JPH06100541B2 - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
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- JPH06100541B2 JPH06100541B2 JP5133185A JP5133185A JPH06100541B2 JP H06100541 B2 JPH06100541 B2 JP H06100541B2 JP 5133185 A JP5133185 A JP 5133185A JP 5133185 A JP5133185 A JP 5133185A JP H06100541 B2 JPH06100541 B2 JP H06100541B2
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- JP
- Japan
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- measurement wavelength
- measured
- signal corresponding
- wavelength component
- measurement
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、被測定対象の種々の性状を複数、同時に測
定することができる光学的測定装置に関するものであ
る。
定することができる光学的測定装置に関するものであ
る。
［従来の技術］ 従来、光を利用して、被測定対象の坪量・厚み、水分、
色あい等の性状を別個に測定する水分計、厚み計等の光
学的測定装置が知られている。
色あい等の性状を別個に測定する水分計、厚み計等の光
学的測定装置が知られている。
［この発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、各種の性状を同時に測定しようとする場
合、別個の装置を別位置に設置しなければならず、装置
が大型化し、また、被測定対象の同一位置での各種性状
の同時測定が困難であった。
合、別個の装置を別位置に設置しなければならず、装置
が大型化し、また、被測定対象の同一位置での各種性状
の同時測定が困難であった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、被測定対象の坪量
・厚み、水分、色あい等を１個の装置で同時に測定でき
るようにした光学的測定装置を提供することである。
・厚み、水分、色あい等を１個の装置で同時に測定でき
るようにした光学的測定装置を提供することである。
［問題点を解決するための手段］ この発明は、被測定対象からの放射エネルギーのうち、
水分に吸収されない約1.0μｍの第１の測定波長、水分
に吸収される約0.95μｍの第２の測定波長、可視光領域
の約0.5〜0.8μｍの第３の測定波長の各波長に分離する
分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長
成分のすべてを測定することができるシリコン検出素子
と、この検出素子の出力信号のうち第１の測定波長成分
を基準とし、この第１の測定波長成分に対応した信号か
ら坪量または厚み、第２の測定波長成分に対応した信号
と第１図の測定波長成分に対応した信号の比から水分
率、第３の測定波長成分に対応した信号と第１の測定波
長成分に対応した信号の比から色あいを測定する演算手
段とを備えたことを特徴とする光学的測定装置である。
水分に吸収されない約1.0μｍの第１の測定波長、水分
に吸収される約0.95μｍの第２の測定波長、可視光領域
の約0.5〜0.8μｍの第３の測定波長の各波長に分離する
分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長
成分のすべてを測定することができるシリコン検出素子
と、この検出素子の出力信号のうち第１の測定波長成分
を基準とし、この第１の測定波長成分に対応した信号か
ら坪量または厚み、第２の測定波長成分に対応した信号
と第１図の測定波長成分に対応した信号の比から水分
率、第３の測定波長成分に対応した信号と第１の測定波
長成分に対応した信号の比から色あいを測定する演算手
段とを備えたことを特徴とする光学的測定装置である。
［実施例］ 第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図であ
る。
る。
図において、１は投光用の光源で、この光源１の光は、
投光レンズ２で被測定対象３に投光され、その透過光ま
たは反射光は集光レンズ４で集光され、モータＭにより
回転する回転セクタ５に設けられた水分を吸収しない約
1.0μｍのような第１の測定波長λ１を透過させるフィ
ルタ51、水分を吸収する約0.95μｍのような第２の測定
波長λ２を透過させるフィルタ52、可視光領域の約0.8
〜0.5μｍの第３の測定波長λ３を透過させるフィルタ5
3を介して検出素子６に入射する。なお、フィルタ54
は、たとえば可視光領域の第３の測定波長λ３と異なる
第４の測定波長で、測定に用いてもよく、又、予備とし
て他の光学的性質の測定に用いてもよい。検出素子６の
検出信号は、増幅器７で増幅され、第１、第２、第３の
測定波長λ１、λ２、λ３の成分に対応した第１、第
２、第３の信号e1、e2、e3が、回転セクタ５に設けられ
た同期信号発生器50の同期信号により第１、第２、第３
のサンプルホールド回路81、82、83にホールドされる。
そして、第１のサンプルホールド回路81の第１の測定波
長λ１の成分に対応した信号e1から被測定対象３の坪量
または厚みが測定され、第２のサンプルホールド回路82
の第２の測定波長λ２に対応した信号e2と、第１のサン
プルホールド回路81の信号e1との比e2／e1を第１の割算
器91により演算し、被測定対象３の水分率を測定し、さ
らに、第３のサンプルホールド回路83の第３の測定波長
λ３に対応した信号e3と第１のサンプルホールド回路81
の信号e1との比e3／e1を第２の割算器92で演算し、色あ
い等を測定する。
投光レンズ２で被測定対象３に投光され、その透過光ま
たは反射光は集光レンズ４で集光され、モータＭにより
回転する回転セクタ５に設けられた水分を吸収しない約
1.0μｍのような第１の測定波長λ１を透過させるフィ
ルタ51、水分を吸収する約0.95μｍのような第２の測定
波長λ２を透過させるフィルタ52、可視光領域の約0.8
〜0.5μｍの第３の測定波長λ３を透過させるフィルタ5
3を介して検出素子６に入射する。なお、フィルタ54
は、たとえば可視光領域の第３の測定波長λ３と異なる
第４の測定波長で、測定に用いてもよく、又、予備とし
て他の光学的性質の測定に用いてもよい。検出素子６の
検出信号は、増幅器７で増幅され、第１、第２、第３の
測定波長λ１、λ２、λ３の成分に対応した第１、第
２、第３の信号e1、e2、e3が、回転セクタ５に設けられ
た同期信号発生器50の同期信号により第１、第２、第３
のサンプルホールド回路81、82、83にホールドされる。
そして、第１のサンプルホールド回路81の第１の測定波
長λ１の成分に対応した信号e1から被測定対象３の坪量
または厚みが測定され、第２のサンプルホールド回路82
の第２の測定波長λ２に対応した信号e2と、第１のサン
プルホールド回路81の信号e1との比e2／e1を第１の割算
器91により演算し、被測定対象３の水分率を測定し、さ
らに、第３のサンプルホールド回路83の第３の測定波長
λ３に対応した信号e3と第１のサンプルホールド回路81
の信号e1との比e3／e1を第２の割算器92で演算し、色あ
い等を測定する。
このようにして、被測定対象３の坪量または厚み、水分
率、色あい等の性状が同時に測定できる。なお、サンプ
ルホールド回路81、82、83、割算器91、92等の機能を、
メモリを含むマイクロコンピュータ、パーソナルコンピ
ュータ等の演算手段を用いて実現してもよい。
率、色あい等の性状が同時に測定できる。なお、サンプ
ルホールド回路81、82、83、割算器91、92等の機能を、
メモリを含むマイクロコンピュータ、パーソナルコンピ
ュータ等の演算手段を用いて実現してもよい。
第２図は、他の実施例を示し、被測定対象３からの測定
光は、集光レンズ４で集光され、プリズム、回折格子の
ような分光手段10で分光されシリコンを開いたCCDのよ
うなイメージセンサ11の各素子に異なった波長の光が入
射する。このイメージセンサ11の各波長成分に対応した
信号は、順次読み出され、マイクロコンピュータのよう
な演算手段12により、第１図で説明したような測定波長
成分に対応した信号について演算がなされ、測定が行わ
れる。
光は、集光レンズ４で集光され、プリズム、回折格子の
ような分光手段10で分光されシリコンを開いたCCDのよ
うなイメージセンサ11の各素子に異なった波長の光が入
射する。このイメージセンサ11の各波長成分に対応した
信号は、順次読み出され、マイクロコンピュータのよう
な演算手段12により、第１図で説明したような測定波長
成分に対応した信号について演算がなされ、測定が行わ
れる。
［発明の効果］ 以上述べたように、この発明は、複数波長成分により演
算を行うようにしているので、同時に坪量または厚み、
水分、色あい等の被測定対象の性状を、同時に高精度に
単一の装置で測定することができ、小型、安価なものと
なる。
算を行うようにしているので、同時に坪量または厚み、
水分、色あい等の被測定対象の性状を、同時に高精度に
単一の装置で測定することができ、小型、安価なものと
なる。
第１図、第２図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。 １……光源、２……投光レンズ、３……被測定対象、４
……集光レンズ、５……回転セクタ、51〜54……フィル
タ、６……検出素子、７……増幅器、81〜83……サンプ
ルホールド回路、91、92……割算器、10……分光手段、
11……イメージセンサ、12……演算手段
図である。 １……光源、２……投光レンズ、３……被測定対象、４
……集光レンズ、５……回転セクタ、51〜54……フィル
タ、６……検出素子、７……増幅器、81〜83……サンプ
ルホールド回路、91、92……割算器、10……分光手段、
11……イメージセンサ、12……演算手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−143401（ＪＰ，Ａ) 特開 昭50−8554（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−139480（ＪＰ，Ａ) 実公 昭56−41239（ＪＰ，Ｙ２)
Claims (1)
- 【請求項１】被測定対象からの放射エネルギーのうち、
水分に吸収されない約1.0μｍの第１の測定波長、水分
に吸収される約0.95μｍの第２の測定波長、可視光領域
の約0.5〜0.8μｍの第３の測定波長の各波長に分離する
分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長
成分のすべてを測定することができるシリコン検出素子
と、この検出素子の出力信号のうち第１の測定波長成分
を基準とし、この第１の測定波長成分に対応した信号か
ら坪量または厚み、第２の測定波長成分に対応した信号
と第１の測定波長成分に対応した信号の比から水分率、
第３の測定波長成分に対応した信号と第１の測定波長成
分に対応した信号の比から色あいを測定する演算手段と
を備えたことを特徴とする光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5133185A JPH06100541B2 (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5133185A JPH06100541B2 (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 光学的測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209340A JPS61209340A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH06100541B2 true JPH06100541B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=12883936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5133185A Expired - Fee Related JPH06100541B2 (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06100541B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648244B2 (ja) * | 1988-10-25 | 1994-06-22 | 横河電機株式会社 | 坪量の影響を低減した赤外線水分計 |
| JPH03117750U (ja) * | 1990-03-15 | 1991-12-05 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS508554A (ja) * | 1973-05-19 | 1975-01-29 | ||
| JPS52139480U (ja) * | 1976-04-16 | 1977-10-22 | ||
| JPS5641239U (ja) * | 1979-09-10 | 1981-04-16 |
-
1985
- 1985-03-14 JP JP5133185A patent/JPH06100541B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61209340A (ja) | 1986-09-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |