JPH0588159A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH0588159A JPH0588159A JP24971191A JP24971191A JPH0588159A JP H0588159 A JPH0588159 A JP H0588159A JP 24971191 A JP24971191 A JP 24971191A JP 24971191 A JP24971191 A JP 24971191A JP H0588159 A JPH0588159 A JP H0588159A
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- film
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- drain
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 大画面になっても本装置の特性や歩留まりを
損なうことなくラビング性を向上させることを目的とす
る。 【構成】 ソース電極(21)と表示電極(16)が重
畳する領域を除いて、表示電極(16)全面に有機膜
(17)を設ける。図1の破線に示すように設け、表示
電極(16)の表面を突出させるので、ソース電極と表
示電極(16)の段差を低くすることができる。
損なうことなくラビング性を向上させることを目的とす
る。 【構成】 ソース電極(21)と表示電極(16)が重
畳する領域を除いて、表示電極(16)全面に有機膜
(17)を設ける。図1の破線に示すように設け、表示
電極(16)の表面を突出させるので、ソース電極と表
示電極(16)の段差を低くすることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置に関し、
特に層間ショートによる歩留り低下を防止するとともに
ラビング性を向上させた液晶表示装置に関するものであ
る。
特に層間ショートによる歩留り低下を防止するとともに
ラビング性を向上させた液晶表示装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、液晶表示装置は、カラーTVを
中心に開発や量産化が活発に進められている。これらの
技術動向を詳細に説明したものとして、日経BP社が発
行した「フラットパネル・ディスプレイ 1991」が
ある。この中には、色々な構造の液晶表示装置が開示さ
れているが、ここではTFTを利用したアクティブ・マ
トリックス液晶表示装置で以下に説明をしてゆく。
中心に開発や量産化が活発に進められている。これらの
技術動向を詳細に説明したものとして、日経BP社が発
行した「フラットパネル・ディスプレイ 1991」が
ある。この中には、色々な構造の液晶表示装置が開示さ
れているが、ここではTFTを利用したアクティブ・マ
トリックス液晶表示装置で以下に説明をしてゆく。
【0003】このアクティブ・マトリックス液晶表示装
置は、例えば図4の如き構成を有する。先ず透明な絶縁
性基板、例えばガラス基板(51)がある。このガラス
基板(51)上には、TFTの一構成要素となるゲート
(52)および図面では省略した補助容量電極が、例え
ばTa単独、Mo−Ta合金等より形成されている。更
に全面にはSiNxから成る膜(53)を積層する。続
いて前記ゲート(52)に対応するSiNx膜(53)
上には、アモルファス・シリコン膜(54)およびN+
型のアモルファス・シリコン膜(55)が積層され、こ
の2層のアモルファス・シリコン膜(54),(55)
の間には、半導体保護膜(56)が設けられている。続
いてN+型のアモルファス・シリコン膜(55)上に
は、それぞれソース電極(57)およびドレイン電極
(58)が、例えばMoとAlの積層体で設けられてい
る。更には前記補助容量電極に対応する前記SiNx膜
(53)上に、例えばITOより成る表示電極(59)
が設けられ、前記ソース電極(57)と電気的に接続さ
れている。
置は、例えば図4の如き構成を有する。先ず透明な絶縁
性基板、例えばガラス基板(51)がある。このガラス
基板(51)上には、TFTの一構成要素となるゲート
(52)および図面では省略した補助容量電極が、例え
ばTa単独、Mo−Ta合金等より形成されている。更
に全面にはSiNxから成る膜(53)を積層する。続
いて前記ゲート(52)に対応するSiNx膜(53)
上には、アモルファス・シリコン膜(54)およびN+
型のアモルファス・シリコン膜(55)が積層され、こ
の2層のアモルファス・シリコン膜(54),(55)
の間には、半導体保護膜(56)が設けられている。続
いてN+型のアモルファス・シリコン膜(55)上に
は、それぞれソース電極(57)およびドレイン電極
(58)が、例えばMoとAlの積層体で設けられてい
る。更には前記補助容量電極に対応する前記SiNx膜
(53)上に、例えばITOより成る表示電極(59)
が設けられ、前記ソース電極(57)と電気的に接続さ
れている。
【0004】一方、図示していないが、前記ガラス基板
(51)と対向して、ガラス基板が設けられ、このガラ
ス基板上に対向電極が設けられている。更に、この一対
のガラス基板間に液晶が注入され、液晶表示装置と成
る。
(51)と対向して、ガラス基板が設けられ、このガラ
ス基板上に対向電極が設けられている。更に、この一対
のガラス基板間に液晶が注入され、液晶表示装置と成
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上の構成に於いて、
前記SiNx膜(53)にピンホールが発生し、このピ
ンホールを介して層間ショートが多発するために、数々
の対策が施されている。例えば、ゲート絶縁膜を2層と
したり、ゲート電極を陽極酸化して防止していたが、ゲ
ート上の酸化膜を2度の工程により2層形成すると、T
FTの特性、信頼性が低下し、膜の種類によっては熱応
力等により膜剥がれや断線等を生じる問題があった。
前記SiNx膜(53)にピンホールが発生し、このピ
ンホールを介して層間ショートが多発するために、数々
の対策が施されている。例えば、ゲート絶縁膜を2層と
したり、ゲート電極を陽極酸化して防止していたが、ゲ
ート上の酸化膜を2度の工程により2層形成すると、T
FTの特性、信頼性が低下し、膜の種類によっては熱応
力等により膜剥がれや断線等を生じる問題があった。
【0006】一方、ドレイン電極やソース電極の膜厚
は、例えば約8000Åあり、図4に示す記号Aの所は
前記膜厚になる。しかし、液晶表示装置が大画面になる
につれて、表示電極の面積は制約され、表示電極上の配
向膜は、この膜厚による段差によって均一にラビングで
きない問題が生じてきた。この問題を解決するには、段
差を少なく設定すればよいが、大画面であるためにドレ
インラインの長さは増大し、段差を小さくするために膜
厚を薄くすると抵抗値が上昇してしまう問題があった。
は、例えば約8000Åあり、図4に示す記号Aの所は
前記膜厚になる。しかし、液晶表示装置が大画面になる
につれて、表示電極の面積は制約され、表示電極上の配
向膜は、この膜厚による段差によって均一にラビングで
きない問題が生じてきた。この問題を解決するには、段
差を少なく設定すればよいが、大画面であるためにドレ
インラインの長さは増大し、段差を小さくするために膜
厚を薄くすると抵抗値が上昇してしまう問題があった。
【0007】本願は、TFTの特性や信頼性を維持しな
がら層間ショート防止し、しかもラビング性を向上させ
るものである。
がら層間ショート防止し、しかもラビング性を向上させ
るものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述の課題に
鑑みて成され、前記トランジスタのソース電極(21)
と重畳する領域を除いた表示電極(16)領域に、実質
的に表示電極全表面を突出させる透明な膜(17)を設
けることで解決するものである。
鑑みて成され、前記トランジスタのソース電極(21)
と重畳する領域を除いた表示電極(16)領域に、実質
的に表示電極全表面を突出させる透明な膜(17)を設
けることで解決するものである。
【0009】
【作用】透明な膜として、例えば有機膜(17)は、S
iNxやSiO2と異なり、膜が軟らかいので前記応力を
吸収でき、また形成方法によっては、有機膜の硬化前の
粘性のある状態で絶縁層(15)上に形成できるのでこ
の膜に生じるピンホールを効果的に塞ぐことができる。
従ってゲート絶縁膜を2層としなくても表示電極の層間
ショートは防止できる。またゲートライン(12)、補
助容量ライン(14)と上層のライン(22)が交差す
る部分はTFTの構成材料が形成されているので、ゲー
ト絶縁層(15)を2層とすることなく層間ショートを
防止できる。従って2層目のゲート絶縁膜形成工程によ
りTFT特性を損なわずに形成できる。
iNxやSiO2と異なり、膜が軟らかいので前記応力を
吸収でき、また形成方法によっては、有機膜の硬化前の
粘性のある状態で絶縁層(15)上に形成できるのでこ
の膜に生じるピンホールを効果的に塞ぐことができる。
従ってゲート絶縁膜を2層としなくても表示電極の層間
ショートは防止できる。またゲートライン(12)、補
助容量ライン(14)と上層のライン(22)が交差す
る部分はTFTの構成材料が形成されているので、ゲー
ト絶縁層(15)を2層とすることなく層間ショートを
防止できる。従って2層目のゲート絶縁膜形成工程によ
りTFT特性を損なわずに形成できる。
【0010】一方、この透明な膜(17)、例えば有機
膜は(17)は、表示電極(16)とソース電極(2
1)が重畳ししない領域に設けられるので、この有機膜
の膜厚分だけ表示電極は上に突出できラビング性を向上
させることができる。従って、TFTの特性や信頼性を
維持しながら層間ショート防止し、しかもラビング性を
向上させることが可能となる。
膜は(17)は、表示電極(16)とソース電極(2
1)が重畳ししない領域に設けられるので、この有機膜
の膜厚分だけ表示電極は上に突出できラビング性を向上
させることができる。従って、TFTの特性や信頼性を
維持しながら層間ショート防止し、しかもラビング性を
向上させることが可能となる。
【0011】
【実施例】以下に本発明の構成を図1および図2を参照
しながら説明する。まず、透明な絶縁性基板(10)上
に形成されたゲート(11)およびこのゲート(11)
と一体で形成された複数本のゲートライン(12)と、
このゲートライン(12)と離間して形成された補助容
量電極(13)およびこの補助容量電極(13)と一体
で形成された補助容量ライン(14)と、実質的に前記
絶縁性基板(10)の全面に形成された絶縁層(15)
がある。
しながら説明する。まず、透明な絶縁性基板(10)上
に形成されたゲート(11)およびこのゲート(11)
と一体で形成された複数本のゲートライン(12)と、
このゲートライン(12)と離間して形成された補助容
量電極(13)およびこの補助容量電極(13)と一体
で形成された補助容量ライン(14)と、実質的に前記
絶縁性基板(10)の全面に形成された絶縁層(15)
がある。
【0012】透明な絶縁性基板(10)は、例えばガラ
スより成る。このガラス基板(10)上には、一点鎖線
で示されたゲート(11)、このゲート(11)と一体
のゲートライン(12)が形成されている。更に一点鎖
線で示された補助容量電極(13)およびこの電極(1
3)と一体で成る補助容量ライン(14)が設けられ、
後述する表示電極領域の下層に重畳して形成され、更に
は隣接する補助容量電極とを接続するために、補助容量
ライン(14)が設けられている。また両者は、例えば
約1500ÅのCrより成っているが、Ta,TaMo
およびCr−Cu(Feが微量入ったもの)等でも良
い。特に層間ショートを防止するためにAl、Ta等を
主材料とするゲート(11)、ゲートライン(12)お
よび補助容量ライン(14)の表面には、少なくとも交
差部に陽極酸化等の処理を施してもよい。ゲート端子お
よび補助容量端子は、例えばITO等より成りガラス基
板(10)の周辺に設けられ、最終構造として考える
と、これらは夫々電気的に接続されている。またゲート
(11)、ゲートライン(12)、補助容量電極(1
3)および補助容量ライン(14)を覆うゲート絶縁膜
(15)がある。この膜は、プラズマCVD法で形成さ
れた約4000ÅのSiNX膜である。ここでは、Si
NX膜の代りにSiO2膜を使用しても良い。
スより成る。このガラス基板(10)上には、一点鎖線
で示されたゲート(11)、このゲート(11)と一体
のゲートライン(12)が形成されている。更に一点鎖
線で示された補助容量電極(13)およびこの電極(1
3)と一体で成る補助容量ライン(14)が設けられ、
後述する表示電極領域の下層に重畳して形成され、更に
は隣接する補助容量電極とを接続するために、補助容量
ライン(14)が設けられている。また両者は、例えば
約1500ÅのCrより成っているが、Ta,TaMo
およびCr−Cu(Feが微量入ったもの)等でも良
い。特に層間ショートを防止するためにAl、Ta等を
主材料とするゲート(11)、ゲートライン(12)お
よび補助容量ライン(14)の表面には、少なくとも交
差部に陽極酸化等の処理を施してもよい。ゲート端子お
よび補助容量端子は、例えばITO等より成りガラス基
板(10)の周辺に設けられ、最終構造として考える
と、これらは夫々電気的に接続されている。またゲート
(11)、ゲートライン(12)、補助容量電極(1
3)および補助容量ライン(14)を覆うゲート絶縁膜
(15)がある。この膜は、プラズマCVD法で形成さ
れた約4000ÅのSiNX膜である。ここでは、Si
NX膜の代りにSiO2膜を使用しても良い。
【0013】次に、表示電極(16)領域上には、有機
膜(17)とITOより成る表示電極(16)が設けら
れ、ゲート(11)を一構成とするTFTの活性領域
に、順次積層されたノンドープの第1の非単結晶シリコ
ン層(18)、半導体保護膜(19)、およびN+型に
ドープされた第2の非単結晶シリコン層(20)と、こ
のソース領域に対応する第2の非単結晶シリコン膜(2
0)から表示電極(16)に延在されたソース電極(2
1)と、前記ドレイン領域に対応する第2の非単結晶シ
リコン膜(20)から延在されドレインライン(22)
と一体で形成されるドレイン電極(23)がある。
膜(17)とITOより成る表示電極(16)が設けら
れ、ゲート(11)を一構成とするTFTの活性領域
に、順次積層されたノンドープの第1の非単結晶シリコ
ン層(18)、半導体保護膜(19)、およびN+型に
ドープされた第2の非単結晶シリコン層(20)と、こ
のソース領域に対応する第2の非単結晶シリコン膜(2
0)から表示電極(16)に延在されたソース電極(2
1)と、前記ドレイン領域に対応する第2の非単結晶シ
リコン膜(20)から延在されドレインライン(22)
と一体で形成されるドレイン電極(23)がある。
【0014】TFTに対応するゲート絶縁膜(15)上
には、破線で示した約1000Åのアモルファス・シリ
コン活性層(a−Si層)(18)および約500Åの
アモルファス・シリコンコンタクト層(N+a−Si
層)(20)が積層され、チャンネルに対応するa−S
i層(18)とN+a−Si層(20)との間には、約
2500ÅのSiNXより成る半導体保護膜(19)が
実線に示されるように設けられている。ドレイン電極
(23)は、ドレインラインと一体で、ソース電極(2
1)は表示電極(16)と一部が重畳し、両者とも同一
材料で実線のように形成されている。ここでは例えば、
約1000ÅのMo,約7000ÅのAlが積層されて
いる。
には、破線で示した約1000Åのアモルファス・シリ
コン活性層(a−Si層)(18)および約500Åの
アモルファス・シリコンコンタクト層(N+a−Si
層)(20)が積層され、チャンネルに対応するa−S
i層(18)とN+a−Si層(20)との間には、約
2500ÅのSiNXより成る半導体保護膜(19)が
実線に示されるように設けられている。ドレイン電極
(23)は、ドレインラインと一体で、ソース電極(2
1)は表示電極(16)と一部が重畳し、両者とも同一
材料で実線のように形成されている。ここでは例えば、
約1000ÅのMo,約7000ÅのAlが積層されて
いる。
【0015】ここで有機膜(17)は、図3のように表
示電極(16)と一致して設けても層間ショートは防止
できる。しかし記号A′で示される厚さは約8000Å
となりラビング性は従来のものと同じとなってしまう。
本発明は、ソース電極(21)と表示電極(16)が重
畳する領域には、本願の特徴となる有機膜(17)を設
けず、図1の破線で囲まれたハッチング領域に示すよう
に設けることに特徴を有する。表示電極(16)と重畳
するソース電極(21)の周辺の有機膜(17)は、マ
スクずれにより有機膜(17)とソース電極の位置が一
致しないように、若干内側にずらしてある。
示電極(16)と一致して設けても層間ショートは防止
できる。しかし記号A′で示される厚さは約8000Å
となりラビング性は従来のものと同じとなってしまう。
本発明は、ソース電極(21)と表示電極(16)が重
畳する領域には、本願の特徴となる有機膜(17)を設
けず、図1の破線で囲まれたハッチング領域に示すよう
に設けることに特徴を有する。表示電極(16)と重畳
するソース電極(21)の周辺の有機膜(17)は、マ
スクずれにより有機膜(17)とソース電極の位置が一
致しないように、若干内側にずらしてある。
【0016】また有機膜(17)は、アクリル系の材質
によりなり、エチルセルソルブアセテートの有機溶剤に
より所定の粘度に設定され、スピンコートで被覆され
る。約200°Cで硬化後、レジストを塗布してパター
ニングし、O2のプラズマエッチングにより表示電極領
域のみにこの有機膜(17)を形成している。膜厚は、
約500Åから約2000Åの間で選定され、もちろん
透明な膜である。
によりなり、エチルセルソルブアセテートの有機溶剤に
より所定の粘度に設定され、スピンコートで被覆され
る。約200°Cで硬化後、レジストを塗布してパター
ニングし、O2のプラズマエッチングにより表示電極領
域のみにこの有機膜(17)を形成している。膜厚は、
約500Åから約2000Åの間で選定され、もちろん
透明な膜である。
【0017】本発明の第1の特徴は、有機膜(17)が
所定の粘度でスピンコートされるために、表示電極(1
6)下の絶縁層(15)に形成されるピホールを塞ぐこ
とが可能となる。従って、後述するが、ゲート絶縁層を
2層とする必要がなく、CVD等による膜形成工程を1
つ省略できるので、この工程によるTFTの劣化を防止
でき、しかも工程が簡略化できる効果を有する。
所定の粘度でスピンコートされるために、表示電極(1
6)下の絶縁層(15)に形成されるピホールを塞ぐこ
とが可能となる。従って、後述するが、ゲート絶縁層を
2層とする必要がなく、CVD等による膜形成工程を1
つ省略できるので、この工程によるTFTの劣化を防止
でき、しかも工程が簡略化できる効果を有する。
【0018】一方ゲートライン(12)とドレインライ
ン(22)の交点、補助容量ライン(14)とドレイン
ライン(22)の交点には、実線の四角形で示した領域
に、a−Si層(18)、半導体保護膜(19)および
N+型のa−Si層(20)が順次形成されてピンホー
ルの形成を防止している。本発明は、まずゲート絶縁膜
(15)を1層で達成することを前提としている。理由
は、前述のとおり、TFT特性や信頼性を損ねないため
である。しかし1層ではピンホールによる層間ショート
が多発してしまう。
ン(22)の交点、補助容量ライン(14)とドレイン
ライン(22)の交点には、実線の四角形で示した領域
に、a−Si層(18)、半導体保護膜(19)および
N+型のa−Si層(20)が順次形成されてピンホー
ルの形成を防止している。本発明は、まずゲート絶縁膜
(15)を1層で達成することを前提としている。理由
は、前述のとおり、TFT特性や信頼性を損ねないため
である。しかし1層ではピンホールによる層間ショート
が多発してしまう。
【0019】特に層間ショートが問題となる領域は、前
述のゲートライン(12)とドレインライン(22)の
交点、補助容量ライン(14)とドレインライン(2
2)の交点、TFTのソース・ドレインとゲートの間お
よび補助容量電極(13)と表示電極(16)の間であ
る。しかし補助容量電極(13)と表示電極(16)の
間の層間ショート以外は、a−Si層(18)、SiN
x(19)およびN+型のA−Si層(20)が積層して
あるので殆どピンホールは発生しない。従って最も発生
し易い領域は、全体の基板面積に対して占有率が高い表
示電極(16)と補助容量電極(13)の間となる。こ
の領域のみにSiNx膜やSiO2膜で2層構造としても
良いが、本発明は有機膜に着目した。
述のゲートライン(12)とドレインライン(22)の
交点、補助容量ライン(14)とドレインライン(2
2)の交点、TFTのソース・ドレインとゲートの間お
よび補助容量電極(13)と表示電極(16)の間であ
る。しかし補助容量電極(13)と表示電極(16)の
間の層間ショート以外は、a−Si層(18)、SiN
x(19)およびN+型のA−Si層(20)が積層して
あるので殆どピンホールは発生しない。従って最も発生
し易い領域は、全体の基板面積に対して占有率が高い表
示電極(16)と補助容量電極(13)の間となる。こ
の領域のみにSiNx膜やSiO2膜で2層構造としても
良いが、本発明は有機膜に着目した。
【0020】まず第1の長所は、前述のとおり、被着時
に粘性を有するためピンホールを塞ぐことができる点で
ある。第2の長所は、軟らかいため熱膨張等による歪み
や応力を吸収でき、しかも表示電極下に部分的に形成す
るため、従来の2層構造のゲート絶縁膜に較べ膜剥がれ
や断線等を防止できる点である。第3の長所は、硬化温
度が低いため、ゲート絶縁膜を2層設けるよりもTFT
特性を損なうことがない点である。第4の長所は、TF
Tを損なうことなく選択的にエッチングできる点であ
る。以上述べたような長所により、本発明は有機膜を採
用した。
に粘性を有するためピンホールを塞ぐことができる点で
ある。第2の長所は、軟らかいため熱膨張等による歪み
や応力を吸収でき、しかも表示電極下に部分的に形成す
るため、従来の2層構造のゲート絶縁膜に較べ膜剥がれ
や断線等を防止できる点である。第3の長所は、硬化温
度が低いため、ゲート絶縁膜を2層設けるよりもTFT
特性を損なうことがない点である。第4の長所は、TF
Tを損なうことなく選択的にエッチングできる点であ
る。以上述べたような長所により、本発明は有機膜を採
用した。
【0021】第2の特徴は、ソース電極(21)と表示
電極(16)が重畳する領域には、本願の特徴となる有
機膜(17)を設けず、図1の破線に示すように設ける
ことにある。有機膜が表示電極(16)の表面を突出さ
せるので、ソース電極と表示電極(16)の段差を低く
することができる。具体的には、図2の記号Bがこのも
のとなる。もちろん表示電極(16)と隣接するドレイ
ンライン(22)の段差も低くなる。従って有機膜の厚
さだけ、この上面に形成された配向膜は良好にラビング
できる。
電極(16)が重畳する領域には、本願の特徴となる有
機膜(17)を設けず、図1の破線に示すように設ける
ことにある。有機膜が表示電極(16)の表面を突出さ
せるので、ソース電極と表示電極(16)の段差を低く
することができる。具体的には、図2の記号Bがこのも
のとなる。もちろん表示電極(16)と隣接するドレイ
ンライン(22)の段差も低くなる。従って有機膜の厚
さだけ、この上面に形成された配向膜は良好にラビング
できる。
【0022】以下は図示していないが上層には、例えば
パシベイション膜を介してポリイミド等から成る配向膜
が設けられている。一方、ガラス基板(10)と対をな
す対向ガラス基板が設けられ、この対向ガラス基板に
は、表示電極(16)に対応する領域を除いた領域に遮
光膜が設けられ、対向電極や前述の配向膜が設けられ
る。この2枚の基板はスペーサにより所定の間隔に設け
られ、液晶が注入されている。また両側には偏光板等が
設けられ本液晶表示装置が完成する。
パシベイション膜を介してポリイミド等から成る配向膜
が設けられている。一方、ガラス基板(10)と対をな
す対向ガラス基板が設けられ、この対向ガラス基板に
は、表示電極(16)に対応する領域を除いた領域に遮
光膜が設けられ、対向電極や前述の配向膜が設けられ
る。この2枚の基板はスペーサにより所定の間隔に設け
られ、液晶が注入されている。また両側には偏光板等が
設けられ本液晶表示装置が完成する。
【0023】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、TF
Tの特性を損なうことなく、各層間ショートを防止で
き、しかも有機膜により表示電極の表面を突出させてい
るのでラビング性を向上させることができる。特に今後
大画面になっても、ドレインライン、ドレイン電極およ
びソース電極は、従来の膜厚で達成できるのでラビング
性が良好で、これらの電極の抵抗値を上昇させることな
く達成できる。しかも同時に層間ショートを防止できる
ので、大画面の液晶表示装置の歩留まり、信頼性を一度
に向上できる有効なものである。
Tの特性を損なうことなく、各層間ショートを防止で
き、しかも有機膜により表示電極の表面を突出させてい
るのでラビング性を向上させることができる。特に今後
大画面になっても、ドレインライン、ドレイン電極およ
びソース電極は、従来の膜厚で達成できるのでラビング
性が良好で、これらの電極の抵抗値を上昇させることな
く達成できる。しかも同時に層間ショートを防止できる
ので、大画面の液晶表示装置の歩留まり、信頼性を一度
に向上できる有効なものである。
【図1】本発明の液晶表示装置の平面図である。
【図2】図1のA−A線における断面図である。
【図3】本発明を説明するための液晶表示装置の断面図
である。
である。
【図4】従来の液晶表示装置の断面図である。
(10) 絶縁性基板 (11) ゲート (12) ゲートライン (13) 補助容量電極 (14) 補助容量ライン (15) ゲート絶縁膜 (16) 表示電極 (17) 有機膜 (18) a−Si (19) 半導体保護膜 (20) N+型a−Si (21) ソース電極 (22) ドレインライン (23) ドレイン電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 29/784
Claims (4)
- 【請求項1】 透明な絶縁性基板上に形成された複数の
ゲート、このゲートと一体の複数のゲートラインおよび
このゲートラインと直行し絶縁層を介して形成される複
数のドレインラインと前記ゲートラインとドレインライ
ンとの交点に形成される複数のトランジスタとこのトラ
ンジスタと電気的に接続されマトリックス状に形成され
る表示電極とを有する液晶表示装置において、 前記絶縁層と表示電極の間に、前記トランジスタのソー
ス電極と重畳する領域を除いた領域に、透明な膜を設け
ることを特徴とした液晶表示装置。 - 【請求項2】 透明な絶縁性基板上に形成された複数の
ゲート、このゲートと一体の複数のゲートラインおよび
このゲートラインと直行し絶縁層を介して形成される複
数のドレインラインと前記ゲートラインとドレインライ
ンとの交点に形成される複数のトランジスタとこのトラ
ンジスタと電気的に接続されマトリックス状に形成され
た表示電極とを有する液晶表示装置において、 前記トランジスタのソース電極と重畳する領域を除いた
表示電極領域に、実質的に表示電極全表面を突出させる
透明な膜を設け、前記絶縁性基板上に設けられた配向膜
は、少なくとも前記重畳領域を除いた全面にラビング処
理が施されることを特徴とした液晶表示装置。 - 【請求項3】 透明な絶縁性基板上に形成された複数の
ゲート、このゲートと一体の複数のゲートラインおよび
このゲートラインと直行し絶縁層を介して形成される複
数のドレインラインと前記ゲートラインとドレインライ
ンとの交点に形成される複数のトランジスタとこのトラ
ンジスタと電気的に接続されマトリックス状に形成され
た表示電極とを有する液晶表示装置において、 前記トランジスタのソース電極と重畳する領域を除いた
表示電極領域に、実質的に表示電極全表面を突出させる
透明な有機膜を設け、前記絶縁性基板上に設けられた配
向膜は、少なくとも前記重畳領域を除いた全面にラビン
グ処理が施されることを特徴とした液晶表示装置。 - 【請求項4】 透明な第1の絶縁性基板上に形成された
ゲート、このゲートと一体のゲートライン、補助容量電
極およびこの補助容量電極と一体でかつ前記ゲートライ
ンと交差しない補助容量ラインと、 前記第1の絶縁性基板全面に実質的に形成された絶縁層
と、 前記ゲートを一構成とするTFTの活性領域および前記
ゲートラインとドレインラインの交点に設けられたノン
ドープのアモルファスシリコン膜と、 前記TFTのソース領域、ドレイン領域および前記ゲー
トラインとドレインラインの交点に形成されたN+型に
ドープされたアモルファスシリコン膜と、 前記補助容量電極に対応する前記絶縁層上に形成された
有機膜および表示電極と、 前記ソース領域から延在し、前記有機膜の形成されてい
ない前記表示電極部と電気的に接続されたソース電極
と、 前記ドレイン領域から延在されたドレイン電極と一体の
ドレインラインと、 前記第1の絶縁性基板に設けられた配向膜と、 前記第1の絶縁性基板と対向して設けられ、遮光膜、対
向電極および配向膜を有した透明な第2の絶縁性基板
と、 前記第1の絶縁性基板と前記第2の絶縁性基板間に注入
された液晶とを有することを特徴とした液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24971191A JPH0588159A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24971191A JPH0588159A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0588159A true JPH0588159A (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=17197066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24971191A Pending JPH0588159A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0588159A (ja) |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP24971191A patent/JPH0588159A/ja active Pending
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