JPH06105487B2 - 磁気記録装置の信号再生回路 - Google Patents
磁気記録装置の信号再生回路Info
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- JPH06105487B2 JPH06105487B2 JP62170910A JP17091087A JPH06105487B2 JP H06105487 B2 JPH06105487 B2 JP H06105487B2 JP 62170910 A JP62170910 A JP 62170910A JP 17091087 A JP17091087 A JP 17091087A JP H06105487 B2 JPH06105487 B2 JP H06105487B2
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気記憶装置に係り、特に低品質の信号の再
生に好適な再生回路に関する。
生に好適な再生回路に関する。
磁気記憶装置における従来の再生回路の例として米国特
許明細書4,081,756（発明者ロバート・プライス（Rober
t Price）他）の記載がある。第２図にその概略図を示
す。動作の概略を第３図のタイムチャートを用いて説明
する。
許明細書4,081,756（発明者ロバート・プライス（Rober
t Price）他）の記載がある。第２図にその概略図を示
す。動作の概略を第３図のタイムチャートを用いて説明
する。
磁気ヘッドにより読み取った再生信号１をゲート発生回
路８に入力し、再生信号１のピーク位置に対応するパル
スを得るために、スライスレベル９により再生信号１を
切ったゲートを作る。このゲートパルスを用い、正しい
ピークパルスを抽出し、弁別回路４へ入力する。弁別回
路ではVFOによりタイミングをそろえたリードデータ５
を作り、上位コントロール装置に送り出す。
路８に入力し、再生信号１のピーク位置に対応するパル
スを得るために、スライスレベル９により再生信号１を
切ったゲートを作る。このゲートパルスを用い、正しい
ピークパルスを抽出し、弁別回路４へ入力する。弁別回
路ではVFOによりタイミングをそろえたリードデータ５
を作り、上位コントロール装置に送り出す。
〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、従来の磁気記録装置における再生回路に
は次のような問題があった。再生信号１において点線に
示すように、媒体欠陥あるいはノイズにより波形歪を生
じた場合、誤ったゲートを生じ、リードデータにエラー
を生ずる。この時、波形歪の生じた部分からゲートが発
生しないようにスライスレベルを上げていくと、正しい
信号でありかつ振幅の小さい部分からのゲートが発生せ
ず、やはりリードデータにエラーを生じてしまう。この
ように、従来技術では、絶対振幅の大きさが等しいノイ
ズと信号との分離が不可能であった。
は次のような問題があった。再生信号１において点線に
示すように、媒体欠陥あるいはノイズにより波形歪を生
じた場合、誤ったゲートを生じ、リードデータにエラー
を生ずる。この時、波形歪の生じた部分からゲートが発
生しないようにスライスレベルを上げていくと、正しい
信号でありかつ振幅の小さい部分からのゲートが発生せ
ず、やはりリードデータにエラーを生じてしまう。この
ように、従来技術では、絶対振幅の大きさが等しいノイ
ズと信号との分離が不可能であった。
本発明の目的は、絶対振幅の大きさが等しいノイズと信
号とを正しく分離し、正しいリードデータを得ることに
ある。
号とを正しく分離し、正しいリードデータを得ることに
ある。
上記目的は、信号再生の際ゲートを作るべきスライスレ
ベルをHigh,Low等の複数種類設け、それぞれに応じたゲ
ートを発生する複数のレベルゲート発生回路と、これら
の信号を基に正誤の判定を行なうレベル判定回路とを用
いることにより達成される。
ベルをHigh,Low等の複数種類設け、それぞれに応じたゲ
ートを発生する複数のレベルゲート発生回路と、これら
の信号を基に正誤の判定を行なうレベル判定回路とを用
いることにより達成される。
本発明のように複数のレベルのスライスレベルと判定回
路とを用いることにより、従来エラーを生じていた再生
信号を正しく再生することが可能なことを以下に示す。
路とを用いることにより、従来エラーを生じていた再生
信号を正しく再生することが可能なことを以下に示す。
磁気記録では、第３図の点線に示すような波形歪の生じ
た部分の前後ではほぼ正しい波形をしていることが多
く、図のように時間軸方向に同時に判定すれば信号とノ
イズとを振幅の大きさによって識別可能である。ところ
が従来技術では、その時間毎に判定してしまうため前後
の情報は生かされず、ノイズと離れた位置にあるノイズ
と同一振幅の信号の区別がつかずエラーを生じてしま
う。一方本発明では、信号の振幅（複数のレベル）と極
性とを前後２ビットに渡り判定に用いるため情報量が増
加し、正しい再生が可能となる。第３図を例にとり説明
する。まず大きな振幅がある場合には正しい信号と判定
する。小さな振幅がある場合には、連続するビットで極
性が反転した場合のみ正しい信号と判定する。この法則
に従うと、まず最初に−（マイナス）側の大きな振幅が
あるのでこれは正しい信号と判定する。次に＋（プラ
ス）側に小さな振幅があるがすぐ次のビットに大きな振
幅があるためノイズと判定し、大きな振幅の方を正しい
と判定。次の−（マイナス）側の小さな振幅のビットの
次のビットは＋（プラス）側の振幅を持つので正しいと
判定する。上記のような動作をすることにより、正しい
信号再生が可能となる。
た部分の前後ではほぼ正しい波形をしていることが多
く、図のように時間軸方向に同時に判定すれば信号とノ
イズとを振幅の大きさによって識別可能である。ところ
が従来技術では、その時間毎に判定してしまうため前後
の情報は生かされず、ノイズと離れた位置にあるノイズ
と同一振幅の信号の区別がつかずエラーを生じてしま
う。一方本発明では、信号の振幅（複数のレベル）と極
性とを前後２ビットに渡り判定に用いるため情報量が増
加し、正しい再生が可能となる。第３図を例にとり説明
する。まず大きな振幅がある場合には正しい信号と判定
する。小さな振幅がある場合には、連続するビットで極
性が反転した場合のみ正しい信号と判定する。この法則
に従うと、まず最初に−（マイナス）側の大きな振幅が
あるのでこれは正しい信号と判定する。次に＋（プラ
ス）側に小さな振幅があるがすぐ次のビットに大きな振
幅があるためノイズと判定し、大きな振幅の方を正しい
と判定。次の−（マイナス）側の小さな振幅のビットの
次のビットは＋（プラス）側の振幅を持つので正しいと
判定する。上記のような動作をすることにより、正しい
信号再生が可能となる。
本発明の実施例を第１図に示す。
磁気記録装置の信号再生回路において再生信号１から、
２レベルゲート発生回路２における２つのスライスレベ
ル（Highスライスレベル6,Lowスライスレベル７）によ
りゲートを発生し、２レベル判定回路３により正誤の判
定を行なった後、弁別回路４によりVFOに同期したリー
ドデータ５を得る。以下その詳細を説明する。
２レベルゲート発生回路２における２つのスライスレベ
ル（Highスライスレベル6,Lowスライスレベル７）によ
りゲートを発生し、２レベル判定回路３により正誤の判
定を行なった後、弁別回路４によりVFOに同期したリー
ドデータ５を得る。以下その詳細を説明する。
実施例1. 第１図における２レベルゲート発生回路２の詳細な実施
例を第４図に示す。
例を第４図に示す。
第１図における２レベル判定回路３の詳細な実施例を第
５図に示す。
５図に示す。
第１図における弁別回路４の詳細な実施例を第６図に示
す。
す。
以下、本実施例の動作を第７図のタイムチャートを用い
て説明する。
て説明する。
再生信号１を微分回路10により微分し、リミッタ11によ
り０クロスパルス（LIMIT Pulse−P,LIM,IT Pulse−
Ｎ）を得る。一方再生信号１をHighスライスレベル６お
よびLowスライスレベル７と、リミッタ12〜15とにより
４種類のゲート（High GateP,Low GateP,High GateN,Lo
w GateN）を得る。
り０クロスパルス（LIMIT Pulse−P,LIM,IT Pulse−
Ｎ）を得る。一方再生信号１をHighスライスレベル６お
よびLowスライスレベル７と、リミッタ12〜15とにより
４種類のゲート（High GateP,Low GateP,High GateN,Lo
w GateN）を得る。
上記６種類の信号を第５図の２レベル判定回路に入力す
る。これら６種類の信号から、まず４種類それぞれのス
ライスレベルで発生したゲートに対応する０クロスパル
スを抽出した信号（High Pulse P,High Pulse N,Low Pu
lse P,Low Pulse N）を得る。これらの信号とVFO同期回
路16、VFOディテクタ17〜20とにより、VFO信号に同期し
た４種類の信号（HPn,HNn,LPn,LNn）を得る。これらの
信号は現在の状態を示す。またここでVFOを同期発振さ
せるためのソース信号として、Low Pulse P,Low Pulse
Nの信号を用いてもよいのは明らかである。さらにここ
でフリップフロップを用いて、LPn,LNnの１つ前の状態
であるLPn-1，LNn-1の信号を作る。
る。これら６種類の信号から、まず４種類それぞれのス
ライスレベルで発生したゲートに対応する０クロスパル
スを抽出した信号（High Pulse P,High Pulse N,Low Pu
lse P,Low Pulse N）を得る。これらの信号とVFO同期回
路16、VFOディテクタ17〜20とにより、VFO信号に同期し
た４種類の信号（HPn,HNn,LPn,LNn）を得る。これらの
信号は現在の状態を示す。またここでVFOを同期発振さ
せるためのソース信号として、Low Pulse P,Low Pulse
Nの信号を用いてもよいのは明らかである。さらにここ
でフリップフロップを用いて、LPn,LNnの１つ前の状態
であるLPn-1，LNn-1の信号を作る。
以上の信号から次の信号を作る。
Hn＝HPn＋HNn Hn＋Ln＝HPn＋HNn＋LPn＋LPn LoadR1＝LPn-1・（HPn＋LPn）＋LPn-1・（HNn＋LNn） LoadR0＝LPn-1・（HNn＋LNn）＋LNn-1・（HPn＋LPn） ここで信号の意味は以下の通りである。
Hn:Highスライスレベルを越えた正しいデータであるこ
とを示す信号 Hn＋Ln:少なくともLowスライスレベルを越えたビットで
あることを示す信号であり、データである可能性がある
ことを示す信号 LoadR1:直前のビットは“0"であったという判定信号 LoadR0:直前のビットは“1"であったという判定信号 以上の４種類の信号およびVFO同期回路16からのVFO Clo
ck−Ｐを第６図の弁別回路に入力し、正しいリードデー
タ５を得る動作を以下に示す。
とを示す信号 Hn＋Ln:少なくともLowスライスレベルを越えたビットで
あることを示す信号であり、データである可能性がある
ことを示す信号 LoadR1:直前のビットは“0"であったという判定信号 LoadR0:直前のビットは“1"であったという判定信号 以上の４種類の信号およびVFO同期回路16からのVFO Clo
ck−Ｐを第６図の弁別回路に入力し、正しいリードデー
タ５を得る動作を以下に示す。
まず、データである可能性のある信号Hn＋Lnをシフトレ
ジスタ１へ、正しいデータである信号Hnをシフトレジス
タ０へ入力する。これらの信号をVFO Clockのタイミン
グで順次シフトしていく。ここで、２つのシフトレジス
タの内容が異なる場合がある。Lowスライスレベルのみ
を越えた場合であり、まだ正誤が不明なことを示す。こ
の時は次のビットが来た時に判定が行なわれ、Load R1
あるいはLoad R0の信号が入力され、シフトレジスタの
内容が一方のシフトレジスタからロードされ同一化され
る。ｎビットシフトする内には必ずレジスタの内容が一
致し、正しいリードデータ５が得られるわけである。具
体的に第７図のタイムチャートで示すと、再生波形中点
線で示す部分にノイズがあった場合には、レジスタ１に
は信号が入力されレジスタ０には入力されない。次のビ
ットが来た時にLoad R1の信号が発生し、正しいデータ
でないことが判明したのでレジスタ０からレジスタ１へ
ロードすることによりレジスタ１のビットを消した後、
１ビットシフトし、かつビット０へ新しいデータが入力
される。従ってレジスタのビット１以降では２つのレジ
スタの内容は全く等しくなる。振幅の小さい再生波形の
場合にもLowスライスレベルしか越えないが、振幅の極
性が正しく反転するため正しいデータと判定されLoad R
0の信号が発生し、レジスタ１からレジスタ０へロード
されレジスタ０にビットが発生した後、１ビットシフト
する。
ジスタ１へ、正しいデータである信号Hnをシフトレジス
タ０へ入力する。これらの信号をVFO Clockのタイミン
グで順次シフトしていく。ここで、２つのシフトレジス
タの内容が異なる場合がある。Lowスライスレベルのみ
を越えた場合であり、まだ正誤が不明なことを示す。こ
の時は次のビットが来た時に判定が行なわれ、Load R1
あるいはLoad R0の信号が入力され、シフトレジスタの
内容が一方のシフトレジスタからロードされ同一化され
る。ｎビットシフトする内には必ずレジスタの内容が一
致し、正しいリードデータ５が得られるわけである。具
体的に第７図のタイムチャートで示すと、再生波形中点
線で示す部分にノイズがあった場合には、レジスタ１に
は信号が入力されレジスタ０には入力されない。次のビ
ットが来た時にLoad R1の信号が発生し、正しいデータ
でないことが判明したのでレジスタ０からレジスタ１へ
ロードすることによりレジスタ１のビットを消した後、
１ビットシフトし、かつビット０へ新しいデータが入力
される。従ってレジスタのビット１以降では２つのレジ
スタの内容は全く等しくなる。振幅の小さい再生波形の
場合にもLowスライスレベルしか越えないが、振幅の極
性が正しく反転するため正しいデータと判定されLoad R
0の信号が発生し、レジスタ１からレジスタ０へロード
されレジスタ０にビットが発生した後、１ビットシフト
する。
以上のように本実施例によれば、第７図に示すような従
来技術では正しく再生できなかった低品質の再生信号で
も正しく再生することが可能となる。
来技術では正しく再生できなかった低品質の再生信号で
も正しく再生することが可能となる。
尚、本実施例に示したシフトレジスタのビット数ｎは使
用する変調方式に応じて決定すればよく、2to7変調方式
や1to7変調方式では９ビット分あれば充分である。また
復調は得られたリードデータを各変調方式の変換方式に
従って行なえばよい。
用する変調方式に応じて決定すればよく、2to7変調方式
や1to7変調方式では９ビット分あれば充分である。また
復調は得られたリードデータを各変調方式の変換方式に
従って行なえばよい。
また、本実施例では２つのスライスレベルを用いて構成
したが、３レベル以上に拡張することは容易であり、シ
フトレジスタも３本以上に拡張し性能を向上させること
は容易に推定できる。さらにスライスレベルを外部から
の制御信号により制御し可変にすることも可能である。
したが、３レベル以上に拡張することは容易であり、シ
フトレジスタも３本以上に拡張し性能を向上させること
は容易に推定できる。さらにスライスレベルを外部から
の制御信号により制御し可変にすることも可能である。
実施例2. 基本構成要素は実施例１と同じく第１図で示される。
第１図における２レベルゲート発生回路の２詳細な実施
例を第４図に示す。
例を第４図に示す。
第１図における２レベル判定回路３の詳細な実施例を第
８図に示す。
８図に示す。
第１図における弁別回路４の詳細な実施例を第９図に示
す。
す。
第10図は第８図におけるReset発生回路22の具体例、第1
1図は第８図におけるSet発生回路23の具体例、第12図は
第８図における遅延ゲート発生回路28の具体例を示す。
1図は第８図におけるSet発生回路23の具体例、第12図は
第８図における遅延ゲート発生回路28の具体例を示す。
以下、本実施例の動作を第13図および第14図のタイムチ
ャートを用いて説明する。
ャートを用いて説明する。
２レベルゲート発生回路２の動作は実施例１と同様であ
る。従ってLIMIT Pulse−P,−Ｎ、High Gate P,N、Low
Gate P,Nの６種類の信号を得る。
る。従ってLIMIT Pulse−P,−Ｎ、High Gate P,N、Low
Gate P,Nの６種類の信号を得る。
上記の信号を第８図の２レベル判定回路に入力する。本
実施例における２レベル判定回路の動作概略は次の通り
である。まず、各ゲート、LIMIT Pulse共にτｄの遅延
時間だけ遅延させ、その時間内に正しいゲートのみを作
り出しLIMIT Pulseにより０クロスパルスを抽出し、そ
の後に弁別回路でVFOのタイミングにそろえるわけであ
る。
実施例における２レベル判定回路の動作概略は次の通り
である。まず、各ゲート、LIMIT Pulse共にτｄの遅延
時間だけ遅延させ、その時間内に正しいゲートのみを作
り出しLIMIT Pulseにより０クロスパルスを抽出し、そ
の後に弁別回路でVFOのタイミングにそろえるわけであ
る。
ここで正しいゲートを得るためには、可能性のあるゲー
トを全てSet発生回路23で作り出し、そのSet信号をカウ
ンタ24とデコーダ27を用いて遅延ゲート発生回路28に順
次振り分けて入力する。これらのゲートの内、誤ったゲ
ートをReset発生回路22により抽出しそのReset信号をカ
ウンタ24とデコーダ26を用いてSet信号より１ビット分
ずれた位置の遅延ゲート発生回路28に順次振り分けて入
力し、Resetしてしまう。遅延ゲート発生回路28の動作
の詳細は第14図に示す。
トを全てSet発生回路23で作り出し、そのSet信号をカウ
ンタ24とデコーダ27を用いて遅延ゲート発生回路28に順
次振り分けて入力する。これらのゲートの内、誤ったゲ
ートをReset発生回路22により抽出しそのReset信号をカ
ウンタ24とデコーダ26を用いてSet信号より１ビット分
ずれた位置の遅延ゲート発生回路28に順次振り分けて入
力し、Resetしてしまう。遅延ゲート発生回路28の動作
の詳細は第14図に示す。
以上のように本実施例によれば、正しいゲートのみを作
り出し、それにより正しいリードパルスを抽出し、リー
ドデータを正しく再生することが可能となる。
り出し、それにより正しいリードパルスを抽出し、リー
ドデータを正しく再生することが可能となる。
ここで、Reset発生回路,Set発生回路，遅延ゲート発生
回路は、本実施例に示した回路構成とは異なっていても
同等の動作をするものであれば何ら問題はない。
回路は、本実施例に示した回路構成とは異なっていても
同等の動作をするものであれば何ら問題はない。
また、カウンタ24、デコーダ26,27のビット数および遅
延ゲート発生回路28の箇数ｎ、および遅延時間τｄは変
調方式に応じて決定すればよい。
延ゲート発生回路28の箇数ｎ、および遅延時間τｄは変
調方式に応じて決定すればよい。
Tmax＝最大ビット間隔 Tmin＝最小ビット間隔 とすると、 Tmax＜τｄ＜ｎ×Tmin となるようにすればよい。
また、実施例１と同様に３レベルスライス以上にするこ
とや、可変レベルにすることも容易に推定される。
とや、可変レベルにすることも容易に推定される。
実施例3. 基本構成要素は実施例１と同じく第１図で示される。
第１図における２レベルゲート発生回路２の詳細な実施
例を第４図に示す。
例を第４図に示す。
第１図における２レベル判定回路３の詳細な実施例を第
15図に示す。
15図に示す。
第１図における弁別回路４の詳細な実施例を第16図に示
す。
す。
第15図の２レベル判定回路の動作タイムチャートを第17
図に示す。
図に示す。
以下、本実施例の動作を説明する。
２レベルゲート発生回路２の動作は実施例１と同様であ
る。従ってLIMIT Pulse−P,−Ｎ、High Gate P,N、Low
Gate P,Nの６種類の信号を得る。この信号を第15図の２
レベル判定回路に入力する。この回路では、High Gate,
Low Gate両方から作られる全パルス、すなわちRAW DATA
と、直前のパルスが誤ったパルスであることを示す。
る。従ってLIMIT Pulse−P,−Ｎ、High Gate P,N、Low
Gate P,Nの６種類の信号を得る。この信号を第15図の２
レベル判定回路に入力する。この回路では、High Gate,
Low Gate両方から作られる全パルス、すなわちRAW DATA
と、直前のパルスが誤ったパルスであることを示す。
INHIBIT信号を作り出す。
RAW DATAは以下のようにして作り出す。まず実施例１と
同様に０クロスパルスを抽出した信号、High Pulse P,
N、Low Pulse P,Nを得る。これらのパルスの立ち上がり
が０クロスパルスである。OR回路を用いてHigh Pulse,L
ow Pulseを得る。High Pulse,Low Pulseをそれぞれ適切
なパルス幅に整形した後、OR回路を通すことによって、
RAW DATAすなわちビット“1"である可能性のある全ての
パルスを得ることができる。一方、INHIBITは以下のよ
うにして作り出す。Low Pulseの後に同極性のHigh Puls
eが来た場合にINHIBITを発生させる。具体的には、Low
Pulseを遅らせた信号Delay Low PulseとHigh Pulseを用
いてＤタイプフリップフロップによって作り出す。
同様に０クロスパルスを抽出した信号、High Pulse P,
N、Low Pulse P,Nを得る。これらのパルスの立ち上がり
が０クロスパルスである。OR回路を用いてHigh Pulse,L
ow Pulseを得る。High Pulse,Low Pulseをそれぞれ適切
なパルス幅に整形した後、OR回路を通すことによって、
RAW DATAすなわちビット“1"である可能性のある全ての
パルスを得ることができる。一方、INHIBITは以下のよ
うにして作り出す。Low Pulseの後に同極性のHigh Puls
eが来た場合にINHIBITを発生させる。具体的には、Low
Pulseを遅らせた信号Delay Low PulseとHigh Pulseを用
いてＤタイプフリップフロップによって作り出す。
これらRAW DATAとINHIBITを第16図の弁別回路に入力す
る。VFO同期回路16,VFOディテクタ17およびＤタイプフ
リップフロップを用いて、VFO Clockに同期した信号を
作る。その後、同期したRAW DATAをフリップフロップで
構成したシフトレジスタで順次シフトしていく。シフト
していく間にINHIBITが来たら、 INHIBIT信号発生直前のビット“1"をシフトせず消して
しまうようにゲートを構成しておく。従って、RAW DATA
のうち、 INHIBITにより誤ったパルスを除去してシフトすること
ができる。
る。VFO同期回路16,VFOディテクタ17およびＤタイプフ
リップフロップを用いて、VFO Clockに同期した信号を
作る。その後、同期したRAW DATAをフリップフロップで
構成したシフトレジスタで順次シフトしていく。シフト
していく間にINHIBITが来たら、 INHIBIT信号発生直前のビット“1"をシフトせず消して
しまうようにゲートを構成しておく。従って、RAW DATA
のうち、 INHIBITにより誤ったパルスを除去してシフトすること
ができる。
以上のように本実施例によれば、ビット“1"である可能
性のあるパルスの中から誤ったパルスのみを除去するこ
とにより、正しいリードデータを再生することが可能に
なる。
性のあるパルスの中から誤ったパルスのみを除去するこ
とにより、正しいリードデータを再生することが可能に
なる。
ここで、２レベル判定回路や弁別回路は、本実施例とは
異なっていても、RAW DATA,INHIBITを作る機能およびそ
れらを使って正しいリードデータを再生する機能があれ
ば何ら問題はない。また、第15図におけるSRフリップフ
ロップの構成は第18図のように変更しても本発明の意図
する効果と同等の効果が得られる。このように多少の変
更を行なうことにより変発明と同等の効果を得ることは
容易に類推できる。これは、実施例1,2においても同様
である。
異なっていても、RAW DATA,INHIBITを作る機能およびそ
れらを使って正しいリードデータを再生する機能があれ
ば何ら問題はない。また、第15図におけるSRフリップフ
ロップの構成は第18図のように変更しても本発明の意図
する効果と同等の効果が得られる。このように多少の変
更を行なうことにより変発明と同等の効果を得ることは
容易に類推できる。これは、実施例1,2においても同様
である。
また、実施例1,2と同様に３スライスレベル以上にする
ことや可変レベルにすることは容易に類推可能である。
ことや可変レベルにすることは容易に類推可能である。
また、第16図のシフトレジスタの段数は実施例１と同様
に考えればよい。
に考えればよい。
本発明によれば、従来リードエラーを生じていた低品質
（波形歪や低S/N等）の再生信号を正しく再生すること
が可能となる。具体的には、振幅の大きさが等しいノイ
ズと信号でも正しく分離可能となり、正しい信号弁別が
可能となる。
（波形歪や低S/N等）の再生信号を正しく再生すること
が可能となる。具体的には、振幅の大きさが等しいノイ
ズと信号でも正しく分離可能となり、正しい信号弁別が
可能となる。
以上により、高信頼，高性能の磁気記録装置を得ること
ができる。
ができる。
第１図は本発明の実施例の基本構成を示した図、第２図
は従来方式の構成図、第３図は従来方式の動作を示すタ
イムチャートを示す図、第４図，第５図，第６図は本発
明の実施例１の詳細な構成を示す図、第７図は実施例１
の動作を示すタイムチャートを示す図、第８図，第９
図，第10図，第11図，第12図は本発明の実施例２の詳細
な構成を示す図、第13図，第14図は実施例２の動作を示
すタイムチャートを示す図である。第15図，第16図は本
発明の実施例３の詳細な構成を示す図、第17図は実施例
３の動作を示すタイミングチャートを示す図、第18図は
SRフリップフロップの他の例を示す図である。 １……再生信号、２……２レベルゲート発生回路、３…
…２レベル判定回路、４……弁別回路、５……リードデ
ータ、６……Highスライスレベル、７……Lowスライス
レベル。
は従来方式の構成図、第３図は従来方式の動作を示すタ
イムチャートを示す図、第４図，第５図，第６図は本発
明の実施例１の詳細な構成を示す図、第７図は実施例１
の動作を示すタイムチャートを示す図、第８図，第９
図，第10図，第11図，第12図は本発明の実施例２の詳細
な構成を示す図、第13図，第14図は実施例２の動作を示
すタイムチャートを示す図である。第15図，第16図は本
発明の実施例３の詳細な構成を示す図、第17図は実施例
３の動作を示すタイミングチャートを示す図、第18図は
SRフリップフロップの他の例を示す図である。 １……再生信号、２……２レベルゲート発生回路、３…
…２レベル判定回路、４……弁別回路、５……リードデ
ータ、６……Highスライスレベル、７……Lowスライス
レベル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田村 喬 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (72)発明者 斎藤 眞 東京都国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 土屋 鈴二郎 東京都国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 久野 真一郎 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (72)発明者 堀江 恒雄 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (72)発明者 小河 卓二 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (72)発明者 加茂 喜久 東京都国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 茂俣 和弘 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (56)参考文献 特開 昭55−75342（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】磁気記録装置の信号再生回路において、再
生信号から複数のスライスレベルによりゲートを発生す
るレベルゲート発生回路と、該レベルゲート発生回路の
出力信号に基づき、上記再生信号の正誤を判定するレベ
ル判定回路と、該判定回路による判定結果を弁別する弁
別回路とを有することを特徴とする磁気記録装置の信号
再生回路。 - 【請求項２】上記特許請求の範囲第１項において、上記
レベル判定回路は弁別すべきビットと、弁別すべきビッ
トの少なくとも１ビット後の信号の振幅と極性とから判
定することを特徴とする磁気記録装置の信号再生回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-163616 | 1986-07-14 | ||
| JP16361686 | 1986-07-14 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63153705A JPS63153705A (ja) | 1988-06-27 |
| JPH06105487B2 true JPH06105487B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=15777311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62170910A Expired - Fee Related JPH06105487B2 (ja) | 1986-07-14 | 1987-07-10 | 磁気記録装置の信号再生回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4821012A (ja) |
| JP (1) | JPH06105487B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3106541B2 (ja) * | 1991-04-15 | 2000-11-06 | 日本電気株式会社 | 磁気ヘッド駆動回路 |
| US6246233B1 (en) | 1994-12-30 | 2001-06-12 | Northstar Technologies Inc. | Magnetoresistive sensor with reduced output signal jitter and temperature compensation |
| US6456449B1 (en) | 1997-08-07 | 2002-09-24 | International Business Machines Corporation | Disk drive with wide servo burst pattern and wide servo sensing element |
| JP4136261B2 (ja) * | 2000-03-29 | 2008-08-20 | 富士通株式会社 | 磁気抵抗効果素子を製造する方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3967368A (en) * | 1972-10-11 | 1976-07-06 | International Business Machines Corporation | Method for manufacturing and using an internally biased magnetoresistive magnetic transducer |
| US4097802A (en) * | 1975-06-30 | 1978-06-27 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive field sensor with a magnetic shield which prevents sensor response at fields below saturation of the shield |
| US4306215A (en) * | 1979-03-23 | 1981-12-15 | Spin Physics, Inc. | Thin magnetoresistive head |
| US4413296A (en) * | 1979-07-16 | 1983-11-01 | Eastman Kodak Company | Thin film magnetoresistive head |
| US4476454A (en) * | 1983-06-30 | 1984-10-09 | International Business Machines Corporation | New magnetoresistive materials |
| US4639806A (en) * | 1983-09-09 | 1987-01-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film magnetic head having a magnetized ferromagnetic film on the MR element |
-
1987
- 1987-07-10 JP JP62170910A patent/JPH06105487B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1987-07-14 US US07/073,093 patent/US4821012A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4821012A (en) | 1989-04-11 |
| JPS63153705A (ja) | 1988-06-27 |
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