JPH0590347U - 絶縁薄膜の硬度測定装置 - Google Patents
絶縁薄膜の硬度測定装置Info
- Publication number
- JPH0590347U JPH0590347U JP7299191U JP7299191U JPH0590347U JP H0590347 U JPH0590347 U JP H0590347U JP 7299191 U JP7299191 U JP 7299191U JP 7299191 U JP7299191 U JP 7299191U JP H0590347 U JPH0590347 U JP H0590347U
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- conductive
- needle
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】この考案は、絶縁薄膜の硬度を数値化する絶縁
薄膜の硬度測定装置である。 【構成】導電性膜3上に絶縁膜4を塗布した被測定物A
を載置するステージ1に、ほぼ垂直にエアシリンダ7を
配置し、該エアシリンダ7のロッド72下端にロードセ
ル5を装着すると共に、該ロードセル5にはほぼ垂直に
導電性針6を取付け、かつ前記ロードセル5と導電性針
6と導電性膜3とを検出器8に接続し、該導電性針6を
絶縁膜4につき立てて荷重をかけ、導電性膜3と導電性
針6との電気信号を検出して膜の破壊点を検出器8で検
出し、該膜の耐荷重を測定する構成にされている。
薄膜の硬度測定装置である。 【構成】導電性膜3上に絶縁膜4を塗布した被測定物A
を載置するステージ1に、ほぼ垂直にエアシリンダ7を
配置し、該エアシリンダ7のロッド72下端にロードセ
ル5を装着すると共に、該ロードセル5にはほぼ垂直に
導電性針6を取付け、かつ前記ロードセル5と導電性針
6と導電性膜3とを検出器8に接続し、該導電性針6を
絶縁膜4につき立てて荷重をかけ、導電性膜3と導電性
針6との電気信号を検出して膜の破壊点を検出器8で検
出し、該膜の耐荷重を測定する構成にされている。
Description
【0001】
この考案は、薄膜製品一般に利用される絶縁薄膜の硬度測定装置に関するもの である。
【0002】
従来における絶縁薄膜の硬度測定は、基板上に塗布、形成された絶縁膜をカッ ター等を用いてこすり、傷が付くかどうかで硬度を評価している。
【0003】
しかし、前記従来の技術では、測定者の感に頼って絶縁膜の硬度測定を行って いるため、測定の際は個人差が出るという問題点がある。
【0004】 また、定量的に測定できないため、硬度評価は数値化できないという問題点が ある。
【0005】 そこで、本考案は、上記従来の技術の問題点に鑑み案出されたもので、絶縁膜 の硬度を数値化する絶縁薄膜の硬度測定装置の提供を目的としている。
【0006】
上記目的を達成するために、本考案における絶縁薄膜の硬度測定装置において は、導電性膜上に絶縁膜を塗布した被測定物を載置するステージに、ほぼ垂直に エアシリンダを配置し、該エアシリンダのロッド下端にロードセルを装着すると 共に、該ロードセルにはほぼ垂直に導電性針を取付け、かつ前記ロードセルと導 電性針と導電性膜とを検出器に接続し、該導電性針を絶縁膜につき立てて荷重を かけ、導電性膜と導電性針との電気信号を検出して膜の破壊点を検出器で検出し 、該膜の耐荷重を測定する構成にされている。
【0007】
被測定物をステージ上に載置した後、エアシリンダのロッドを作動させて導電 性針を徐々に降下させ、更に、薄膜に針を突き立てエアーの圧力で更に、該針に 荷重をかけてゆく。
【0008】 この時、前記導電性針の針先と絶縁膜下の導電性部分との間に電気信号をかけ ておき、絶縁膜が該針によって破壊された時、該針と絶縁膜下の導電性部分と接 触し、両者間に信号が流れる。これを検出器で検知し、その時のロードセル(導 電性針の針先)にかかっている荷重を測定する。
【0009】
実施例について図1を参照して説明すると、被測定物Aは、例えばAl、Fe 等の金属板又はガラス基板2上の導電性膜(ITO等)3の表面に、絶縁膜4が 塗布されている。
【0010】 前記被測定物Aを載置するステージ1には、ほぼ垂直にエアー71の供給によ り作動するエアシリンダ7が設置され、該エアシリンダ7のロッド72下端には ロードセル(荷重計)5が装着されている。
【0011】 また、該ロードセル5には、ほぼ垂直に針先0.1mmφ程度の金属の導電性 針6が取付けられている。
【0012】 検出器8は、ロードセル5、導電性針6、導電性膜3の各々に接続してあり、 該導電性膜3と導電性針6との電気信号を検出して絶縁膜4の破壊点を検出し、 該膜の耐荷重を測定するものである。
【0013】 すなわち、導電性針6の針先と絶縁膜4下の導電性部分との間に電気信号をか けておき、絶縁薄膜4が該針によって破壊された時、該針6と絶縁膜4下の導電 性部分と接触し、両者間に信号が流れるのを検知し、その時のロードセル5(導 電性針6の針先)にかかっている荷重を測定している。
【0014】
本考案は、上述の通り構成されているので、従来は、測定者の評価で硬度測定 を行っていたのを、機械的に定量的に測定して数値化できる。従って、絶縁薄膜 の硬度測定は機械的に行うことができる。
【0015】 また、絶縁膜の測定が定量的に測定でき数値化できるため、測定者の個人差が 出るのを解決でき、均一な測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の装置の概略図である。
1 ステージ 3 導電性膜 4 絶縁膜 5 ロードセル 6 導電性針 7 エアシリンダ 72 ロッド 8 検出器 A 被測定物
Claims (1)
- 【請求項1】導電性膜上に絶縁膜を塗布した被測定物を
載置するステージに、ほぼ垂直にエアシリンダを配置
し、該エアシリンダのロッド下端にロードセルを装着す
ると共に、該ロードセルにはほぼ垂直に導電性針を取付
け、かつ前記ロードセルと導電性針と導電性膜とを検出
器に接続し、該導電性針を絶縁膜につき立てて荷重をか
け、導電性膜と導電性針との電気信号を検出して膜の破
壊点を検出器で検出し、該膜の耐荷重を測定して成る絶
縁膜硬度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7299191U JPH0590347U (ja) | 1991-08-20 | 1991-08-20 | 絶縁薄膜の硬度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7299191U JPH0590347U (ja) | 1991-08-20 | 1991-08-20 | 絶縁薄膜の硬度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0590347U true JPH0590347U (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=13505384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7299191U Pending JPH0590347U (ja) | 1991-08-20 | 1991-08-20 | 絶縁薄膜の硬度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0590347U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009158266A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Tdk Corp | 電気化学素子の評価方法及び電気化学素子の評価装置 |
| JP2013540275A (ja) * | 2010-10-22 | 2013-10-31 | セルガード エルエルシー | 貫通及び/又は圧縮試験システム、及び方法 |
| JP2014032173A (ja) * | 2012-07-11 | 2014-02-20 | Nippon Soken Inc | 突き刺し強度測定装置 |
| JP2020041819A (ja) * | 2018-09-06 | 2020-03-19 | 住友金属鉱山株式会社 | 焼成物の硬さ計測法および硬さ計測装置並びに解砕可否判定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02304338A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Seiko Epson Corp | 電気抵抗測定装置 |
-
1991
- 1991-08-20 JP JP7299191U patent/JPH0590347U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02304338A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Seiko Epson Corp | 電気抵抗測定装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2013540275A (ja) * | 2010-10-22 | 2013-10-31 | セルガード エルエルシー | 貫通及び/又は圧縮試験システム、及び方法 |
| JP2016176959A (ja) * | 2010-10-22 | 2016-10-06 | セルガード エルエルシー | 貫通及び/又は圧縮試験システム、及び方法 |
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| JP2020041819A (ja) * | 2018-09-06 | 2020-03-19 | 住友金属鉱山株式会社 | 焼成物の硬さ計測法および硬さ計測装置並びに解砕可否判定方法 |
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