JPH0610672B2 - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPH0610672B2
JPH0610672B2 JP60159270A JP15927085A JPH0610672B2 JP H0610672 B2 JPH0610672 B2 JP H0610672B2 JP 60159270 A JP60159270 A JP 60159270A JP 15927085 A JP15927085 A JP 15927085A JP H0610672 B2 JPH0610672 B2 JP H0610672B2
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JP
Japan
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ultrasonic probe
test material
ultrasonic
cylindrical body
flaw detector
Prior art date
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JP60159270A
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English (en)
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JPS6219754A (ja
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正昭 佐藤
直人 山田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、回転せずに直進搬送される管状あるいは丸
棒状の被検材の周りを回転する超音波探触子により探傷
をスパイラル状に行なう超音波探傷装置に関し、その特
徴とするところは、超音波探触子と被検材との距離を設
定する時、超音波探触子がその中心に向けて挿入されて
いる円筒体の周囲のガイド部を回転させると、超音波探
触子を回転支持するピンが円筒体中心軸(以下円筒体中
心という。)からの距離が連続的に変化する溝をスライ
ドガイドされることにより、超音波探触子が円筒体の中
心方向に移動し超音波探触子と被検材との距離を簡単に
設定することができる装置を提案するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来の超音波探傷装置を示す断面図であり、第
4図は回転せずに直進搬送される管状あるいは丸棒状の
被検材(1)の搬送方向Aから見た図である。(2)は被検材
(1)の周りを回転する超音波探触子、(3)は超音波探触子
(2)が挿入されている円筒体であり、この円筒体(3)は被
検材(1)の周りを回転する。(4)は被検材(1)と超音波探
触子(2)を所定の距離に設定するために超音波探触子(2)
と円筒体(3)の間にはさみ込むスペーサ、(5)は超音波探
触子(2)とスペーサ(4)を同時に円筒体(3)に固定するネ
ジ、(6)は円筒体(3)の両端に設けられ上記被検材(1)の
外周に内接するリング、(7)はリング(6)を円筒体(3)に
固定するカバー、(8)は被検材(1)と円筒体(3)とリング
(6)とによって囲まれている超音波媒質、(9)は超音波媒
質を送り込む導入口である。
従来の超音波探傷装置は上記のように構成され、被検材
(1)の周りを回転する超音波探触子(2)は、被検材(1)が
搬送方向Aにて搬送され、円筒体(3)の両端に設けられ
たリング(6)に接すると、導入口(9)から導かれた超音波
媒質(8)を介して被検材(1)に超音波を伝播し、これによ
り探傷検査する。ところで、被検材(1)の外径が変わる
場合は、カバー(7)を取り外し、リング(6)を所定の外径
のものに交換する。さらにネジ(5)を取り外し超音波探
触子(2)を引き抜き、スペーサ(4)を所定の厚みのものに
交換し、交換したスペーサと超音波探触子(2)をネジ(5)
で固定し、外径の変わった被検材(1)に対応した所定の
距離に設定する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のような従来の超音波探傷装置では、被検材(1)の
外径が変わった場合、被検材(1)と超音波探触子(2)の間
に健全な超音波媒質(8)を保持するため、まずリング(6)
を交換し、ついで、超音波探触子(2)が円筒体(3)にスペ
ーサ(4)を介して直接ネジ(5)で固定されているために、
ネジ(5)をすべて取り外しスペーサ(4)をすべて所定の厚
みのものに取り換えるという手間のかかる作業があり、
この時間が長いために、被検材(1)の外径がたびたび変
わる場合には探傷検査の効率が下がり、ひいては生産の
効率の低下を招くという問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、ガイド部を回転させることによって超音波探触子
を簡単に短時間で、被検材との間の所定の距離設定がで
きる超音波探傷装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る超音波探傷装置は、円筒体周囲のガイド
部を回転させ、ガイド部に設けた円筒体中心からの距離
が連続的に変化する溝に沿って超音波探触子を支持する
ピンの位置を変化させ、円筒体中心方向に円筒体中心に
向けて挿入された超音波探触子を動かし、被検材との間
に所定の距離設定ができるようにしたものである。
〔作用〕 この発明においては、円筒体周囲のガイド部を回転させ
ると超音波探触子を回転支持するピンがガイド部に設け
た円筒体中心からの距離が連続的に変化する溝に沿って
動き、一方では超音波探触子は円筒体にその中心に向け
て挿入されていて常に円筒体中心方向にのみ動くので、
被検材との間に所定の距離をガイド部を回転させるとい
うことだけで簡単に短時間で設定できる。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図は搬
送方向Aとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図であり、(1)〜(3)および(6)〜(9)は上記従来の装置と
全く同一のものである。(10)は超音波探触子(2)を支持
するピン、(11)はこのピンを円筒体中心からの距離が連
続的に変化する溝に沿ってスライドガイドするガイド
部、(12)はこのガイド部をスライド支持する支持部、(1
3)は上記ガイド部(11)を上記支持部(12)に対して所定の
位置で固定する固定具である。
上記のように構成された超音波探傷装置においては、被
検材(1)の外径が変わりリング(6)を交換した後に被検材
(1)と超音波探触子(2)との間に所定の距離を得ようとす
る場合、ガイド部(11)を回転させると、超音波探触子
(2)を支持するピン(10)がガイド部(11)に設けられた円
筒体中心からの距離が連続的に変化する溝に沿って動
き、円筒体(3)の中心にむけて挿入された超音波探触子
(2)が円筒体(3)の中心方向にのみ動くことになる。つい
で、超音波探触子(2)と被検材(1)との間に所定の距離が
得られた後に、固定具(13)にてガイド部(11)を固定す
る。したがって被検材(1)の外径が変わった場合、ガイ
ド部(11)を超音波探触子(2)と被検材(1)との間が所定の
距離となるよう所定の角度だけスライドさせるという簡
単な作業のみ行なえばよく、超音波探触子を簡単に短時
間に距離設定ができることになる。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したとおり、超音波探触子を支持す
るピンを、円筒体中心からの距離が連続的に変化する溝
に沿って動くように、この溝を設けたガイド部を回転さ
せるという簡単な操作で、超音波探触子と被検材との距
離設定ができるという効果がある。また、超音波探触子
が同一断面上に多く並んでいればいる程、ひとつあたり
の超音波探触子の距離設定時間が短かくなるのはいうま
でもない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図は搬
送方向Aとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図、第3図は従来の超音波探傷装置を示す断面図、第4
図はこれを搬送方向Aから見た図である。 図において、(2)は超音波探触子、(3)は円筒体、(6)は
リング、(7)はカバー、(8)は超音波媒質、(10)はピン、
(11)はガイド部、(12)は支持部、(13)は固定具である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回転せずに直進搬送される管状あるいは丸
    棒状の被検材の周りを回転する超音波探触子によって上
    記被検材の外周をスパイラル状に探傷する超音波探傷装
    置において、上記超音波探触子が挿入され、上記被検材
    の周りを回転する円筒体と、上記超音波探触子を支持す
    るピンと、上記超音波探触子と上記被検材との間が所定
    の距離となるように上記超音波探触子を上記被検材方向
    に移動させるために上記ピンを溝に沿ってスライドガイ
    ドするガイド部と、上記円筒体に取付けられ、上記ガイ
    ド部をスライド支持する支持部と、上記ガイド部を上記
    支持部に対し上記被検材と上記超音波探触子を所定の距
    離にする位置で固定する固定具と、上記円筒体の両端に
    設けられ、上記被検材の外周に内接するリングと、上記
    被検材と上記円筒体と上記リングにより囲まれて形成さ
    れる超音波媒質用の室とを備えたことを特徴とする超音
    波探傷装置。
JP60159270A 1985-07-18 1985-07-18 超音波探傷装置 Expired - Lifetime JPH0610672B2 (ja)

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JP60159270A JPH0610672B2 (ja) 1985-07-18 1985-07-18 超音波探傷装置

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JP60159270A JPH0610672B2 (ja) 1985-07-18 1985-07-18 超音波探傷装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6219754A JPS6219754A (ja) 1987-01-28
JPH0610672B2 true JPH0610672B2 (ja) 1994-02-09

Family

ID=15690102

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60159270A Expired - Lifetime JPH0610672B2 (ja) 1985-07-18 1985-07-18 超音波探傷装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421360U (ja) * 1987-07-30 1989-02-02
DE3739190A1 (de) * 1987-11-19 1989-06-01 Foerster Inst Dr Friedrich Rotierkopf zum abtasten der oberflaeche zylindrischer pruefteile

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS547391A (en) * 1977-06-20 1979-01-20 Hitachi Cable Ltd Detecting probe protecting mechanism of rotary type flaw detecting apparatus

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JPS6219754A (ja) 1987-01-28

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