JPH06104599B2 - ダイヤモンド膜の製造方法 - Google Patents
ダイヤモンド膜の製造方法Info
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- JPH06104599B2 JPH06104599B2 JP61226237A JP22623786A JPH06104599B2 JP H06104599 B2 JPH06104599 B2 JP H06104599B2 JP 61226237 A JP61226237 A JP 61226237A JP 22623786 A JP22623786 A JP 22623786A JP H06104599 B2 JPH06104599 B2 JP H06104599B2
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Landscapes
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ダイヤモンド膜の製造方法、更に詳細には中
減圧〜大気圧若しくはそれ以上の炭化水素・水素混合ガ
スをグロー・アーク移行領域の放電下に反応させる新規
なCVD法によるダイヤモンド膜の極めて経済的製造方法
に関するものである。
減圧〜大気圧若しくはそれ以上の炭化水素・水素混合ガ
スをグロー・アーク移行領域の放電下に反応させる新規
なCVD法によるダイヤモンド膜の極めて経済的製造方法
に関するものである。
(従来の技術) 本願発明等は、従来の気相成長法(即ち、CVD法)にお
いて電子シャワーの作用下にダイヤモンド結晶核の生成
成長によりダイヤモンド薄膜が形成されることを見出し
特許出願した(特開昭60−221395号公報、尚この方法は
本願発明者等によりエレクトロン アシスティド ケミ
カル ベーパー デポズィション即ち、EACVDと命名さ
れ、論文アプライドフィズイクス レター 第46巻第2
号 第146〜147頁に受理公開された)。
いて電子シャワーの作用下にダイヤモンド結晶核の生成
成長によりダイヤモンド薄膜が形成されることを見出し
特許出願した(特開昭60−221395号公報、尚この方法は
本願発明者等によりエレクトロン アシスティド ケミ
カル ベーパー デポズィション即ち、EACVDと命名さ
れ、論文アプライドフィズイクス レター 第46巻第2
号 第146〜147頁に受理公開された)。
また、放電空間でダイヤモンドを合成する試みもあり、
イオンビーム法は炭素正イオンを高真空中で加速せしめ
て陰極表面に衝突させ、ダイヤモンド膜を得たと報告さ
れており、プラズマCVD法は高周波プラズマ空間で炭素
正イオンを生成せしめて基体の表面にダイヤモンド膜を
形成せしめるもので、いずれもダイヤモンドは炭素正イ
オンに因り形成されるとしている。
イオンビーム法は炭素正イオンを高真空中で加速せしめ
て陰極表面に衝突させ、ダイヤモンド膜を得たと報告さ
れており、プラズマCVD法は高周波プラズマ空間で炭素
正イオンを生成せしめて基体の表面にダイヤモンド膜を
形成せしめるもので、いずれもダイヤモンドは炭素正イ
オンに因り形成されるとしている。
更に、直流グロー放電法として知られる方法は、圧力1/
10〜1/100トールの高真空下に基板は常に陰極側に設置
されている。これもダイヤモンドは炭素正イオンによる
効果を前提としたものである。
10〜1/100トールの高真空下に基板は常に陰極側に設置
されている。これもダイヤモンドは炭素正イオンによる
効果を前提としたものである。
(発明が解決しようとする問題点) 従来のCVD法は、特別な装置を必要とし、操作も簡単容
易でなく、反応速度も遅く実用的とは言えない方法であ
った。
易でなく、反応速度も遅く実用的とは言えない方法であ
った。
そこで、本発明者等は前記EACVD法を更に深く研究した
結果、原料炭化水素の高い濃度下にグロー・アーク移行
領域の放電下、陽極基板にダイヤモンド膜が形成される
という驚くべき事実を見いだし本発明を完成したもので
ある。この場合陰極には黒鉛状炭素又は黒鉛の析出がみ
られるが、従来の観念で炭素正イオンによりダイヤモン
ドが生成するものとして陰極のみに拘泥しておれば、本
発明は見いだし得なかったであろう。
結果、原料炭化水素の高い濃度下にグロー・アーク移行
領域の放電下、陽極基板にダイヤモンド膜が形成される
という驚くべき事実を見いだし本発明を完成したもので
ある。この場合陰極には黒鉛状炭素又は黒鉛の析出がみ
られるが、従来の観念で炭素正イオンによりダイヤモン
ドが生成するものとして陰極のみに拘泥しておれば、本
発明は見いだし得なかったであろう。
それ故、本発明の目的は、簡単な装置で、容易な操作に
より、実用に堪える経済的ダイヤモンド膜を製造する方
法を提供するにある。
より、実用に堪える経済的ダイヤモンド膜を製造する方
法を提供するにある。
(問題点を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本発明に係るダイヤモンド膜
の製造方法は、真空の容器中に、陽極に設定した基板と
これに対向する陰極とを配置し、この容器中に、炭化水
素ガス濃度を0.1〜20容量%に設定した炭化水素ガスと
水素ガスとの混合ガスを、100〜1000トールの圧力下に
導入し、前記基板に対し加熱手段による加熱を行うこと
なく、 (a)放電維持電圧を正規グローの場合より高くし、 (b)電流密度を0.1〜10A/cm2に設定し、 (c)放電電流の上昇に伴い放電電圧が減少すると共
に、 (d)放電電流の増減に伴い放電面積が減少する 条件を満たすグロー・アーク移行領域の放電を行うこと
により基板表面にダイヤモンドを生成させるを特徴とす
る。
の製造方法は、真空の容器中に、陽極に設定した基板と
これに対向する陰極とを配置し、この容器中に、炭化水
素ガス濃度を0.1〜20容量%に設定した炭化水素ガスと
水素ガスとの混合ガスを、100〜1000トールの圧力下に
導入し、前記基板に対し加熱手段による加熱を行うこと
なく、 (a)放電維持電圧を正規グローの場合より高くし、 (b)電流密度を0.1〜10A/cm2に設定し、 (c)放電電流の上昇に伴い放電電圧が減少すると共
に、 (d)放電電流の増減に伴い放電面積が減少する 条件を満たすグロー・アーク移行領域の放電を行うこと
により基板表面にダイヤモンドを生成させるを特徴とす
る。
混合ガスの炭化水素ガスの濃度は0.1〜20容量%が好適
である。炭化水素としては飽和、不飽和の炭化水素ガス
より選択出来るが、メタンが好適に使用される。
である。炭化水素としては飽和、不飽和の炭化水素ガス
より選択出来るが、メタンが好適に使用される。
ガス圧は100〜1000トールが好適に適用出来、このよう
な圧力は、従来予想もされないもので、1/10トール程度
の高い減圧下の従来の方法に比較すると、ダイヤモンド
生成速度は約5〜10倍増加され、ダイヤモンド粒子の大
きさを考慮しなければ、恐らくダイヤモンドの最も経済
的な製造方法と思われる。
な圧力は、従来予想もされないもので、1/10トール程度
の高い減圧下の従来の方法に比較すると、ダイヤモンド
生成速度は約5〜10倍増加され、ダイヤモンド粒子の大
きさを考慮しなければ、恐らくダイヤモンドの最も経済
的な製造方法と思われる。
ガス流量は、反応容器の容積によって決まるもので、反
応により消耗する原料ガスを補充し、生成するガスを除
去し、前記混合ガス組成を保持するため一定流量で原料
ガスを流すのが好適で、実験反応容器の場合10〜1000SC
CMの範囲で選択された。
応により消耗する原料ガスを補充し、生成するガスを除
去し、前記混合ガス組成を保持するため一定流量で原料
ガスを流すのが好適で、実験反応容器の場合10〜1000SC
CMの範囲で選択された。
直流印加電圧は0.5〜5KVで好適に実施出来る。
基板温度は水冷下又は水冷せずに室温〜800℃で実施さ
れる。前記EACVD法においては原料ガスを熱分解するた
め反応容器中に加熱装置を設置したが、本発明はこの加
熱装置は必要とせず、かつ熱電子発生用の加熱陰極も必
要とせず、実質的に室温で実施可能であって、陽極基板
は反応時に電子衝撃により温度上昇するので水冷するほ
うが好適で、水冷しないと約800℃に上昇する。
れる。前記EACVD法においては原料ガスを熱分解するた
め反応容器中に加熱装置を設置したが、本発明はこの加
熱装置は必要とせず、かつ熱電子発生用の加熱陰極も必
要とせず、実質的に室温で実施可能であって、陽極基板
は反応時に電子衝撃により温度上昇するので水冷するほ
うが好適で、水冷しないと約800℃に上昇する。
(実施例) 次に実施例により本発明を具体的に説明するが、これは
好適な例であって、本発明はこれだけに限定されるもの
でないことは勿論である。
好適な例であって、本発明はこれだけに限定されるもの
でないことは勿論である。
実施例1 第1図に示すように、鉄製の真空反応容器1に原料ガス
導入管2、排気系3、反応容器1の上部にシールド材4
を介してステンレス鋼製の陰極5を配置し、約3cmの距
離を隔てて下部にステンレス鋼製の陽極6をシールド材
7を介して配置する。陽極は水冷出来るよう構成され
る。陽極表面温度測定用の熱電対8が配置される。ダイ
ヤモンド析出用のモリブデン鋼基板を陽極上に配置し
た。陰極と陽極は高電圧直流電源9に接続される。ま
ず、反応容器を真空にして空気を排除し、原料ガス(メ
タンと水素の混合ガスで、メタンの濃度は10容量%)を
導入し、200トールに保持する。原料ガスは100SCCMの割
合で流した。放電電圧1KV、放電電流400mA、陽極表面温
度70℃にて第4図の写真に示すような陽光性が極間の約
60%(約1.8cm)の高さの放物線形をなしてグロー・ア
ーク移行領域の放電を確認し、この状態を保持した。数
分で約5μのダイヤモンド薄膜が生成した。約20時間連
続放電して約1mmのダイヤモンド薄板が容易に得られ
た。得られたダイヤモンド薄膜の表面の走査型電子顕微
鏡写真を第2図にしめす。極めてなだらかな連続膜であ
ることがわかる。また、薄膜体の反射電子回折像写真が
第3図にしめされ、この計算結果を下記表にしめす。
導入管2、排気系3、反応容器1の上部にシールド材4
を介してステンレス鋼製の陰極5を配置し、約3cmの距
離を隔てて下部にステンレス鋼製の陽極6をシールド材
7を介して配置する。陽極は水冷出来るよう構成され
る。陽極表面温度測定用の熱電対8が配置される。ダイ
ヤモンド析出用のモリブデン鋼基板を陽極上に配置し
た。陰極と陽極は高電圧直流電源9に接続される。ま
ず、反応容器を真空にして空気を排除し、原料ガス(メ
タンと水素の混合ガスで、メタンの濃度は10容量%)を
導入し、200トールに保持する。原料ガスは100SCCMの割
合で流した。放電電圧1KV、放電電流400mA、陽極表面温
度70℃にて第4図の写真に示すような陽光性が極間の約
60%(約1.8cm)の高さの放物線形をなしてグロー・ア
ーク移行領域の放電を確認し、この状態を保持した。数
分で約5μのダイヤモンド薄膜が生成した。約20時間連
続放電して約1mmのダイヤモンド薄板が容易に得られ
た。得られたダイヤモンド薄膜の表面の走査型電子顕微
鏡写真を第2図にしめす。極めてなだらかな連続膜であ
ることがわかる。また、薄膜体の反射電子回折像写真が
第3図にしめされ、この計算結果を下記表にしめす。
前記表の計算値より第2図の薄膜はダイヤモンド薄膜で
あることが確認された。
あることが確認された。
実施例2 実施例1における原料ガスの圧力が760トール、ガス流
量は500SCCM、放電電圧5KV、以外は同じ条件で実施し、
20時間で約2mmのダイヤモンド厚膜をえた。
量は500SCCM、放電電圧5KV、以外は同じ条件で実施し、
20時間で約2mmのダイヤモンド厚膜をえた。
(発明の効果) 本発明に係るダイヤモンド膜の製造方法によると、簡単
な設備、容易な操作で安定したダイヤモンド膜が安価に
得られ、薄膜としてはエレクトロニクス方面の半導体製
造原料に、厚膜はダイヤモンド板又は粉末として、例え
ば研磨剤などの工業原料として重要である。
な設備、容易な操作で安定したダイヤモンド膜が安価に
得られ、薄膜としてはエレクトロニクス方面の半導体製
造原料に、厚膜はダイヤモンド板又は粉末として、例え
ば研磨剤などの工業原料として重要である。
第1図は本発明に係るダイヤモンド膜の製造装置の説明
図、第2図はダイヤモンド薄膜の走査型電子顕微鏡によ
る表面写真、第3図はダイヤモンド薄膜の反射電子回折
像写真、第4図は放電状態を示す写真である。 1……反応容器、2……ガス導入管 3……排気系、4……シールド材 5……陰極、6……陽極 7……シールド材、8……熱電対 9……高電圧直流電源
図、第2図はダイヤモンド薄膜の走査型電子顕微鏡によ
る表面写真、第3図はダイヤモンド薄膜の反射電子回折
像写真、第4図は放電状態を示す写真である。 1……反応容器、2……ガス導入管 3……排気系、4……シールド材 5……陰極、6……陽極 7……シールド材、8……熱電対 9……高電圧直流電源
Claims (3)
- 【請求項1】真空の容器中に、陽極に設定した基板とこ
れに対向する陰極とを配置し、この容器中に、炭化水素
ガス濃度を0.1〜20容量%に設定した炭化水素ガスと水
素ガスとの混合ガスを、100〜1000トールの圧力下に導
入し、前記基板に対し加熱手段による加熱を行うことな
く、 (a)放電維持電圧を正規グローの場合より高くし、 (b)電流密度を0.1〜10A/cm2に設定し、 (c)放電電流の上昇に伴い放電電圧が減少すると共
に、 (d)放電電流の増減に伴い放電面積が減少する 条件を満たすグロー・アーク移行領域の放電を行うこと
により基板表面にダイヤモンドを生成させることを特徴
とするダイヤモンド膜の製造方法。 - 【請求項2】放電電圧として0.5〜5KVの直流電圧を印加
してなる特許請求の範囲第1項記載のダイヤモンド膜の
製造方法。 - 【請求項3】基板は、水冷して保持するか、又は水冷す
ることなく室温〜800℃に維持してなる特許請求の範囲
第1項記載のダイヤモンド膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61226237A JPH06104599B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | ダイヤモンド膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61226237A JPH06104599B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | ダイヤモンド膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385094A JPS6385094A (ja) | 1988-04-15 |
| JPH06104599B2 true JPH06104599B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=16842039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61226237A Expired - Fee Related JPH06104599B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | ダイヤモンド膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06104599B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0729875B2 (ja) * | 1987-12-12 | 1995-04-05 | 富士通株式会社 | ダイヤモンド膜の合成方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60118693A (ja) * | 1983-11-25 | 1985-06-26 | Mitsubishi Metal Corp | ダイヤモンドの低圧合成方法 |
| JPS60221395A (ja) * | 1984-04-19 | 1985-11-06 | Yoshio Imai | ダイヤモンド薄膜の製造方法 |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP61226237A patent/JPH06104599B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6385094A (ja) | 1988-04-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |