JPH06110080A - アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法 - Google Patents

アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法

Info

Publication number
JPH06110080A
JPH06110080A JP25840492A JP25840492A JPH06110080A JP H06110080 A JPH06110080 A JP H06110080A JP 25840492 A JP25840492 A JP 25840492A JP 25840492 A JP25840492 A JP 25840492A JP H06110080 A JPH06110080 A JP H06110080A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
active matrix
film
matrix substrate
pixel electrode
conductive film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25840492A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Hashizume
勉 橋爪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP25840492A priority Critical patent/JPH06110080A/ja
Publication of JPH06110080A publication Critical patent/JPH06110080A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 ソース・ドレイン領域に注入された不純物を
金属製のゲート電極に対して自己整合的にレーザ照射で
活性化する薄膜トランジスタの製造方法。 【効果】 オフ電流が極めて小さな薄膜トランジスタを
大面積のガラス基板上に製作でき、高精細、高コントラ
スト、高開口率、無欠陥のアクティブマトリクス型液晶
表示体を製造することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は表示装置に関するもので
あり、特に非線形素子を備えた液晶表示装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】有力な平面ディスプレイであるアクティ
ブマトリクス型の液晶表示体が大量生産され始めてい
る。平面ディスプレイは、空間占有スペースが小さく、
軽量であることから、携帯コンピューターの表示装置や
産業用機械の表示部などに使用されている。将来は、画
面の大型化や高精細化が進み、家庭用のテレビジョンの
応用が期待される。薄膜トランジスタを駆動素子に用い
た液晶表示体の場合、高コントラストと色再現性のため
各画素の開口率を高め、また、画面のちらつきを防ぐ必
要がある。従来の画素のレイアウトは図8の様に、薄膜
トランジスタTのドレイン領域806に電気的に接続し
た画素電極824が、平面的に重ならないようにゲート
ライン804とデータライン809の間にある程度の距
離をおいて形成されていた。さらに、画素電極824と
ゲートライン804およびデータライン809の隙間か
ら光が漏れないように、アクティブマトリクス基板の対
向基板に遮光膜を形成していた。このため、光が透過す
る有効な開口領域は、図8の実線825で囲まれた部分
であって、画素の有効面積が30%程度になり、照度が
低い画面になる問題があった。
【0003】この開口率が小さい問題点を克服する従来
の好例は公開特許公報平2−207222であり、図9
は、この従来例の開口率を高めたアクティブマトリクス
液晶表示装置の、駆動素子と画素のレイアウトを示して
いる。この従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置
は、開口率を高めるために、透明な画素電極924とゲ
ートライン904、および画素電極924とデータライ
ン909の間に有機薄膜の層間絶縁膜を形成し、画素電
極924をゲートライン904とデータライン909の
両方に重なるように形成していた。
【0004】この図9のA−Bに沿った断面図を図10
に示す。
【0005】公開特許公報平2−207222では逆ス
タガー型薄膜トランジスタを画素電極のスイッチング素
子に使用しているが、プレーナー型薄膜トランジスタで
も、従来例の本質は変わらないので、実施例との比較の
ためプレーナー型薄膜トランジスタで従来例を説明す
る。ガラス基板1001に不純物の拡散を防ぐためのパ
ッシベーション膜1002を形成し、ソース領域100
5ドレイン領域1006と活性シリコン層1007が連
続的に構成され、活性シリコン層1007上にゲート絶
縁膜1003が被着形成し、さらに活性シリコン層10
07に重なるようにゲート電極1004がある。ゲート
電極1004を、第1の層間絶縁膜1008と第2の層
間絶縁膜1010で覆う。また、第1の層間絶縁膜10
08と第2の層間絶縁膜1010の間には、ソース領域
1005に接続されたソース電極がある。さらに、ドレ
イン領域1006に到達するように層間絶縁膜にコンタ
クトホールを形成し、第2の層間絶縁膜1010上に画
素電極1021、1022、1023を形成する。図1
0に示されるように画素電極1021、1022、10
23はゲート電極1004に重なるように形成してい
る。つまり、薄膜トランジスタ1019のゲート電極と
ゲートライン上には、薄膜トランジスタ1019の画素
電極1021の一部と、隣の薄膜トランジスタ1020
の画素電極1022の一部が重なりあっていた。さら
に、図9のレイアウトに示すようにゲートラインと同様
にデータラインと画素電極も一部分が重なりあってい
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の公開
特許公報平2−207222の方法では次のような問題
があった。
【0007】データラインと透明画素電極の間に、40
0nmの厚みの酸化シリコン膜、あるいは窒化シリコン
膜、または1000nmの厚みの有機薄膜を挟み込ん
で、データラインと透明画素電極の一部の領域と、さら
にゲートラインと透明画素電極の一部の領域を重ねて、
開口率の向上を図っているが、ゲートラインと画素電極
の間で大きな寄生容量が発生し、透明画素電極に十分な
信号が印加されず、低コントラストの表示になってしま
う、いわゆるプッシュダウンの欠点と信号の遅延の問題
があった。さらに、データラインと画素電極の間に発生
する寄生容量は、データラインの信号の遅延やなまりに
よるクロストークの原因となり、高品質の画像が得られ
ない深刻な問題があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】2枚の透明基板に液晶を
挟持し、少なくとも一方の基板上に非線形素子が形成さ
れた液晶表示装置のアクティブマトリクス基板におい
て、透明導電膜によって形成された絵素電極が上記非線
形素子を動作させるための配線に対して自己整合的に形
成されていること特徴とするアクティブマトリクス基板
である。
【0009】また、透明基板に非線形素子と非線形素子
を制御する、遮光性の配線が形成されている基板に透明
導電膜を被着形成し、この透明導電膜上に感光性膜を被
着形成し、透明基板の非線形素子が形成されていない面
から、光を照射することによって、透明導電膜上の感光
性膜を、遮光性の配線に従って感光し、感光しない領域
の感光性膜を、透明導電膜上から除去し、上記の感光性
膜に覆われていない領域の透明導電膜にエネルギー粒子
を当てて導電性を喪失させる工程を特徴とするアクティ
ブマトリクス基板の製造方法である。
【0010】本発明は上記の問題に鑑み、プッシュダウ
ンの原因となるゲートラインと画素電極の間で発生する
寄生容量を低減し、また、クロストークの原因となる配
線と画素電極の間で発生する寄生容量を低減することに
よって、鮮明な高品質の画像が得られる液晶表示体を構
成するアクティブマトリクス基板の構造と、その製造方
法を提供するものである。
【0011】
【実施例】図1は実施例の画素の平面図である。薄膜ト
ランジスタのゲート電極を兼ねたゲートライン104と
データライン109が格子状に配列し、その交差部に薄
膜トランジスタTが形成されている。データライン10
9は、薄膜トランジスタTのソース領域105と、また
画素電極124はドレイン領域106に電気的に接続さ
れている。画素電極124はゲートライン104とデー
タライン109の配線が形成されていない領域に形成さ
れていて、画素電極124とゲートライン104とデー
タライン109の間に平面的に隙間がない。よって、ア
クティブマトリクス基板の背面から光を入射すると、ゲ
ートライン104とデータライン109が遮光膜を兼ね
るので、従来の液晶表示装置に必要だった対向基板の遮
光膜がなくなるため、有効な画素領域が著しく増加す
る。
【0012】さらに、遮光膜を不要にした図9と図10
の従来例と違い、ゲートライン104やデータライン1
09と、画素電極124の重ね合わせが無いので、ゲー
トラインと画素電極の間で発生する寄生容量や、データ
ラインと画素電極の間で発生する寄生容量が極めて小さ
くなるので、クロストークやプッシュダウン現象が発生
しなくなる。したがって、本発明の構造のアクティブマ
トリクス基板を用いて作られた液晶表示装置は、明る
く、コントラストが高く、フリッカーやクローストーク
の無い高品質の画質を実現できる。
【0013】次に、図2から図7の図面を示しながら、
本発明のアクィブマトリクス基板の製造方法を詳細に説
明する。
【0014】まず、図2に示すように、ガラスのような
透明基板201に、不純物拡散防止を目的とする窒化膜
や酸化膜でできたパッシベーション膜202を被着形成
する。次に、この絶縁膜202上にパターニングしたシ
リコン膜を被着形成し、さらに酸化膜でできた絶縁膜2
03を形成する。次に、パターニングした遮光性の導電
膜でできたゲートライン204をシリコン膜に重なるよ
うに形成する。このゲートライン204は図1の薄膜ト
ランジスタTのゲート電極を兼ねている。次にこのゲー
トライン204に対して自己整合的に不純物をシリコン
膜にイオン注入し、ソース領域205とドレイン領域2
06を形成する。ソース領域204とドレイン領域20
5の間が活性シリコン層207となる。
【0015】さらに、第1の層間絶縁膜208をゲート
ライン204を覆うように被着形成し、遮光性の導電膜
でできたデータライン209をコンタクトホールを通じ
て電気的にソース領域205に接続する。さらに、第2
の層間絶縁膜210をデータライン209を覆うように
被着形成し、さらにコンタクトホールを介して電気的に
ドレイン領域206に接続するよう光透過性の導電性
膜、例えばスパッタ法で形成したインジウム・すす酸化
膜211を基板全面に被着形成する。
【0016】次に、図3に示すように、図2で形成した
光透過性の導電性膜211上に、感光性の有機薄膜31
2を基板全面に形成する。
【0017】次に、図4に示すように基板の、有機薄膜
が形成されていない側から光413を照射する。する
と、遮光性のゲートライン404とデータライン409
が形成されていない領域の有機薄膜には光が当たるので
感光した有機薄膜414となり、ゲートライン404や
データライン409に重なっている領域の有機薄膜は感
光せずに、そのままである。また、ドレイン領域のシリ
コン層の厚みが40nmであれば、300から400n
mの光は、十分透過するのでドレイン領域上の有機薄膜
も感光する。
【0018】次に、図5に示すように感光した有機薄膜
を有機用剤で取り除いて、光透過性の導電性膜を露出す
る。516は光透過性膜が露出した領域を示す。
【0019】次に、図6に示すように、露出した光透過
性の導電膜に、高エネルギーの粒子617、例えば酸素
プラズマや酸素イオンを照射して、光透過性の導電膜6
11の導電率を変える。この処理によって、例えば光透
過性の導電膜がインジウム・すず酸化膜である場合、こ
の膜の成分は酸素過剰となり、数10Ωcm-1〜数kΩ
cm-1の電気的に高抵抗の膜618となる。感光した有
機薄膜614で覆われた領域の光透過性の導電膜は、高
エネルギーの粒子617があたらないので、導電率は高
い。
【0020】この結果、図7に示すように光透過性の導
電性膜は、画素毎に電気的に絶縁された画素電極72
1、722、723になる。
【0021】以上の製造法により、図1に示されたよう
な、ゲートライン104とデータライン109に対して
自己整合的に画素電極124を形成することができるの
で、有効な画素面積を著しく大きくすることができる。
【0022】また、配線と画素電極が重ならず、配線と
画素電極の間には、厚みが1〜2μmの低誘電率の有機
薄膜でできた第2の層間絶縁膜ができているため、配線
と画素電極の間で寄生容量の発生が極めて小さくなるの
で、画素電極に印加された信号の歪がなくなり、コント
ラストが高く、フリッカーやクロストークがない鮮明な
高品質の画像が得られるようになった。
【0023】この実施例では、画素電極はインジウム・
すず酸化膜であるが、この材質に限らず、高エネルギー
粒子の照射により電気的性質が変化する膜ならば、本発
明を応用することが可能である。
【0024】また、配線と画素電極の間の層間絶縁膜は
有機薄膜に限らず、酸化シリコン膜や窒化シリコン膜で
も応用できる。
【0025】
【発明の効果】図1に示されたような、ゲートラインと
データラインに対して自己整合的に画素電極を形成する
ことができるので、有効な画素面積を著しく大きくする
ことができるので明るい画像が得られるようになった。
【0026】また、配線と画素電極が重ならず、しかも
配線と画素電極の間には低誘電率の厚みが1〜2μmの
有機薄膜形成されているので、配線と画素電極の間で寄
生容量が極めて小さくなるので、画素電極に印加された
信号の歪がなくなり、コントラストが高く、フリッカー
やクロストークがない鮮明な高品質の画像が得られるよ
うになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のアクティブマトリクス基板の平面
図。
【図2】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図3】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図4】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図5】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図6】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図7】 本発明のアクティブマトリクス基板の製造
図。
【図8】 従来のアクティブマトリクス基板の平面図。
【図9】 従来のアクティブマトリクス基板の平面図。
【図10】 従来のアクティブマトリクス基板の断面
図。
【符号の説明】
T …薄膜トランジスタ 201、1001 …ガラス基板 202、1002 …パッシベーション膜 203、1003 …ゲート絶縁膜 104、204、404、804、904、1004 …ゲート電極およびゲート
ライン 105、205、805、905、1005 …ソース領域 106、206、806、906、1006 …ドレイン領域 207、1007 …活性シリコン領域 208、1008 …第1の層間絶縁膜 109、209、409、809、909、1009 …ソース電極およびデータ
ライン 210、1010 …第2の層間絶縁膜 211 …透明導電膜 312 …感光性膜 413 …光 414、614 …感光した感光性膜 415 …感光しなかった感光性膜 516 …透明導電膜が露出した領
域 617 …高エネルギーの粒子の照
射 618 …高エネルギー粒子の照射
でできた高抵抗膜 719、1019 …第1の薄膜トランジスタ 720、1020 …第1の隣の第2薄膜トラ
ンジスタ 721、1021 …第1の薄膜トランジスタ
の画素電極 722、1022 …第2の薄膜トランジスタ
の画素電極 723、1023 …第2の薄膜トランジスタ
の隣の画素電極 124、824、924 …画素電極 825 …対向基板に遮光膜が形成
されていない領域 926 …ゲートラインと画素電極
の重なり部 927 …データラインと画素電極
の重なり部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2枚の透明基板に液晶を挟持し、少なく
    とも一方の基板上に非線形素子が形成された液晶表示装
    置のアクティブマトリクス基板において、透明導電膜に
    よって形成された絵素電極が上記非線形素子を動作させ
    るための配線に対して自己整合的に形成されていること
    特徴とするアクティブマトリクス基板。
  2. 【請求項2】 透明基板に非線形素子と非線形素子を制
    御する、遮光性の配線が形成されている基板に透明導電
    膜を被着形成し、この透明導電膜上に感光性膜を被着形
    成し、透明基板の非線形素子が形成されていない面か
    ら、光を照射することによって、透明導電膜上の感光性
    膜を、遮光性の配線に従って感光し、感光しない領域の
    感光性膜を、透明導電膜上から除去し、上記の感光性膜
    に覆われていない領域の透明導電膜にエネルギー粒子を
    当てて導電性を喪失させる工程を特徴とするアクティブ
    マトリクス基板の製造方法。
JP25840492A 1992-09-28 1992-09-28 アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法 Pending JPH06110080A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25840492A JPH06110080A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25840492A JPH06110080A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06110080A true JPH06110080A (ja) 1994-04-22

Family

ID=17319765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25840492A Pending JPH06110080A (ja) 1992-09-28 1992-09-28 アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06110080A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6008719A (en) * 1994-07-01 1999-12-28 Thomson-Csf Electrical control device with crosstalk correction, and application thereof to magnetic write/read heads
KR20000004412A (ko) * 1998-06-30 2000-01-25 김영환 액정 표시 장치의 제조방법
US8099454B2 (en) 2007-08-03 2012-01-17 International Business Machines Corporation Staging a file within a distributed computing system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6008719A (en) * 1994-07-01 1999-12-28 Thomson-Csf Electrical control device with crosstalk correction, and application thereof to magnetic write/read heads
KR20000004412A (ko) * 1998-06-30 2000-01-25 김영환 액정 표시 장치의 제조방법
US8099454B2 (en) 2007-08-03 2012-01-17 International Business Machines Corporation Staging a file within a distributed computing system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6091466A (en) Liquid crystal display with dummy drain electrode and method of manufacturing same
US5610737A (en) Thin film transistor with source and drain regions having two semiconductor layers, one being fine crystalline silicon
US6259200B1 (en) Active-matrix display apparatus
JP3386017B2 (ja) 液晶表示装置用の薄膜トランジスタの製造方法
US8247245B2 (en) Pixel structure and method for fabricating the same
JPH1020298A (ja) 液晶表示装置
JP3305235B2 (ja) アクティブ素子アレイ基板
WO2017124673A1 (zh) 阵列基板的制作方法及液晶显示面板
US5614731A (en) Thin-film transistor element having a structure promoting reduction of light-induced leakage current
KR100249710B1 (ko) 액정표시장치
JP3097841B2 (ja) フォトマスク及びアクティブ素子アレイ基板の製造方法
CN113568230B (zh) 阵列基板及制作方法、显示面板
KR930008238B1 (ko) 박막트랜지스터 및 그것을 사용한 액정표시장치
JP3149793B2 (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JPH1090655A (ja) 表示装置
KR100266434B1 (ko) 액티브매트릭스액정패널및그것을사용하는프로젝션시스템
US7371624B2 (en) Method of manufacturing thin film semiconductor device, thin film semiconductor device, electro-optical device, and electronic apparatus
JPH06130418A (ja) アクティブマトリクス基板
JP3077445B2 (ja) アクティブマトリクス液晶表示装置
JPH0546932B2 (ja)
JP2005043898A (ja) 液晶表示装置及びこれに含まれる表示板の製造方法
JPH1096956A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JPH1010581A (ja) 表示装置
JP2859785B2 (ja) アクティブマトリクス基板
JPH06110080A (ja) アクティブマトリクス基板およびアクティブマトリクス基板の製造方法