JPH059854B2 - - Google Patents
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- JPH059854B2 JPH059854B2 JP58203330A JP20333083A JPH059854B2 JP H059854 B2 JPH059854 B2 JP H059854B2 JP 58203330 A JP58203330 A JP 58203330A JP 20333083 A JP20333083 A JP 20333083A JP H059854 B2 JPH059854 B2 JP H059854B2
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- light beam
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、いわゆるDRAWデイスクのように
ユーザーが信号を光学的に記録することのできる
光学デイスクに信号を記録したり、この光学デイ
スクから信号を再生する光学式デイスクプレーヤ
ーの、デイスクに入射する光ビームをデイスクの
トラツク上に正しくトレースさせるトラツキング
サーボ装置に関する。
ユーザーが信号を光学的に記録することのできる
光学デイスクに信号を記録したり、この光学デイ
スクから信号を再生する光学式デイスクプレーヤ
ーの、デイスクに入射する光ビームをデイスクの
トラツク上に正しくトレースさせるトラツキング
サーボ装置に関する。
背景技術とその問題点
いわゆるDRAWデイスクのようにユーザーが
信号を光学的に記録することのできる光学デイス
クでは、一般にデイスクの基板表面にトラツクな
いしトラツクのアドレスなどを示すグループがプ
リカツテイングされる。第１図はその１つのラン
ド記録とよばれる方式で、デイスクの基板表面に
デイスクに入射する光ビームの1/8波長に相当す
る高さのトラツクを示すランド１が形成され、こ
のランド１の一部にデイスクに入射する光ビーム
の1/4波長に相当する深さのグループ２がプリカ
ツテイングされることによつてトラツクのアドレ
スなどが記録される。第２図は別のグループ記録
とよばれる方式で、デイスクの基板表面にデイス
クに入射する光ビームの1/8波長に相当する深さ
のトラツクを示すグループ３がプリカツテイング
され、このグループ３にトラツクのアドレスなど
が光ビームの照射により予め記録される。
信号を光学的に記録することのできる光学デイス
クでは、一般にデイスクの基板表面にトラツクな
いしトラツクのアドレスなどを示すグループがプ
リカツテイングされる。第１図はその１つのラン
ド記録とよばれる方式で、デイスクの基板表面に
デイスクに入射する光ビームの1/8波長に相当す
る高さのトラツクを示すランド１が形成され、こ
のランド１の一部にデイスクに入射する光ビーム
の1/4波長に相当する深さのグループ２がプリカ
ツテイングされることによつてトラツクのアドレ
スなどが記録される。第２図は別のグループ記録
とよばれる方式で、デイスクの基板表面にデイス
クに入射する光ビームの1/8波長に相当する深さ
のトラツクを示すグループ３がプリカツテイング
され、このグループ３にトラツクのアドレスなど
が光ビームの照射により予め記録される。
ところで、このランド記録やグループ記録の方
式による、プリカツテイング部とユーザー記録可
能部からなるトラツクを有する光学デイスクで
は、プレーヤーにおいてデイスクに信号を記録し
たり、デイスクから信号を再生する際における、
デイスクに入射する光ビームのトラツクに対する
ずれを検出するトラツキングエラー信号の大きさ
が、光ビームのトラツクに対するずれが同じであ
つても、光ビームがトラツクのプリカツテイング
部をトレースするときとユーザー記録可能部をト
レースするときとで大きく変化し、そのため、デ
イスクに入射する光ビームをデイスクのトラツク
上に正しくトレースさせるトラツキングサーボが
安定にかからない不都合がある。
式による、プリカツテイング部とユーザー記録可
能部からなるトラツクを有する光学デイスクで
は、プレーヤーにおいてデイスクに信号を記録し
たり、デイスクから信号を再生する際における、
デイスクに入射する光ビームのトラツクに対する
ずれを検出するトラツキングエラー信号の大きさ
が、光ビームのトラツクに対するずれが同じであ
つても、光ビームがトラツクのプリカツテイング
部をトレースするときとユーザー記録可能部をト
レースするときとで大きく変化し、そのため、デ
イスクに入射する光ビームをデイスクのトラツク
上に正しくトレースさせるトラツキングサーボが
安定にかからない不都合がある。
発明の目的
本発明は、かかる点に鑑み、プリカツテイング
部とユーザー記録可能部からなるトラツクを有す
る光学デイスクのプレーヤーにおいて、トラツキ
ングサーボが常に安定にかかるようにしたもので
ある。
部とユーザー記録可能部からなるトラツクを有す
る光学デイスクのプレーヤーにおいて、トラツキ
ングサーボが常に安定にかかるようにしたもので
ある。
発明の概要
前述のプリカツテイング部とユーザー記録可能
部からなるトラツクを有する光学デイスクに光ビ
ームが入射せしめられるもとで、その光学デイス
クからの光ビームが検出されて得られる再生信号
は、光ビームがトラツクのプリカツテイング部を
トレースするときとユーザー記録可能部をトレー
スするときで電位ないし波形が変化する。具体的
には、第１図のランド記録の方式による場合、第
３図に示すように、再生信号RFは、プリカツテ
イング部Ｐでは電位V1及びV2の中間の電位と電
位V1より低いある電位との間で変化して、電位
V1を断続的によぎるのに対して、ユーザー記録
可能部Ｕでは電位V1及びV2の中間の電位より低
くなることがなく、従つて電位V1をよぎること
がなく、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒでは
電位V1及びV2の中間の電位と電位V2より高いあ
る電位との間で変化して、電位V2を断続的によ
ぎり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎでは電
位V1及びV2の中間の電位に保たれる。また、第
２図のグループ記録の方式による場合、第４図に
示すように、再生信号RFは、プリカツテイング
部Ｐでは電位V3及びV4の中間の電位と電位V3よ
り低いある電位との間で変化して、電位V3を断
続的によぎるものの電位V4をよぎることがない
のに対して、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒ
では電位V4より高いある電位と電位V3より低い
ある電位との間で変化して、電位V3及びV4を断
続的によぎり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部
Ｎでは電位V3より低いある電位に保たれる。
部からなるトラツクを有する光学デイスクに光ビ
ームが入射せしめられるもとで、その光学デイス
クからの光ビームが検出されて得られる再生信号
は、光ビームがトラツクのプリカツテイング部を
トレースするときとユーザー記録可能部をトレー
スするときで電位ないし波形が変化する。具体的
には、第１図のランド記録の方式による場合、第
３図に示すように、再生信号RFは、プリカツテ
イング部Ｐでは電位V1及びV2の中間の電位と電
位V1より低いある電位との間で変化して、電位
V1を断続的によぎるのに対して、ユーザー記録
可能部Ｕでは電位V1及びV2の中間の電位より低
くなることがなく、従つて電位V1をよぎること
がなく、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒでは
電位V1及びV2の中間の電位と電位V2より高いあ
る電位との間で変化して、電位V2を断続的によ
ぎり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎでは電
位V1及びV2の中間の電位に保たれる。また、第
２図のグループ記録の方式による場合、第４図に
示すように、再生信号RFは、プリカツテイング
部Ｐでは電位V3及びV4の中間の電位と電位V3よ
り低いある電位との間で変化して、電位V3を断
続的によぎるものの電位V4をよぎることがない
のに対して、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒ
では電位V4より高いある電位と電位V3より低い
ある電位との間で変化して、電位V3及びV4を断
続的によぎり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部
Ｎでは電位V3より低いある電位に保たれる。
この点に着目して、本発明では、プリカツテイ
ング部とユーザー記録可能部とが設けられたトラ
ツクを有する光学デイスクに光ビームが入射せし
められるもとで、その光学デイスクからの光ビー
ムが検出されて得られる再生信号を基準電圧と比
較することにより、デイスクに入射する光ビーム
がトラツクのプリカツテイング部をトレースして
いるかユーザー記録可能部をトレースしているか
を検出し、その検出出力によつて、デイスクに入
射する光ビームがトラツクのプリカツテイング部
をトレースするときとユーザー記録可能部をトレ
ースするときとでトラツキングサーボのループゲ
インが等しくなるように、トラツキングエラー信
号の伝送ゲインを制御する。
ング部とユーザー記録可能部とが設けられたトラ
ツクを有する光学デイスクに光ビームが入射せし
められるもとで、その光学デイスクからの光ビー
ムが検出されて得られる再生信号を基準電圧と比
較することにより、デイスクに入射する光ビーム
がトラツクのプリカツテイング部をトレースして
いるかユーザー記録可能部をトレースしているか
を検出し、その検出出力によつて、デイスクに入
射する光ビームがトラツクのプリカツテイング部
をトレースするときとユーザー記録可能部をトレ
ースするときとでトラツキングサーボのループゲ
インが等しくなるように、トラツキングエラー信
号の伝送ゲインを制御する。
実施例
第５図は本発明のトラツキングサーボ装置の一
例で、第１図及び第３図で説明したランド記録の
方式による場合に対応する例で、光学ピツクアツ
プを備え、その光学ピツクアツプには例えばトラ
ツキングエラー検出用に２分割された光検出器１
１とフオーカスエラー検出用に４分割された光検
出器１２が設けられ、光検出器１１の２個の光検
出素子１１Ａ及び１１Ｂの出力が減算回路２１に
供給されて、素子１１Ａ及び１１Ｂの出力の差の
トラツキングエラー信号TEが取り出され、光検
出器１２のある対角線方向の２個の光検出素子１
２Ａ及び１２Ｃの出力が加算回路２２に供給さ
れ、別の対角線方向の２個の光検出素子１２Ｂ及
び１２Ｄの出力が加算回路２３に供給され、加算
回路２２及び２３の出力が減算回路２４に供給さ
れて、素子１２Ａ及び１２Ｃの出力の和と素子１
２Ｂ及び１２Ｄの出力の和との差のフオーカスエ
ラー信号FEが取り出され、加算回路２２及び２
３の出力が加算回路２５に供給されて、素子１２
Ａ，１２Ｂ，１２Ｃ及び１２Ｄの出力の和の情報
再生信号である再生信号RFが取り出される。即
ち、光検出器１１及び１２とそれらに接続された
減算回路２１及び２４及び加算回路２２，２３及
び２５とによつて、プリカツテイング部とユーザ
ー記録可能部とが設けられたトラツクを有する光
学デイスクに光ビームが入射せしめられるもと
で、その光学デイスクからの光ビームを検出して
トラツキングエラー信号TEとフオーカスエラー
信号FEと情報再生信号である再生信号RFとを得
る信号形成部が構成されているのである。
例で、第１図及び第３図で説明したランド記録の
方式による場合に対応する例で、光学ピツクアツ
プを備え、その光学ピツクアツプには例えばトラ
ツキングエラー検出用に２分割された光検出器１
１とフオーカスエラー検出用に４分割された光検
出器１２が設けられ、光検出器１１の２個の光検
出素子１１Ａ及び１１Ｂの出力が減算回路２１に
供給されて、素子１１Ａ及び１１Ｂの出力の差の
トラツキングエラー信号TEが取り出され、光検
出器１２のある対角線方向の２個の光検出素子１
２Ａ及び１２Ｃの出力が加算回路２２に供給さ
れ、別の対角線方向の２個の光検出素子１２Ｂ及
び１２Ｄの出力が加算回路２３に供給され、加算
回路２２及び２３の出力が減算回路２４に供給さ
れて、素子１２Ａ及び１２Ｃの出力の和と素子１
２Ｂ及び１２Ｄの出力の和との差のフオーカスエ
ラー信号FEが取り出され、加算回路２２及び２
３の出力が加算回路２５に供給されて、素子１２
Ａ，１２Ｂ，１２Ｃ及び１２Ｄの出力の和の情報
再生信号である再生信号RFが取り出される。即
ち、光検出器１１及び１２とそれらに接続された
減算回路２１及び２４及び加算回路２２，２３及
び２５とによつて、プリカツテイング部とユーザ
ー記録可能部とが設けられたトラツクを有する光
学デイスクに光ビームが入射せしめられるもと
で、その光学デイスクからの光ビームを検出して
トラツキングエラー信号TEとフオーカスエラー
信号FEと情報再生信号である再生信号RFとを得
る信号形成部が構成されているのである。
再生信号RFは検出回路３０に供給されて、再
生信号RFから、デイスクに入射する光ビームが
トラツクのプリカツテイング部をトレースしてい
るかユーザー記録可能部をトレースしているかが
検出される。この例では、検出回路３０が電圧比
較回路３１と波形整形回路３２で構成され、再生
信号RFが電圧比較回路３１に供給されて第３図
で説明した電位V1の基準電圧と比較されて、電
圧比較回路３１の出力信号として、第６図に示す
ように、再生信号RFが電位V1以上のとき低レベ
ルとなり、電位V1より低いとき高レベルになる、
従つて、デイスクに入射する光ビームがトラツク
のプリカツテイング部Ｐをトレースするときは低
レベルと高レベルを断続的にとり、ユーザー記録
可能部Ｕをトレースするときは低レベルに保持さ
れる信号C1が得られ、この信号C1が波形整形回
路３２に供給されて、波形整形回路３２の出力信
号として、同図に示すように、デイスクに入射す
る光ビームがトラツクのプリカツテイング部Ｐを
トレースするときは高レベルになり、ユーザー記
録可能部Ｕをトレースするときは低レベルになる
検出信号GCが得られる。波形整形回路３２は、
例えば、信号C1を積分する積分回路とその積分
信号を所定電位の基準電圧と比較する電圧比較回
路で構成される。
生信号RFから、デイスクに入射する光ビームが
トラツクのプリカツテイング部をトレースしてい
るかユーザー記録可能部をトレースしているかが
検出される。この例では、検出回路３０が電圧比
較回路３１と波形整形回路３２で構成され、再生
信号RFが電圧比較回路３１に供給されて第３図
で説明した電位V1の基準電圧と比較されて、電
圧比較回路３１の出力信号として、第６図に示す
ように、再生信号RFが電位V1以上のとき低レベ
ルとなり、電位V1より低いとき高レベルになる、
従つて、デイスクに入射する光ビームがトラツク
のプリカツテイング部Ｐをトレースするときは低
レベルと高レベルを断続的にとり、ユーザー記録
可能部Ｕをトレースするときは低レベルに保持さ
れる信号C1が得られ、この信号C1が波形整形回
路３２に供給されて、波形整形回路３２の出力信
号として、同図に示すように、デイスクに入射す
る光ビームがトラツクのプリカツテイング部Ｐを
トレースするときは高レベルになり、ユーザー記
録可能部Ｕをトレースするときは低レベルになる
検出信号GCが得られる。波形整形回路３２は、
例えば、信号C1を積分する積分回路とその積分
信号を所定電位の基準電圧と比較する電圧比較回
路で構成される。
そして、トラツキングエラー信号TEがゲイン
コントロール回路４１を介してトラツキング駆動
コイル、即ち光ビームのデイスクへの入射位置を
デイスクの半径方向に動かすトラツキング駆動装
置のコイル４２が供給され、検出回路３０の出力
信号GCがゲインコントロール回路４１にゲイン
コントロール信号として供給されて、デイスクに
入射する光ビームがトラツクのプリカツテイング
部Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕ
をトレースするときとでトラツキングサーボのル
ープゲインが等しくなるように、出力信号GCが
高レベルであるか低レベルであるかに応じて、即
ちデイスクに入射する光ビームがトラツクのプリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕをトレースするときとでトラツキン
グエラー信号TEの伝送ゲインが変えられる。
コントロール回路４１を介してトラツキング駆動
コイル、即ち光ビームのデイスクへの入射位置を
デイスクの半径方向に動かすトラツキング駆動装
置のコイル４２が供給され、検出回路３０の出力
信号GCがゲインコントロール回路４１にゲイン
コントロール信号として供給されて、デイスクに
入射する光ビームがトラツクのプリカツテイング
部Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕ
をトレースするときとでトラツキングサーボのル
ープゲインが等しくなるように、出力信号GCが
高レベルであるか低レベルであるかに応じて、即
ちデイスクに入射する光ビームがトラツクのプリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕをトレースするときとでトラツキン
グエラー信号TEの伝送ゲインが変えられる。
第７図は本発明のトラツキングサーボ装置の他
の例で、第２図及び第４図で説明したグループ記
録の方式による場合に対応する例で、検出回路３
０の具体的構成が異なるほかは第５図の例と同じ
である。
の例で、第２図及び第４図で説明したグループ記
録の方式による場合に対応する例で、検出回路３
０の具体的構成が異なるほかは第５図の例と同じ
である。
この例では、検出回路３０が２個の電圧比較回
路３３及び３４と２個の波形整形回路３５及び３
６とインバータ３７とアンドゲート３８で構成さ
れ、再生信号RFが電圧比較回路３３に供給され
て第４図で説明した電位V3の基準電圧と比較さ
れて、電圧比較回路３３の出力信号として、第８
図に示すように、再生信号RFが電位V3以下のと
き低レベルになり、電位V3より高いとき高レベ
ルになる、従つて、デイスクに入射する光ビーム
がトラツクのプリカツテイング部Ｐをトレースす
るときとユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをト
レースするときは低レベルと高レベルを断続的に
とり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎをトレ
ースするときは低レベルに保持される信号C3が
得られ、この信号C3が波形整形回路３５に供給
されて、波形整形回路３５の出力信号として、同
図に示すように、デイスクに入射する光ビームが
トラツクのプリカツテイング部Ｐをトレースする
ときとユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをトレ
ースするときは高レベルになり、ユーザー記録可
能部Ｕの未記録部Ｎをトレースするときは低レベ
ルになる信号I3が得られる。
路３３及び３４と２個の波形整形回路３５及び３
６とインバータ３７とアンドゲート３８で構成さ
れ、再生信号RFが電圧比較回路３３に供給され
て第４図で説明した電位V3の基準電圧と比較さ
れて、電圧比較回路３３の出力信号として、第８
図に示すように、再生信号RFが電位V3以下のと
き低レベルになり、電位V3より高いとき高レベ
ルになる、従つて、デイスクに入射する光ビーム
がトラツクのプリカツテイング部Ｐをトレースす
るときとユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをト
レースするときは低レベルと高レベルを断続的に
とり、ユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎをトレ
ースするときは低レベルに保持される信号C3が
得られ、この信号C3が波形整形回路３５に供給
されて、波形整形回路３５の出力信号として、同
図に示すように、デイスクに入射する光ビームが
トラツクのプリカツテイング部Ｐをトレースする
ときとユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをトレ
ースするときは高レベルになり、ユーザー記録可
能部Ｕの未記録部Ｎをトレースするときは低レベ
ルになる信号I3が得られる。
また、再生信号RFが電圧比較回路３４に供給
されて第４図で説明した電位V4の基準電圧と比
較されて、電圧比較回路３４の出力信号として、
第８図に示すように、再生信号RFが電位V4以下
のとき低レベルになり、電位V4より高いとき高
レベルになる、従つて、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのユーザー記録可能部Ｕの既記録
部Ｒをトレースするときは低レベルと高レベルを
断続的にとり、プリカツテイング部Ｐをトレース
するときとユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎを
トレースするときは低レベルに保持される信号
C4が得られ、この信号C4が波形整形回路３６に
供給されて、波形整形回路３６の出力信号とし
て、同図に示すように、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのユーザー記録可能部Ｕの既記録
部Ｒをトレースするときは高レベルになり、プリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕの未記録部Ｎをトレースするときは
低レベルになる信号I4が得られ、この信号I4がイ
ンバータ３７に供給されて、インバータ３７の出
力信号として、同図に示すように、デイスクに入
射する光ビームがトラツクのプリカツテイング部
Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕの
未記録部Ｎをトレースするときは高レベルにな
り、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをトレー
スするときは低レベルになる信号4が得られる。
されて第４図で説明した電位V4の基準電圧と比
較されて、電圧比較回路３４の出力信号として、
第８図に示すように、再生信号RFが電位V4以下
のとき低レベルになり、電位V4より高いとき高
レベルになる、従つて、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのユーザー記録可能部Ｕの既記録
部Ｒをトレースするときは低レベルと高レベルを
断続的にとり、プリカツテイング部Ｐをトレース
するときとユーザー記録可能部Ｕの未記録部Ｎを
トレースするときは低レベルに保持される信号
C4が得られ、この信号C4が波形整形回路３６に
供給されて、波形整形回路３６の出力信号とし
て、同図に示すように、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのユーザー記録可能部Ｕの既記録
部Ｒをトレースするときは高レベルになり、プリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕの未記録部Ｎをトレースするときは
低レベルになる信号I4が得られ、この信号I4がイ
ンバータ３７に供給されて、インバータ３７の出
力信号として、同図に示すように、デイスクに入
射する光ビームがトラツクのプリカツテイング部
Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕの
未記録部Ｎをトレースするときは高レベルにな
り、ユーザー記録可能部Ｕの既記録部Ｒをトレー
スするときは低レベルになる信号4が得られる。
そして、波形整形回路３５の出力信号I3とイン
バータ３７の出力信号4がアンドゲート３８に供
給されて、アンドゲート３８の出力信号として、
第８図に示示すように、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのプリカツテイング部Ｐをトレー
スするときは高レベルになり、ユーザー記録可能
部Ｕをトレースするときは低レベルになる検出信
号GCが得られ、第５図の例と同様に、この検出
信号GCがゲインコントロール回路４１にゲイン
コントロール信号として供給されて、デイスクに
入射する光ビームがトラツクのプリカツテイング
部Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕ
をトレースするときとでトラツキングサーボのル
ープゲインが等しくなるように、出力信号GCが
高レベルであるか低レベルであるかに応じて、即
ちデイスクに入射する光ビームがトラツクのプリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕをトレースするときとでトラツキン
グエラー信号TEの伝送ゲインが変えられる。
バータ３７の出力信号4がアンドゲート３８に供
給されて、アンドゲート３８の出力信号として、
第８図に示示すように、デイスクに入射する光ビ
ームがトラツクのプリカツテイング部Ｐをトレー
スするときは高レベルになり、ユーザー記録可能
部Ｕをトレースするときは低レベルになる検出信
号GCが得られ、第５図の例と同様に、この検出
信号GCがゲインコントロール回路４１にゲイン
コントロール信号として供給されて、デイスクに
入射する光ビームがトラツクのプリカツテイング
部Ｐをトレースするときとユーザー記録可能部Ｕ
をトレースするときとでトラツキングサーボのル
ープゲインが等しくなるように、出力信号GCが
高レベルであるか低レベルであるかに応じて、即
ちデイスクに入射する光ビームがトラツクのプリ
カツテイング部Ｐをトレースするときとユーザー
記録可能部Ｕをトレースするときとでトラツキン
グエラー信号TEの伝送ゲインが変えられる。
発明の効果
本発明によれば、プリカツテイング部とユーザ
ー記録可能部とが設けられたトラツクを有する光
学デイスクに光ビームが入射せしめられるもと
で、その光学デイスクからの光ビームを検出され
て得られる情報再生信号を基準電圧と比較するこ
とにより、デイスクに入射する光ビームがトラツ
クのプリカツテイング部をトレースしているかユ
ーザー記録可能部をトレースしているかを検出
し、その検出出力によつて、デイスクに入射する
光ビームがトラツクのプリカツテイング部をトレ
ースするときとユーザー記録可能部をトレースす
るときとでトラツキングサーボのループゲインが
等しくなるように、トラツキングエラー信号の伝
送ゲインを規制して、デイスクの基板表面の形状
がプリカツテイング部とユーザー記録可能部で異
なることによる、トラツキングエラーのプリカツ
テイング部とユーザー記録可能部での検出感度の
違いを回路的に補正するようにしたので、常に安
定かつ適切なトラツキングサーボがかかるように
なる。しかも、トラツキングエラー信号の伝送ゲ
インを、光学デイスクに入射する光ビームがトラ
ツクのプリカツテイング部をトレースする状態と
トラツクのユーザー記録可能部をトレースする状
態とに応じて夫々予め設定された互いに異なる値
をとるものとして、トラツキングエラー信号の伝
送ゲインの変化を、光学デイスクに入射する光ビ
ームのトラツクのプリカツテイング部をトレース
する状態からトラツクのユーザー記録可能部をト
レースする状態への変化、あるいは、その逆の変
化に応答して極めて迅速に行われるものとなすこ
とができる。
ー記録可能部とが設けられたトラツクを有する光
学デイスクに光ビームが入射せしめられるもと
で、その光学デイスクからの光ビームを検出され
て得られる情報再生信号を基準電圧と比較するこ
とにより、デイスクに入射する光ビームがトラツ
クのプリカツテイング部をトレースしているかユ
ーザー記録可能部をトレースしているかを検出
し、その検出出力によつて、デイスクに入射する
光ビームがトラツクのプリカツテイング部をトレ
ースするときとユーザー記録可能部をトレースす
るときとでトラツキングサーボのループゲインが
等しくなるように、トラツキングエラー信号の伝
送ゲインを規制して、デイスクの基板表面の形状
がプリカツテイング部とユーザー記録可能部で異
なることによる、トラツキングエラーのプリカツ
テイング部とユーザー記録可能部での検出感度の
違いを回路的に補正するようにしたので、常に安
定かつ適切なトラツキングサーボがかかるように
なる。しかも、トラツキングエラー信号の伝送ゲ
インを、光学デイスクに入射する光ビームがトラ
ツクのプリカツテイング部をトレースする状態と
トラツクのユーザー記録可能部をトレースする状
態とに応じて夫々予め設定された互いに異なる値
をとるものとして、トラツキングエラー信号の伝
送ゲインの変化を、光学デイスクに入射する光ビ
ームのトラツクのプリカツテイング部をトレース
する状態からトラツクのユーザー記録可能部をト
レースする状態への変化、あるいは、その逆の変
化に応答して極めて迅速に行われるものとなすこ
とができる。
第１図及び第２図はそれぞれデイスクの基板表
面の形態の一例を示す一部を断面にした斜視図、
第３図及び第４図はそれぞれ第１図及び第２図に
対応する再生信号波形を示す図、第５図は本発明
のトラツキングサーボ装置の一例を示す接続図、
第６図はその要部の動作の説明のための波形図、
第７図は本発明のトラツキングサーボ装置の他の
例を示す接続図、第８図はその要部の動作の説明
のための波形図である。 図中、１はランド、２及び３はグルーブ、１１
及び１２は光検出器、TEはトラツキングエラー
信号、RFは再生信号、３０は検出回路、３１，
３３及び３４は電圧比較回路、４１はゲインコン
トロール回路、４２はトラツキング駆動コイルで
ある。
面の形態の一例を示す一部を断面にした斜視図、
第３図及び第４図はそれぞれ第１図及び第２図に
対応する再生信号波形を示す図、第５図は本発明
のトラツキングサーボ装置の一例を示す接続図、
第６図はその要部の動作の説明のための波形図、
第７図は本発明のトラツキングサーボ装置の他の
例を示す接続図、第８図はその要部の動作の説明
のための波形図である。 図中、１はランド、２及び３はグルーブ、１１
及び１２は光検出器、TEはトラツキングエラー
信号、RFは再生信号、３０は検出回路、３１，
３３及び３４は電圧比較回路、４１はゲインコン
トロール回路、４２はトラツキング駆動コイルで
ある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ プリカツテイング部とユーザー記録可能部と
が設けられたトラツクを有する光学デイスクに光
ビームが入射せしめられるもとで、上記光学デイ
スクからの光ビームを検出して情報再生信号とト
ラツキングエラー信号とを得る信号形成部と、 該信号形成部からの情報再生信号と所定の基準
電圧との比較を行い、該比較の結果に基づいて上
記光学デイスクに入射する光ビームが上記トラツ
クの上記プリカツテイング部をトレースする第１
の状態と上記光学デイスクに入射する光ビームが
上記トラツクの上記ユーザー記録可能部をトレー
スする第２の状態とをあらわす検出出力信号を得
る検出回路と、 該検出回路からの検出出力信号に応じて、上記
第１の状態と上記第２の状態とで、上記信号形成
部からのトラツキングエラー信号の伝送ゲインを
変えるゲインコントロール回路と、 該ゲインコントロール回路を経たトラツキング
エラー信号が供給されるトラツキング駆動装置
と、を具備して構成される光学式デイスクプレー
ヤーのトラツキングサーボ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20333083A JPS6095736A (ja) | 1983-10-29 | 1983-10-29 | 光学式デイスクプレ−ヤ−のトラツキングサ−ボ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20333083A JPS6095736A (ja) | 1983-10-29 | 1983-10-29 | 光学式デイスクプレ−ヤ−のトラツキングサ−ボ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6095736A JPS6095736A (ja) | 1985-05-29 |
| JPH059854B2 true JPH059854B2 (ja) | 1993-02-08 |
Family
ID=16472220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20333083A Granted JPS6095736A (ja) | 1983-10-29 | 1983-10-29 | 光学式デイスクプレ−ヤ−のトラツキングサ−ボ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6095736A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3672426D1 (de) * | 1985-09-27 | 1990-08-09 | Sharp Kk | Spurnachlaufverfahren fuer eine optische speicherplatte. |
| JPS63298722A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | トラッキング制御装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6032264B2 (ja) * | 1977-03-08 | 1985-07-26 | 松下電器産業株式会社 | 光学的再生装置 |
-
1983
- 1983-10-29 JP JP20333083A patent/JPS6095736A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6095736A (ja) | 1985-05-29 |
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