JPH03296931A - 情報記録媒体検査装置 - Google Patents
情報記録媒体検査装置Info
- Publication number
- JPH03296931A JPH03296931A JP9934390A JP9934390A JPH03296931A JP H03296931 A JPH03296931 A JP H03296931A JP 9934390 A JP9934390 A JP 9934390A JP 9934390 A JP9934390 A JP 9934390A JP H03296931 A JPH03296931 A JP H03296931A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- recording medium
- circuit
- information recording
- inspection device
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、光ディスクなどの大容量記録媒体を検査する
情報記録媒体検査装置に関する。
情報記録媒体検査装置に関する。
［従来の技術］
従来、この種の記録媒体の記録膜の評価法としては、記
録媒体に記録された情報を再生して振幅値を測定し、そ
の値が検査規格内であるかどうかで評価するのが一般的
である。このような再生信号の振幅値の測定法としては
、例えば広帯域及び高輝度のアナログオシロスコープを
用いて目視で測定する方法がある。また、高速サンプリ
ングのデジタルオシロスコープを用いて、自動計測する
ことも行われている。
録媒体に記録された情報を再生して振幅値を測定し、そ
の値が検査規格内であるかどうかで評価するのが一般的
である。このような再生信号の振幅値の測定法としては
、例えば広帯域及び高輝度のアナログオシロスコープを
用いて目視で測定する方法がある。また、高速サンプリ
ングのデジタルオシロスコープを用いて、自動計測する
ことも行われている。
［発明が解決しようとしている課題］
しかしながら、アナログオシロスコープで目視によって
測定する場合、測定値が管面輝度の違いや、測定者の個
人差に左右され、測定精度の点で問題がある。また、長
時間オシロスコープの管面な凝視することによって、測
定者の目の疲労も大きかった。
測定する場合、測定値が管面輝度の違いや、測定者の個
人差に左右され、測定精度の点で問題がある。また、長
時間オシロスコープの管面な凝視することによって、測
定者の目の疲労も大きかった。
一方、デジタルオシロスコープを用いた自動計測では、
ソフトウェア制御のためサンプリングに要する時間が長
く、特に光ディスクのような大容量記録媒体ではサンプ
リング数も多くとる必要があるので、測定時間が長くな
るという問題があった。また、広帯域のオシロスコープ
は高価であるため、前述のいずれの測定法であっても、
同じ測定装置を多数設置するには、高額の負担をしなけ
ればならなかった。
ソフトウェア制御のためサンプリングに要する時間が長
く、特に光ディスクのような大容量記録媒体ではサンプ
リング数も多くとる必要があるので、測定時間が長くな
るという問題があった。また、広帯域のオシロスコープ
は高価であるため、前述のいずれの測定法であっても、
同じ測定装置を多数設置するには、高額の負担をしなけ
ればならなかった。
本発明は、このような実情に鑑みなされたもので、その
目的は高速かつ高精度で検査できると共に、簡単な構成
で安価に検査できるようにした情報記録媒体検査装置を
提供することにある。
目的は高速かつ高精度で検査できると共に、簡単な構成
で安価に検査できるようにした情報記録媒体検査装置を
提供することにある。
［課題を解決するための手段］
上記目的を達成するため、記録媒体に所定の記録周波数
で記録された検査用データを再生し、得られた再生信号
の包絡線信号を生成する手段と、この包絡線信号をサン
プリングするためのタイミングを設定する手段と、サン
プリングされた包結線信号の値を計測する手段とを有す
ることを特徴とする情報記録媒体検査装置が提供される
。
で記録された検査用データを再生し、得られた再生信号
の包絡線信号を生成する手段と、この包絡線信号をサン
プリングするためのタイミングを設定する手段と、サン
プリングされた包結線信号の値を計測する手段とを有す
ることを特徴とする情報記録媒体検査装置が提供される
。
［作用］
本発明によれば、再生信号を包絡線信号に変換し、この
信号を所定のタイミングでサンプリングすることで再生
信号の振幅計測を行うことにより、簡単な回路で再生信
号の振幅計測を行え、また高速かつ高精度で振幅計測を
行うようにしたものである。
信号を所定のタイミングでサンプリングすることで再生
信号の振幅計測を行うことにより、簡単な回路で再生信
号の振幅計測を行え、また高速かつ高精度で振幅計測を
行うようにしたものである。
［実施例］
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳
細に説明する。第１図は本発明の情報記録媒体検査装置
の一実施例を示すブロック図である。
細に説明する。第１図は本発明の情報記録媒体検査装置
の一実施例を示すブロック図である。
第１図において、１は光デイスクドライブ装置であって
、図示しない光ディスクに情報の書込み、あるいはその
記録情報の再生を行う、この場合、光デイスクドライブ
装置１は、光ディスクに対し、検査用情報として例えば
ＩＭＨ，〜２０ＭＨ！の一定周波数の記録信号を記録し
、その後振幅値を測定するため再生を行う。平滑回路２
は、光デイスクドライブ装置１で再生された再生信号を
平滑して、包絡線信号に変換する回路である。この平滑
回路２については、詳しく後述する。
、図示しない光ディスクに情報の書込み、あるいはその
記録情報の再生を行う、この場合、光デイスクドライブ
装置１は、光ディスクに対し、検査用情報として例えば
ＩＭＨ，〜２０ＭＨ！の一定周波数の記録信号を記録し
、その後振幅値を測定するため再生を行う。平滑回路２
は、光デイスクドライブ装置１で再生された再生信号を
平滑して、包絡線信号に変換する回路である。この平滑
回路２については、詳しく後述する。
Ａ／Ｄコンバータ３は、平滑回路２で出力された包絡線
信号をサンプリングするサンプリング回路、タイミング
回路４はそのサンプリングのタイミングパルスを発生す
るパルス生成回路である。
信号をサンプリングするサンプリング回路、タイミング
回路４はそのサンプリングのタイミングパルスを発生す
るパルス生成回路である。
従って、平滑回路２から出力された包絡線信号は、タイ
ミング回路４で決定されたタイミングにより所定周期で
Ａ／Ｄコンバータ３でサンプリングされる。計算機５は
、プログラム制御によって動作する計測制御用計算機で
あって、光デイスクドライブ装置１、Ａ／Ｄコンバータ
３を制御して検査用情報の記録、再生及びサンプリング
動作を制御する。また、計算機５はサンプリングされた
振幅値を自動測定し、その測定結果のデータ処理を行う
、即ち、信号振幅分布の統計処理を行って、ヒストグラ
ム表示や波形表示を行い、またこれらの結果を基に光デ
ィスクが規格値を満足しているかどうかの合否判定を行
う。
ミング回路４で決定されたタイミングにより所定周期で
Ａ／Ｄコンバータ３でサンプリングされる。計算機５は
、プログラム制御によって動作する計測制御用計算機で
あって、光デイスクドライブ装置１、Ａ／Ｄコンバータ
３を制御して検査用情報の記録、再生及びサンプリング
動作を制御する。また、計算機５はサンプリングされた
振幅値を自動測定し、その測定結果のデータ処理を行う
、即ち、信号振幅分布の統計処理を行って、ヒストグラ
ム表示や波形表示を行い、またこれらの結果を基に光デ
ィスクが規格値を満足しているかどうかの合否判定を行
う。
第２図に、平滑回路２の具体的回路例を示す。
図中、６は差動増幅器、Ｃ３は直流分をカットするため
のコンデンサ、Ｄは半波整流用のダイオードである。ま
た、ＲとＣＩは半波整流信号を平滑するための充放電用
の抵抗器とコンデンサ、７はこの平滑信号から高周波成
分を除去して滑らかな包絡線信号を生成するローパスフ
ィルタである。
のコンデンサ、Ｄは半波整流用のダイオードである。ま
た、ＲとＣＩは半波整流信号を平滑するための充放電用
の抵抗器とコンデンサ、７はこの平滑信号から高周波成
分を除去して滑らかな包絡線信号を生成するローパスフ
ィルタである。
なお、第２図には図示していないが、平滑回路２はダイ
オードＤの向きを逆向きにしたもう一つの回路から構成
されている。即ち、正の再生信号と負の再生信号の両方
を各々半波整流、平滑及びフィルタリングすることによ
って、元の再生信号の正負の包絡線信号を生成するよう
になっている。
オードＤの向きを逆向きにしたもう一つの回路から構成
されている。即ち、正の再生信号と負の再生信号の両方
を各々半波整流、平滑及びフィルタリングすることによ
って、元の再生信号の正負の包絡線信号を生成するよう
になっている。
次に、動作を説明する。まず、入力端子Ａに光デイスク
ドライブ装置１で再生された再生信号が入力される。こ
の再生信号は、コンデンサＣ１で直流分が除去されてか
ら差動増幅器６の子端子に入力される。差動増幅器２は
、ボルテージホロワ構成となっているため、入力された
再生信号がそのまま出力される。そしてダイオードＤに
よって半波整流され、第３図にＳ、として示すような半
波整流信号が生成される。なお、前述したように再生信
号を正負両方向の平滑回路で半波整流しているので、第
３図に示す如く、正負両方向の半波整流信号を合成した
信号Ｓ、が得られる。また、第２図の回路は、ダイオー
ドＤの出力側と差動増幅器６の一端子を接続しているた
め、ダイオードＤが有する非線形特性を補償した回路構
成である。そのため、半波整流出力としては、ダイオー
ドＤの特性に影響されることなく、再生信号がそのまま
同じ振幅値を保持した状態で出力される。
ドライブ装置１で再生された再生信号が入力される。こ
の再生信号は、コンデンサＣ１で直流分が除去されてか
ら差動増幅器６の子端子に入力される。差動増幅器２は
、ボルテージホロワ構成となっているため、入力された
再生信号がそのまま出力される。そしてダイオードＤに
よって半波整流され、第３図にＳ、として示すような半
波整流信号が生成される。なお、前述したように再生信
号を正負両方向の平滑回路で半波整流しているので、第
３図に示す如く、正負両方向の半波整流信号を合成した
信号Ｓ、が得られる。また、第２図の回路は、ダイオー
ドＤの出力側と差動増幅器６の一端子を接続しているた
め、ダイオードＤが有する非線形特性を補償した回路構
成である。そのため、半波整流出力としては、ダイオー
ドＤの特性に影響されることなく、再生信号がそのまま
同じ振幅値を保持した状態で出力される。
この後、半波整流信号Ｓ１は抵抗器Ｒ、コンデンサＣ８
で平滑され、更にローパスフィルタフによって高周波成
分が除去される。この結果、第３図に示すように、再生
信号の最大振幅点を結んだ滑らかな正負の包絡線信号Ｓ
８が出力端子Ｂから出力される。得られた包絡線信号は
、再生信号の最大振幅点を結んだ信号であるため、どの
点でサンプリングしても、はぼ再生信号の振幅値を計測
することが可能である。この包絡線信号は、前述のよう
にＡ／Ｄコンバータ３に出力され、所定のタイミングで
サンプリングされる。
で平滑され、更にローパスフィルタフによって高周波成
分が除去される。この結果、第３図に示すように、再生
信号の最大振幅点を結んだ滑らかな正負の包絡線信号Ｓ
８が出力端子Ｂから出力される。得られた包絡線信号は
、再生信号の最大振幅点を結んだ信号であるため、どの
点でサンプリングしても、はぼ再生信号の振幅値を計測
することが可能である。この包絡線信号は、前述のよう
にＡ／Ｄコンバータ３に出力され、所定のタイミングで
サンプリングされる。
このように本実施例では、高周波の再生信号な一且低周
波の包絡線信号に変換し、その包絡線信号をサンプリン
グして再生信号の振幅値を測定するようにした。これに
より、サンプリングのタイミンクを再生信号の最大値に
合わせる必要がなく、多少タイミングがずれたとしても
、正しく再生信号振幅値を測定することができる。従っ
て、従来高性能のデジタルオシロスコープがなければで
きなかった自動計測が、簡単な平滑回路やタイミング回
路と安価なＡ／Ｄコンバータを用いただけで可能となっ
た。
波の包絡線信号に変換し、その包絡線信号をサンプリン
グして再生信号の振幅値を測定するようにした。これに
より、サンプリングのタイミンクを再生信号の最大値に
合わせる必要がなく、多少タイミングがずれたとしても
、正しく再生信号振幅値を測定することができる。従っ
て、従来高性能のデジタルオシロスコープがなければで
きなかった自動計測が、簡単な平滑回路やタイミング回
路と安価なＡ／Ｄコンバータを用いただけで可能となっ
た。
また、一般に光ディスクには、同心円状や螺旋状にトラ
ックが形成され、各トラックは複数のセクタに分割され
ている。このような光ディスクでは、１つのセクタ当り
、等間隔に数１０回のサンプリングを行えば、光ディス
クの円周内の振幅分布を詳細に知ることができる。また
、セクタ内は同期パターンによって更にい（つかのブロ
ックに分割されていることが多いので、同期パターンの
位置を避けてサンプリングを行う必要がある。同期パタ
ーンの位置は、光ディスクの種類によって決まっている
ので、タイミング回路４のタイミングパルスの発生を光
ディスクの種類に応じて変えればよい。
ックが形成され、各トラックは複数のセクタに分割され
ている。このような光ディスクでは、１つのセクタ当り
、等間隔に数１０回のサンプリングを行えば、光ディス
クの円周内の振幅分布を詳細に知ることができる。また
、セクタ内は同期パターンによって更にい（つかのブロ
ックに分割されていることが多いので、同期パターンの
位置を避けてサンプリングを行う必要がある。同期パタ
ーンの位置は、光ディスクの種類によって決まっている
ので、タイミング回路４のタイミングパルスの発生を光
ディスクの種類に応じて変えればよい。
なお、以上の実施例では、情報記録媒体として光ディス
クを検査する例を示したが、これに限ることなく、例え
ば磁気ディスクや磁気テープ、あるいは光カード等であ
っても、もちろん適用が可能である。
クを検査する例を示したが、これに限ることなく、例え
ば磁気ディスクや磁気テープ、あるいは光カード等であ
っても、もちろん適用が可能である。
［発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、再生信号な包絡線
信号に変換し、この包絡線信号をサンプリングして再生
信号の振幅値を計測するため、タイミング合わせが特に
必要ではなく、簡単に再生信号の振幅値を測定できる。
信号に変換し、この包絡線信号をサンプリングして再生
信号の振幅値を計測するため、タイミング合わせが特に
必要ではなく、簡単に再生信号の振幅値を測定できる。
従って、従来のような高価なディジタルオシロスコープ
を用いることなく、簡単な回路を設けただけで、高速か
つ高精度で振幅値の計測を行える効果がある。
を用いることなく、簡単な回路を設けただけで、高速か
つ高精度で振幅値の計測を行える効果がある。
第１図は本発明の情報記録媒体検査装置の一実施例を示
すブロック図、第２図は平滑回路の具体例を示す回路図
、第３図は第２図における平滑回路の再生信号の半波整
流信号及び包絡線信号を示す波形図である。 １・・・光デイスクドライブ装置、 ２・・・平滑回路、 ３・・・Ａ／Ｄコンバータ
、４・・・タイミング回路、５・・・計算機、６・・・
差動増幅器、 ７・・・ローパスフィルタ。
すブロック図、第２図は平滑回路の具体例を示す回路図
、第３図は第２図における平滑回路の再生信号の半波整
流信号及び包絡線信号を示す波形図である。 １・・・光デイスクドライブ装置、 ２・・・平滑回路、 ３・・・Ａ／Ｄコンバータ
、４・・・タイミング回路、５・・・計算機、６・・・
差動増幅器、 ７・・・ローパスフィルタ。
Claims (1)
- 記録媒体に所定の記録周波数で記録された検査用データ
を再生し、得られた再生信号の包絡線信号を生成する手
段と、この包絡線信号をサンプリングするためのタイミ
ングを設定する手段と、サンプリングされた包絡線信号
の値を計測する手段とを有することを特徴とする情報記
録媒体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9934390A JPH03296931A (ja) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | 情報記録媒体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9934390A JPH03296931A (ja) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | 情報記録媒体検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03296931A true JPH03296931A (ja) | 1991-12-27 |
Family
ID=14244972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9934390A Pending JPH03296931A (ja) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | 情報記録媒体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03296931A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61201173A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Sony Tektronix Corp | 磁気デイスク特性測定装置 |
| JPS6446268A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-20 | Nec Corp | Radial modulation inspecting device |
| JPS6472088A (en) * | 1982-10-14 | 1989-03-16 | Basf Ag | Method and apparatus for discovering and evaluating defect of recording carrier by digital signal recorded on at least one track |
| JPH01162253A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-26 | Sharp Corp | 光ディスク媒体の感度評価方法 |
-
1990
- 1990-04-17 JP JP9934390A patent/JPH03296931A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6472088A (en) * | 1982-10-14 | 1989-03-16 | Basf Ag | Method and apparatus for discovering and evaluating defect of recording carrier by digital signal recorded on at least one track |
| JPS61201173A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Sony Tektronix Corp | 磁気デイスク特性測定装置 |
| JPS6446268A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-20 | Nec Corp | Radial modulation inspecting device |
| JPH01162253A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-26 | Sharp Corp | 光ディスク媒体の感度評価方法 |
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