JPH0589455A - フレキシブルデイスクのモジユレーシヨン波形検査方法 - Google Patents
フレキシブルデイスクのモジユレーシヨン波形検査方法Info
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- JPH0589455A JPH0589455A JP27723091A JP27723091A JPH0589455A JP H0589455 A JPH0589455 A JP H0589455A JP 27723091 A JP27723091 A JP 27723091A JP 27723091 A JP27723091 A JP 27723091A JP H0589455 A JPH0589455 A JP H0589455A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 従来より高周波成分まで検査でき、かつ検査
規格のサンプリング間隔条件を満足するモジュレーショ
ン検査方法を提供する。 【構成】 テスト信号の読出し信号を微小な間隔△Ｔで
サンプリングし、サンプリング点Ｐ０およびこれにつづ
く複数のサンプリング点Ｐ１，Ｐ２，…Ｐｒにおける読
出し信号の各振幅Ｖ０，Ｖ１，…Ｖｒに対する平均値Ｖ
Ｍを、各サンプリング点Ｐ０ごとに逐次に算出して移動
平均値ＶＭを求め、また、トラック１周に対する１周平
均値Ｖｍを算出し、１周平均値Ｖｍと移動平均値ＶＭと
を比較して、読出し信号波形のモジュレーションを検査
する。上記の微小なサンプリング間隔△Ｔを、トラック
の１周をすくなくとも千回サンプリングする間隔とし、
フレキシブルディスクのモジュレーション検査規格に規
定された検査条件のサンプリング間隔に相当する複数の
サンプリング点に対して移動平均値ＶＭを算出する。
規格のサンプリング間隔条件を満足するモジュレーショ
ン検査方法を提供する。 【構成】 テスト信号の読出し信号を微小な間隔△Ｔで
サンプリングし、サンプリング点Ｐ０およびこれにつづ
く複数のサンプリング点Ｐ１，Ｐ２，…Ｐｒにおける読
出し信号の各振幅Ｖ０，Ｖ１，…Ｖｒに対する平均値Ｖ
Ｍを、各サンプリング点Ｐ０ごとに逐次に算出して移動
平均値ＶＭを求め、また、トラック１周に対する１周平
均値Ｖｍを算出し、１周平均値Ｖｍと移動平均値ＶＭと
を比較して、読出し信号波形のモジュレーションを検査
する。上記の微小なサンプリング間隔△Ｔを、トラック
の１周をすくなくとも千回サンプリングする間隔とし、
フレキシブルディスクのモジュレーション検査規格に規
定された検査条件のサンプリング間隔に相当する複数の
サンプリング点に対して移動平均値ＶＭを算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＦＤ（フレキシブル
ディスク）におけるモジュレーション波形の検査方法に
関するものである。
ディスク）におけるモジュレーション波形の検査方法に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】情報機器に多用されているＦＤは製造段
階で検査される。検査には記録された信号の波形の振幅
変動に対するモジュレーション検査がある。図３(a) の
１はＦＤを示し、回転方向の基準点を示すインデックス
（ＩＮＤＸ）を起点として、トラック１a の１周に対し
て図(b) の(イ) に示す一定振幅Ｖのテスト信号が書込ま
れる。(ロ) は読出し信号のエンベロープを示し、ＦＤが
湾曲しているときは、その振幅ｖが平均値ｖm を中心と
してトラックの１周に対して周期的に変動する。これが
通常、モジュレーションとよばれている。ただし、湾曲
以外の原因により振幅ｖが非周期的に変動し、または＋
側と−側が非対称となるものがあり、これらも広い意味
ではモジュレーションである。検査においては、読出し
信号を適当な時間間隔Ｔ0 でサンプリングし、サンプリ
ング点における振幅ｖをトラックの１周に対する１周平
均値ｖm に比較して、モジュレーションの良否が判定さ
れる。なお、ＦＤのモジュレーション検査に対して、Ａ
ＮＳＩ（米国規格）では上記のサンプリング間隔Ｔ0 を
５ｍｓとすることが規定されている。
階で検査される。検査には記録された信号の波形の振幅
変動に対するモジュレーション検査がある。図３(a) の
１はＦＤを示し、回転方向の基準点を示すインデックス
（ＩＮＤＸ）を起点として、トラック１a の１周に対し
て図(b) の(イ) に示す一定振幅Ｖのテスト信号が書込ま
れる。(ロ) は読出し信号のエンベロープを示し、ＦＤが
湾曲しているときは、その振幅ｖが平均値ｖm を中心と
してトラックの１周に対して周期的に変動する。これが
通常、モジュレーションとよばれている。ただし、湾曲
以外の原因により振幅ｖが非周期的に変動し、または＋
側と−側が非対称となるものがあり、これらも広い意味
ではモジュレーションである。検査においては、読出し
信号を適当な時間間隔Ｔ0 でサンプリングし、サンプリ
ング点における振幅ｖをトラックの１周に対する１周平
均値ｖm に比較して、モジュレーションの良否が判定さ
れる。なお、ＦＤのモジュレーション検査に対して、Ａ
ＮＳＩ（米国規格）では上記のサンプリング間隔Ｔ0 を
５ｍｓとすることが規定されている。
【０００３】図４は従来のモジュレーション検査回路３
の概略の構成を示す。ＦＤ１はドライバにより３００Ｒ
ＰＭの速度で回転し、磁気ヘッド２によりＦＤ１のトラ
ックに対してテスト信号が書込み／読出しされ、読出し
信号はアンプ31によりレベル調整されてＲＣフィルタ32
に入力する。ＲＣフィルタは約５ｍｓの時定数を有する
もので、読出し信号の２００Ｈｚ以上の周波数成分がカ
ットされ、それ以下の成分がＡ／Ｄ変換器33に入力して
振幅ｖがデジタル化される。一方、マイクロプロセッサ
（ＭＰＵ）４の指令により、タイミング回路34より５ｍ
ｓ間隔のサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換器に入力し、
振幅ｖのデータがサンプリングされてＭＰＵ４に取り込
まれ、メモリ（ＭＥＭ）41に記憶される。これととも
に、サンプリングされた振幅ｖのデータが平均値回路35
に入力し、１周平均値ｖm が算出されてＭＰＵ４に取り
込まれ、これにメモリに記憶された振幅ｖのデータが比
較される。なお、３００ＲＰＭの回転速度のトラック１
周に対して、５ｍｓの間隔により４０回のサンプリング
がなされる。
の概略の構成を示す。ＦＤ１はドライバにより３００Ｒ
ＰＭの速度で回転し、磁気ヘッド２によりＦＤ１のトラ
ックに対してテスト信号が書込み／読出しされ、読出し
信号はアンプ31によりレベル調整されてＲＣフィルタ32
に入力する。ＲＣフィルタは約５ｍｓの時定数を有する
もので、読出し信号の２００Ｈｚ以上の周波数成分がカ
ットされ、それ以下の成分がＡ／Ｄ変換器33に入力して
振幅ｖがデジタル化される。一方、マイクロプロセッサ
（ＭＰＵ）４の指令により、タイミング回路34より５ｍ
ｓ間隔のサンプリングパルスがＡ／Ｄ変換器に入力し、
振幅ｖのデータがサンプリングされてＭＰＵ４に取り込
まれ、メモリ（ＭＥＭ）41に記憶される。これととも
に、サンプリングされた振幅ｖのデータが平均値回路35
に入力し、１周平均値ｖm が算出されてＭＰＵ４に取り
込まれ、これにメモリに記憶された振幅ｖのデータが比
較される。なお、３００ＲＰＭの回転速度のトラック１
周に対して、５ｍｓの間隔により４０回のサンプリング
がなされる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】さて、現状においては
ＦＤの記録密度または記録容量は１ＭＢ（メガバイト）
以下であるが、最近においては２ＥＤタイプとよばれる
４ＭＢの高記録密度、大容量のものが出現しており、今
後さらに記録密度は向上する趨勢である。このような高
記録密度のＦＤに対するモジュレーション検査は、当然
従来と同一方法では適切でない。すなわち、高記録密度
のＦＤにおいては従来のものより読出し電圧が低いため
に、従来の検査方法ではカットされた２００Ｈｚ以上の
高周波数成分が、信号のＳ／Ｎ比を低下してエラーが発
生する危険が多い。従って高周波成分までを検査するこ
とが必要である。しかし、規格はいずれは改定されると
しても目下のところ有効であるので、この条件を満足す
ることが同時に必要である。この発明は以上に鑑みてな
されたもので、読出し信号の高周波成分まで検査でき、
かつ、検査条件のサンプリング間隔を満足するモジュレ
ーション検査方法を提供することを目的とするものであ
る。
ＦＤの記録密度または記録容量は１ＭＢ（メガバイト）
以下であるが、最近においては２ＥＤタイプとよばれる
４ＭＢの高記録密度、大容量のものが出現しており、今
後さらに記録密度は向上する趨勢である。このような高
記録密度のＦＤに対するモジュレーション検査は、当然
従来と同一方法では適切でない。すなわち、高記録密度
のＦＤにおいては従来のものより読出し電圧が低いため
に、従来の検査方法ではカットされた２００Ｈｚ以上の
高周波数成分が、信号のＳ／Ｎ比を低下してエラーが発
生する危険が多い。従って高周波成分までを検査するこ
とが必要である。しかし、規格はいずれは改定されると
しても目下のところ有効であるので、この条件を満足す
ることが同時に必要である。この発明は以上に鑑みてな
されたもので、読出し信号の高周波成分まで検査でき、
かつ、検査条件のサンプリング間隔を満足するモジュレ
ーション検査方法を提供することを目的とするものであ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するモジュレーション波形検査方法であって、高記
録密度のＦＤを対象とし、ＦＤのトラックの１周に対し
てテスト信号を書込み／読出しし、読出し信号を微小な
間隔でサンプリングする。サンプリング点につづく複数
のサンプリング点における読出し信号の各振幅に対する
平均値を、各サンプリング点ごとに逐次に算出して移動
平均値を求める。これとともに読出し信号の振幅のトラ
ック１周に対する１周平均値を算出し、１周平均値と移
動平均値とを比較して、読出し信号波形のモジュレーシ
ョンを検査する。上記の微小なサンプリング間隔を、ト
ラックの１周をすくなくとも千回サンプリングする間隔
とし、移動平均値は、検査規格のサンプリング間隔に相
当する複数のサンプリング点に対して算出する。また、
必要により読出し信号の＋側と−側に対してそれぞれ別
個にサンプリングを行い、読出し信号波形の＋側と−側
に対するモジュレーションをそれぞれ検査する。
達成するモジュレーション波形検査方法であって、高記
録密度のＦＤを対象とし、ＦＤのトラックの１周に対し
てテスト信号を書込み／読出しし、読出し信号を微小な
間隔でサンプリングする。サンプリング点につづく複数
のサンプリング点における読出し信号の各振幅に対する
平均値を、各サンプリング点ごとに逐次に算出して移動
平均値を求める。これとともに読出し信号の振幅のトラ
ック１周に対する１周平均値を算出し、１周平均値と移
動平均値とを比較して、読出し信号波形のモジュレーシ
ョンを検査する。上記の微小なサンプリング間隔を、ト
ラックの１周をすくなくとも千回サンプリングする間隔
とし、移動平均値は、検査規格のサンプリング間隔に相
当する複数のサンプリング点に対して算出する。また、
必要により読出し信号の＋側と−側に対してそれぞれ別
個にサンプリングを行い、読出し信号波形の＋側と−側
に対するモジュレーションをそれぞれ検査する。
【０００６】
【作用】上記のモジュレーション波形検査方法において
は、読出し信号に対するサンプリング間隔は、トラック
の１周をすくなくとも千回サンプリングする。また、各
サンプリング点ごとに求められた移動平均値がトラック
の１周平均値に比較されてモジュレーションの波形が検
査される。以上の、サンプリング間隔の短縮と、各サン
プリング点に対する移動平均値の比較とにより、読出し
信号の高周波成分が検出されてモジュレーション波形が
従来以上に詳細に検査される。また、連続した複数のサ
ンプリング点の長さは、検査条件のサンプリング間隔
（５ｍｓ）と同一とされて検査規格を満足する。なお、
必要により読出し信号の＋側と−側に対して別々に検査
を行うことにより、非対称なモジュレーション波形も検
査することができる。
は、読出し信号に対するサンプリング間隔は、トラック
の１周をすくなくとも千回サンプリングする。また、各
サンプリング点ごとに求められた移動平均値がトラック
の１周平均値に比較されてモジュレーションの波形が検
査される。以上の、サンプリング間隔の短縮と、各サン
プリング点に対する移動平均値の比較とにより、読出し
信号の高周波成分が検出されてモジュレーション波形が
従来以上に詳細に検査される。また、連続した複数のサ
ンプリング点の長さは、検査条件のサンプリング間隔
（５ｍｓ）と同一とされて検査規格を満足する。なお、
必要により読出し信号の＋側と−側に対して別々に検査
を行うことにより、非対称なモジュレーション波形も検
査することができる。
【０００７】
【実施例】図１によりこの発明における読出し信号の移
動平均値について説明する。図１において、トラックの
１周に対して書込まれたテスト信号は、磁気ヘッド２に
より／読出しされて(イ) の読出し信号がえられる。これ
に対してサンプリング間隔ΔＴ（＜２π／１０００）の
サンプリングパルスにより、トラック１周（２π）をす
くなくとも１０００回サンプリングする。(ロ) は(イ) を
時間軸ｔの方向に拡大した読出し信号のエンベロープを
示し、サンプリング点をｐ0,ｐ1,ｐ2……とし、各点に
おいてサンプリングされたエンベロープの振幅ｖを、そ
れぞれｖ0,ｖ1,ｖ2 ……とする。いま、点ｐ0 〜ｐr の
間隔をＴ0 （５ｍｓ）とし、この間の各振幅ｖ0 〜ｖr
を合計し、これを点の個数ｒで除算して平均値ｖM(#0)
を求める。つぎに同様に、点ｐ1 〜ｐ(r+1) に対する平
均値ｖM (#1)を求め、以下順次に(#2)……を求めると、
各平均値ｖM は全体として振幅ｖの時間的な変化を間隔
Ｔ0 単位に表現する、いわゆる移動平均値を表す。以下
においては移動平均値をｖM とする。移動平均値ｖM は
個々のサンプリング点の振幅変化を忠実に示さないが、
間隔Ｔ0 の範囲における変化をいわばマクロに示すもの
で、これにより従来の間隔Ｔ0 のサンプリングより精密
に振幅ｖの変化が知られる。なお、Ｔ0 を５ｍｓとする
理由は単にモジュレーション検査規格を満足するための
もので、仮にこれを無視して５ｍｓより短縮すれば、よ
り精密に振幅変化を求めることができる。
動平均値について説明する。図１において、トラックの
１周に対して書込まれたテスト信号は、磁気ヘッド２に
より／読出しされて(イ) の読出し信号がえられる。これ
に対してサンプリング間隔ΔＴ（＜２π／１０００）の
サンプリングパルスにより、トラック１周（２π）をす
くなくとも１０００回サンプリングする。(ロ) は(イ) を
時間軸ｔの方向に拡大した読出し信号のエンベロープを
示し、サンプリング点をｐ0,ｐ1,ｐ2……とし、各点に
おいてサンプリングされたエンベロープの振幅ｖを、そ
れぞれｖ0,ｖ1,ｖ2 ……とする。いま、点ｐ0 〜ｐr の
間隔をＴ0 （５ｍｓ）とし、この間の各振幅ｖ0 〜ｖr
を合計し、これを点の個数ｒで除算して平均値ｖM(#0)
を求める。つぎに同様に、点ｐ1 〜ｐ(r+1) に対する平
均値ｖM (#1)を求め、以下順次に(#2)……を求めると、
各平均値ｖM は全体として振幅ｖの時間的な変化を間隔
Ｔ0 単位に表現する、いわゆる移動平均値を表す。以下
においては移動平均値をｖM とする。移動平均値ｖM は
個々のサンプリング点の振幅変化を忠実に示さないが、
間隔Ｔ0 の範囲における変化をいわばマクロに示すもの
で、これにより従来の間隔Ｔ0 のサンプリングより精密
に振幅ｖの変化が知られる。なお、Ｔ0 を５ｍｓとする
理由は単にモジュレーション検査規格を満足するための
もので、仮にこれを無視して５ｍｓより短縮すれば、よ
り精密に振幅変化を求めることができる。
【０００８】図２はこの発明の一実施例における、モジ
ュレーション波形を処理する信号処理回路５の概略のブ
ロック構成を示す。ただし例として、読出し信号の＋側
と−側を別個に検査する場合を示す。テスト信号はヘッ
ド２により読出され、読出し信号はアンプ51によりレベ
ル調整されて＋側選択回路52aと−側選択回路52b に入
力し、それぞれより＋側信号と−側信号が出力され、Ａ
／Ｄ変換器53a,53b によりデジタル化される。ＭＰＵ４
の指令により、タイミング回路56より間隔ΔＴ（＜２π
／１０００）のサンプリングパルスが出力されて両Ａ／
Ｄ変換器に与えられ、これにより＋側の波高値（＋ｖ）
と−側の波高値（−ｖ）がそれぞれサンプリングされ
る。サンプリングされた＋側信号は１周平均値回路54a
と移動平均値回路55a に転送され、移動平均値回路にお
いては、タイミング回路より供給される間隔がＴ0 （規
格では５ｍｓ）のタイミングパルスごとに、サンプリン
グ点を含みこれにつづく連続した複数のサンプリング点
における信号の各波高値が加算され、複数により除算さ
れて移動平均値（＋ｖM ）が算出される。これとともに
１周平均値回路により１周平均値（＋ｖm ）が算出さ
れ、移動平均値（＋ｖM ）と１周平均値（＋ｖm ）の両
データはインタフェース（ＩＮＴ）42を経てＭＰＵ４に
取り込まれ、さらに１周平均値（ｖm ）はメモリ41に一
旦記憶され、ＭＰＵの処理により＋側の読出し信号波形
のモジュレーションが検査される。−側に対しても上記
と平行して同様に処理されてモジュレーション検査がな
される。以上においては、１周平均値ｖm と移動平均値
ｖM はハード回路により算出されているが、これらはＭ
ＰＵ４のソフト処理によっても求められることはいうま
でもない。
ュレーション波形を処理する信号処理回路５の概略のブ
ロック構成を示す。ただし例として、読出し信号の＋側
と−側を別個に検査する場合を示す。テスト信号はヘッ
ド２により読出され、読出し信号はアンプ51によりレベ
ル調整されて＋側選択回路52aと−側選択回路52b に入
力し、それぞれより＋側信号と−側信号が出力され、Ａ
／Ｄ変換器53a,53b によりデジタル化される。ＭＰＵ４
の指令により、タイミング回路56より間隔ΔＴ（＜２π
／１０００）のサンプリングパルスが出力されて両Ａ／
Ｄ変換器に与えられ、これにより＋側の波高値（＋ｖ）
と−側の波高値（−ｖ）がそれぞれサンプリングされ
る。サンプリングされた＋側信号は１周平均値回路54a
と移動平均値回路55a に転送され、移動平均値回路にお
いては、タイミング回路より供給される間隔がＴ0 （規
格では５ｍｓ）のタイミングパルスごとに、サンプリン
グ点を含みこれにつづく連続した複数のサンプリング点
における信号の各波高値が加算され、複数により除算さ
れて移動平均値（＋ｖM ）が算出される。これとともに
１周平均値回路により１周平均値（＋ｖm ）が算出さ
れ、移動平均値（＋ｖM ）と１周平均値（＋ｖm ）の両
データはインタフェース（ＩＮＴ）42を経てＭＰＵ４に
取り込まれ、さらに１周平均値（ｖm ）はメモリ41に一
旦記憶され、ＭＰＵの処理により＋側の読出し信号波形
のモジュレーションが検査される。−側に対しても上記
と平行して同様に処理されてモジュレーション検査がな
される。以上においては、１周平均値ｖm と移動平均値
ｖM はハード回路により算出されているが、これらはＭ
ＰＵ４のソフト処理によっても求められることはいうま
でもない。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明によるモ
ジュレーション波形検査方法においては、サンプリング
間隔の短縮と、各サンプリング点に対する移動平均値と
により、高周波成分が検出されてモジュレーション波形
が従来以上に精密に検査され、また、必要により読出し
信号の＋側と−側に対して別々に検査が行われるので、
非対称なモジュレーション波形が検査できるもので、さ
らに、移動平均値の長さは、検査条件のサンプリング間
隔（５ｍｓ）と同一とされて検査規格を満足しており、
高記録密度のＦＤに対するモジュレーション波形の精密
検査に寄与するものである。
ジュレーション波形検査方法においては、サンプリング
間隔の短縮と、各サンプリング点に対する移動平均値と
により、高周波成分が検出されてモジュレーション波形
が従来以上に精密に検査され、また、必要により読出し
信号の＋側と−側に対して別々に検査が行われるので、
非対称なモジュレーション波形が検査できるもので、さ
らに、移動平均値の長さは、検査条件のサンプリング間
隔（５ｍｓ）と同一とされて検査規格を満足しており、
高記録密度のＦＤに対するモジュレーション波形の精密
検査に寄与するものである。
【図１】 この発明における読出し信号の移動平均値の
説明図を示す。
説明図を示す。
【図２】 この発明の一実施例における信号処理装置の
概略のブロック構成図を示す。
概略のブロック構成図を示す。
【図３】 (a) はフレキシブルディスク（ＦＤ）を、
(b) は書込みテスト信号と読出し信号のエンベロープを
それぞれ示す。
(b) は書込みテスト信号と読出し信号のエンベロープを
それぞれ示す。
【図４】 従来のモジュレーション検査回路の概略の構
成図を示す。
成図を示す。
１…フレキシブルディスク（ＦＤ）、１a …トラック、 ２…磁気ヘッド、単にヘッド、 ３…従来のモジュレーション検査回路、31…アンプ、32
…ＲＣフィルタ、 33…Ａ／Ｄ変換器、34…タイミング回路、35…平均値回
路、 ４…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、41…メモリ（ＭＥ
Ｍ）、 42…インタフェース（ＩＮＴ）、 ５…信号処理回路、51…アンプ、52b …＋側選択回路、
52b…−側選択回路、 53a,53b …Ａ／Ｄ変換器、54a,54b …１周平均値回路、 55a,55b …移動平均値回路、56…タイミング回路、 ｖ, ｖ1,ｖ2,ｖr …読出し信号の振幅または波高値、ｖ
m …１周平均値、 ｖM …移動平均値、ｐ0,ｐ1,ｐ2 …サンプリング点。
…ＲＣフィルタ、 33…Ａ／Ｄ変換器、34…タイミング回路、35…平均値回
路、 ４…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、41…メモリ（ＭＥ
Ｍ）、 42…インタフェース（ＩＮＴ）、 ５…信号処理回路、51…アンプ、52b …＋側選択回路、
52b…−側選択回路、 53a,53b …Ａ／Ｄ変換器、54a,54b …１周平均値回路、 55a,55b …移動平均値回路、56…タイミング回路、 ｖ, ｖ1,ｖ2,ｖr …読出し信号の振幅または波高値、ｖ
m …１周平均値、 ｖM …移動平均値、ｐ0,ｐ1,ｐ2 …サンプリング点。
Claims (3)
- 【請求項１】 高記録密度のフレキシブルディスクを対
象とし、該フレキシブルディスクのトラックの１周に対
してテスト信号を書込み／読出しし、該読出し信号を微
小な間隔でサンプリングし、該サンプリング点につづく
複数のサンプリング点における該読出し信号の各振幅に
対する平均値を、各サンプリング点ごとに逐次に算出し
て移動平均値を求め、かつ、該読出し信号の振幅の前記
トラックの１周に対する１周平均値を算出し、該１周平
均値と前記移動平均値とを比較して、前記読出し信号波
形のモジュレーションを検査することを特徴とする、フ
レキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法。 - 【請求項２】 前記の微小なサンプリング間隔を、前記
トラックの１周をすくなくとも千回サンプリングする間
隔とし、前記の移動平均値は、検査規格のサンプリング
間隔に相当する前記複数のサンプリング点に対して算出
する、請求項１記載のフレキシブルディスクのモジュレ
ーション波形検査方法。 - 【請求項３】 必要により、前記読出し信号の＋側モジ
ュレーション，−側モジュレーションに対してそれぞれ
別個に前記サンプリングを行い、前記読出し信号波形の
該＋側及び−側モジュレーションをそれぞれ検査する、
請求項１または２記載のフレキシブルディスクのモジュ
レーション波形検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27723091A JP2696629B2 (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | フレキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27723091A JP2696629B2 (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | フレキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0589455A true JPH0589455A (ja) | 1993-04-09 |
| JP2696629B2 JP2696629B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=17580638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27723091A Expired - Lifetime JP2696629B2 (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | フレキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2696629B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7386262B2 (en) | 2005-01-25 | 2008-06-10 | Ricoh Company, Ltd. | Belt driving control apparatus and image forming apparatus which uses a moving average process and a revolution average process |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP27723091A patent/JP2696629B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7386262B2 (en) | 2005-01-25 | 2008-06-10 | Ricoh Company, Ltd. | Belt driving control apparatus and image forming apparatus which uses a moving average process and a revolution average process |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2696629B2 (ja) | 1998-01-14 |
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