JPH0596886U - 表示体駆動用半導体装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 半導体回路に電圧を供給するための電源端子
３と、測定時に電源端子に代えて半導体回路に電圧を供
給するための測定用電源端子５と、電源端子と測定用電
源端子とに接続する電流−電圧変換回路７と、電流−電
圧変換回路の電圧出力端子６とを有する。 【効果】 数多くの出力端子を有する表示体駆動用半導
体装置でも小さなサイズで作ることができる。さらに安
価な測定治具で測定でき、測定時間も大幅に短縮するこ
とができる。このことから、表示体駆動用半導体装置の
チップサイズそのものを小さく作ることができ、応用の
幅が広がると共に製造コストを低減させることが可能と
なる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は表示体駆動用半導体装置の構成に関し、とくにその測定時間を短縮す るための検査用回路を有する表示体駆動用半導体装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術とその課題】

従来の表示体駆動用半導体装置の構成とこの表示体駆動用半導体装置における 検査測定法補を、図２および図３を用いて説明する。

【０００３】 図２は表示体駆動用半導体装置の検査を行うときの第１の従来例を示すブロッ ク図である。

【０００４】 表示体駆動用半導体装置８は、接地電位に接続する接地電極端子１と、外部電 源に接続して表示体駆動用半導体装置８に電圧を印加するための電源端子３と、 表示体駆動用半導体装置８の中の主な回路動作を行う機能回路４と、表示体駆動 用半導体装置８に信号を入力させる入力端子２と、表示体駆動用半導体装置８の 機能の検査に必要となる検査部分（以下検査用出力端子９と称する）とによって 構成する。

【０００５】 この第１の従来例の場合には、表示体の画素電極を駆動するための画素駆動用 出力電極１０は、それぞれが検査用出力端子９として外部に出力している。

【０００６】 図２において、表示体駆動用半導体装置８の機能を検査するには、電源端子３ に電圧を印加し、パターン発生器（図示せず）を動作させることによって、入力 端子２から入力信号を加え、検査用出力端子９に表示体駆動用半導体装置８の機 能より、予め予想される期待値の電位が出力しているかを調べ、表示体駆動用半 導体装置８の良品と不良品を選別している。

【０００７】 この図２に示す方法では、画素駆動用出力電極１０をすべて検査用出力端子９ として出力しているため、画素駆動用出力電極１０が多くなると検査用出力端子 ９が増加し、それら検査用出力端子９の全部に出力信号検査用の針を接触させな ければならない。

【０００８】 このため、表示体駆動用半導体装置８の外形寸法が大きくなり、またさらに触 針のためのプローブカードが高価になったり、作成が困難になり、そのうえ測定 が不安定になるという課題がある。さらにそのうえ測定を２回に分割して測定す るなどの測定の煩雑化をまねく。

【０００９】 そこで、図２に示す検査出力端子数９を減らす方法として、図３に示す測定方 法が提案されている。

【００１０】 ここで、表示体駆動用半導体装置８と表示体（図示せず）との関係を説明する と、表示体の画素電極または画素電極駆動用のトランジスタの一つ一つを駆動す るのが画素駆動用出力電極１０である。表示体の画素数を多くしたり、液晶ビュ ーファインダーに使用するためなど表示体の面積を小さくするには、一つの表示 体駆動用半導体装置８の面積をあまり増やさないで画素駆動用出力電極１０を増 やす必要がある。

【００１１】 このために、図３に示す方法では、画素駆動用出力電極１０の一部だけを検査 用出力端子９とし、その他の画素駆動用出力電極は、非接触で検査する方法を採 用している。

【００１２】 図３は、表示体駆動用半導体装置検査時の検査方法を示す第２の従来例を示す ブロック図である。

【００１３】 表示体駆動用半導体装置８は、接地電位に接続する接地電極端子１と、表示体 駆動用半導体装置８の中の主な回路動作を行う機能回路４と、画素駆動用出力電 極１０への出力電位を制御する信号を機能回路４に入力する入力端子２と、表示 体駆動用半導体装置８に電源電圧を印加し検査時に機能回路４に流れる電流値を 測定するための電源端子３と、画素駆動用出力電極１０の内の一部を検査用に出 力する検査用出力端子９と、画素駆動用出力電極１０を強制的に短絡させるため の検査回路１２とからなり、さらに検査回路１２の短絡させるタイミングを与え るコントール端子１４を備えている。

【００１４】 この図３に示す構成による検査方法は、画素駆動用出力電極１０の一部を検査 用出力端子９として触針して、入力端子２からパターン発生器によって信号を入 力し、検査用出力端子９が期待通りの動作をしているかを確認する。

【００１５】 その後、すべての画素駆動用出力電極１０が、すべて同一状態になるような入 力信号を入力端子２に与えて、機能回路４を動作させてから、コントロール端子 １４によって検査回路１２を制御し、すべての画素駆動用出力電極１０を短絡さ せる。

【００１６】 このとき、画素駆動用出力電極１０の内の１つでも設定した状態になっていな い場合には、機能回路４内にある値以上の電流が流れる。この電流は、電源端子 ３から供給されるので、電源端子３の電流を測定することによって、触針してい ない画素駆動出力電極１０についても検査用出力端子９と同一の状態になってい るかを調べることができる。

【００１７】 すべての画素駆動用出力電極１０が、同一の状態になることだけの検査では不 充分である。画素駆動用出力電極１０は表示する画像によって、正確にあるタイ ミングのデータを読み込んで、所定の出力状態とならなければならない。

【００１８】 これを検査する方法は、あるタイミングだけデータの状態を異ならせて、画素 駆動用出力電極１０のうちの１つだけがハイレベルで他がローレベルとなるよう に、入力端子２にパターン発生器から信号を入力して機能回路４を動作させる。

【００１９】 この状態でコントロール端子１４を制御し、検査回路１２ですべての画素駆動 用出力電極１０を短絡することによって、正常に動作している場合には機能回路 ４の内部に１つのハイレベルのノードと、他のローレベルのノードとの間に電流 が流れる。

【００２０】 この電流は、外部の電源から電源端子３を通って流れるので、この電源端子３ を通って流れる電流値を期待する電流値と比較することによって、良品か不良品 かの判定を行うことができる。つまり、画素駆動用出力電極１０に針で接触する ことなくタイミングの検査も行うことができる。

【００２１】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、この図３に示す第２の従来例では、電流値を測定し、測定され た電流値を期待する電流値と比較して判定するという方法を取る。このため、測 定するのに非常に時間がかかってしまうという課題がある。

【００２２】 ここで、１回の電流測定の内容を細かく説明する。まず、パターン発生器を動 作させて入力端子２とコントロール端子１４とに信号を与え、画素駆動用出力電 極１０を所望の状態になるよう動作させた後、画素駆動用出力電極１０のすべて を短絡する。

【００２３】 次に、外部電源と電源端子３との間に接続した電流計から、電流値を取り込ん で期待値レベルと比較判定する。

【００２４】 パターン発生器を動作させたり、止めたり、電流値を取り込んで期待値と比較 するのに、パターン発生器が動作している時間に比較してかなり時間を要する。 実際にはこれらの電流測定を、画素駆動用出力電極１０の本数の数倍の回数行う ので、測定に時間がかかりすぎる。

【００２５】 本考案の目的は、上記課題を解決して、測定時間の短縮が可能な表示体駆動用 半導体装置を提供することにある。

【００２６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために本考案の表示体駆動用半導体装置では、半導体回路 に電圧を供給するための電源端子と、測定時に電源端子に代えて電圧を供給する ための測定用電源端子と、これら電源端子と測定用電源端子とに接続する電流− 電圧変換回路と、電流−電圧変換回路の電圧出力端子とを有することを特徴とす る。

【００２７】

【実施例】

以下本考案の実施例を図面に基づいて詳述する。図１は、本考案の実施例にお ける表示体駆動用半導体装置を示すブロック図である。

【００２８】 図１に示すように、表示体駆動用半導体装置８は、接地電位に接続する接地電 極端子１と、表示体駆動用半導体装置８の主な回路動作を行う機能回路４と、画 素駆動用出力電極１０の出力電位を制御する信号を機能回路４に入力する入力端 子２と、表示体駆動用半導体装置８に電源電圧を印加するための電源端子３と、 画素駆動用出力電極１０の一部を検査用に出力させた検査用出力端子９と、画素 駆動用出力電極１０を強制的に短絡させるための検査回路１２と、短絡させるタ イミングを与えるコントール端子１４とを備える。

【００２９】 さらに、図３の第２の従来例と異なるのは、測定するときに電源端子３に代え て電源を印加する測定用電源端子５と、電流−電圧変換回路７とを設けたことで ある。この電流−電圧変換回路５の出力は、電圧出力端子６によって外部に出力 させる。

【００３０】 ここで、本考案の表示体駆動用半導体装置８の測定方法について説明する。測 定時、外部の電源を電源端子３ではなく、測定用電源端子５に接続し、電源端子 ３は未接続状態のままとする。

【００３１】 測定の具体例として、ある特定の画素駆動用出力端子がハイレベルで、ほかの 画素駆動用出力端子がローレベルであることを、確認する場合の測定方法を説明 する。

【００３２】 画素駆動用出力電極１０のうちの１本だけを、排他的にハイレベルにするよう なあるタイミングだけ他と異なった信号を入力端子２から入力して、機能回路４ を動作させる。

【００３３】 次にこの状態で、コントロール端子１４によって検査回路１２をコントロール して、画素駆動用出力電極１０のすべてのノードを短絡する。

【００３４】 このとき、表示体駆動用半導体装置８が正常に機能していれば、機能回路４の 内部に排他的にハイレベルに制御した検査ノードと、その他のローレベル状態の ノードとの間にハイレベルとローレベルの電位差に応じた電流が流れる。

【００３５】 この電流は、外部電源に接続した測定用電源端子５から電流−電圧変換回路７ を通して流れ、その電流値に対応した電圧が電圧出力端子６に出力される。

【００３６】 この電圧値を、１本がハイレベルで他がすべてローレベルの場合の期待する電 流値に対応した期待値電圧と比較することによって、検査しようとしているノー ドが正常に動作したかどうか判定する。

【００３７】 時間を追って順番に測定の内容を説明したが、これらは実際には連続して行わ れ、すべてパターン発生器の動作に伴って行われる。

【００３８】 つまり、図２に示す第１の従来例と同様にパターン発生器を動作させて行うフ ァンクション試験で、図３に示す第２の従来例で電流を測定して行ったのと同様 な検査をすることができる。

【００３９】 この排他的に１本だけハイレベルになるように入力を制御して行う検査を、画 素駆動用出力電極１０のノードすべてについて繰り返し行うが、数多くの測定で あっても１回パターン発生器を動作させることによって、すべての検査を行うこ とができる。

【００４０】 このために、パターン発生器を動作させたり、止めたり、電流値を取り込んだ り、取り込んだ電流値を期待値と比較したりするのに必要だった時間が、すべて 不要になり、大幅に測定時間を短縮することが可能となる。

【００４１】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案によれば、小さい外形寸法で数多くの画素電極有 するなどの非接触測定を採用した場合の安価な測定治具で測定できるなどのメリ ットをそのまま持ち、しかも測定時間を大幅に短縮することが可能な表示体駆動 用半導体装置を提供することができる。さらにそのうえ、外形寸法が小さくなる だけでなく、測定時間を短縮することで、表示体そのものを小さく作ることによ り応用の幅が広がると共に製造コストを大幅に低減させることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の表示体駆動用半導体装置の構成を示す
ブロック図である。

【図２】従来技術による第１の従来例の表示体駆動用半
導体装置の構成を示すブロック図である。

【図３】従来技術による第２の従来例の表示体駆動用半
導体装置の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

３ 電源端子 ４ 機能回路 ５ 測定用電源端子 ６ 電圧出力端子 ７ 電流−電圧変換回路 ８ 表示体駆動用半導体装置

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体回路に電圧を供給するための電源
   端子と、測定時に電源端子に代えて半導体回路に電圧を
   供給するための測定用電源端子と、電源端子と測定用電
   源端子とに接続する電流−電圧変換回路と、電流−電圧
   変換回路の電圧出力端子とを有することを特徴とする表
   示体駆動用半導体装置。