JPH06112521A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
- Publication number
- JPH06112521A JPH06112521A JP30580992A JP30580992A JPH06112521A JP H06112521 A JPH06112521 A JP H06112521A JP 30580992 A JP30580992 A JP 30580992A JP 30580992 A JP30580992 A JP 30580992A JP H06112521 A JPH06112521 A JP H06112521A
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- Japan
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- light
- optical position
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- detecting element
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- Pending
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- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ICチップ上に形成される位置検出素子のジ
ャンクションを確実にし、かつそのICチップ上に他の
回路を一緒に形成することである。 【構成】 複数個の光電変換エレメントPD1、PD
2、・・・PDnをICチップ上において、所定の方向
に配列し、かつたがいに隣接するエレメントを等しい値
を有する抵抗r、rで結合している。
ャンクションを確実にし、かつそのICチップ上に他の
回路を一緒に形成することである。 【構成】 複数個の光電変換エレメントPD1、PD
2、・・・PDnをICチップ上において、所定の方向
に配列し、かつたがいに隣接するエレメントを等しい値
を有する抵抗r、rで結合している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は光電変換装置に関し、
たとえば距離センサや測距式光電スイッチ等の光の位置
を検出する機器に適用される。
たとえば距離センサや測距式光電スイッチ等の光の位置
を検出する機器に適用される。
【0002】
【従来の技術】光の位置を検出するものとして図1に示
すPSDすなわち光位置検出素子10が知られている。
この位置検出素子の等価回路を画くと図2のようにな
る。すなわち共通のカソードとなるN層には端子Taが
接続され、P層の両端には2つの出力端子T1、T2が
設けられる。この光位置検出素子10のある位置に光が
入射すると、光位置検出素子10の出力端子T1、T2
から2つの電流出力I1、I2がえられ、光位置検出素
子10の有効長をLとすると、光位置検出素子10の光
の入射位置Yは次の関係式より求められる。 I1/I2=Z2/Z1 =(L/2+Y)/(L/2−Y) (1) となり、したがって電流比I1/I2が分かれば、入射
位置Yは Y=(L/2)×(I1/I2−1)/(I1/I2+1) (2) このように光位置検出素子10は電気的に光の入射位置
Yを求めることが出来るので広く使用されており、図3
に示すように、光電スイッチに適用した例がある。
すPSDすなわち光位置検出素子10が知られている。
この位置検出素子の等価回路を画くと図2のようにな
る。すなわち共通のカソードとなるN層には端子Taが
接続され、P層の両端には2つの出力端子T1、T2が
設けられる。この光位置検出素子10のある位置に光が
入射すると、光位置検出素子10の出力端子T1、T2
から2つの電流出力I1、I2がえられ、光位置検出素
子10の有効長をLとすると、光位置検出素子10の光
の入射位置Yは次の関係式より求められる。 I1/I2=Z2/Z1 =(L/2+Y)/(L/2−Y) (1) となり、したがって電流比I1/I2が分かれば、入射
位置Yは Y=(L/2)×(I1/I2−1)/(I1/I2+1) (2) このように光位置検出素子10は電気的に光の入射位置
Yを求めることが出来るので広く使用されており、図3
に示すように、光電スイッチに適用した例がある。
【0003】すなわち図3において、光電スイッチ1は
レンズ系2、投光部3、受光部4および信号処理部5を
有している。そして投光部3から発した光は被検出物体
6、すなわち6A、6B上に輝点を作り、さらにこの被
検出物体6により反射された光はレンズ系2を介して受
光部4の受光面上に輝点像を形成する。被検出物体6
(図3の6A、6Bを代表して符号6で示す)までの距
離Xが変わると、すなわち被検出物体6が6A、6Bに
示す位置になると、受光面上の輝点像の位置Yが動く。
よって、受光面上の輝点像の位置Yを判定することによ
り、その輝点像が被検出物体6によるものか、あるいは
光電スイッチ1から見て、この被検出物体6よりも遠い
位置にある背景7によるものかが判定できる。したがっ
て輝点像の位置Yを判定するために図1に示す光位置検
出素子10は受光部4の受光面上に配設される。そして
輝点像の位置Yが所定値より大きいときに光電スイッチ
は検出信号を発する。この方式の光電スイッチは、受光
面上の光量を検出する方式の光電スイッチと比べ、被検
出物体6表面反射率が変わっても検出距離がほとんど変
動せず、また反射率が大きい背景7の手前にある反射率
の少ない被検出物体6の検出が安定して検出できる等極
めて優れた特徴を有するが、その光位置検出素子は構造
的にきわめて浅い、たとえば0.3[μm]のジャンク
ションをもち、通常のICプロセスでは製造できない。
このため増幅回路を同一チップに集積できない。
レンズ系2、投光部3、受光部4および信号処理部5を
有している。そして投光部3から発した光は被検出物体
6、すなわち6A、6B上に輝点を作り、さらにこの被
検出物体6により反射された光はレンズ系2を介して受
光部4の受光面上に輝点像を形成する。被検出物体6
(図3の6A、6Bを代表して符号6で示す)までの距
離Xが変わると、すなわち被検出物体6が6A、6Bに
示す位置になると、受光面上の輝点像の位置Yが動く。
よって、受光面上の輝点像の位置Yを判定することによ
り、その輝点像が被検出物体6によるものか、あるいは
光電スイッチ1から見て、この被検出物体6よりも遠い
位置にある背景7によるものかが判定できる。したがっ
て輝点像の位置Yを判定するために図1に示す光位置検
出素子10は受光部4の受光面上に配設される。そして
輝点像の位置Yが所定値より大きいときに光電スイッチ
は検出信号を発する。この方式の光電スイッチは、受光
面上の光量を検出する方式の光電スイッチと比べ、被検
出物体6表面反射率が変わっても検出距離がほとんど変
動せず、また反射率が大きい背景7の手前にある反射率
の少ない被検出物体6の検出が安定して検出できる等極
めて優れた特徴を有するが、その光位置検出素子は構造
的にきわめて浅い、たとえば0.3[μm]のジャンク
ションをもち、通常のICプロセスでは製造できない。
このため増幅回路を同一チップに集積できない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明が解決しよう
とする課題は光位置検出素子が構造的にきわめて浅いジ
ャンクションをもつために、通常のICプロセスでは製
造しにくいことである。
とする課題は光位置検出素子が構造的にきわめて浅いジ
ャンクションをもつために、通常のICプロセスでは製
造しにくいことである。
【0005】
【課題を解決するための手段】所定の方向に配設した複
数個の光電変換エレメントたがいに隣接する光電変換エ
レメントを抵抗で結合することにより光位置検出素子を
構成し、この光電変換素子の端部に光電流出力端を設け
る。
数個の光電変換エレメントたがいに隣接する光電変換エ
レメントを抵抗で結合することにより光位置検出素子を
構成し、この光電変換素子の端部に光電流出力端を設け
る。
【0006】
【作用】光が入射する位置によって、光電流を発生する
光電変換エレメントが決まり、その光電流は結合抵抗の
分圧比により分流するので、光電流出力端から得られる
2つの電流の比から光が入射した位置が算出される。な
お光位置検出素子は通常のICプロセスで製造される。
光電変換エレメントが決まり、その光電流は結合抵抗の
分圧比により分流するので、光電流出力端から得られる
2つの電流の比から光が入射した位置が算出される。な
お光位置検出素子は通常のICプロセスで製造される。
【0007】
【実施例】以下図によってこの発明の一実施例について
説明する。すなわち図4において、複数個、すなわちn
個(ただしn>2)の光電変換エレメントPD1、PD
2、・・・PDi、・・・PDnは一つのチップ上にお
いて、所定の方向に、かつ所定のピッチをもって配列さ
れる。また光変換エレメントPD1、PD2、・・・P
Di、・・・PDnの各隣接するアノードは図5に示す
ように、ほぼ等しい抵抗値を有する抵抗r、rで接続さ
れる。これによって光位置検出素子10が構成される。
この光位置検出素子10一端すなわち最初の光電変換エ
レメントPD1のアノードには第1の光電流出力端T1
が、また光位置検出素子10の他端すなわち最後の光電
変換エレメントPDnのアノードには第2の光電流出力
端T2がそれぞれ設けられる。一方各光電変換エレメン
トのカソードは入力端子Taに接続される。
説明する。すなわち図4において、複数個、すなわちn
個(ただしn>2)の光電変換エレメントPD1、PD
2、・・・PDi、・・・PDnは一つのチップ上にお
いて、所定の方向に、かつ所定のピッチをもって配列さ
れる。また光変換エレメントPD1、PD2、・・・P
Di、・・・PDnの各隣接するアノードは図5に示す
ように、ほぼ等しい抵抗値を有する抵抗r、rで接続さ
れる。これによって光位置検出素子10が構成される。
この光位置検出素子10一端すなわち最初の光電変換エ
レメントPD1のアノードには第1の光電流出力端T1
が、また光位置検出素子10の他端すなわち最後の光電
変換エレメントPDnのアノードには第2の光電流出力
端T2がそれぞれ設けられる。一方各光電変換エレメン
トのカソードは入力端子Taに接続される。
【0008】上記構成において、図5を等価的に表わす
と図6のようになる。ここで、I1、I2、I3、・・
・Ii・・・Inは光変換エレメントPD1、PD2、
・・・PDi、・・・PDnからなる電流源である。こ
の回路において、i番目の光電変換エレメント、すなわ
ちPDiに光が当たったばあいを考えると、図7の等価
回路に単純化される。つまり、この図の回路は図3に示
す回路と実質的に同じため、I1、I2の電流比から
(2)式により、光の当った位置Yを検出することがで
きる。
と図6のようになる。ここで、I1、I2、I3、・・
・Ii・・・Inは光変換エレメントPD1、PD2、
・・・PDi、・・・PDnからなる電流源である。こ
の回路において、i番目の光電変換エレメント、すなわ
ちPDiに光が当たったばあいを考えると、図7の等価
回路に単純化される。つまり、この図の回路は図3に示
す回路と実質的に同じため、I1、I2の電流比から
(2)式により、光の当った位置Yを検出することがで
きる。
【0009】図8は各光電変換エレメントの配列方向に
おいて、各光電変換エレメントの中央部間に抵抗値の大
きい部分を形成したもので、実質的に抵抗rで電気的に
結合したものである。
おいて、各光電変換エレメントの中央部間に抵抗値の大
きい部分を形成したもので、実質的に抵抗rで電気的に
結合したものである。
【0010】また図9は各光電変換エレメントの配列方
向において、各光電変換エレメントの下側部分間に抵抗
値の大きい部分を形成したもので、図8と同様に実質的
に抵抗rで電気的に結合したものである。
向において、各光電変換エレメントの下側部分間に抵抗
値の大きい部分を形成したもので、図8と同様に実質的
に抵抗rで電気的に結合したものである。
【0011】この発明は有限個すなわちn個の光電変換
エレメントで構成されるため、入射光がレンズ等の集光
により、各光電変換エレメントのピッチに比較して充分
に小さいばあい、入射位置Yと光電流出力I1、I2の
関係は図10に示すように階段状になる。
エレメントで構成されるため、入射光がレンズ等の集光
により、各光電変換エレメントのピッチに比較して充分
に小さいばあい、入射位置Yと光電流出力I1、I2の
関係は図10に示すように階段状になる。
【0012】しかし、図11に示すように、入射光の集
光に比較して各光電変換エレメントのピッチが充分小さ
いばあいすなわち入射スポット11が各光電変換エレメ
ントのピッチより大きいばあいには、階段状の特性は示
さず、図12に示すように直線状になる。
光に比較して各光電変換エレメントのピッチが充分小さ
いばあいすなわち入射スポット11が各光電変換エレメ
ントのピッチより大きいばあいには、階段状の特性は示
さず、図12に示すように直線状になる。
【0013】
【発明の効果】この発明は上述のように、複数個の光電
変換エレメントを所定の方向に配列し、かつたがいに隣
接するエレメントをほぼ等しい値を有する抵抗で結合し
ているので、通常のICプロセス技術で製造することが
可能である。
変換エレメントを所定の方向に配列し、かつたがいに隣
接するエレメントをほぼ等しい値を有する抵抗で結合し
ているので、通常のICプロセス技術で製造することが
可能である。
【0014】また、各光電変換エレメントと上記抵抗と
を同一チップ上に集積しているので、この集積化によっ
てS/N比が向上する利点がある。
を同一チップ上に集積しているので、この集積化によっ
てS/N比が向上する利点がある。
【0015】なお同一チップ上に演算回路や信号処理回
路も一緒に集積することにより、装置が小形になる効果
がある。
路も一緒に集積することにより、装置が小形になる効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】光位置検出素子の原理を示す縦断面図である。
【図2】図1における等価回路である。
【図3】光位置検出素子を適用した反射形光電スイッチ
の縦断面図である。
の縦断面図である。
【図4】この発明における光電変換装置の光電変換エレ
メントの配列状態を示す構成図である。
メントの配列状態を示す構成図である。
【図5】この発明における光電変換装置の光位置検出素
子の回路図である。
子の回路図である。
【図6】図5における等価回路図である。
【図7】図6の一部の等価回路図である。
【図8】この発明における光電変換装置の光電変換エレ
メントの他の配列状態を示す構成図である。
メントの他の配列状態を示す構成図である。
【図9】この発明における光電変換装置の光電変換エレ
メントのさらに他の配列状態を示す構成図である。
メントのさらに他の配列状態を示す構成図である。
【図10】この発明における光電変換装置の光位置検出
素子上の入射スポットと出力の関係を示す出力特性図で
ある。
素子上の入射スポットと出力の関係を示す出力特性図で
ある。
【図11】この発明における光電変換装置の光位置検出
素子上と入射スポットとの関係を示す平面図である。
素子上と入射スポットとの関係を示す平面図である。
【図12】図11における光位置検出素子の出力特性図
である。
である。
1 光電スイッチ 2 レンズ系 3 投光部 4 受光部 5 信号処理部 6 被検出物体 7 背景 10 光位置検出素子 11 入射スポット PD1、PD2、PD3、・・・PDn 光電変換エレ
メント r 抵抗 Ta 端子 T1 端子 T2 端子 I1、I2、I3、・・・Ii・・・In 電流源
メント r 抵抗 Ta 端子 T1 端子 T2 端子 I1、I2、I3、・・・Ii・・・In 電流源
Claims (2)
- 【請求項1】 複数個の光電変換エレメントを所定の方
向に配列し、たがいに隣接するエレメントをほぼ等しい
値を有する抵抗で結合して光位置検出素子を構成し、か
つこの光位置検出素子に光電流出力端を設けた光電変換
装置。 - 【請求項2】 複数個の光電変換エレメントを所定の方
向に配列し、たがいに隣接する光電変換エレメントをほ
ぼ等しい抵抗値を有する抵抗で結合して光位置検出素子
を構成し、かつこの光位置検出素子に光電流出力端を設
け、さらに上記各光電変換エレメントと上記抵抗とを同
一チップ上に集積した光電変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30580992A JPH06112521A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30580992A JPH06112521A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 光電変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06112521A true JPH06112521A (ja) | 1994-04-22 |
Family
ID=17949630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30580992A Pending JPH06112521A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06112521A (ja) |
-
1992
- 1992-09-28 JP JP30580992A patent/JPH06112521A/ja active Pending
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