16はレンズ17の焦点位
置に設けられ、光源14の射出光は、集光レンズ
15により集光され、絞り16でその光量を調整
され、投光レンズ17によつて平行光束に変換さ
れ、検出光として角膜2に投影されるものであ
る。
その検出光学系4は、結像レンズ18と絞り1
9と光電変換回路20とから構成され、光電変換
回路20は受光素子21と増幅回路22とから構
成されている。角膜2において反射された検出光
は、結像レンズ18、絞り19を介して受光素子
21に導かれ、その受光素子21によつて光電変
換され、増幅回路22によつて増幅され、光電変
換回路20は、角膜2の変形量mに対応する角膜
反射光量の光電出力Vzを後述する眼圧値換算回
路に向かつて出力する機能を有する。
9と光電変換回路20とから構成され、光電変換
回路20は受光素子21と増幅回路22とから構
成されている。角膜2において反射された検出光
は、結像レンズ18、絞り19を介して受光素子
21に導かれ、その受光素子21によつて光電変
換され、増幅回路22によつて増幅され、光電変
換回路20は、角膜2の変形量mに対応する角膜
反射光量の光電出力Vzを後述する眼圧値換算回
路に向かつて出力する機能を有する。
圧力センサー11aは、被検眼の眼圧に対応す
る流体の圧力の変化を検出する流体圧変化検出回
路23の一部を構成しており、その圧力センサー
11aによつて検出された検出出力Vpは、増幅
回路24を介して眼圧値換算回路25に入力され
ている。この眼圧値換算回路25は、流体圧変化
検出回路23の検出出力Vpと光電変換回路20
の光電出力Vzとに基づいて、流体圧の変化に対
応する角膜反射光量の変化の関係を求め、あらか
じめ定められた変形量mに対応する流体圧を眼圧
値に換算する機能を有する。
る流体の圧力の変化を検出する流体圧変化検出回
路23の一部を構成しており、その圧力センサー
11aによつて検出された検出出力Vpは、増幅
回路24を介して眼圧値換算回路25に入力され
ている。この眼圧値換算回路25は、流体圧変化
検出回路23の検出出力Vpと光電変換回路20
の光電出力Vzとに基づいて、流体圧の変化に対
応する角膜反射光量の変化の関係を求め、あらか
じめ定められた変形量mに対応する流体圧を眼圧
値に換算する機能を有する。
次に眼圧値換算回路25の構成を第2図を参照
しつつ説明する。
しつつ説明する。
この第2図において、26はCPUである。こ
のCPU26はパワースイツチ27によつてオン
されるものである。このCPU26には、セルフ
チエツクモードと眼圧測定モードがプログラムさ
れている。このCPU26はパワースイツチ27
をオンすると同時にセルフチエツクモードとなつ
て後述するセルフチエツク回路を動作させる動作
信号を出力するものであるが、その詳細は後述す
ることにし、まず、CPU26が眼圧測定モード
となつている場合を説明する。
のCPU26はパワースイツチ27によつてオン
されるものである。このCPU26には、セルフ
チエツクモードと眼圧測定モードがプログラムさ
れている。このCPU26はパワースイツチ27
をオンすると同時にセルフチエツクモードとなつ
て後述するセルフチエツク回路を動作させる動作
信号を出力するものであるが、その詳細は後述す
ることにし、まず、CPU26が眼圧測定モード
となつている場合を説明する。
CPU26は、眼圧測定モードになると眼圧測
定回路系を作動させる動作信号の出力が可能とな
るものである。すなわち、CPU26は測定スイ
ツチ28をオンするとソレノイド駆動回路7に向
かつて動作信号としての駆動信号を出力し、シリ
ンダー装置1を駆動させるものである。このシリ
ンダー装置1の駆動によつて角膜2に向かつての
空気パルスの放出が開始される。これによつて、
シリンダー9内の圧力は、静的圧力から動的圧力
に変化し、その圧力が上昇する。圧力センサー1
1aはこのシリンダー9内の圧力上昇を検出す
る。
定回路系を作動させる動作信号の出力が可能とな
るものである。すなわち、CPU26は測定スイ
ツチ28をオンするとソレノイド駆動回路7に向
かつて動作信号としての駆動信号を出力し、シリ
ンダー装置1を駆動させるものである。このシリ
ンダー装置1の駆動によつて角膜2に向かつての
空気パルスの放出が開始される。これによつて、
シリンダー9内の圧力は、静的圧力から動的圧力
に変化し、その圧力が上昇する。圧力センサー1
1aはこのシリンダー9内の圧力上昇を検出す
る。
眼圧測定回路系は、流体圧変化検出回路23と
角膜反射光量変化検出回路29とから構成されて
いる。この流体圧変化検出回路23は、比較回路
30と、タイミングパルス発生器31と、アドレ
スカウンタ32と、OR回路33と、インクリメ
ンタルカウンタ34と、D/A変換器35と、切
り換え回路36とを有する。比較回路30の一端
子には、圧力センサー11aの検出出力Vpが入
力されている。この検出出力Vpは、A/D変換
器37にも入力されているが、A/D変換器37
は、セルフチエツク回路の一部を構成するもので
あるので、ここでは、その説明を、A/D変換器
37が検出出力Vpをアナログ・デジタル変換す
る機能を有するものであることにとどめる。
角膜反射光量変化検出回路29とから構成されて
いる。この流体圧変化検出回路23は、比較回路
30と、タイミングパルス発生器31と、アドレ
スカウンタ32と、OR回路33と、インクリメ
ンタルカウンタ34と、D/A変換器35と、切
り換え回路36とを有する。比較回路30の一端
子には、圧力センサー11aの検出出力Vpが入
力されている。この検出出力Vpは、A/D変換
器37にも入力されているが、A/D変換器37
は、セルフチエツク回路の一部を構成するもので
あるので、ここでは、その説明を、A/D変換器
37が検出出力Vpをアナログ・デジタル変換す
る機能を有するものであることにとどめる。
比較回路30の他端子には基準電圧Vsが入力
されている。この比較回路30は、基準電圧Vs
と検出出力Vpとを比較して検出出力Vpが基準電
圧Vsよりも大きいときに、その比較パルスPが
ハイレベルとなるものである。この比較パルスP
はタイミングパルス発生器31と、アドレスカウ
ンタ32と、OR回路33とに入力されている。
タイミングパルス発生器31とアドレスカウンタ
32との機能は後述することにし、OR回路3
3、インクリメンタルカウンタ34、D/A変換
器35と基準電圧Vsとの関係を次に説明する。
されている。この比較回路30は、基準電圧Vs
と検出出力Vpとを比較して検出出力Vpが基準電
圧Vsよりも大きいときに、その比較パルスPが
ハイレベルとなるものである。この比較パルスP
はタイミングパルス発生器31と、アドレスカウ
ンタ32と、OR回路33とに入力されている。
タイミングパルス発生器31とアドレスカウンタ
32との機能は後述することにし、OR回路3
3、インクリメンタルカウンタ34、D/A変換
器35と基準電圧Vsとの関係を次に説明する。
OR回路33とインクリメンタルカウンタ34
とD/A変換器35とは、基準電圧Vsを階段的
に上昇させる機能を有する。すなわち、比較パル
スPがOR回路33を介してインクリメンタルカ
ウンタ34に入力されるたびに、比較パルスPの
個数を加算してその個数に対応するカウントパル
スCをD/A変換器35に向かつて出力し、D/
A変換器35はそのカウント値Cに対応する基準
電圧Vsを比較回路30に向かつて出力するもの
である。
とD/A変換器35とは、基準電圧Vsを階段的
に上昇させる機能を有する。すなわち、比較パル
スPがOR回路33を介してインクリメンタルカ
ウンタ34に入力されるたびに、比較パルスPの
個数を加算してその個数に対応するカウントパル
スCをD/A変換器35に向かつて出力し、D/
A変換器35はそのカウント値Cに対応する基準
電圧Vsを比較回路30に向かつて出力するもの
である。
基準電圧Vsは、後述するセルフチエツクモー
ドにおいて説明するオフセツト除去操作によつ
て、その初期値Vsoがシリンダー装置1を駆動す
る前の検出出力Vpoに等しく設定されるもので、
眼圧測定モードにおいてのこの基準電圧Vsの初
期値Vsoの設定は、CPU26から出力されるオフ
セツト除去パルスPSによつて与えられるもので
あり、このオフセツト除去パルスPSはOR回路3
3を介してインクリメンタルカウンタ34に入力
されている。
ドにおいて説明するオフセツト除去操作によつ
て、その初期値Vsoがシリンダー装置1を駆動す
る前の検出出力Vpoに等しく設定されるもので、
眼圧測定モードにおいてのこの基準電圧Vsの初
期値Vsoの設定は、CPU26から出力されるオフ
セツト除去パルスPSによつて与えられるもので
あり、このオフセツト除去パルスPSはOR回路3
3を介してインクリメンタルカウンタ34に入力
されている。
たとえば、初期値Vso=Vpoとして、シリンダ
ー装置1の駆動によつて、検出出力Vpがわずか
に上昇したとする。すると、比較回路30がハイ
レベルとなつて、1個の比較パルスPを、インク
リメンタルカウンタ34に向かつて出力する。イ
ンクリメンタルカウンタ34は、仮りにその初期
値を「0」として、1個の比較パルスPが入力さ
れると、そのカウント値が「0」から「1」に更
新される。すると、インクリメンタルカウンタ3
4は、それに対応するカウント値CをD/A変換
器35に向かつて出力する。すると、D/A変換
器35は、そのカウント値Cをデジタル・アナロ
グ変換する。これによつて、D/A変換器35か
ら出力される基準電圧Vsは、Vso+ΔVpになる。
すると、基準電圧Vsよりも検出出力Vpが低くな
るので、比較回路30の比較パルスPは、ローレ
ベルとなる。検出出力Vpは、空気パルスの放出
に伴つて高くなつていくので、その後、検出出力
Vpの大きさが基準電圧Vs=Vso+ΔVpを超え
る。すると、比較回路30の比較パルスPは、ハ
イレベルとなる。この繰り返しによつて、基準電
圧Vsが階段的に上昇する。
ー装置1の駆動によつて、検出出力Vpがわずか
に上昇したとする。すると、比較回路30がハイ
レベルとなつて、1個の比較パルスPを、インク
リメンタルカウンタ34に向かつて出力する。イ
ンクリメンタルカウンタ34は、仮りにその初期
値を「0」として、1個の比較パルスPが入力さ
れると、そのカウント値が「0」から「1」に更
新される。すると、インクリメンタルカウンタ3
4は、それに対応するカウント値CをD/A変換
器35に向かつて出力する。すると、D/A変換
器35は、そのカウント値Cをデジタル・アナロ
グ変換する。これによつて、D/A変換器35か
ら出力される基準電圧Vsは、Vso+ΔVpになる。
すると、基準電圧Vsよりも検出出力Vpが低くな
るので、比較回路30の比較パルスPは、ローレ
ベルとなる。検出出力Vpは、空気パルスの放出
に伴つて高くなつていくので、その後、検出出力
Vpの大きさが基準電圧Vs=Vso+ΔVpを超え
る。すると、比較回路30の比較パルスPは、ハ
イレベルとなる。この繰り返しによつて、基準電
圧Vsが階段的に上昇する。
タイミングパルス発生器31の出力とアドレス
カウンタ32の出力とは、切り換え回路36に入
力されている。切り換え回路36は、概念的に示
されており、スイツチ回路36a,36b,36
cを有している。スイツチ回路36aは可動接点
36d、固定接点36e,36fから構成され、
スイツチ回路36bは可動接点36g、固定接点
36h,36iから構成され、スイツチ回路36
cは可動接点36j、固定接点36k,36lか
ら構成されている。
カウンタ32の出力とは、切り換え回路36に入
力されている。切り換え回路36は、概念的に示
されており、スイツチ回路36a,36b,36
cを有している。スイツチ回路36aは可動接点
36d、固定接点36e,36fから構成され、
スイツチ回路36bは可動接点36g、固定接点
36h,36iから構成され、スイツチ回路36
cは可動接点36j、固定接点36k,36lか
ら構成されている。
この切り換え回路36は、CPU26によつて
制御されるもので、その可動接点36d,36
g,36jは、CPU26が眼圧測定モードにあ
るときには、それぞれ固定接点36f,36h,
36kに接続されている。タイミングパルス発生
器31は、角膜反射光量としての光電出力Vzの
サンブリングを逐次指定する機能を有し、比較回
路30の比較パルスPが1個入力されるたびに、
スイツチ回路36bを介してタイミングパルス
PtをA/D変換器37の制御端子37a、角膜
反射光量変化検出回路29の一部を構成するA/
D変換器38の制御端子38aに向かつて出力す
るものである。このA/D変換器38には光電変
換回路20の光電出力Vzが入力されている。な
お、ここでは、この光電変換回路20は、測定ス
イツチ28をオンすると同時にオンされるもので
ある。
制御されるもので、その可動接点36d,36
g,36jは、CPU26が眼圧測定モードにあ
るときには、それぞれ固定接点36f,36h,
36kに接続されている。タイミングパルス発生
器31は、角膜反射光量としての光電出力Vzの
サンブリングを逐次指定する機能を有し、比較回
路30の比較パルスPが1個入力されるたびに、
スイツチ回路36bを介してタイミングパルス
PtをA/D変換器37の制御端子37a、角膜
反射光量変化検出回路29の一部を構成するA/
D変換器38の制御端子38aに向かつて出力す
るものである。このA/D変換器38には光電変
換回路20の光電出力Vzが入力されている。な
お、ここでは、この光電変換回路20は、測定ス
イツチ28をオンすると同時にオンされるもので
ある。
この光電出力Vzは、角膜2が偏平状態に向か
つて変形を受けるに伴つて角膜からの反射光束は
発散光束から平行光束に近ずくため増大するもの
である。A/D変換器38は、タイミングパルス
Ptに基づいてその光電出力Vzを逐次アナログ・
デジタル変換する機能を有する。そのデジタル信
号としての光電出力値Dzは、メモリー回路39
に入力される。アドレスカウンタ32は、比較回
路30の周辺回路を含めてアドレス生成部を構成
するもので、そのメモリー回路39のアドレスを
指定する機能を有する。そのアドレス指定信号と
しての指定アドレス値Iaは、スイツチ回路36c
を介してメモリー回路39と後述するセルフチエ
ツク回路の比較回路45とに入力されている。こ
のアドレスカウンタ32は、比較パルスPが入力
されるたびに、その内容が逐次更新されるもので
ある。これによつて、メモリー回路39のアドレ
スが、たとえば、「0」,「1」,「2」,……,「N
」
と指定され、その指定されたアドレスに、検出出
力Vpの変化に対応する光量データとしての光電
出力値Dzが順次メモリーされる。このようにし
て、メモリー回路39は、アドレス指定信号に基
づいて、逐次デジタル化された光電出力値をその
指定アドレスにメモリーする。なお、A/D変換
器37もタイミングパルスPtが入力されると、
検出出力Vpをアナログ・デジタル変換し、検出
圧力値Dpとしてスイツチ回路36aに向かつて
出力するが、可動接点36dが固定接点36fに
接続されているので、後述するセルフチエツク回
路の作動は停止されている。
つて変形を受けるに伴つて角膜からの反射光束は
発散光束から平行光束に近ずくため増大するもの
である。A/D変換器38は、タイミングパルス
Ptに基づいてその光電出力Vzを逐次アナログ・
デジタル変換する機能を有する。そのデジタル信
号としての光電出力値Dzは、メモリー回路39
に入力される。アドレスカウンタ32は、比較回
路30の周辺回路を含めてアドレス生成部を構成
するもので、そのメモリー回路39のアドレスを
指定する機能を有する。そのアドレス指定信号と
しての指定アドレス値Iaは、スイツチ回路36c
を介してメモリー回路39と後述するセルフチエ
ツク回路の比較回路45とに入力されている。こ
のアドレスカウンタ32は、比較パルスPが入力
されるたびに、その内容が逐次更新されるもので
ある。これによつて、メモリー回路39のアドレ
スが、たとえば、「0」,「1」,「2」,……,「N
」
と指定され、その指定されたアドレスに、検出出
力Vpの変化に対応する光量データとしての光電
出力値Dzが順次メモリーされる。このようにし
て、メモリー回路39は、アドレス指定信号に基
づいて、逐次デジタル化された光電出力値をその
指定アドレスにメモリーする。なお、A/D変換
器37もタイミングパルスPtが入力されると、
検出出力Vpをアナログ・デジタル変換し、検出
圧力値Dpとしてスイツチ回路36aに向かつて
出力するが、可動接点36dが固定接点36fに
接続されているので、後述するセルフチエツク回
路の作動は停止されている。
メモリー回路39は、このようにして、検出圧
力の変化に対応する検出光量の変化を逐次アドレ
スに記憶する。CPU26は、あらかじめ定めら
れた時間が経過するとソレノイド駆動回路7に向
かつて駆動停止信号を出力する。このソレノイド
駆動回路7の駆動停止と共に、CPU26にメモ
リー回路39に記憶された検出光量のデータが入
力される。CPU26はこの検出光量データと指
定アドレス値Iaに基づいて演算し、第3図に示す
ような圧力−光量関数曲線を求めるものであり、
光量が最大となるときのLmaxから眼圧値を得る
ものである。なお、この第3図において、実線で
示す相関関数曲線Hiは被検眼の眼圧が高い場合
を表しており、破線で示す相関関数曲線Loは被
検眼の眼圧が低い場合を表している。
力の変化に対応する検出光量の変化を逐次アドレ
スに記憶する。CPU26は、あらかじめ定めら
れた時間が経過するとソレノイド駆動回路7に向
かつて駆動停止信号を出力する。このソレノイド
駆動回路7の駆動停止と共に、CPU26にメモ
リー回路39に記憶された検出光量のデータが入
力される。CPU26はこの検出光量データと指
定アドレス値Iaに基づいて演算し、第3図に示す
ような圧力−光量関数曲線を求めるものであり、
光量が最大となるときのLmaxから眼圧値を得る
ものである。なお、この第3図において、実線で
示す相関関数曲線Hiは被検眼の眼圧が高い場合
を表しており、破線で示す相関関数曲線Loは被
検眼の眼圧が低い場合を表している。
次に、セルフチエツク回路について説明する。
第2図において、符号40はセルフチエツク回
路である。このセルフチエツク回路40は、シリ
ンダー装置1の作動検出系41と、アドレス生成
部の作動検出系42とを有している。作動検出系
41は比較回路43と基準値発生回路44とから
構成され、作動検出系42は比較回路45と基準
値発生回路46とから構成されている。比較回路
43の一端子は可動接点36dに接続され、その
他端子は基準値発生回路44に接続されている。
比較回路45の一端子は可動接点36jに接続さ
れ、その他端子は基準値発生回路46に接続され
ている。
路である。このセルフチエツク回路40は、シリ
ンダー装置1の作動検出系41と、アドレス生成
部の作動検出系42とを有している。作動検出系
41は比較回路43と基準値発生回路44とから
構成され、作動検出系42は比較回路45と基準
値発生回路46とから構成されている。比較回路
43の一端子は可動接点36dに接続され、その
他端子は基準値発生回路44に接続されている。
比較回路45の一端子は可動接点36jに接続さ
れ、その他端子は基準値発生回路46に接続され
ている。
CPU26は、パワースイツチ27がオンされ
ると同時に基準値発生回路44,46に基準値設
定信号を出力するものである。と同時に、CPU
26は切り換え回路36に向かつてスイツチ切り
換え信号Scを出力するものである。切り換え回
路36は、このスイツチ切り換え信号Scによつ
てその可動接点36d,36g,36jがそれぞ
れ固定接点36f,36i,36lに接続される
ものである。比較回路43,45は、その可動接
点36d,36jが固定接点36f,36lに接
続されると、CPU26の出力が入力されて、比
較回路43,45はリセツトされるものである。
なお、この比較回路43,45はデジタル的に比
較する機能を有する。
ると同時に基準値発生回路44,46に基準値設
定信号を出力するものである。と同時に、CPU
26は切り換え回路36に向かつてスイツチ切り
換え信号Scを出力するものである。切り換え回
路36は、このスイツチ切り換え信号Scによつ
てその可動接点36d,36g,36jがそれぞ
れ固定接点36f,36i,36lに接続される
ものである。比較回路43,45は、その可動接
点36d,36jが固定接点36f,36lに接
続されると、CPU26の出力が入力されて、比
較回路43,45はリセツトされるものである。
なお、この比較回路43,45はデジタル的に比
較する機能を有する。
CPU26は、この比較回路43,45をリセ
ツトすると同時にアドレスカウンタ32、インク
リメンタルカウンタ34をリセツトするリセツト
信号Rを出力するものである。アドレスカウンタ
32、インクリメンタルカウンタ34のカウント
値は、このリセツト信号によつて「0」となる。
CPU26は、次に、圧力センサー11aの検出
出力Vpと基準電圧Vsとのオフセツトを除去する
ためのオフセツト除去パルスPSをOR回路33を
介してインクリメンタルカウンタ34に向かつて
出力する。これは、シリンダー9内の静的圧力
が、温度、密度の関数であり、常に一定であると
は限らず変化するものであるから、基準圧力値
Vsoと検出出力Vpoとの差を生じ、「ゼロ」点あ
わせを行うためにオフセツト操作が必要となるの
である。
ツトすると同時にアドレスカウンタ32、インク
リメンタルカウンタ34をリセツトするリセツト
信号Rを出力するものである。アドレスカウンタ
32、インクリメンタルカウンタ34のカウント
値は、このリセツト信号によつて「0」となる。
CPU26は、次に、圧力センサー11aの検出
出力Vpと基準電圧Vsとのオフセツトを除去する
ためのオフセツト除去パルスPSをOR回路33を
介してインクリメンタルカウンタ34に向かつて
出力する。これは、シリンダー9内の静的圧力
が、温度、密度の関数であり、常に一定であると
は限らず変化するものであるから、基準圧力値
Vsoと検出出力Vpoとの差を生じ、「ゼロ」点あ
わせを行うためにオフセツト操作が必要となるの
である。
インクリメンタルカウンタ34はそのオフセツ
ト除去パルスPSが入力されると、そのオフセツ
ト除去パルスPSに対応してカウント値CをD/
A変換器35に向かつて出力する。D/A変換器
35はそのカウント値Cをデジタル・アナログ変
換し、基準電圧Vsとして比較回路30に向かつ
て出力する。比較回路30は、基準電圧Vsが検
出出力Vpoよりも大きくなるとローレベルとな
る。この基準電圧Vsが検出出力Vpoよりも大き
くなるまで、CPU26はオフセツト除去パルス
PSをインクリメンタルカウンタ34に向かつて
出力する。インクリメンタルカウンタ34は、こ
のオフセツト除去パルスPSを逐次カウントし、
基準電圧VsをΔVs=ΔVp毎に階段的に上昇させ
る。比較回路30がローレベルになると、その出
力がオフセツト解除信号PoとしてCPU26に入
力され、CPU26はそのオフセツト除去パルス
PSの出力を停止する。
ト除去パルスPSが入力されると、そのオフセツ
ト除去パルスPSに対応してカウント値CをD/
A変換器35に向かつて出力する。D/A変換器
35はそのカウント値Cをデジタル・アナログ変
換し、基準電圧Vsとして比較回路30に向かつ
て出力する。比較回路30は、基準電圧Vsが検
出出力Vpoよりも大きくなるとローレベルとな
る。この基準電圧Vsが検出出力Vpoよりも大き
くなるまで、CPU26はオフセツト除去パルス
PSをインクリメンタルカウンタ34に向かつて
出力する。インクリメンタルカウンタ34は、こ
のオフセツト除去パルスPSを逐次カウントし、
基準電圧VsをΔVs=ΔVp毎に階段的に上昇させ
る。比較回路30がローレベルになると、その出
力がオフセツト解除信号PoとしてCPU26に入
力され、CPU26はそのオフセツト除去パルス
PSの出力を停止する。
CPU26は、オフセツト解除信号が入力され
ると、スイツチ切り換え信号Scを切り換え回路
36に向かつて出力すると共に、ソレノイド駆動
回路7に向かつて駆動信号を出力するものであ
る。これによつて、切り換え回路36は、その可
動接点36d,36g,36jがそれぞれ固定接
点36e,36h,36kに接続されると共に、
シリンダー装置1が駆動される。すると、圧力セ
ンサー11aから出力される検出出力Vpが増大
する。この検出出力Vpは、A/D変換器37に
入力される。A/D変換器37は、タイミングパ
ルスPt毎に検出出力Vpをアナログ・デジタル変
換し、検出圧力値Dpとして比較回路43に出力
する。比較回路43は、基準圧力値Cpとその検
出圧力値Dpとをデジタル的に比較する。この基
準圧力値Cpは、後述する基準アドレス値Iaと一
対一に対応させてあり、シリンダー装置1は、こ
の基準圧力値Dpに従つて作動するように製作さ
れている。比較回路43は、この基準圧力値Cp
とその検出圧力値Dpとが一致しているときに、
ハイレベルとなつて、その出力をAND回路47
に向かつて出力する。シリンダー装置1の作動を
含めてタイミングパルス発生器31、A/D変換
器37のいずれかに故障がある場合には、その検
出圧力値Dpは、基準圧力値Cpに一致しないこと
になるので、これによつて、シリンダー装置1の
作動系統が正常であるか・異常であるかのチエツ
クがされることになる。
ると、スイツチ切り換え信号Scを切り換え回路
36に向かつて出力すると共に、ソレノイド駆動
回路7に向かつて駆動信号を出力するものであ
る。これによつて、切り換え回路36は、その可
動接点36d,36g,36jがそれぞれ固定接
点36e,36h,36kに接続されると共に、
シリンダー装置1が駆動される。すると、圧力セ
ンサー11aから出力される検出出力Vpが増大
する。この検出出力Vpは、A/D変換器37に
入力される。A/D変換器37は、タイミングパ
ルスPt毎に検出出力Vpをアナログ・デジタル変
換し、検出圧力値Dpとして比較回路43に出力
する。比較回路43は、基準圧力値Cpとその検
出圧力値Dpとをデジタル的に比較する。この基
準圧力値Cpは、後述する基準アドレス値Iaと一
対一に対応させてあり、シリンダー装置1は、こ
の基準圧力値Dpに従つて作動するように製作さ
れている。比較回路43は、この基準圧力値Cp
とその検出圧力値Dpとが一致しているときに、
ハイレベルとなつて、その出力をAND回路47
に向かつて出力する。シリンダー装置1の作動を
含めてタイミングパルス発生器31、A/D変換
器37のいずれかに故障がある場合には、その検
出圧力値Dpは、基準圧力値Cpに一致しないこと
になるので、これによつて、シリンダー装置1の
作動系統が正常であるか・異常であるかのチエツ
クがされることになる。
アドレスカウンタ32は、比較回路30の比較
パルスPが入力されるたびに指定アドレス値Iaを
比較回路45に出力する。比較回路45は、基準
アドレス値Caと指定アドレス値Iaとを比較し、
基準アドレス値Caと指定アドレス値Iaとが一致
しているときにハイレベルとなつて、その出力を
AND回路47に向かつて出力する。アドレスカ
ウンタ32、比較回路30、OR回路33、イン
クリメンタルカウンタ34、A/D変換器35の
いずれかに故障があると、アドレスカウンタ32
の指定アドレス値Iaが更新されないかあるいは正
常の指定アドレス値Iaを出力しないことになるた
めに、基準アドレス値Caと指定アドレス値Iaと
が不一致となり、これによつて、アドレス生成部
が正常に作動しているか否かのチエツクがされる
ことになる。
パルスPが入力されるたびに指定アドレス値Iaを
比較回路45に出力する。比較回路45は、基準
アドレス値Caと指定アドレス値Iaとを比較し、
基準アドレス値Caと指定アドレス値Iaとが一致
しているときにハイレベルとなつて、その出力を
AND回路47に向かつて出力する。アドレスカ
ウンタ32、比較回路30、OR回路33、イン
クリメンタルカウンタ34、A/D変換器35の
いずれかに故障があると、アドレスカウンタ32
の指定アドレス値Iaが更新されないかあるいは正
常の指定アドレス値Iaを出力しないことになるた
めに、基準アドレス値Caと指定アドレス値Iaと
が不一致となり、これによつて、アドレス生成部
が正常に作動しているか否かのチエツクがされる
ことになる。
AND回路47は、比較回路43,45の出力
が、双方ともハイレベルのときに、シリンダー装
置1の作動とアドレス生成部の作動が正常である
として、CPU26に向かつて判定信号を出力す
る。CPU26はAND回路47からの判定信号を
受けるとその内部のROM(図示せず)から基準
値発生回路44,46に次ステツプの基準電圧
Vsに対応した基準圧力値Cpと基準アドレス値Ca
を入力し、新たな基準値に設定しなおす。そして
この入力新たな基準電圧値Vs、基準圧力値Cp及
び基準アドレス値Caとでセルフチエツクを実行
し作動が正常な場合はAND回路47は再度判定
信号をCPU26に出力する。
が、双方ともハイレベルのときに、シリンダー装
置1の作動とアドレス生成部の作動が正常である
として、CPU26に向かつて判定信号を出力す
る。CPU26はAND回路47からの判定信号を
受けるとその内部のROM(図示せず)から基準
値発生回路44,46に次ステツプの基準電圧
Vsに対応した基準圧力値Cpと基準アドレス値Ca
を入力し、新たな基準値に設定しなおす。そして
この入力新たな基準電圧値Vs、基準圧力値Cp及
び基準アドレス値Caとでセルフチエツクを実行
し作動が正常な場合はAND回路47は再度判定
信号をCPU26に出力する。
CPU26は、この基準値Cp,Caの書換えを予
め定めたステツプを数分実行し、その全ステツプ
についてAND回路47から判定信号が得られた
とき作動が正常と判定し、CPU26はそのAND
回路47の全ステツプ判定信号に基づいて、たと
えば、表示器48に「SELF CHECK OK」を表
示させる信号を出力し、眼圧測定モードに移行す
るものである。CPU26は、AND回路47から
判定信号が1ステツプでも出力されないときは、
眼圧測定モードへの移行を中止して、「作動不良
(測定不能);サービスセンターに御連絡下さい。」
との表示を表示器48に行わせる信号を表示器4
8に出力する。
め定めたステツプを数分実行し、その全ステツプ
についてAND回路47から判定信号が得られた
とき作動が正常と判定し、CPU26はそのAND
回路47の全ステツプ判定信号に基づいて、たと
えば、表示器48に「SELF CHECK OK」を表
示させる信号を出力し、眼圧測定モードに移行す
るものである。CPU26は、AND回路47から
判定信号が1ステツプでも出力されないときは、
眼圧測定モードへの移行を中止して、「作動不良
(測定不能);サービスセンターに御連絡下さい。」
との表示を表示器48に行わせる信号を表示器4
8に出力する。
(発明の効果)
本発明に係わる非接触式眼圧計は、以上説明し
たように構成したので、眼圧測定に直接関係する
電気回路としての流体圧変化検出回路の作動それ
自体が正常であるか否かをセルフチエツクするこ
とができる。
たように構成したので、眼圧測定に直接関係する
電気回路としての流体圧変化検出回路の作動それ
自体が正常であるか否かをセルフチエツクするこ
とができる。
第1図は本発明に係る眼圧測定器械としての非
接触式眼圧計の概略構成図、第2図はその非接触
式眼圧計の眼圧値換算回路の要部回路図、第3図
はその眼圧測定の説明に使用する検出出力と検出
光量との相関関係を示す図である。 1……シリンダー装置、2……角膜、3……射
出光学系、4……検出光学系、11a……圧力セ
ンサー、23……流体圧変化検出回路、26……
CPU、27……パワースイツチ、28……測定
スイツチ、29……角膜反射光量変化検出回路、
30……比較回路、31……タイミングパルス発
生器、32……アドレスカウンタ、34……イン
クリメンタルカウンタ、35……D/A変換器、
36……切り換え回路、37……A/D変換器、
40……セルフチエツク回路、41,42……作
動チエツク系、47……AND回路。
接触式眼圧計の概略構成図、第2図はその非接触
式眼圧計の眼圧値換算回路の要部回路図、第3図
はその眼圧測定の説明に使用する検出出力と検出
光量との相関関係を示す図である。 1……シリンダー装置、2……角膜、3……射
出光学系、4……検出光学系、11a……圧力セ
ンサー、23……流体圧変化検出回路、26……
CPU、27……パワースイツチ、28……測定
スイツチ、29……角膜反射光量変化検出回路、
30……比較回路、31……タイミングパルス発
生器、32……アドレスカウンタ、34……イン
クリメンタルカウンタ、35……D/A変換器、
36……切り換え回路、37……A/D変換器、
40……セルフチエツク回路、41,42……作
動チエツク系、47……AND回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検眼の角膜に向かつて流体を放出するため
の流体放出手段と、前記流体の圧力を検出するた
めの圧力センサーと、前記圧力センサーからの信
号により前記角膜を変形させながら流体の圧力の
変化を検出するための流体圧変化検出回路と、被
検眼角膜の変形を検出するための角膜変形検出手
段とを有し、前記流体圧変化検出回路からの信号
と前記角膜変形検出手段からの信号とにより被検
眼の眼圧値を測定する非接触式眼圧計において、 前記流体放出手段を駆動させることにより得ら
れる前記圧力センサーからの信号に基づき前記流
体放出手段の作動を含めて前記流体圧変化検出回
路の作動を自動的にチエツクするセルフチエツク
回路が設けられていることを特徴とする非接触式
眼圧計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263410A JPS62122630A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 非接触式眼圧計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263410A JPS62122630A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 非接触式眼圧計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7096502A Division JPH07289523A (ja) | 1995-04-21 | 1995-04-21 | 非接触式眼圧計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62122630A JPS62122630A (ja) | 1987-06-03 |
| JPH0586216B2 true JPH0586216B2 (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=17389109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60263410A Granted JPS62122630A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 非接触式眼圧計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62122630A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06105958B2 (ja) * | 1987-01-09 | 1994-12-21 | 富士写真フイルム株式会社 | 水平偏向系の直線性補正回路 |
| JP2620774B2 (ja) * | 1987-02-07 | 1997-06-18 | キヤノン株式会社 | 非接触眼圧計 |
| JP2845241B2 (ja) * | 1987-08-12 | 1999-01-13 | 株式会社トプコン | エアパフ型眼圧計 |
| JPH0277230A (ja) * | 1988-09-13 | 1990-03-16 | Canon Inc | 非接触眼圧計 |
| JPH0826697A (ja) * | 1994-07-19 | 1996-01-30 | Meikikou:Kk | 油圧式テーブルリフト装置と該装置におけるテーブル昇降速度の制御方法 |
| JP7858362B2 (ja) * | 2022-03-29 | 2026-05-14 | 株式会社トプコン | 眼科装置及び非接触式センサ動作確認方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822028A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-09 | アラン・エル・ブレント | 内部頚動脈閉塞症診断装置 |
| JPS59143402U (ja) * | 1983-03-15 | 1984-09-26 | キヤノン株式会社 | 眼圧測定装置 |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP60263410A patent/JPS62122630A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62122630A (ja) | 1987-06-03 |
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