JPH06101079B2 - プラント異常診断装置 - Google Patents
プラント異常診断装置Info
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- JPH06101079B2 JPH06101079B2 JP63284420A JP28442088A JPH06101079B2 JP H06101079 B2 JPH06101079 B2 JP H06101079B2 JP 63284420 A JP63284420 A JP 63284420A JP 28442088 A JP28442088 A JP 28442088A JP H06101079 B2 JPH06101079 B2 JP H06101079B2
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- plant
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B17/00—Systems involving the use of models or simulators of said systems
- G05B17/02—Systems involving the use of models or simulators of said systems electric
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0243—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults model based detection method, e.g. first-principles knowledge model
- G05B23/0245—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults model based detection method, e.g. first-principles knowledge model based on a qualitative model, e.g. rule based; if-then decisions
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- G—PHYSICS
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- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
- G05B23/0275—Fault isolation and identification, e.g. classify fault; estimate cause or root of failure
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- G—PHYSICS
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、プラント異常診断装置、特にプラントに異常
が発生した時にその異常を推定すると共に、その進行に
対するシュミレーション値を表示して対策に便ならしめ
る診断装置に関する。
が発生した時にその異常を推定すると共に、その進行に
対するシュミレーション値を表示して対策に便ならしめ
る診断装置に関する。
［従来の技術］ 第７図は、従来の異常診断装置を示すブロック図であ
り、図において電子計算機（１）はプラント（２）より
プロセス量子入力する入力処理部（３）と、その入力デ
ータより異常を検出する異常検出部（４）と、異常検出
部（４）により検出された異常事象により異常原因を推
定する異常原因推定部（５）と、プラントデータを保存
するプラント経過値データ保存処理部（６）と、プラン
ト経過値データファイル（７）と、異常時データ検索部
（８）と、異常原因推定画面作成部（９）と、表示器
（10）へ表示する処理を行う表示処理部（11）からな
る。
り、図において電子計算機（１）はプラント（２）より
プロセス量子入力する入力処理部（３）と、その入力デ
ータより異常を検出する異常検出部（４）と、異常検出
部（４）により検出された異常事象により異常原因を推
定する異常原因推定部（５）と、プラントデータを保存
するプラント経過値データ保存処理部（６）と、プラン
ト経過値データファイル（７）と、異常時データ検索部
（８）と、異常原因推定画面作成部（９）と、表示器
（10）へ表示する処理を行う表示処理部（11）からな
る。
また、第８図は、従来のプラント異常診断装置における
異常原因推定及び推定原因を表示する方式を示すフロー
チャートである。
異常原因推定及び推定原因を表示する方式を示すフロー
チャートである。
このような従来のプラント異常診断装置において、プラ
ント（２）からの入力データは、入力処理部（３）にお
いて入力処理（12）されて、プラント経過値データ保存
処理部（６）に送られ、プラント経過値データファイル
（７）に経過値データを保存するプラント経過値データ
保存処理（13）が行われる。入力処理（12）された入力
データは更に異常検出部（４）に送られ、入力データの
変化を監視し、正常状態から逸脱した場合に異常が発生
したことを検出する異常検出処理（14）がなされ、異常
が生ずると、異常原因推定部（５）において、異常原因
推定処理（16）がなされるが、異常がないときは監視を
続行する。
ント（２）からの入力データは、入力処理部（３）にお
いて入力処理（12）されて、プラント経過値データ保存
処理部（６）に送られ、プラント経過値データファイル
（７）に経過値データを保存するプラント経過値データ
保存処理（13）が行われる。入力処理（12）された入力
データは更に異常検出部（４）に送られ、入力データの
変化を監視し、正常状態から逸脱した場合に異常が発生
したことを検出する異常検出処理（14）がなされ、異常
が生ずると、異常原因推定部（５）において、異常原因
推定処理（16）がなされるが、異常がないときは監視を
続行する。
異常原因推定部（５）においては、検出された異常事象
により異常原因を推定し、ここで推定された原因データ
は異常原因推定画面作成部（９）に送られ、異常時デー
タ検索部（８）における異常時データ検索処理（17）を
経た異常関連データと共に、異常原因推定画面作成処理
（18）が行われる。作成された画面は、表示処理部（1
1）を介して表示器（10）に画面表示（19）される。
により異常原因を推定し、ここで推定された原因データ
は異常原因推定画面作成部（９）に送られ、異常時デー
タ検索部（８）における異常時データ検索処理（17）を
経た異常関連データと共に、異常原因推定画面作成処理
（18）が行われる。作成された画面は、表示処理部（1
1）を介して表示器（10）に画面表示（19）される。
［発明が解決しようとする課題］ 従来のプラント異常診断装置は、以上のような構成であ
ったので、異常原因が推定表示されても、次のような問
題があった。
ったので、異常原因が推定表示されても、次のような問
題があった。
（ａ）本当にその原因でプラントデータが検出された状
態に変化したのか否かが不明であった。
態に変化したのか否かが不明であった。
（ｂ）正常であればどのようなプラント状態であるのか
が不明である。
が不明である。
（ｃ）対応処置を施したらプラント状態がいかに変化す
るか不明である。
るか不明である。
この発明は、かかる問題点を解決することを課題として
なされたもので、正常時のプラント特性モデルを装備
し、推定された異常原因に対応する異常モデルを使用し
てシュミレーションを行うことにより、異常原因の推定
結果を確認できる装置を得ることを目的とする。
なされたもので、正常時のプラント特性モデルを装備
し、推定された異常原因に対応する異常モデルを使用し
てシュミレーションを行うことにより、異常原因の推定
結果を確認できる装置を得ることを目的とする。
また、正常時のプラント特性モデルを装備し、推定され
た異常原因に対応する異常モデル及び異常が発生しなか
った場合の正常モデルを使用してシュミレーションを行
うことにより、異常原因の推定結果を確認にできる装置
を得ることを目的とする。
た異常原因に対応する異常モデル及び異常が発生しなか
った場合の正常モデルを使用してシュミレーションを行
うことにより、異常原因の推定結果を確認にできる装置
を得ることを目的とする。
更に、正常時のプラント特性モデルを装備し、推定され
た異常原因に対応する異常モデル及び対応処置を施した
場合のモデルによるシュミレーションを行うことによ
り、異常原因の推定結果と対応処置後のプラント動作を
確認できる装置を得ることを目的とする。
た異常原因に対応する異常モデル及び対応処置を施した
場合のモデルによるシュミレーションを行うことによ
り、異常原因の推定結果と対応処置後のプラント動作を
確認できる装置を得ることを目的とする。
［課題を決するための手段］ この発明に係る第１の請求項によるプラント異常診断装
置は、プラントの特性を記憶するプラント特性モデル
と、このプラント特性モデルとプラント経過値データフ
ァイルと異常原因推定部からのデータによって推定する
異常原因（以下推定異常と書く）によるシュミレーショ
ン値を計算する異常時シュミレーション制御部と、その
計算値を画面作成するシュミレーション画面作成部と、
この作成画面を表示器に表示制御する表示処理部とを有
するものである。
置は、プラントの特性を記憶するプラント特性モデル
と、このプラント特性モデルとプラント経過値データフ
ァイルと異常原因推定部からのデータによって推定する
異常原因（以下推定異常と書く）によるシュミレーショ
ン値を計算する異常時シュミレーション制御部と、その
計算値を画面作成するシュミレーション画面作成部と、
この作成画面を表示器に表示制御する表示処理部とを有
するものである。
また、第２の請求項によるプラント異常診断装置は、プ
ラント特性モデルと、このプラント特性モデルとプラン
ト経過値データファイルと異常原因推定部からのデータ
により異常の発生しない正常時の値を計算する正常時シ
ュミレーション制御部並びに推定異常の値を計算する異
常シュミレーション制御部と、この両シュミレーション
制御部の計算値を画面作成するシュミレーション画面作
成部と、この作成画面を表示器に表示制御する表示処理
部とを有するものである。
ラント特性モデルと、このプラント特性モデルとプラン
ト経過値データファイルと異常原因推定部からのデータ
により異常の発生しない正常時の値を計算する正常時シ
ュミレーション制御部並びに推定異常の値を計算する異
常シュミレーション制御部と、この両シュミレーション
制御部の計算値を画面作成するシュミレーション画面作
成部と、この作成画面を表示器に表示制御する表示処理
部とを有するものである。
更に、第３の請求項によるプラント異常診断装置は、プ
ラント特性モデルと、異常検出部によって検出された異
常事象により異常原因を推定すると共に対応処置を推定
する異常原因推定対応処置推定部と、プラント特性モデ
ルとプラント経過データファイルと異常原因推定対応処
置推定部からのデータにより推定異常に対して対応処置
を施した場合のシュミレーション値を計算する異常発生
対応処置シュミレーション制御部と、このシュミレーシ
ョン値を表示すべき画面を作成するシュミレーション画
面作成部と、このシュミレーション画面と異常原因推定
画面とを表示器に表示制御する表示処理部とを有するも
のである。
ラント特性モデルと、異常検出部によって検出された異
常事象により異常原因を推定すると共に対応処置を推定
する異常原因推定対応処置推定部と、プラント特性モデ
ルとプラント経過データファイルと異常原因推定対応処
置推定部からのデータにより推定異常に対して対応処置
を施した場合のシュミレーション値を計算する異常発生
対応処置シュミレーション制御部と、このシュミレーシ
ョン値を表示すべき画面を作成するシュミレーション画
面作成部と、このシュミレーション画面と異常原因推定
画面とを表示器に表示制御する表示処理部とを有するも
のである。
［作用］ この発明の第１の請求項によれば、推定した異常原因が
発生した場合の異常時シュミレーション値が画面に表示
されるので、表示された異常原因の真否の診断確率が向
上する。
発生した場合の異常時シュミレーション値が画面に表示
されるので、表示された異常原因の真否の診断確率が向
上する。
第２の請求項によれば、推定異常の際、その推定異常が
進行した場合の異常時シュミレーション値と、何も異常
が生じなかった場合の正常時シュミレーション値とが同
一画面に共に表示されるので、推定異常による異常時シ
ュミレーション値と正常時シュミレーション値とを比較
判断でき、推定異常の真否判断の診断確率が向上するも
のとなる。
進行した場合の異常時シュミレーション値と、何も異常
が生じなかった場合の正常時シュミレーション値とが同
一画面に共に表示されるので、推定異常による異常時シ
ュミレーション値と正常時シュミレーション値とを比較
判断でき、推定異常の真否判断の診断確率が向上するも
のとなる。
第３の請求項によれば、推定異常と、推定異常による異
常時シュミレーション値と、推定異常に対して対応処置
を施した場合の異常発生・対応処置シュミレーション値
とが共に画面表示されるので、これらを比較することに
より、推定異常の真否診断確率が向上するものとなる。
常時シュミレーション値と、推定異常に対して対応処置
を施した場合の異常発生・対応処置シュミレーション値
とが共に画面表示されるので、これらを比較することに
より、推定異常の真否診断確率が向上するものとなる。
［実施例］ 次に、第１図から第６図に示す実施例によってこの発明
の各請求項について更に詳細に説明する。
の各請求項について更に詳細に説明する。
第１図において、電子計算機（１）はプラント（２）よ
りプロセス量を入力する入力処理部（３）と、その入力
データにより異常を検出する異常検出部（４）と、異常
検出部（４）により検出された異常事象より異常原因を
推定する異常原因推定部（５）と、プラントデータを保
存するプラント経過値データ保存処理部（６）と、プラ
ント経過値データファイル（７）と、異常時データ検索
部（８）と、異常原因推定画面作成部（９）と、表示装
置（10）へ表示する処理を行う表示処理部（11）とを備
えている。
りプロセス量を入力する入力処理部（３）と、その入力
データにより異常を検出する異常検出部（４）と、異常
検出部（４）により検出された異常事象より異常原因を
推定する異常原因推定部（５）と、プラントデータを保
存するプラント経過値データ保存処理部（６）と、プラ
ント経過値データファイル（７）と、異常時データ検索
部（８）と、異常原因推定画面作成部（９）と、表示装
置（10）へ表示する処理を行う表示処理部（11）とを備
えている。
このような従来構成に加えて、この発明による第１の請
求項においては、プラントの諸特性を記憶するプラント
特性モデル（20）と、推定異常が発生した場合の異常時
シュミレーション値を計算する異常時シュミレーション
制御部（21）と、このシュミレーション値の表示画面を
作成するシュミレーション画面作成部（22）とが設けら
れた構成を有しており、第２図に示すフローチャートの
ような動作を行う。
求項においては、プラントの諸特性を記憶するプラント
特性モデル（20）と、推定異常が発生した場合の異常時
シュミレーション値を計算する異常時シュミレーション
制御部（21）と、このシュミレーション値の表示画面を
作成するシュミレーション画面作成部（22）とが設けら
れた構成を有しており、第２図に示すフローチャートの
ような動作を行う。
第２図において、プラント（２）からの入力データは、
入力処理部（３）で入力処理（12）され、またプラント
経過値データ保存処理部（６）において、プラント経過
値データ保存処理（13）が行われ、プラント経過値デー
タファイル（７）に保存される。次に、異常検出部
（４）においては入力データの変化を監視し、正常状態
から逸脱した場合に異常が発生したことを検出して異常
検出処理（14）を行い、異常が検出された時に異常原因
推定部（５）において異常原因推定処理（16）が動作
し、検出された異常事象により異常原因を推定し、推定
された原因は、異常時データ検索部（８）での異常時デ
ータ検索処理（17）により検索された異常関連データと
共に異常原因推定画面作成部（９）に送られ、異常推定
画面作成処理（18）により加工・編集され、画面表示
（19）される。次に、オペレータによる判断または予め
決められた判定基準によりシュミレーションが必要とさ
れた場合の異常時シュミレーション制御部（21）におい
て、異常シュミレーションモデル作成処理（24）を行
い、標準のプラント特性モデル（20）から異常に関連す
る範囲についてモデルを抽出再構成し、更に正常状態か
ら異常状態へプラント特性が変化することを含めた異常
シュミレーションモデルを作成し、シュミレーション用
初期データ作成処理（25）で作成されたシュミレーショ
ンモデルに必要な初期データをプラント経過値データフ
ァイル（７）より作成し、異常シュミレーション計算
（26）を実施しシュミレーション結果によるプラントデ
ータをシュミレーション画面作成部（22）に送り、シュ
ミレーション結果画面作成処理（27）により加工・編集
し、画面表示（19）する。
入力処理部（３）で入力処理（12）され、またプラント
経過値データ保存処理部（６）において、プラント経過
値データ保存処理（13）が行われ、プラント経過値デー
タファイル（７）に保存される。次に、異常検出部
（４）においては入力データの変化を監視し、正常状態
から逸脱した場合に異常が発生したことを検出して異常
検出処理（14）を行い、異常が検出された時に異常原因
推定部（５）において異常原因推定処理（16）が動作
し、検出された異常事象により異常原因を推定し、推定
された原因は、異常時データ検索部（８）での異常時デ
ータ検索処理（17）により検索された異常関連データと
共に異常原因推定画面作成部（９）に送られ、異常推定
画面作成処理（18）により加工・編集され、画面表示
（19）される。次に、オペレータによる判断または予め
決められた判定基準によりシュミレーションが必要とさ
れた場合の異常時シュミレーション制御部（21）におい
て、異常シュミレーションモデル作成処理（24）を行
い、標準のプラント特性モデル（20）から異常に関連す
る範囲についてモデルを抽出再構成し、更に正常状態か
ら異常状態へプラント特性が変化することを含めた異常
シュミレーションモデルを作成し、シュミレーション用
初期データ作成処理（25）で作成されたシュミレーショ
ンモデルに必要な初期データをプラント経過値データフ
ァイル（７）より作成し、異常シュミレーション計算
（26）を実施しシュミレーション結果によるプラントデ
ータをシュミレーション画面作成部（22）に送り、シュ
ミレーション結果画面作成処理（27）により加工・編集
し、画面表示（19）する。
なお、上記実施例では、推定された異常原因に対してシ
ュミレーションモデルを作成したが、任意に指定した異
常原因でシュミレーションモデルを作成しシュミレーシ
ョンを行ってもよい。
ュミレーションモデルを作成したが、任意に指定した異
常原因でシュミレーションモデルを作成しシュミレーシ
ョンを行ってもよい。
また、上記実施例では、異常シュミレーションによる結
果を判断しやすい形で表示する場合について説明した
が、シュミレーション結果を用いて更に別の異常原因を
推定する処理を施しても良い。
果を判断しやすい形で表示する場合について説明した
が、シュミレーション結果を用いて更に別の異常原因を
推定する処理を施しても良い。
この発明による第２の請求項によれば、電子計算機
（１）は従来の構成の他に、第３図に示されているよう
に、プラント特性モデル（20）と、異常シュミレーショ
ン制御部（21）と、シュミレーション画面作成部（22）
と、正常時シュミレーション制御部（28）を構成要件に
含むもので、第４図に示すフローチャートのような動作
をするものである。
（１）は従来の構成の他に、第３図に示されているよう
に、プラント特性モデル（20）と、異常シュミレーショ
ン制御部（21）と、シュミレーション画面作成部（22）
と、正常時シュミレーション制御部（28）を構成要件に
含むもので、第４図に示すフローチャートのような動作
をするものである。
第４図において、プラント（２）からの入力データは入
力処理（12）され、またプラント経過データ保存処理部
（６）において、プラント経過値データ保存処理（13）
が行われ、プラント経過値データファイル（７）に保存
される。さらに異常検出部（４）においては入力データ
の変化を監視し、正常状態から逸脱した場合に異常が発
生したことを検出して異常検出処理（14）を行い、異常
が検出された時に異常原因推定部（５）において異常原
因推定処理（16）が動作し、検出された異常事象により
異常原因を推定し、推定された原因は、異常時データ検
索部（８）での異常時データ検索処理（17）により検索
された異常関連データと共に、異常原因推定画面作成部
（９）に送られ、異常推定画面作成処理（18）により加
工・編集され、画面表示（19）される。
力処理（12）され、またプラント経過データ保存処理部
（６）において、プラント経過値データ保存処理（13）
が行われ、プラント経過値データファイル（７）に保存
される。さらに異常検出部（４）においては入力データ
の変化を監視し、正常状態から逸脱した場合に異常が発
生したことを検出して異常検出処理（14）を行い、異常
が検出された時に異常原因推定部（５）において異常原
因推定処理（16）が動作し、検出された異常事象により
異常原因を推定し、推定された原因は、異常時データ検
索部（８）での異常時データ検索処理（17）により検索
された異常関連データと共に、異常原因推定画面作成部
（９）に送られ、異常推定画面作成処理（18）により加
工・編集され、画面表示（19）される。
更に、オペレータによる判断は予め決められた判定基準
によりシュミレーションが必要とされた場合、正常時シ
ュミレーション制御部（28）において正常シュミレーシ
ョンモデル作成処理（29）を行い、標準のプラント特性
モデル（20）から異常に関連する範囲について正常シュ
ミレーションモデルを作成し、また異常時シュミレーシ
ョン制御部において異常シュミレーションモデル作成処
理（24）により、正常シュミレーションモデルに加え正
常状態から異常状態へプラント特性が変化することを含
めた異常シュミレーションモデルを作成し、シュミレー
ション用初期データ作成処理（25）で作成されたシュミ
レーションモデルには必要な初期データをプラント経過
値データファイル（７）より作成し、正常シュミレーシ
ョン計算（30）及び異常シュミレーション計算（26）を
実施し、シュミレーション結果によるプラントデータを
シュミレーション画面作成部（22）に送り、シュミレー
ション結果画面作成処理（27）により加工・編集され、
画面表示（19）される。
によりシュミレーションが必要とされた場合、正常時シ
ュミレーション制御部（28）において正常シュミレーシ
ョンモデル作成処理（29）を行い、標準のプラント特性
モデル（20）から異常に関連する範囲について正常シュ
ミレーションモデルを作成し、また異常時シュミレーシ
ョン制御部において異常シュミレーションモデル作成処
理（24）により、正常シュミレーションモデルに加え正
常状態から異常状態へプラント特性が変化することを含
めた異常シュミレーションモデルを作成し、シュミレー
ション用初期データ作成処理（25）で作成されたシュミ
レーションモデルには必要な初期データをプラント経過
値データファイル（７）より作成し、正常シュミレーシ
ョン計算（30）及び異常シュミレーション計算（26）を
実施し、シュミレーション結果によるプラントデータを
シュミレーション画面作成部（22）に送り、シュミレー
ション結果画面作成処理（27）により加工・編集され、
画面表示（19）される。
この発明の第３の請求項においては、電子計算機（１）
は、従来の構成の他に、第５図に示されるように、異常
原因推定対応処指定部（32）、プラント特性モデル（2
0）と、シュミレーション画面作成部（22）と、異常発
生・対応処置シュミレーション制御部（31）とを備え、
推定異常によるシュミレーション結果と、その推定異常
に対して対応処置を施した場合のシュミレーション結果
とを画面表示するもので、第６図に示すフローチャート
のような動作を行うものである。
は、従来の構成の他に、第５図に示されるように、異常
原因推定対応処指定部（32）、プラント特性モデル（2
0）と、シュミレーション画面作成部（22）と、異常発
生・対応処置シュミレーション制御部（31）とを備え、
推定異常によるシュミレーション結果と、その推定異常
に対して対応処置を施した場合のシュミレーション結果
とを画面表示するもので、第６図に示すフローチャート
のような動作を行うものである。
第６図において、プラント（２）からの入力データは、
入力処理部（３）で入力処置（12）され、またプラント
経過値データ保存処理部（６）において、プラント経過
値データ保存処理（13）が行われ、プラント経過値デー
タファイル（７）に保存される。次に、異常検出部
（４）においては入力データの変化を監視し、正常状態
から逸脱した場合に異常が発生したことを検出して異常
検出処理（14）を行い、異常が検出された時に異常原因
推定・対応処置推定部（32）において異常原因推定・対
応処置設定処理（33）が動作し、検出された異常事象に
より異常原因を推定して更に対応処置を設定し、推定さ
れた原因及び対応処置は異常時データ検索処理（17）に
より検索された異常関連データと共に異常原因推定画面
作成部（９）に送られ、異常推定・対応処置表示画面作
成処理（34）により加工・編集され、画面表示（19）さ
れる。
入力処理部（３）で入力処置（12）され、またプラント
経過値データ保存処理部（６）において、プラント経過
値データ保存処理（13）が行われ、プラント経過値デー
タファイル（７）に保存される。次に、異常検出部
（４）においては入力データの変化を監視し、正常状態
から逸脱した場合に異常が発生したことを検出して異常
検出処理（14）を行い、異常が検出された時に異常原因
推定・対応処置推定部（32）において異常原因推定・対
応処置設定処理（33）が動作し、検出された異常事象に
より異常原因を推定して更に対応処置を設定し、推定さ
れた原因及び対応処置は異常時データ検索処理（17）に
より検索された異常関連データと共に異常原因推定画面
作成部（９）に送られ、異常推定・対応処置表示画面作
成処理（34）により加工・編集され、画面表示（19）さ
れる。
更に、オペレータによる判断、または予め決められた判
定基準によりシュミレーションが必要とされた場合、異
常発生・対応処置シュミレーション制御部（31）におい
て異常発生・対応処置シュミレーションモデル作成処理
（35）により、標準のプラント特性モデル（20）から異
常に関連する範囲についてモデルを抽出して再構成し、
正常状態から異常状態へ更に対応処置を行うことにより
プラント特性が変化することを含めた異常発生・対応処
置シュミレーションモデルを作成し、シュミレーション
用初期データ作成処理（25）で作成されたシュミレーシ
ョンモデルに必要な初期データをプラント経過値データ
ファイル（７）より作成し、異常発生・対応処置シュミ
レーション計算（36）を実施し、シュミレーション結果
によるプラントデータ動作をシュミレーション結果画面
作成処理（27）により加工・編集し、画面表示（19）す
る。
定基準によりシュミレーションが必要とされた場合、異
常発生・対応処置シュミレーション制御部（31）におい
て異常発生・対応処置シュミレーションモデル作成処理
（35）により、標準のプラント特性モデル（20）から異
常に関連する範囲についてモデルを抽出して再構成し、
正常状態から異常状態へ更に対応処置を行うことにより
プラント特性が変化することを含めた異常発生・対応処
置シュミレーションモデルを作成し、シュミレーション
用初期データ作成処理（25）で作成されたシュミレーシ
ョンモデルに必要な初期データをプラント経過値データ
ファイル（７）より作成し、異常発生・対応処置シュミ
レーション計算（36）を実施し、シュミレーション結果
によるプラントデータ動作をシュミレーション結果画面
作成処理（27）により加工・編集し、画面表示（19）す
る。
このようにこの発明によれば、（ａ）推定異常の他に、
異常時シュミレーション結果を画面表示し、あるいは、
（ｂ）推定異常の他に、異常時シュミレーション結果
と、異常が発生しない正常時シュミレーション結果とを
画面表示し、更には、（ｃ）推定異常の他に異常時シュ
ミレーション結果と、対応処置を施した場合の異常発生
・対応処置シュミレーション結果とを画面表示すること
により、推定異常の真否判断確率が向上するものとな
る。
異常時シュミレーション結果を画面表示し、あるいは、
（ｂ）推定異常の他に、異常時シュミレーション結果
と、異常が発生しない正常時シュミレーション結果とを
画面表示し、更には、（ｃ）推定異常の他に異常時シュ
ミレーション結果と、対応処置を施した場合の異常発生
・対応処置シュミレーション結果とを画面表示すること
により、推定異常の真否判断確率が向上するものとな
る。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではな
く、例えば、任意に指定した異常原因のシュミレーショ
ン結果と比較したり、任意の対応処置を施したシュミレ
ーション結果と比較したり、得られたシュミレーション
結果を用いて、更に別の異常原因を推定する処理を施す
等、種々変更実施することができる。
く、例えば、任意に指定した異常原因のシュミレーショ
ン結果と比較したり、任意の対応処置を施したシュミレ
ーション結果と比較したり、得られたシュミレーション
結果を用いて、更に別の異常原因を推定する処理を施す
等、種々変更実施することができる。
［発明の効果］ この発明は以上説明したとおり、第１の請求項によれ
ば、推定された異常原因が発生した場合の異常時シュミ
レーション結果が自動的に表示可能となり、第２の請求
項によれば、推定された異常原因が発生した場合の異常
時シュミレーション結果と、異常が発生しなかった正常
時シュミレーション結果とが自動的に計算可能となり、
更に第３の請求項によれば、推定された異常原因が発生
した場合の異常時シュミレーション結果と、異常に対し
て対応処置を行った場合の異常発生・対応処置のシュミ
レーション結果を自動的に計算して画面表示をすること
が可能となり、それぞれ異常原因推定の時間が短縮さ
れ、原因推定の信頼性が向上し、更には第３請求項の場
合は対応処置によるプラントの安全運転への信頼性も向
上する効果が得られる。
ば、推定された異常原因が発生した場合の異常時シュミ
レーション結果が自動的に表示可能となり、第２の請求
項によれば、推定された異常原因が発生した場合の異常
時シュミレーション結果と、異常が発生しなかった正常
時シュミレーション結果とが自動的に計算可能となり、
更に第３の請求項によれば、推定された異常原因が発生
した場合の異常時シュミレーション結果と、異常に対し
て対応処置を行った場合の異常発生・対応処置のシュミ
レーション結果を自動的に計算して画面表示をすること
が可能となり、それぞれ異常原因推定の時間が短縮さ
れ、原因推定の信頼性が向上し、更には第３請求項の場
合は対応処置によるプラントの安全運転への信頼性も向
上する効果が得られる。
第１図は、この発明の第１実施例によるプラント異常診
断装置を示す構成ブロック図、第２図は、第１図の装置
の動作フローチャート、第３図は、この発明の第２実施
例によるプラント異常診断装置を示す構成ブロック図、
第４図は、第３図の装置の動作フローチャート、第５図
は、この発明の第３実施例によるプラント異常診断装置
を示す構成ブロック図、第６図は、第５図の装置の動作
フローチャート、第７図は、従来のプラント異常診断装
置の構成ブロック図、第８図は、従来装置の動作フロー
チャートである。 図において、（１）は電子計算機、（２）はプラント、
（３）は入力処理部、（４）は異常検出部、（７）はプ
ラント経過値データファイル、（９）は異常原因推定画
面作成部、（10）は表示器、（11）は表示処理部、（2
0）はプラント特性モデル、（21）は異常時シュミレー
ション制御部、（22）はシュミレーション画面作成部、
（24）は異常シュミレーションモデル作成処理、（25）
はシュミレーション用初期データ作成処理、（26）は異
常シュミレーション計算、（27）はシュミレーション結
果画面作成処理、（28）は正常時シュミレーション制御
部、（29）は正常時シュミレーションモデル作成処理、
（30）は正常シュミレーション計算、（31）は異常発生
・対応処置シュミレーション制御部、（32）は異常原因
推定対応処置推定部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
断装置を示す構成ブロック図、第２図は、第１図の装置
の動作フローチャート、第３図は、この発明の第２実施
例によるプラント異常診断装置を示す構成ブロック図、
第４図は、第３図の装置の動作フローチャート、第５図
は、この発明の第３実施例によるプラント異常診断装置
を示す構成ブロック図、第６図は、第５図の装置の動作
フローチャート、第７図は、従来のプラント異常診断装
置の構成ブロック図、第８図は、従来装置の動作フロー
チャートである。 図において、（１）は電子計算機、（２）はプラント、
（３）は入力処理部、（４）は異常検出部、（７）はプ
ラント経過値データファイル、（９）は異常原因推定画
面作成部、（10）は表示器、（11）は表示処理部、（2
0）はプラント特性モデル、（21）は異常時シュミレー
ション制御部、（22）はシュミレーション画面作成部、
（24）は異常シュミレーションモデル作成処理、（25）
はシュミレーション用初期データ作成処理、（26）は異
常シュミレーション計算、（27）はシュミレーション結
果画面作成処理、（28）は正常時シュミレーション制御
部、（29）は正常時シュミレーションモデル作成処理、
（30）は正常シュミレーション計算、（31）は異常発生
・対応処置シュミレーション制御部、（32）は異常原因
推定対応処置推定部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (3)
- 【請求項１】プラントの特性を記憶するプラント特性モ
デルと、プラントからのデータを入力する入力処理部
と、この入力処理部からのデータに基づいてプラントの
経過値を蓄積するプラント経過値データファイルと、前
記入力処理部からのデータに基づいてプラントの異常を
検出する異常検出部と、この異常検出部によって検出さ
れた異常事象により異常原因を推定する異常原因推定部
と、この異常原因推定部よりのデータにより表示すべき
画面を作成する異常原因推定画面作成部と、前記プラン
ト特性モデルと前記プラント経過値データファイルと前
記異常原因推定部からのデータにより推定する異常原因
のシュミレーション値を計算する異常時シュミレーショ
ン制御部と、この異常時シュミレーション制御部の計算
したシュミレーション値を画面作成するシュミレーショ
ン画面作成部と、このシュミレーション画面作成部と前
記異常原因推定画面作成部の作成画面を表示制御する表
示処理部と、この表示処理部の制御によって前記異常原
因推定部により推定した異常原因と前記異常時シュミレ
ーション制御部により計算した異常シュミレーション値
とを表示する表示器と、を備えるプラント異常診断装
置。 - 【請求項２】プラントの特性を記憶するプラント特性モ
デルと、プラントからのデータを入力する入力処理部
と、この入力処理部からのデータに基づいてプラントの
経過値を蓄積するプラント経過値データファイルと、前
記入力処理部からのデータに基づいてプラントの異常を
検出する異常検出部と、この異常検出部によって検出さ
れた異常事象により異常原因を推定する異常原因推定部
と、この異常原因推定部よりのデータにより表示すべき
画面を作成する異常原因推定画面作成部と、前記プラン
ト特性モデルと前記プラント経過値データファイルと前
記異常原因推定部からのデータにより異常の発生しない
正常時シュミレーション値を計算する正常時シュミレー
ション制御部と、前記プラント特性モデルと前記プラン
ト経過値データファイルと前記異常原因推定部からのデ
ータにより推定する異常原因のシュミレーション値を計
算する異常時シュミレーション制御部と、この異常時シ
ュミレーション制御部と前記正常時シュミレーション制
御部のそれぞれのシュミレーション値を画面作成するシ
ュミレーション画面作成部と、このシュミレーション画
面作成部と前記異常原因推定画面作成部の作成画面を表
示制御する表示処理部と、この表示処理部の制御によっ
て前記異常原因推定部により推定した異常原因と前記正
常時シュミレーション制御部により計算した正常シュミ
レーション値と前記異常時シュミレーション制御部によ
り計算した異常シュミレーション値とを表示する表示器
と、を備えるプラント異常診断装置。 - 【請求項３】プラントの特性を記憶するプラント特性モ
デルと、プラントからのデータを入力する入力処理部
と、この入力処理部からのデータに基づいてプラントの
経過値を蓄積するプラント経過値データファイルと、前
記入力処理部からのデータに基づいてプラントの異常を
検出する異常検出部と、この異常検出部によって検出さ
れた異常事象により異常原因を推定すると共に対応処置
を推定する異常原因推定対応処置推定部と、この異常原
因推定対応処置推定部よりのデータにより表示すべき画
面を作成する異常原因推定画面作成部と、前記プラント
特性モデルと前記プラント経過値データファイルと前記
異常原因推定対応処置推定部からのデータにより推定す
る異常原因に対して対応処置を施した場合のシュミレー
ション値を計算する異常発生対応処置シュミレーション
制御部と、この異常発生対応処置シュミレーション制御
部よりのデータにより表示すべき画面を作成するシュミ
レーション画面作成部と、このシュミレーション画面作
成部と前記異常原因推定画面作成部の作成画面を表示制
御する表示処理部と、この表示処理部の制御によって前
記異常原因推定対応処置推定部により推定した異常原因
と前記異常発生対応処置シュミレーション制御部により
計算した異常発生・対応処置のシュミレーション値とを
表示する表示器と、を備えるプラント異常診断装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63284420A JPH06101079B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | プラント異常診断装置 |
| US07/432,863 US5101337A (en) | 1988-11-09 | 1989-11-07 | Plant diagnostic apparatus |
| EP89120668A EP0368265B1 (en) | 1988-11-09 | 1989-11-08 | Plant diagnostic apparatus |
| DE68926429T DE68926429T2 (de) | 1988-11-09 | 1989-11-08 | Anlagen-Diagnoseapparat |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63284420A JPH06101079B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | プラント異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02129796A JPH02129796A (ja) | 1990-05-17 |
| JPH06101079B2 true JPH06101079B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=17678325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63284420A Expired - Lifetime JPH06101079B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | プラント異常診断装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5101337A (ja) |
| EP (1) | EP0368265B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06101079B2 (ja) |
| DE (1) | DE68926429T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP4557574A4 (en) * | 2022-07-15 | 2025-11-05 | Sustech Inc | OPERATING SYSTEM AND PROGRAM |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1988
- 1988-11-09 JP JP63284420A patent/JPH06101079B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-11-07 US US07/432,863 patent/US5101337A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-08 DE DE68926429T patent/DE68926429T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-11-08 EP EP89120668A patent/EP0368265B1/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|---|
| EP4557574A4 (en) * | 2022-07-15 | 2025-11-05 | Sustech Inc | OPERATING SYSTEM AND PROGRAM |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68926429T2 (de) | 1997-01-23 |
| DE68926429D1 (de) | 1996-06-13 |
| JPH02129796A (ja) | 1990-05-17 |
| US5101337A (en) | 1992-03-31 |
| EP0368265B1 (en) | 1996-05-08 |
| EP0368265A2 (en) | 1990-05-16 |
| EP0368265A3 (en) | 1992-09-30 |
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