JPH059805B2 - - Google Patents
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- JPH059805B2 JPH059805B2 JP57054202A JP5420282A JPH059805B2 JP H059805 B2 JPH059805 B2 JP H059805B2 JP 57054202 A JP57054202 A JP 57054202A JP 5420282 A JP5420282 A JP 5420282A JP H059805 B2 JPH059805 B2 JP H059805B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- successful
- cause
- nodes
- node
- cct
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
- G05B19/058—Safety, monitoring
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼
動率の向上に寄与するために、プラントの異常事
象をオンライン・リアル・タイムで同定するプラ
ント診断方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a plant diagnostic method for identifying abnormal events in a plant online in real time in order to contribute to improving the operational reliability and availability of large-scale plants.
従来この種の装置として第1図に示すものがあ
つた。図において、1はプロセスデータを読み込
むためのデータ収集装置(例えば、アナログ・デ
イジタル変換器)、2はプロセスデータを基準値
と比較し、許容範囲内にあれば、〓0”、範囲外
にあれば〓1”に変換するための演算処理装置3
は演算処理装置2が演算処理した結果を格納して
おく記憶装置4は原因結果ツリー(以下CCTと
記す)を記憶しておく記憶装置5は記憶装置3に
格納してあるプロセスデータと記憶装置4に記憶
してあるCCTを用いて異常の第1原因を同定す
る診断処理装置、6は診断結果を表示するための
ブラウン管表示装置である。 A conventional device of this type is shown in FIG. In the figure, 1 is a data acquisition device (for example, an analog-to-digital converter) for reading process data, and 2 is a data acquisition device that compares the process data with a reference value. arithmetic processing unit 3 for converting
A storage device 4 stores the results of calculations performed by the arithmetic processing unit 2. A storage device 5 stores the cause-and-effect tree (hereinafter referred to as CCT).A storage device 5 stores the process data stored in the storage device 3. 4 is a diagnostic processing device that identifies the first cause of the abnormality using the stored CCT, and 6 is a cathode ray tube display device for displaying the diagnostic results.
次に動作について説明する。 Next, the operation will be explained.
プロセス・データをXi(i=1,2,…,N)
とする。Xiはデータ収集装置1により量子化さ
れる。量子化されたデータXiを入力として演算
処理装置2は式に示す処理を施こし、その結果
Si(i=1,2,…,N)及び事象発生時刻を記
憶装置3に格納する。 Process data Xi (i=1, 2,...,N)
shall be. Xi is quantized by the data acquisition device 1. Using the quantized data Xi as input, the arithmetic processing unit 2 performs the processing shown in the formula, and the result is
Si (i=1, 2, . . . , N) and the event occurrence time are stored in the storage device 3.
XL<i-Xi<-XU i −>Si=0
XU i<Xiまたは、Xi<XL i=>Si=1
i=1,2,…,N
XL i:下限警報レベル、XU i:上限警報レベル−
ここでSiをXiのステータスと呼ぶ。また、ス
テータスが1となつた時間を事象発生時刻と呼
ぶ。 X L < i- Xi< - X U i −>Si=0 X U i <Xi or Xi<X L i => Si=1 i=1, 2,..., N X L i : Lower limit alarm level, X U i : Upper limit alarm level - Here, Si is called the status of Xi. Further, the time when the status becomes 1 is called the event occurrence time.
記憶装置4に格納されているCCTの一部分の
例を第2図に示す。第2図中、M6,M7は診断
メツセージ、τは時間遅れ、G11,G12は論理積
ゲート、G21,G22は論理和ゲートを夫々示す。
CCTにおいて、Siが定義される位置をノードと
呼んでいる。第2図中のS1,…,S7は記憶装置3
に格納されている。異常の伝播シーケンスをステ
ータスの論理関係として記述したのがCCTであ
るが、ステータス間の事象伝播時間が重要な場合
は、時間遅れ(第2図中のτ)を用いる。CCT
実行処理は記憶装置3と4からの情報を基に診断
処理装置5で行なわれる。外乱の第1原因検索の
ため以下の処理が実施される。 An example of a portion of the CCT stored in the storage device 4 is shown in FIG. In FIG. 2, M6 and M7 are diagnostic messages, τ is a time delay, G 11 and G 12 are AND gates, and G 21 and G 22 are OR gates, respectively.
In CCT, the position where Si is defined is called a node. S 1 , ..., S 7 in Fig. 2 are storage devices 3
is stored in. CCT describes the abnormality propagation sequence as a logical relationship between statuses, but if the event propagation time between statuses is important, a time delay (τ in Figure 2) is used. CCT
The execution process is performed by the diagnostic processing device 5 based on information from the storage devices 3 and 4. The following process is performed to search for the first cause of disturbance.
まず多数のCCT群の中から検索すべきサブ
CCT部分を抽出するために記憶装置3に格納さ
れているエントリーノード(解析を始めるノード
としてあらかじめ指定)のうちステータスが変化
したものを検出し、そのノードから下位のノード
側への献策が始まる。そして最初のゲートか
ANDゲートかORゲートか調べる。次に記憶装置
3に書き込まれているプラント観測データである
そのゲートの各入力の状態及び事象発生時刻の関
係が、記憶装置4に書き込まれているCCTモデ
ルと一致しているか調べる。ロジツクが成立して
いる場合、更に下位のノードへと展開するため記
憶装置4に格納されているCCTモデルに従つて
次の検索すべきノードを決める。検索ノードの順
番は、エントリー・ノードから始めて、エントリ
ー・ノードに対して子供に当るノードを全て検索
したのち孫に当るノードを全て検索すると言う順
序である。 First, subs to be searched from a large number of CCT groups.
In order to extract the CCT portion, an entry node whose status has changed (designated in advance as a node to start analysis) stored in the storage device 3 is detected, and a plan is started from that node to the lower nodes. And the first gate?
Find out whether it is an AND gate or an OR gate. Next, it is checked whether the relationship between the state of each input of the gate and the event occurrence time, which is the plant observation data written in the storage device 3, matches the CCT model written in the storage device 4. If the logic is established, the next node to be searched is determined according to the CCT model stored in the storage device 4 in order to expand to lower nodes. The order of search nodes is to start with the entry node, search for all nodes that are children of the entry node, and then search for all nodes that are grandchildren of the entry node.
こうして順番に従つて、エントリー・ノードの
下方に接続されている各ゲート毎に、各ゲートの
入力側のノードの偽(不一致)、真(一致)を判
定し、真なブランチを継ぎあわせていく。そして
展開がプライマリー・ノードにまで達すると、こ
のエントリー・ノードのロジツクが成立し、原因
同定が成功したと判定する。CCTの各所に事象
間のタイムデイレイが設定されているが実際にこ
れより早く事象が進行した場合には、それ以下の
ノードの展開は行なわない。 In this way, in order, for each gate connected below the entry node, it is determined whether the node on the input side of each gate is false (mismatch) or true (match), and the true branches are spliced together. . When the expansion reaches the primary node, the logic of this entry node is established, and it is determined that the cause has been successfully identified. Time delays between events are set in various parts of the CCT, but if an event actually progresses faster than this, nodes below that will not be expanded.
すなわち、展開の途中でエントリー・ノードに
対してカセツト・セツトがない事が判明した時は
そこで診断を打ち切り、セカンドベストメツセー
ジというエントリーノード以下で「真」になつて
いるノードについているメツセージをすべて出力
する。例えばANDロジツクの一方が「偽」であ
れば以下の展開は行なわず、セカンドベストメツ
セージの出力をする。従つて、診断が打ち切られ
るか又は終了すれば、次のエントリー・ノードか
らの解析が優先順位を考慮して実行される。以上
の処理を第3図のCCTについて説明する。第3
図中、M1,M4,M17,M18は診断メツセージ、
G13,G14,G15,G16は論理積ゲート、G23,G24,
G25,G26,G27,G28,G29は論理和ゲート、●は
観測ノード、○は非観測ノード、○い魯┘鵐肇蝓 In other words, when it is found that there is no cassette set for the entry node during the expansion, the diagnosis is stopped and all messages attached to nodes that are "true" below the entry node called the second best message are output. do. For example, if one side of the AND logic is "false", the following expansion is not performed and the second best message is output. Therefore, once the diagnosis is aborted or finished, analysis from the next entry node is performed taking priority into account. The above processing will be explained with respect to the CCT shown in FIG. Third
In the figure, M 1 , M 4 , M 17 , M 18 are diagnostic messages,
G 13 , G 14 , G 15 , G 16 are AND gates, G 23 , G 24 ,
G 25 , G 26, G 27 , G 28 , G 29 are OR gates, ● are observation nodes, ○ are non-observation nodes, ○†Ilu┘鵐肇蝓
Claims (1)
ンスを論理式で記述した原因結果ツリーを演算処
理するプラント診断方法において、原因同定時、
原因同定成功の場合はあらかじめ定めておいた記
憶領域の内容を変更し、原因同定失敗の場合は前
記記憶領域の内容を見て他の関連したエントリー
ノードで成功しているかを調べ、成功していれば
次へ進み、成功していなければ保留し、すべての
エントリーノードが終了後前記保留となつている
エントリーノードについてセカンドベストメツセ
ージを出力することを特徴とするプラント診断方
法。1 In a plant diagnosis method that processes a cause-and-effect tree that describes the propagation sequence of various abnormal events that occur in a plant using logical formulas, when identifying the cause,
If the cause identification is successful, the contents of the predetermined storage area are changed; if the cause identification is unsuccessful, the contents of the storage area are checked to see if other related entry nodes are successful. If the entry node is successful, proceed to the next step; if it is not successful, the plant diagnosis method is suspended, and after all entry nodes have been completed, a second best message is output for the suspended entry node.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054202A JPS58168965A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054202A JPS58168965A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58168965A JPS58168965A (en) | 1983-10-05 |
| JPH059805B2 true JPH059805B2 (en) | 1993-02-08 |
Family
ID=12963956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57054202A Granted JPS58168965A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58168965A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012011868A (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Jtekt Corp | Rack shaft supporting device and steering device for vehicle |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58121409A (en) * | 1982-01-13 | 1983-07-19 | Hitachi Ltd | Displaying method for causal sequence of fault |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57054202A patent/JPS58168965A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58168965A (en) | 1983-10-05 |
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