JPH06105845A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JPH06105845A JPH06105845A JP4282191A JP28219192A JPH06105845A JP H06105845 A JPH06105845 A JP H06105845A JP 4282191 A JP4282191 A JP 4282191A JP 28219192 A JP28219192 A JP 28219192A JP H06105845 A JPH06105845 A JP H06105845A
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- Japan
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Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 101100514821 Caenorhabditis elegans dsc-4 gene Proteins 0.000 description 1
- 208000009989 Posterior Leukoencephalopathy Syndrome Diseases 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】そのゲイン調整手段において、操作性に優れ、
かつ、より細分化された深度に対する深度ゲイン情報が
得られる。 【構成】超音波像の深度に対する深度ゲインを調整でき
るゲイン調整手段を備える超音波診断装置において、該
ゲイン調整手段は、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲ
インを示すグラフが表示されそのグラフ面の座標を指定
できるタッチパネルと、指定された座標を該タッチパネ
ル面に表示する表示手段と、指定された深度と深度ゲイ
ンの関係を出力する手段とからなる。
かつ、より細分化された深度に対する深度ゲイン情報が
得られる。 【構成】超音波像の深度に対する深度ゲインを調整でき
るゲイン調整手段を備える超音波診断装置において、該
ゲイン調整手段は、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲ
インを示すグラフが表示されそのグラフ面の座標を指定
できるタッチパネルと、指定された座標を該タッチパネ
ル面に表示する表示手段と、指定された深度と深度ゲイ
ンの関係を出力する手段とからなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超音波診断装置に係
り、特に、超音波像の深度に対する深度ゲインを調整で
きる手段を備える超音波診断装置に関する。
り、特に、超音波像の深度に対する深度ゲインを調整で
きる手段を備える超音波診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】たとえばＣＲＴからなる表示装置に表示
される超音波像は、被検体の体表から深さ方向に到る断
層像が得られるようになっているが、そのうちの関心部
位における表示をより明確化したい場合が生じる。
される超音波像は、被検体の体表から深さ方向に到る断
層像が得られるようになっているが、そのうちの関心部
位における表示をより明確化したい場合が生じる。
【０００３】このような場合、超音波像の深度に対する
深度ゲインを調整できるゲイン調整手段が備えられてお
り、該関心部位に対する深度のゲインを任意に調整し、
これにより、表示装置における該関心部位の表示輝度を
向上させるようなことができるようになっている。
深度ゲインを調整できるゲイン調整手段が備えられてお
り、該関心部位に対する深度のゲインを任意に調整し、
これにより、表示装置における該関心部位の表示輝度を
向上させるようなことができるようになっている。
【０００４】そして、従来では、前記ゲイン調整手段
は、ｘ軸方向にスライドできるつまみを有するスライド
スイッチがｙ軸方向に複数（ほぼ１０個程度）近接して
並設され、該ｙ軸方向に深度が対応付けられｘ軸方向に
深度ゲインが対応付けられるように構成されたものとな
っている。すなわち、表示装置に表示された断面像を観
察し、関心部位の深度に相当するスライドスイッチを選
択し、そのスライドスイッチのつまみを所定の位置にス
ライドさせるようになっている。
は、ｘ軸方向にスライドできるつまみを有するスライド
スイッチがｙ軸方向に複数（ほぼ１０個程度）近接して
並設され、該ｙ軸方向に深度が対応付けられｘ軸方向に
深度ゲインが対応付けられるように構成されたものとな
っている。すなわち、表示装置に表示された断面像を観
察し、関心部位の深度に相当するスライドスイッチを選
択し、そのスライドスイッチのつまみを所定の位置にス
ライドさせるようになっている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに構成されたゲイン調整手段は、各スライドスイッチ
のつまみをスライド操作させなければならないことから
極めてその操作が煩雑になり、このため、より操作性の
優れたゲイン調整手段が要望されていた。また、上述の
ように、深度はたとえば１０個程度のスライドスイッチ
に割り振られることになることから、該ゲイン調整手段
からの出力情報は制限され、より細分化された深度に対
する深度ゲイン情報が出力されることが要望されてい
た。
うに構成されたゲイン調整手段は、各スライドスイッチ
のつまみをスライド操作させなければならないことから
極めてその操作が煩雑になり、このため、より操作性の
優れたゲイン調整手段が要望されていた。また、上述の
ように、深度はたとえば１０個程度のスライドスイッチ
に割り振られることになることから、該ゲイン調整手段
からの出力情報は制限され、より細分化された深度に対
する深度ゲイン情報が出力されることが要望されてい
た。
【０００６】それ故、本発明はこのような事情に基づい
てなされたものであり、その目的とするところのもの
は、より操作性の優れたゲイン調整手段を備える超音波
診断装置を提供することにある。本発明の他の目的は、
より細分化された深度に対する深度ゲイン情報が得られ
るゲイン調整手段を備える超音波診断装置を提供するこ
とにある。
てなされたものであり、その目的とするところのもの
は、より操作性の優れたゲイン調整手段を備える超音波
診断装置を提供することにある。本発明の他の目的は、
より細分化された深度に対する深度ゲイン情報が得られ
るゲイン調整手段を備える超音波診断装置を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明による超音波診断装置は、基本的に
は、超音波像の深度に対する深度ゲインを調整できるゲ
イン調整手段を備える超音波診断装置において、該ゲイ
ン調整手段は、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲイン
を示すグラフが表示されそのグラフ面の座標を指定でき
るタッチパネルと、指定された座標を該タッチパネル面
に表示する表示手段と、指定された深度と深度ゲインの
関係を出力する手段とからなることを特徴とするもので
ある。
るために、本発明による超音波診断装置は、基本的に
は、超音波像の深度に対する深度ゲインを調整できるゲ
イン調整手段を備える超音波診断装置において、該ゲイ
ン調整手段は、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲイン
を示すグラフが表示されそのグラフ面の座標を指定でき
るタッチパネルと、指定された座標を該タッチパネル面
に表示する表示手段と、指定された深度と深度ゲインの
関係を出力する手段とからなることを特徴とするもので
ある。
【０００８】
【作用】このように構成した超音波診断装置によれば、
そのゲイン調整手段が、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深
度ゲインを示すグラフが表示されており、その座標をタ
ッチパネルによって指定できるとともに、表示手段によ
って表示することができる。このため、従来のようにつ
まみを移動させるような操作が全くなくなることから、
操作性を良好にすることができる。また、表示手段は、
その画素が通常ミクロンオーダであることから、より細
分化された深度に対する深度ゲイン情報を与えることが
できるようになる。そして、該ゲイン調整手段は、指定
された深度と深度ゲインの関係を出力する手段を備えた
ものとなっていることから、より細分化された深度に対
する深度ゲイン情報が得られるようになる。
そのゲイン調整手段が、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深
度ゲインを示すグラフが表示されており、その座標をタ
ッチパネルによって指定できるとともに、表示手段によ
って表示することができる。このため、従来のようにつ
まみを移動させるような操作が全くなくなることから、
操作性を良好にすることができる。また、表示手段は、
その画素が通常ミクロンオーダであることから、より細
分化された深度に対する深度ゲイン情報を与えることが
できるようになる。そして、該ゲイン調整手段は、指定
された深度と深度ゲインの関係を出力する手段を備えた
ものとなっていることから、より細分化された深度に対
する深度ゲイン情報が得られるようになる。
【０００９】
【実施例】図２は、本発明による超音波診断装置の一実
施例を示す全体の概略構成図である。
施例を示す全体の概略構成図である。
【００１０】同図において、まず、図示しない被検体の
体表に当接させて使用される超音波探触子１がある。こ
の超音波探触子１は送受波制御回路２によって該被検体
内に超音波が照射されるようになっている。また、該被
検体内で反射された超音波は前記送受波制御回路２によ
って検出されるようになっている。そして、送受波制御
回路２からの出力はいわゆるＤＳＣ３に入力され、ここ
で画像処理等がなされるようになっている。さらに、該
ＤＳＣ３からの画像信号はたとえばＣＲＴからなる観察
用モニタ（表示装置）４に入力され、この観察用モニタ
４に前記被検体の断層像等が表示されるようになってい
る。
体表に当接させて使用される超音波探触子１がある。こ
の超音波探触子１は送受波制御回路２によって該被検体
内に超音波が照射されるようになっている。また、該被
検体内で反射された超音波は前記送受波制御回路２によ
って検出されるようになっている。そして、送受波制御
回路２からの出力はいわゆるＤＳＣ３に入力され、ここ
で画像処理等がなされるようになっている。さらに、該
ＤＳＣ３からの画像信号はたとえばＣＲＴからなる観察
用モニタ（表示装置）４に入力され、この観察用モニタ
４に前記被検体の断層像等が表示されるようになってい
る。
【００１１】一方、該超音波診断装置には、操作制御卓
５が備えられており、この操作制御卓５からの指令がＤ
ＧＣ制御・表示回路６を介して前記送受波制御回路２を
制御するようになっている。
５が備えられており、この操作制御卓５からの指令がＤ
ＧＣ制御・表示回路６を介して前記送受波制御回路２を
制御するようになっている。
【００１２】前記操作制御卓５には、本発明の特徴部分
となる透明タッチパネルＤＧＣ５ＡおよびＤＧＣカーブ
ディスプレイ５Ｂの他に、ＺＯＯＭキー５Ｃ，ＰＲＥＳ
ＥＴキー５Ｄ等が備えられ、それらの各出力はＤＧＣ制
御・表示回路６に出力されるようになっている。ＤＧＣ
制御・表示回路６には、ＭＰＵ６Ａが具備され、このＭ
ＰＵ６Ａには、前記透明タッチパネルＤＧＣ５Ａからの
出力がタッチパネル位置検出回路６Ｇを介して、ＤＧＣ
カーブディスプレイ５Ｂからの出力がＤＧＣカーブ表示
回路６Ｈを介して、ＺＯＯＭキー５Ｃからの出力が表示
深度識別ポート６Ｅを介して、ＰＲＥＳＥＴキー５Ｄか
らの出力がプリセット入力ポート６Ｆを介して、それぞ
れ入力されるようになっている。
となる透明タッチパネルＤＧＣ５ＡおよびＤＧＣカーブ
ディスプレイ５Ｂの他に、ＺＯＯＭキー５Ｃ，ＰＲＥＳ
ＥＴキー５Ｄ等が備えられ、それらの各出力はＤＧＣ制
御・表示回路６に出力されるようになっている。ＤＧＣ
制御・表示回路６には、ＭＰＵ６Ａが具備され、このＭ
ＰＵ６Ａには、前記透明タッチパネルＤＧＣ５Ａからの
出力がタッチパネル位置検出回路６Ｇを介して、ＤＧＣ
カーブディスプレイ５Ｂからの出力がＤＧＣカーブ表示
回路６Ｈを介して、ＺＯＯＭキー５Ｃからの出力が表示
深度識別ポート６Ｅを介して、ＰＲＥＳＥＴキー５Ｄか
らの出力がプリセット入力ポート６Ｆを介して、それぞ
れ入力されるようになっている。
【００１３】また、ＭＰＵ６Ａには、超音波探触子１側
から探触子識別ポート６Ｄを介して、その旨の信号が入
力されるとともに、送受波制御回路２には、前記ＭＰＵ
６ＡからＤＧＣカーブ出力回路６Ｉ，Ｄ／Ａ変換器６Ｋ
を介してＤＧＣカーブに相当する信号が入力されるよう
になっている。なお、図中、６ＢはＯＳ、６Ｃはワーク
メモリである。
から探触子識別ポート６Ｄを介して、その旨の信号が入
力されるとともに、送受波制御回路２には、前記ＭＰＵ
６ＡからＤＧＣカーブ出力回路６Ｉ，Ｄ／Ａ変換器６Ｋ
を介してＤＧＣカーブに相当する信号が入力されるよう
になっている。なお、図中、６ＢはＯＳ、６Ｃはワーク
メモリである。
【００１４】図１は、前記透明タッチパネルＤＧＣ５Ａ
およびＤＧＣカーブディスプレイ５Ｂの一実施例を示す
斜視構成図である。これら透明タッチパネルＤＧＣ５Ａ
およびＤＧＣカーブディスプレイ５Ｂは互いに重畳され
て一体になって構成されたものであり、たとえば次のよ
うに構成されている。
およびＤＧＣカーブディスプレイ５Ｂの一実施例を示す
斜視構成図である。これら透明タッチパネルＤＧＣ５Ａ
およびＤＧＣカーブディスプレイ５Ｂは互いに重畳され
て一体になって構成されたものであり、たとえば次のよ
うに構成されている。
【００１５】同図において、液晶表示基板１１があり、
その表示面には、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲイ
ンを示すグラフが表示された透明シート１２が貼付され
ている。また、該液晶表示基板１１の裏面には、いわゆ
るタブレットボードと称される基板１３が重畳されて配
置されている。この基板１３は、たとえばｘ軸方向およ
びｙ軸方向にそれぞれ並設されたコイルを内蔵するもの
で、該液晶表示基板１１の表示面に磁束変化を生じさせ
る磁力発生ペン（図示せず）を当接させることによっ
て、ｘ軸方向に並設された各コイルのうちの一のコイル
およびｙ軸方向に並設された各コイルのうちの一のコイ
ルに電流が流れ、これにより、前記磁力発生ペンが当接
された個所の位置座標（ｘ，ｙ）を検知できるようにな
っている。そして、このタブレットボードからなる基板
１３によって検知された位置座標に相当する情報を前記
液晶表示基板１１に入力させることにより、該位置座
標、すなわち、前記磁力発生ペンが当接された液晶表示
基板１１面の個所が表示（ドッド表示）されるようにな
っている。
その表示面には、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に深度ゲイ
ンを示すグラフが表示された透明シート１２が貼付され
ている。また、該液晶表示基板１１の裏面には、いわゆ
るタブレットボードと称される基板１３が重畳されて配
置されている。この基板１３は、たとえばｘ軸方向およ
びｙ軸方向にそれぞれ並設されたコイルを内蔵するもの
で、該液晶表示基板１１の表示面に磁束変化を生じさせ
る磁力発生ペン（図示せず）を当接させることによっ
て、ｘ軸方向に並設された各コイルのうちの一のコイル
およびｙ軸方向に並設された各コイルのうちの一のコイ
ルに電流が流れ、これにより、前記磁力発生ペンが当接
された個所の位置座標（ｘ，ｙ）を検知できるようにな
っている。そして、このタブレットボードからなる基板
１３によって検知された位置座標に相当する情報を前記
液晶表示基板１１に入力させることにより、該位置座
標、すなわち、前記磁力発生ペンが当接された液晶表示
基板１１面の個所が表示（ドッド表示）されるようにな
っている。
【００１６】これにより、磁力発生ペンを当接させた個
所が液晶表示基板１１面にそのまま表示されて認識でき
るとともに、該個所の位置座標がタブレットボードから
なる基板１３によって検出されることになる。この場
合、該磁力発生ペンをそのま液晶表示基板１１の表面
（グラフ面内）にそって移動させることによって、その
軌跡（深度に対する深度ゲインの関係）がそのまま表示
され、また、該軌跡の情報がそのまま検出されることに
なる。
所が液晶表示基板１１面にそのまま表示されて認識でき
るとともに、該個所の位置座標がタブレットボードから
なる基板１３によって検出されることになる。この場
合、該磁力発生ペンをそのま液晶表示基板１１の表面
（グラフ面内）にそって移動させることによって、その
軌跡（深度に対する深度ゲインの関係）がそのまま表示
され、また、該軌跡の情報がそのまま検出されることに
なる。
【００１７】図３（ａ）および（ｂ）は、それぞれタブ
レットボードと称される基板１１と、その出力からデー
タを取り出す半導体装置（マトリックスコントローラ）
を示す説明図である。図３（ａ）において、該基板１１
は、１６×３２の（ｘ，ｙ）座標を読みだすことがで
き、図３（ｂ）のマトリックスコントローラでその位置
情報を得ることができる。
レットボードと称される基板１１と、その出力からデー
タを取り出す半導体装置（マトリックスコントローラ）
を示す説明図である。図３（ａ）において、該基板１１
は、１６×３２の（ｘ，ｙ）座標を読みだすことがで
き、図３（ｂ）のマトリックスコントローラでその位置
情報を得ることができる。
【００１８】図４は、液晶表示基板と、その駆動回路と
を示したものであり、ＭＰＵ６Ａから位置情報が入力さ
れることにより、１６×３２の（ｘ，ｙ）座標が表示さ
れるようになっている。このように構成した画像診断装
置における深度ゲイン調整手段によれば、ｙ軸方向に深
度をｘ軸方向に深度ゲインを示すグラフが表示されてお
り、その座標をタッチパネルによって指定できるととも
に、表示手段によって表示することができるようになっ
ている。このため、従来のようにつまみを移動させるよ
うな操作が全くなくなることから、操作性を良好にする
ことができる。
を示したものであり、ＭＰＵ６Ａから位置情報が入力さ
れることにより、１６×３２の（ｘ，ｙ）座標が表示さ
れるようになっている。このように構成した画像診断装
置における深度ゲイン調整手段によれば、ｙ軸方向に深
度をｘ軸方向に深度ゲインを示すグラフが表示されてお
り、その座標をタッチパネルによって指定できるととも
に、表示手段によって表示することができるようになっ
ている。このため、従来のようにつまみを移動させるよ
うな操作が全くなくなることから、操作性を良好にする
ことができる。
【００１９】また、表示手段は、その画素が通常ミクロ
オーダであることから、より細分化された深度に対する
深度ゲイン情報を与えることができるようになる。そし
て、該ゲイン調整手段は、指定された深度と深度ゲイン
の関係を出力する手段を備えたものとなっていることか
ら、より細分化された深度に対する深解ゲイン情報が得
られるようになる。
オーダであることから、より細分化された深度に対する
深度ゲイン情報を与えることができるようになる。そし
て、該ゲイン調整手段は、指定された深度と深度ゲイン
の関係を出力する手段を備えたものとなっていることか
ら、より細分化された深度に対する深解ゲイン情報が得
られるようになる。
【００２０】なお、図５は、図３に示したタブレットボ
ードと称される基板１の出力回路の他の実施例を示す回
路であり、ＭＰＵ６ＡがＴｉ＝(Ｄｅｐｔｈ）／３２×
１.３〔μＳ／mm〕の式で表わされる時間毎の割込みを
受け、その処理として、前データ出力ポート６Ｉ２と後
データ出力ポート６Ｉ３にゲインレベルを出力し、補間
ＲＯＭ６Ｉ４によって補間されたデータを１mm毎に出力
する回路となっているものである。
ードと称される基板１の出力回路の他の実施例を示す回
路であり、ＭＰＵ６ＡがＴｉ＝(Ｄｅｐｔｈ）／３２×
１.３〔μＳ／mm〕の式で表わされる時間毎の割込みを
受け、その処理として、前データ出力ポート６Ｉ２と後
データ出力ポート６Ｉ３にゲインレベルを出力し、補間
ＲＯＭ６Ｉ４によって補間されたデータを１mm毎に出力
する回路となっているものである。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による超音波診断装置によれば、そのゲイン調整
手段において、操作性に優れ、かつ、より細分化された
深度に対する深度ゲイン情報が得られるようになる。
本発明による超音波診断装置によれば、そのゲイン調整
手段において、操作性に優れ、かつ、より細分化された
深度に対する深度ゲイン情報が得られるようになる。
【図１】本発明による超音波診断装置のゲイン調整手段
の一実施例を示す斜視構成図である。
の一実施例を示す斜視構成図である。
【図２】本発明による超音波診断装置の一実施例を示す
全体概略構成図である。
全体概略構成図である。
【図３】（ａ）および（ｂ）は、それぞれ、ＤＧＣカー
ブ出力回路とその出力からデータを取り出すマトリック
スコントローラを示す説明図である。
ブ出力回路とその出力からデータを取り出すマトリック
スコントローラを示す説明図である。
【図４】ＤＧＣカーブの表示制御回路図である。
【図５】ＤＧＣカーブ出力回路の他の実施例を示す回路
図である。
図である。
１ 探触子 ２ 送受波制御回路 ３ ＤＳＣ ４ 観察用モニタ ５ 操作制御卓 ５Ａ 透明タッチパネルＤＧＣ ５Ｂ ＤＧＣカーブディスプレイ ５Ｃ ＺＯＯＭキー ５Ｄ ＰＲＥＳＥＴキー ６ ＤＧＣ制御・表示回路 ６Ａ ＭＰＵ ６Ｂ ＯＳ ６Ｃ ワークメモリ ６Ｄ 探触子識別ポート ６Ｅ 表示深度識別ポート ６Ｆ プリセット入力ポート ６Ｇ タッチパネル位置検出回路 ６Ｈ ＤＧＣカーブ表示回路 ６Ｉ ＤＧＣカーブ出力回路 ６Ｊ 深度カウンタ ６Ｋ Ｄ／Ａ変換器 １１ 液晶表示基板 １３ タブレットボード
Claims (1)
- 【請求項１】超音波像の深度に対する深度ゲインを調整
できるゲイン調整手段を備える超音波診断装置におい
て、該ゲイン調整手段は、ｙ軸方向に深度をｘ軸方向に
深度ゲインを示すグラフが表示されそのグラフ面の座標
を指定できるタッチパネルと、指定された座標を該タッ
チパネル面に表示する表示手段と、指定された深度と深
度ゲインの関係を出力する手段とからなることを特徴と
する超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282191A JPH06105845A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4282191A JPH06105845A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06105845A true JPH06105845A (ja) | 1994-04-19 |
Family
ID=17649265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4282191A Pending JPH06105845A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105845A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100853775B1 (ko) * | 2002-06-14 | 2008-08-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 테이블 손상 위치 검출 지그 |
| JP2018089447A (ja) * | 2018-03-08 | 2018-06-14 | コニカミノルタ株式会社 | 超音波診断装置 |
-
1992
- 1992-09-29 JP JP4282191A patent/JPH06105845A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100853775B1 (ko) * | 2002-06-14 | 2008-08-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 테이블 손상 위치 검출 지그 |
| JP2018089447A (ja) * | 2018-03-08 | 2018-06-14 | コニカミノルタ株式会社 | 超音波診断装置 |
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