JPH0587562U - ラマン分析装置 - Google Patents

ラマン分析装置

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JPH0587562U
JPH0587562U JP3434792U JP3434792U JPH0587562U JP H0587562 U JPH0587562 U JP H0587562U JP 3434792 U JP3434792 U JP 3434792U JP 3434792 U JP3434792 U JP 3434792U JP H0587562 U JPH0587562 U JP H0587562U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料から蛍光が発生するか否かに関係なくラ
マン測定できること。 【構成】 連続発振するYAGの出射側にSHGを移動
可能に配置し、SHGの有無により可視領域と近赤外領
域の2種類のレーザーを出射するレーザー発生装置1の
出射側に、試料2を装着可能な試料室3を配置し、その
試料室の出口側に、分光器4と検出器5からなる第1の
測定系6と、干渉計7と検出器8からなる第2の測定系
9とを備え、さらに試料室の出力側に光路切り替え手段
10を配置し、試料室から出射される光の光路を切り替
え、第1または第2の測定系のいずれか一方に入射させ
るようにしている。試料室には、その入り口側にレーザ
ーを平行光束にする石英レンズ11が配置され、また、
出口側には、アクロマティックレンズ12が配設され、
レーザーの照射にともない試料2から励起されたラマン
散乱光を収束させ各測定系に入射させるようになってい
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、ラマン分析装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のラマン分析装置は、試料にレーザーを照射させてその試料を励起させ、 それにより生じた散乱光を集光光学系を介して分光器に入射させ、そこにおいて スペクトルに分解し、そのスペクトルを分光器の出射口に設けた検出器で検出、 計測するようになっている。そして、上記レーザーとしては、連続発振の気体レ ーザー(一般的にはAr+ レーザー)が用いられており、発振波長としては、4 88.0nmと、514.5nmがよく使用されている。
【0003】 係る構成のラマン分析装置は、専ら可視領域での測定に用いられ、高感度で極 低波数測定が可能という特徴を有し、一般に分散タイプのラマン分析装置と称さ れている。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
ところで、上記した従来の分散タイプのラマン分析装置では、蛍光のでる試料 では測定が困難となる。そこで照射するレーザーの種類を替えて近赤外領域での 測定を行い、発生する散乱光を干渉計を通して検出器に送り、そこにおいてフー リエ変換(FT)を行うことにより、蛍光の影響を抑え、係る試料でも測定可能 としたものがあり、FTタイプのラマン分析装置と称されている。しかし、この FTタイプのラマン分析装置は、低感度であるため、測定不可となったり、また FTを行うことも相俟って測定に非常に時間がかかってしまうという問題を有す る。 このように、上記した各ラマン分析装置は、いずれも一長一短があり、測 定対象にある一定の制限がある。さらに、例えば分散タイプのラマン分析装置を 用いて測定を行ったところ蛍光が発生して測定不可となった場合には、その試料 を取り外してFTタイプのラマン分析装置に設置しなおして、再度測定を行うこ とになり、その試料の付け替え作業が煩雑となるばかりでなく、試料に対するレ ーザーの照射位置の同一性を保つことができなくなる。
【0005】 本考案は、上記した背景に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、 試料から蛍光が発生するか否かに関係なく測定することのできるラマン分析装置 を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記した目的を達成するために、本考案に係るラマン分析装置では、試料を設 置可能な試料室と、その試料室に波長の異なる複数種のレーザーを入射させるこ とのできるレーザー発生装置と、前記レーザーを受けた前記試料から励起される 散乱光を集光する手段と、その集光する手段の後段に配置された、分光器と検出 器とからなる第1の測定系、並びに干渉計と検出器とからなる第2の測定系と、 前記散乱光を前記第1または第2の測定系に供給するための光路切り替え手段と を備えた。
【0007】
【作用】
まず、高感度の測定ができる第1の測定系用のレーザーをレーザー発生装置か ら出射させ、試料室内に設置した試料に照射させる。すると、試料から散乱光が 発生するが、その散乱光は、集光系にて収束された後第1の測定系に送られ、分 散タイプの測定が行われる。この時、試料から蛍光が発生すると第1の測定系で は測定が困難であるため、第2の測定系用のレーザーをレーザー発生装置から出 射させるとともに、光路切り替え手段を動作させて試料から発生する散乱光を第 2の測定系に送り、フーリエ変換を行い測定する。
【0008】
【実施例】
以下、本考案に係るラマン分析装置について添付図面を参照にして詳述する。 図1は、本考案に係るラマン分析装置の第1実施例を示している。同図に示すよ うに、所定のレーザーを出射するレーザー発生装置1の出射側に、試料2を装着 可能な試料室3を配置し、その試料室3の出口側に、分光器4と検出器5からな る第1の測定系6と、干渉計7と検出器8からなる第2の測定系9とを備え、さ らに試料室3の出力側に光路切り替え手段10を配置し、試料室3から出射され る光の光路を切り替え、上記第1の測定系6または第2の測定系9のいずれか一 方に入射するようにしている。そして、上記干渉計7は、分光器4に比較して非 常に小さいため、分散タイプのラマン分析装置単独の装置にくらべ、さほど大型 化しない。
【0009】 また、試料室3は、その入り口側には、照射光学系,より具体的には石英レン ズ11が配置され、試料室3内に入射してきたレーザーを平行光束にして試料2 の所定位置に照射できるようになっている。また、試料室3の出口側には、ラマ ン光集光光学系であるアクロマティックレンズ12が配設され、レーザーの照射 にともない試料2から励起されたラマン散乱光を収束させ各測定系6,9に入射 させるようになっている。なお、アクロマティックレンズ12とは、屈折率の異 なる材料よりなる正負2種類のレンズを近接あるいは接着させることにより、色 収差をなくしたレンズである。そして、本例では、二つの領域の測定が行えるよ うに、近赤外領域から可視領域にわたる広い波長範囲で色収差が内容に設計・作 成されたものを用いる必要がある。
【0010】 また、上記したレーザー発生装置1は、本例では1つの光源(発振源)に基づ いて可視領域と近赤外領域の2種類のレーザーを出射することのできる装置を用 いており、具体的には、図2に示すように、連続発振するYAG(1064nm )1aの出射側にSHG(第2高調波発生器)1bを移動可能に配置している。 これにより、YAG1aを振動させ出射したYAGレーザーの光路上にSHGを 配置すると、最終的にレーザー発生装置1から出射されるレーザーの波長は半分 の530nmとなって可視領域測定用となり(同図(A))、また、SHG1b を図示省略の駆動手段を用いて移動させて上記光路から外すと、YAG本来の1 064nmという近赤外領域測定用のレーザーが出射されることになる(同図( B))。
【0011】 なお、図示省略するが、例えばAr+ レーザーを基調としてそのレーザーをそ のまま出力することにより可視領域での測定を行うようにし、そのAr+ レーザ ーにTiサファイアレーザーで励起することにより、近赤外領域の波長のレーザ ーを出射させるようにしてもよい。そして、上記SHG並びにそれを移動させる 手段やTiサファイアレーザーが波長変換手段を構成することになる。
【0012】 さらに、光路切り替え手段10としては、例えば平面鏡を用い、その平面鏡を 移動可能に配置することにより構成することができる。なお、第1の測定系6を 構成する分光器4並びに検出器5は、従来の分散タイプのラマン分析装置に用い られたものと基本的に同様のものを用いることができ、分光器4としては、例え ば焦点距離575mmのトリプル分光器が用いられ、また、検出器5としては例 えば、光電子増幅管(PM)やマルチチャンネル検出器(MCD)が用いられる 。一方、第2の測定系9を構成する干渉計7並びに検出器8は、従来のFTタイ プのラマン分析装置に用いられたものと基本的に同様のものを用いることができ 、例えば、干渉計7としては例えばマイケルソン干渉計を用いることができ、ま た、検出器8としては、例えばInGaAs(冷却タイプ)を用いることができ る。
【0013】 そして、両検出器5,8の出力がコントローラ20を介してパソコン21に入 力され、所定の処理をされた後、その測定(分析)結果が、CRT22或いはX −Yプロッタ23に出力されるようになっている。
【0014】 次ぎに、上記した実施例の作用について説明すると、まず、試料2を試料室3 内の所定位置にセットした後、高感度の可視領域での測定を行う。すなわち、レ ーザー発生装置1から、SHG1bを通して530nmの可視領域のレーザーを 出射し、それを試料室3の石英レンズ11を通過させて平行光束として試料2に 照射させる。そして、試料2から発生する散乱光をアクロマティックレンズ12 を介して集光させて、第1の測定系6である分光器4に入射させ、検出器5で分 散タイプの測定を行う。
【0015】 一方上記測定を行ったところ、仮に試料2から蛍光が発生したとすると、その 検出器6で測定することができない。したがって、係る場合には、図示省略する スイッチを切り替え、レーザー発生装置1からは、SHG1bを移動させて近赤 外領域のレーザーを出射させ、また光路切り替え手段10を切り替えて、試料室 3から出射する光を第2の測定系9の干渉計7に入射させ、検出器8にてFTタ イプの測定を行う。
【0016】 このように1台の分析装置でもってワンタッチ切り替えという簡単な操作で、 蛍光のでない試料に対して第1の測定系6を用いて高精度の測定を行え、また、 蛍光のでる試料に対しても第2の測定系9を用いて確実に測定を行える。しかも 、上記の切り替えを行う際に、試料2は、試料室3内に設置したまま移動しない ため、切り替え後の試料2への照射位置は、切り替え前のそれと同じ、すなわち 、両レーザーを同一位置に照射することができる。
【0017】 また、本例では、上記切り替えを、試料から蛍光が発生して第1の測定系6で は測定できないと人間が判断した時に手動により行うようにしたが、第1の測定 系6の出力或いは、試料2から発生している蛍光の強度等を測定することにより 、自動的に切り替えるようにしてもよい。
【0018】 なお、本考案は、上記した実施例に限られるものではなく、例えば図3に示す ように、試料2から励起された散乱光を収束するための集光光学系を、可視領域 用のカメラ交換レンズ12a、近赤外領域用のアクロマティックレンズ12bに 分離配置し、上記光光路切り替え手段10′をその集光光学系と試料2との間に 配置するようにしてもよい。そして、この場合には、アクロマティックレンズ1 2bは、近赤外領域の比較的狭い波長範囲で色収差がないように設計・作成すれ ばよいため、上記した実施例のものに比し、製造が容易となる。
【0019】 さらにまた、図示省略するが、レーザー発生装置としては、例えばAr+ レー ザーやHe−Neレーザーのような可視領域用のレーザーと、YAGレーザーや Kr+ レーザーのような近赤外領域用のレーザーとを併設し、必要に応じて一方 のレーザーを出力するようにしてもよい。
【0020】
【考案の効果】
以上のように、本考案に係るラマン分析装置では、1台の装置でもって適宜切 り替え操作を行うことにより、可視領域のレーザーを用いて高精度の分散タイプ のラマン分析を行うことができ、また、蛍光のでる試料に対しては出射するレー ザーを近赤外領域のものにして、FTタイプのラマン分析を行うことができる。 その結果蛍光の有無に関係なくラマン分析を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るラマン分析装置の好適な一実施例
を示すブロック図である。
【図2】レーザー発生装置の一例を示す図である。
【図3】本考案に係る他の例を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザー発生装置 2 試料 3 試料室 4 分光器 5 検出器 6 第1の測定系 7 干渉計 8 検出器 9 第2の測定系 10 光路切り替え手段

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を設置可能な試料室と、 その試料室に波長の異なる複数種のレーザーを入射させ
    ることのできるレーザー発生装置と、 前記レーザーを受けた前記試料から励起される散乱光を
    集光する手段と、 その集光する手段の後段に配置された、分光器と検出器
    とからなる第1の測定系、並びに干渉計と検出器とから
    なる第2の測定系と、 前記散乱光を前記第1または第2の測定系に供給するた
    めの光路切り替え手段とを備えたラマン分析装置。
  2. 【請求項2】 前記レーザー発生装置が、単一の発振源
    と、波長変換手段とを備えたことを特徴とする請求項1
    に記載のラマン分析装置。
  3. 【請求項3】 前記集光する手段が、アクロマティック
    レンズ等の可視領域から近赤外領域の光を集光すること
    のできるレンズからなることを特徴とする請求項1また
    は2に記載のラマン分析装置。
JP1992034347U 1992-04-27 1992-04-27 ラマン分析装置 Expired - Lifetime JP2576842Y2 (ja)

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JPH0587562U true JPH0587562U (ja) 1993-11-26
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116593388A (zh) * 2022-02-04 2023-08-15 株式会社岛津制作所 红外拉曼显微镜

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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